低炭素化材料設計・創製ハブ拠点共用装置群課金表(平成24年8月1日以降利用分に適用) 装 置 分 類 材 料 創 製 ・ 合 成 材 料 加 工 装 置 群 材 料 評 価 装 置 群 機器利用単価 (円/h) 装置番号 旧No. 装置名称 メーカー 技術補助・技術代行 単価 (円/h) 型式 企業 大学・公的 研究機関 企業 大学・公的 研究機関 NM-IF000001 A1 MBE量子井戸薄膜創製装置 (株)エイコー EV-500 1,300 650 3,640 1,820 NM-IF000002 A2 放電プラズマ焼結創製装置(高温、高パワー) 双日マシナリー(株) SPS-1080 1,300 650 3,640 1,820 NM-IF000003 A3 炭素系材料気相成長装置 セキテクノトロン(株) AX5200-S 1,300 650 4,030 2,015 NM-IF000004 A4 高純度窒化物気相成長装置 (株)エピクエスト SH2001-HTA 2,600 1,300 5,330 2,665 SG-IF000005 A5 磁性多元合金スパッタ装置 (株)エイコー 1EK500 1,300 650 3,640 1,820 SG-IF000006 B1 ナノマニピュレーション用電界放出形走査電子顕微鏡 日本電子(株) JSM-7001F/TTLS 2,600 1,300 4,940 2,470 NM-IF000007 B2 集束イオンビーム加工観察装置 (FIB) (株)日立ハイテクノロジーズ NB5000 3,900 1,950 6,240 3,120 NM-IF000008 B3 電子線描画装置 日本電子(株) JBX-6300FS 3,900 1,950 6,240 3,120 NM-IF000009 B4 微細組織三次元マルチスケール解析装置 エスアイアイ・ナノテクノロジー(株) SMF-1000 3,900 1,950 5,850 2,925 SG-IF000010 B5 酸化膜ドライエッチング装置 住友精密工業(株) MUC-21 RV-APS-SE 2,600 1,300 4,550 2,275 NM-IF000011 B6 無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置 (株)ニューメタルスエンドケミカルス Fischione Instruments Model コーポレーション 1040 NanoMill 1,300 650 3,250 1,625 SG-IF000012 C1 マイクロフォーカスX線CT装置 (株)島津製作所 SMX-160CT-SV3 1,300 650 3,250 1,625 NM-IF000013 C2 単結晶X線構造解析装置 ブルカー AXS Smart ApexII Ultra 2,600 1,300 4,550 2,275 NM-IF000014 C3 顕微ラマン測定装置 (株)フォトンデザイン Jupiter 1,300 650 3,250 1,625 NM-IF000015 C4 機能材料電子スピン共鳴装置 日本電子(株) JES-FA100 1,300 650 3,250 1,625 NM-IF000016 C5 温度変調型熱分析装置/熱重量-示差熱分析-質量分析 TA インスツルメント・ジャパン(株) 同時測定装置 Q2000/Q600 1,300 650 3,250 1,625 SG-IF000017 C6 極低温比熱・電気抵抗測定装置 ロックゲート(株) BF-LD250 1,300 650 3,640 1,820 NM-IF000018 C7 パワーデバイスアナライザ アジレント・テクノロジー(株) B1505A 1,300 650 3,250 1,625 SG-IF000019 C8 表面・界面物性解析装置 (株)三ツワフロンテック NN-04W 1,300 650 3,250 1,625 SG-IF000020 C9 飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS) (株)アルバック PHI TRIFT V nanoTOF 3,900 1,950 5,850 2,925 SG-IF000021 C10 実動環境対応ナノ物理分析TEM 日本電子(株) JEM-ARM200F 5,200 2,600 7,150 3,575 NM-IF000022 C11 蛍光体発光特性評価装置 大塚電子(株) MCPD 9800 1,300 650 4,030 2,015 NM-IF000023 C12 ナノ材料評価用カソードルミネッセンス測定装置 (株)日立ハイテクノロジーズ SU6600CL 1,300 650 3,640 1,820 SG-IF000024 C13 蛍光寿命測定装置 (株)堀場製作所 FluoroCube UltraFast-3000U 1,300 650 3,640 1,820 SG-IF000025 C14 走査型ヘリウムイオン顕微鏡 カールツァイス(株) ORION Plus 5,200 2,600 7,150 3,575 SG-IF000026 C15 3次元測定レーザー顕微鏡 オリンパス(株) LEXT OLS4000 1,300 650 3,250 1,625 NM-IF000027 C16 高圧ガス/蒸気吸着量測定システム 日本ベル(株) BELSORP-HP/BELSORP-max 1,300 650 3,250 1,625 SG-IF000028 C17 触針式表面形状測定器 (株)アルバック Dectak 150 1,300 650 3,640 1,820
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