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スピンコーティングにおけるウェーハ表面上の三次元境界層流れと乾燥速度に関する研究
Studies on 3D Boundary Layer Flow and Drying Rate over Wafer Surface in Spin Coating
キーワード:スピンコーティング、境界層流れ/
大庭
英樹
keywords: spin coating, boundary layer flow
教授 工学博士 / Hideki Ohba Professor, Dr. Eng.
産業創造工学専攻 先端機械システム講座 / Department of Advanced Mechanical Systems
E-mail: [email protected], URL: http://www.gsst.kumamoto-u.ac.jp/
●高精度薄膜生成
ウェハー上には均一に感光剤薄膜を生成す
ることが不可欠である。しかしながら高速回
転時にはウェハー表面上にはエクマン螺旋渦
が発生するために均一性が阻害される。
そこで本研究では図1に示すCatch Cap の
形状などを変化させて、熱線流速計とレーザ
ー流速計を用いて、ウェハー表面境界層内の
三次元流れと乱れ度の計測を行い、エクマン
螺旋渦が発生しない条件下での薄膜生成技術の
探求を行っている。
●境界層流れと乾燥速度
薄膜の生成には乾燥速度の差異が重要な影
響を及ぼす。そこで赤外線カメラを用いてウ
ェハー表面上温度分布の経時変化を調べ、境
界層内の三次元流れ分布との関係を明らかに
している。
Figure 1 Schematic view of experimental setup
Formation of high uniformity thin film: Formation of high uniformity thin film is necessary in spin coating. However, in
high rotation, the uniformity of thin film is interfered with the generation of Ekman spiral vortices. So, 3D boundary layer flow
and turbulence level over the wafer surface are measured by hot-wire anemometer and LDV for various catch cap
geometries (Figure 1). The purpose of this study is investigation of high uniformity thin film formation technology.
Relation between boundary layer flow and drying rate of film: The drying rate effects on the formation of thin film. So, in
order to investigate the relation between the boundary layer flow and the drying rate , the time history of the temperature
distribution on the wafer surface was measured using infrared camera.