磁気力顕微鏡を用いた高分解能 2次元磁場計測法の開発

磁気力顕微鏡を用いた高分解能
2次元磁場計測法の開発
秋田大学 工学資源学部
環境資源学研究センター
教授 齊藤 準
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研究背景
・高密度磁気ストレージデバイス・ナノスケール
磁性体の進展
・1Tbit/in2を超える高密度化には、磁気記録媒
体の磁気ノイズの低減が必須であり、このため
にはナノスケールでの高機能な磁区観察手法
が必要不可欠と なる。
・現在広く用いられている磁区観察装置である
磁気力顕微鏡(MFM)に対して、新たに高分解
能2次元磁場計測法を検討した。
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新技術の概要 (I)
一定周波数加振での探針振動周波数の計測
・高分解能・面内磁場イメージングが可能
・従来の位相検出法と併用した
2次元磁場計測が可能
①Topographic
Image
②Phase Image
③&④
②
①
③Frequency
Image
④ Frequency
Image
数10 nm
~
走査面
④
②③
凹凸(AFM)信号
①
Sample
1µm
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新技術の概要 (II)
• 磁気力顕微鏡(MFM)の探針走査時の探針過
渡振動により発生する探針の振動数変化を
測定することにより以下を実現した。
• 高分解能・面内磁場イメージング
(探針走査方向での面内磁場の勾配)
• 2次元磁場計測
(垂直磁場と面内磁場の勾配の同時計測。
従来の位相検出法を併用)
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従来技術とその問題点 (I)
計測手法
振幅検出法
位相検出法
特徴と問題点
・表面凹凸像の計測後に、探針試料間距離一定での磁
場勾配像を計測
・磁場勾配を、 探針振動の振幅(振幅検出法)または、
位相(位相検出法)の変化を測定することで計測
・測定感度が向上するQ(機械的共振の性能指数)の高い
共振では、探針過渡振動のため観察が困難 (Q>10,000)
周波数検出法 ・探針の共振周波数一定での磁気力勾配一定像を計測
・高いQ の共振でも観察が可能
・表面凹凸像に磁気的コントラストが混入
これら手法では、計測する磁場の方向が探針磁化方向で決定され、変更
が困難。
(通常は、探針磁化が試料面に垂直な探針を用い、垂直磁場勾配を計測)
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従来技術とその問題点 (II)
既に実用化されている磁気力顕微鏡の磁区
観察手法には、探針試料間の磁気力に起因す
る探針振動挙動の変化を検出する手法として、
1)振幅検出法、2)位相検出法、3)周波数検出
法、があるが、
・計測磁場は1方向のみでその変更が困難
・ベクトル磁場計測が不可能
であった。またこれら手法での空間分解能は最
高でも10nm程度であり、さらなる向上が求めら
れていた。
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新技術と従来技術との比較
従来技術
新技術
MFM
探針
・測定磁場方向により探針の磁化方向
を変化させる必要有り。
(垂直磁化探針、面内磁化探針を使い
分ける必要有)
・感度に優れた垂直磁化探針を常に使用可能
ベクトル
磁場計
測
・不可
(1方向の磁場成分のみ計測可能)
・可(試料面に垂直方向と面内方向の2方向の
磁場を同時に計測)
検出磁
場方向
・変更が困難(探針磁化方向に依存)
・変更が容易(面内磁場については探針走査方
向が検出磁場方向となる)
空間
分解能
・探針磁化方向により変化
(垂直磁化探針で最もよい分解能が得
られる)
・垂直方向での分解能は従来の垂直磁化探針を
用いた場合と同等
・面内磁場方向での分解能は従来技術より高い
・面内磁場方向では、溶液中雰囲気でも高い空
間分解能が期待できる。
その他
・探針の検出感度を高めると(周波数検
出方式を採用)、表面凹凸像および探
針試料間距離一定での磁気像の取得
が困難
(構造と磁気との対応関係が不明)
・探針試料間距離一定での表面凹凸像と磁気像
の同時取得が可能
(構造と磁気との対応を調査できる)
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新技術の特徴
• 1回の探針走査で垂直磁場勾配および探針
走査方向に沿った面内磁場勾配を同時に計
測できる。
• 開発した面内磁場勾配計測法は真空中のみ
ならず大気中においても高い空間分解能(10
~20nm)を有する。
• 計測原理は帯電探針を用いた2次元電場計
測に応用できる。
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位相像(従来技術)及び周波数像(新技術)
HL
真空雰囲気 (Q=2813) ビット長:500nm(50kfci)
1µm
位相像
(垂直磁場)
x
25150
nm
vs Av.signal
25100
25050
25000
探針走査方向 →
周波数像
(面内磁場)
探針走査方向 →
周波数像
(面内磁場)
探針走査方向 ↓
HL
0
200 400 600 800 1000 1200 nm
x nm vs Av.signal
0
200 400 600 800 1000 1200 nm
x nm vs Av.signal
0
200 400 600 800 1000 1200nm
33000
32975
32950
32925
32900
32875
32850
32825
33050
33000
32950
32900
32850
32800
32750
HL
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探針走査方向依存性
位相像 (従来技術)
(垂直磁場)
周波数像 (新技術)
(面内磁場)
真空雰囲気 (Q=2813)
ビット長:500nm(50kfci)
1µm
探針走査方向 →
探針走査方向 →
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磁気像の記録密度依存性
真空中測定
位相像 (従来技術)
(垂直磁場)
周波数像 (新技術)
(面内磁場)
500nm
(50kfci)
1µm
50nm
(500kfci)
25nm
(1000kfci)
探針走査方向 →
探針走査方向 →
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磁気像の測定雰囲気依存性
周波数像 (真空中, Q=8743)
周波数像 (大気中, Q=554)
500nm
(50kfci)
1µm
50nm
(500kfci)
25nm
(1000kfci)
探針走査方向 →
探針走査方向 →
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想定される用途
• 高密度磁気ストレージデバイスの微細磁区
観察
• ナノスケール磁性体の微細磁区観察
• 液中観察に応用することで、生体磁気・バイオ
分野に展開することも可能と考えられる。
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想定される業界
• 想定されるユーザー
高密度磁気ストレージ業界
ナノスケール磁性体の研究者
生体磁気・バイオ分野の研究者、等
• 想定される市場規模
磁気力顕微鏡:200台、導入費用:2000万円
(新規)、 500万円(2次元磁場計測機能に特化
したオプションを追加) と想定
→数10億円の市場規模
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実用化に向けた課題
• 現在、観察雰囲気として、真空中雰囲気、大気中雰
囲気については、2次元磁場計測の実証済み。しか
し、液中雰囲気は検討を開始したところである。
• 液中雰囲気での観察については、今後、実験データ
を取得し、生体磁気・バイオ分野に適用していく場合
の計測条件の最適化を行っていく。
• 液中雰囲気での実用化に向けては、数10μsec(数
サイクル)以下の時間での過渡振動の振動数変化
(数100kHzの中心周波数から数10mHzの変動)を
計測する技術を確立する必要がある。
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企業への期待
• 周波数計測技術を持つ企業との共同研究
(液中観察用・高精度周波数計測オプション
品の開発)を希望。
• 高密度磁気ストレージデバイス、ナノスケー
ル磁性体の研究開発を行っている企業・研究
機関には、本技術の導入が有効と思われる。
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本技術に関する知的財産権
• 発明の名称 :走査型プローブ顕微鏡と
• 出願番号
• 出願人
• 発明者
計測方法
:特願2007-265936
:秋田大学
:齊藤 準
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お問い合わせ先
秋田大学産学連携推進機構
知的財産ディレクター
柴田
TEL
FAX
春一
018-889-3020
018-837-5356
e-mail chizai@jimu.akita-u.ac.jp
産学官連携コーディネーター
森川
TEL
FAX
茂弘
018-889-2703
018-837-5356
e-mail morikawa@crc.akita-u.ac.jp
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