サーモフィッシャーサイエンティフィック XPS・EDS ユーザーズフォーラム 今年もXPS・EDSユーザーズフォーラムを開催する運びとなりました。日頃表面分析装置、電子顕微鏡用アナライザーを ご愛顧いただいている多くのお客様に対し、ユーザー様の実際の事例や、皆様の日頃のお仕事に役立つ情報をご紹介 致します。今後、当社製品をより有効にお使いいただき、お仕事がますます発展するための機会となりましたら幸いです。 ご多忙中とは存じますが、ご参加をお待ち申し上げております。 日 時 会 場 参加 無料 2016 年 7月 6日（水）13：00～19：00 ※12：30より受付開始 東京コンファレンスセンター・品川 13：00 ∼ ご挨拶 招待講演 1 ∼ 13：10 13：40 ∼ 13：40 14：10 ∼ 14：10 14：40 Kr+ イオンビーム照射キトサンフィルムの厚さプロファイル解析 東京理科大学 遠藤 一央 先生 Kr+ ビーム照射前後フィルムの厚さプロファイルの成分相対比を実験及び量子化学計算による Raman スペクトル及び VXPS スペクトル （キトサン（Chito） ：DLC：アモルファスカーボン（Amorph） ：グラファイトカーボン（Graph） ） 解析から行った。Raman スペクトル解析では、 （Chito：DLC：Amorph：Graph）＝ 2:1:1:2 と算出。1mm と 10nm オー ＝ 2:1:0.5:0.375 の成分組成、VXPS スペクトルの成分組成は、 ダーの 4 成分比は異なり、3 種炭素成分で Graphite は µm では 0.375 程度、極表面 nm では他の炭素成分の 2 倍程度であった。 招待講演 2 各種表面処理を施した材料の分析事例紹介 株式会社住化分析センター 佐伯 敦恵 様 近年、各種材料において、目的や用途に応じて様々な表面処理が施されている。例えば、デバイスやセンサーではイオン・分子の認識の ために材料表面に機能付与がなされている。これら材料表面の評価には、化学的な評価が必要となる。XPS は、表面の“元素定性”だけ でなく“化学結合状態”が把握でき、表面処理の効果確認には欠かせない手法の 1 つである。本講演では自己組織化膜や親水化処理材料 の分析事例を中心に紹介する。 招待講演 3 XPS の真価を発揮するための表面分析のコツとポイント ジャパン・リサーチ・ラボ 奥村 治樹 様 表面は全ての技術と関わる重要なものであることから、XPS を中心に様々な分析技術が開発されてきた。しかし、表面分析ゆえの難しさ、 手法原理上の制約は消えたわけではなく、技術の進歩と共により複雑で高度な分析が必要とされている。本講演では、XPS を軸として、 基本原理の再確認から、正確でより良いデータ取得、埋もれた情報を引き出す解析技術を駆使して手法の真価をフルに活用するための注 意点やコツ等について述べる。 最新の 装置の開発動向 XPS 14：40 ∼ サーモフィ ッシャーサイエンティフィック株式会社 齋藤 健 ∼ 14：50 16：00 ∼ 16：00 16：40 ポスターセッション・休憩・技術相談コーナー ポスター発表予定：大阪大学様、大阪府立大学様、神奈川科学技術アカデミー様、群馬産業技術センター様、ジャパン・リサーチ・ラボ様、 JFE テクノリサーチ株式会社様、東京大学様、東邦チタニウム株式会社様、東麗先端材料研究開発（中国）有限公司様、富山大学様、日本 電子株式会社様、株式会社富士通研究所様、株式会社リコー様 招待講演 4 チーグラー・ナッタ触媒原料および触媒の解析 東邦チタニウム株式会社 齋藤 雅由 様 ポリエチレン、ポリプロピレン樹脂用触媒に代表されるチーグラー・ナッタ触媒は、大気中の水分等に瞬時に反応するため取り扱い方が難しい。 このため、今までチーグラー・ナッタ触媒の内部観察は困難であった。近年、日本電子㈱より大気非曝露冷却クロスセクションポリッシャ装置 が販売され、本装置を用いて触媒の支持担体である塩化マグネシウムの断面加工を行ったところ、目的通りの画像が得られ、さらに FE-SEM に具備したサーモフィッシャー社製 EDS と、解析に Compass を用いることで、理想的な内部空間情報を得ることが出来たので報告する。 サーモフィッシャーサイエンティフィック社 製品の最新情報 EDS 16：40 ∼ サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 鈴木 実 ∼ 17：00 17：30 招待講演 5 高感度 SDD を用いた EDSトモグラフィによる 3 次元元素マップの取得 日本電子株式会社 青山 佳敬 様 EDSトモグラフィは電子線トモグラフィと EDS 分析を組み合わせることで 3D 元素マップを得る手法である。近年、高い検出効率を持ち、高ス ループットの SDD が開発され、結果を少ない照射電流量でかつ短時間で得られるようになった。これにより、迅速に分析できるばかりではなく、 電子線損傷を受けやすい試料も分析対象になってきている。本発表では本手法の原理、最新の自動取得システム及び実用例を紹介する。 17：40 ∼ 技術交流会 ※ここに掲載されているプログラムは予告なく変更する場合があります。あらかじめご了承ください。 サーモフィッシャーサイエンティフィック XPS・EDS ユーザーズフォーラム ●セミナーお申し込み方法 当社Webサイトよりお申し込みください。 http://www.thermofisher.com/jp-xps-uf-16 ※定員になり次第、締め切らせていただきます。 ●会場のご案内 東京コンファレンスセンター・品川 〒108-0075 東京都港区港南1-9-36 アレア品川 3F-5F http://www.tokyo-cc.co.jp/access_shinagawa.html ［最寄駅］JR品川駅港南口（東口）から徒歩2分 Wビル コクヨ 港南口 （東口） 旧海岸通り アトレ品川 品川 フロントビル JR品川駅 品川 インターシティ ストリングスホテル東京 インターコンチネンタル （26F） 品川グランド コモンズ 駅 京浜急行品川 品川プリンスホテル 高輪口 （西口） 至芝浦 秀和ビル 国道 号第一京浜 ウイング高輪 ソニー本社 コクヨ ショールーム NTT品川ツインズ 新幹線品 川駅 東北線 山手線・京浜 京急第2 ビル 至田町 トヨペット 15 NTT データ 東京コンファレンス センター・品川 アレア品川（NTTデータ） ※ このご案内は次のお客様を対象として、弊社の新製品、サービス、セミナーに関するお知らせのためにお送りしています。 ● 過去に弊社製品をご購入、ご使用中のお客様、または新規購入をご検討中のお客様 ● 過去の展示会や弊社セミナーなどにご来場いただいたお客様 ●お問い合わせ サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 TEL.0120-753-670 FAX.0120-753-671 〒221-0022 横浜市神奈川区守屋町3-9 E-mail: [email protected] XPS008_A1606SO
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