Digitale Bildverarbeitung (DBV) Prof. Dr.‐Ing. Heinz‐Jürgen Przybilla Labor für Photogrammetrie Email: heinz‐juergen.przybilla@hs‐bochum.de Tel. 0234‐32‐10517 Sprechstunde: Montags 13 – 14 Uhr und nach Vereinbarung HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 1 Schema einer Digitalkamera HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 2 Aufbau, Funktion und Eigenschaften von Halbleitersensoren HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 3 Digitale Aufnahmesysteme Digitale Aufnahmesysteme erfassen die Bildinformation mit Hilfe opto‐elektro‐ nischer Sensoren, die anstelle einer Film‐ schicht im Bildraum angebracht sind. Sie liefern unmittelbar ein elektronisches Bild, das durch geeignete Komponenten digitalisiert und in einen Rechner über‐ tragen werden kann. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 4 Digitale Aufnahmesysteme HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 5 Opto‐elektronische Bildsensoren In photogrammetrischen Aufnahmesyste‐ men werden ausschließlich Festkörper Bildsensoren (solid state sensor) eingesetzt. Jedes Detektorelement (Sensorelement) erzeugt proportional zur einfallenden Lichtmenge elektrische Ladung, die anschließend elektronisch ausgelesen, aufbereitet und digitalisiert wird. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 6 Opto‐elektronische Bildsensoren CCD ‐ Charged Coupled Device (Ladungs‐ gekoppeltes Bauelement) CMOS ‐ Complementary Metal Oxide Semi‐ conductor (paarweise komplementär zueinander angeordnete Transistoren ) Anfänge der Technologien: 60er und 70er Jahren CMOS: damals zu langsam, Schwierigkeiten bei der Herstellung bis 1990 fast ausschließlich CCD‐Chips HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 7 Eigenschaften von Halbleitersensoren Die dargestellten Eigenschaften stellen ein Maß für die Qualität bzw. die aufgaben‐ spezifische Eignung eines Sensors dar. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 8 Quantenausbeute („quantum efficiency“) Die Effizienz, mit der in einem Halbleiter ein Photon (Licht‐ teilchen) in ein Landungsträgerpaar umgewandelt wird. Der Maximalwert liegt bei ca. 80% (grün). HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 9 Pixelanzahl Die Anzahl der Bildpunkte auf den Sensoren ist in den vergangenen 25 Jahren drastisch gestiegen. In der Photogrammetrie werden derzeit (2014) Kameras mit max. 250 MPixel angeboten. Im Consumer‐Markt sind 25 MPixel, z.T. auch darüber hinaus verfügbar. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 10 Pixelanzahl HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 11 Pixelgröße Die durchschnittliche Größe eines Bildelements ist bei Digitalkameras deutlich gesunken. Eine Reduzierung der Pixelgröße auf Werte unter ca. 5µm ist wenig sinnvoll, da die geometrische Auflösung der verwendeten Objektive i.d.R. nicht besser ist. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 12 Sensor‐Pixelgrößen HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 13 Sensorformate (Consumer‐Markt) HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 14 Signal‐Rausch‐Verhältnis (S/N) Das Signal‐Rausch‐Verhältnis ist der Quotient aus der Amplitude des übertragenen Signals zu der Rauschamplitude des Kanals. Es ist ein logarithmisches Maß und wird in Dezibel (dB) angegeben. Bei elektrooptischen Bildsensoren wird unter S/N das Verhältnis der maximal speicherbaren Anzahl der Ladungsträger pro Pixel zum Rauschsignal verstanden. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 15 Signal‐Rausch‐Verhältnis (S/N) Ein Rauschsignal wird erzeugt, wenn Elektronen ohne Beteiligung von einfallendem Licht freigesetzt werden, z. B. durch Temperatureinfluss Dunkelstrom. Eine Temperaturerhöhung um 8 °C hat in etwa eine Verdoppelung des Dunkelstroms zur Folge. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 16 Signal‐Rausch‐Verhältnis (S/N) Durch Dunkelstrom verursachtes Rauschen kann zum Teil nachträglich durch Bildbear‐ beitung am Computer oder bereits in der Kamera entfernt werden. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 17 Beispiel für Dunkelstrom [http://de.wikipedia.org/wiki/Bildrauschen] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 18 Auslesegeschwindigkeit Die Auslesegeschwindigkeit definiert die Wiederholrate der Bildaufnahme (Bild‐ wiederholfrequenz). In der praktischen Anwendung mit digitalen Kameras muss noch die interne Speicherung bzw. die Datenübertragung berücksichtigt werden. Eine Steigerung kann durch paralleles Auslesen mehrerer Sensorzeilen erreicht werden. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 19 Dynamikumfang Der Dynamikumfang zeigt, wie gut sehr helle und gleichzeitig sehr dunkle Bildbereiche eines Motivs vom Bildsensor noch korrekt abgebildet werden können. Bildsensoren erreichen z.B. nicht den gleichen Dynamikumfang wie das menschliche Auge. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 20 Dynamikumfang Während das Auge an sonnigen Tagen auch in Häuserschatten noch Zeichnung erkennen, bildet eine Digitalkamera den Schattenbereich zu dunkel ab oder die helle Hauswand ist überzeichnet. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 21 Dichteumfang (Gradation) Der Dichteumfang ist die Spannbreite zwischen der minimalen (Dmin) und maxi‐ malen Dichte (Dmax) eines lichtempfindlichen Materials. Die Dichtekurve beschreibt den Zusammen‐ hang zwischen Belichtung und der Reaktion des Sensors. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 22 Dichteumfang (Gradation) Die Steilheit der Dichtekurve (bei logarithmischer Auftragung der Belichtung) wird als Gammawert, der Unterschied zwischen der maximalen und der minimalen Dichte auch als Dichteumfang bezeichnet. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 23 Dichteumfang (Gradation) D tan log H Gradation γ : Steigung des geradlinigen Teils der o.a. Funktion HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 24 Dichteumfang (Gradation) Der lineare Teil beschreibt den Bereich, bei dem der Sensor normal belichtet wird: gleiche Belichtungsintervalle führen zu gleichen Dichteintervallen. Die nicht‐linearen Kurvenverläufe werden als Unterbelichtung bzw. Überbelichtung bezeichnet. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 25 Speichertiefe (Farbtiefe) Die Speichertiefe ergibt sich aus dem radiometrischen Auflösungsvermögen des Sensors. Sie stellt somit die Anzahl der unterschiedlichen Grauwertstufen dar. Es besteht eine Verbindung zum S/N und dem Dynamikumfang. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 26 Allgemeine Empfindlichkeit Die Empfindlichkeit S (sensivity, speed) einer fotografischen Emulsion wird für eine bestimmte Strahlung und genau festgelegte Aufnahme‐ und Entwicklungs‐ bedingungen definiert. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 27 Allgemeine Empfindlichkeit Sie wird als Kehrwert jener Belichtung H∆D definiert, mit der eine bestimmte Dichte‐ differenz ∆D über dem Grauschleier erzielt wird. Angaben in Deutschland nach DIN, in USA nach ASA. Nach ISO‐Norm sind beide Angaben notwendig. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 28 Allgemeine Empfindlichkeit DIN ASA 1 1 15 25 18 50 21 100 27 400 HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 29 Allgemeine Empfindlichkeit Sensoren digitaler Kameras weisen ein Äquivalent zur Filmempfindlichkeit des chemischen Films auf. Wie beim Film kann die Schärfeleistung bei Einstellung einer niedrigen Empfindlichkeit gesteigert werden. Die Einstellung einer höheren Empfind‐ lichkeit führt i.d.R. zu einer Zunahme des Bildrauschens. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 30 Allgemeine Empfindlichkeit Höhere Empfindlichkeiten werden erreicht, indem das (analoge) Signal des Sensors vor der Digitalisierung stärker verstärkt wird. Die Empfindlichkeit von Halbleitersensoren ist in der ISO 12232 definiert. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 31 CCD‐Sensor HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 32 CCD‐Sensor Ursprünglich 1969 von Forschern der Bell Laboratorien in den USA für die Datenspeicherung entwickelt Bereits 1970 wurde ein CCD‐ Bildsensor gebaut 1975 Digitalkamera mit Fairchild‐ CCD‐Bildsensor mit 0.01 MP und 4 kg HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 33 CCD‐Sensor HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 34 CCD‐Sensor Detektorelemente werden durch MOS‐Kon‐ densatoren (metal‐oxide semiconductor) gebil‐ det. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 35 Opto‐elektronische Bildsensoren Aktivierung der Ladungen im Halbleiter durch unterschiedliche Strahlungsintensitäten (Pho‐ tonen) des einfallenden Lichtes. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 36 Opto‐elektronische Bildsensoren Transfer‐ und Ausleseregister neben den aktiven Detektoren HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 37 Opto‐elektronische Bildsensoren Ausleseprinzip mittels CCD‐Technik: Die Ladungszustände verschieben sich von Takt zu Takt (t0, t1, t2,…) jeweils um ein Element nach rechts und werden im letzten Element quantifiziert. CCD‐ oder Eimerketten‐Prinzip HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 38 Interline Transfer Architektur [Th. Luhmann: Nahbereichsphotogrammetrie] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Die lichtempfindlichen Sensor‐ elemente sind getrennt ange‐ ordnet und weisen zum Nach‐ barelement eine Lücke von etwa der Größe eines Elements auf. Die Ladungsträger werden in eine Transferspalte verschoben und in einer vertikalen, optisch verdeckten CCD‐Eimerkette zum Ausleseregister transportiert. Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 39 Interline Transfer Architektur [http://micro.magnet.fsu.edu/primer/digitalimaging/concepts/interline.html] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 40 Frame Transfer Architektur [Th. Luhmann: Nahbereichsphotogrammetrie] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Der Sensor besteht aus einer lichtempfindlichen Sensorzone und einer gleich großen, abgedeckten Speicherzone, die aus CCD‐Eimerketten bestehen. Nach der Belichtung werden die Ladungsträger vertikal aus der Sensorzone in die Speicherzone transportiert. Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 41 Frame‐Transfer Architektur [http://micro.magnet.fsu.edu/primer/digitalimaging/concepts/frametransfer.html] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 42 Full‐Frame Transfer Architektur [Th. Luhmann: Nahbereichsphotogrammetrie] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Der Sensor besitzt nur noch eine Sensorzone, aus der die Ladungen direkt in ein Auslese‐ register übertragen werden. Während des Auslesevorgangs darf die Sensorzone nicht wieder belichtet werden. Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 43 Full‐Frame Architektur [http://micro.magnet.fsu.edu/primer/digitalimaging/concepts/frametransfer.html] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 44 Farbsensoren Für die Detektion von Farbbildern werden Sensoren mit Pixeln unterschiedlicher spektraler Empfindlichkeit benötigt . Nach der notwendigen Verrechnung von Pixeln gleicher oder benachbarter Positionen werden Helligkeits‐ und Farbinformationen erhalten. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 45 Farbsensoren: Verfahren Drei‐Chip‐CCD‐Sensor: Systeme, die unter Verwendung eines Dichroitisches Prismas das Spektrum aufspalten und drei getrennten CCD‐Sensoren zuführen. [http://de.wikipedia.org/wiki/Dichroitisches_Prisma] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 46 Farbsensoren: Verfahren Bayer Matrix: Systeme, die einen Sensor benutzen, der mit einer absorbierenden Farbmaske versehen ist. [http://de.wikipedia.org/wiki/Bayer‐Sensor] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 47 Farbsensoren: Verfahren Foveon‐X3‐Sensor: System, das die unter‐ schiedliche Eindringtiefe von roten und blauem Licht in Silicium ausnutzen. Ist bei CCD‐Sensoren nicht üblich. [www.imaging‐resource.com] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 48 CMOS‐Sensor HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 49 CMOS‐Sensor – Active Pixel Sensor (APS) Die Technik wurde 1963 bei Fairchild Semiconductor entwickelt und patentiert . In den 1970er und 1980er Jahren noch bedeutungslos, da die notwendige Integrationsdichte noch nicht erreicht war. Der Anteil der lichtempfindlichen Fläche an der Gesamtfläche eines Pixels lag anfänglich bei nur 30%. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 50 CMOS‐Sensor – Active Pixel Sensor (APS) [Foto: Canon] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 51 CMOS‐Sensor Ein Active Pixel Sensor (APS) ist ein Halbleiterdetektor zur Lichtmessung, der in CMOS‐Technik gefertigt ist und deshalb oft als CMOS‐Sensor bezeichnet wird. Die CMOS‐Technologie ist eine bewährte Technik zur Herstellung von Rechner‐ prozessoren und Speicherbausteinen. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 52 CMOS‐Sensor Detektorelemente werden durch komple‐ mentäre Metall‐Oxid Halbleiter (Comple‐ mentary metal‐oxide‐semiconductor) gebildet. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 53 CMOS‐Sensor CMOS‐Sensoren basieren auf Fotodioden oder Transistorelementen. Die durch das einfallende Licht entstehende Ladung wird direkt durch einen in jedem Pixel integrierten Verstärker und Digitalisierbau‐ stein verarbeitet. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 54 CMOS‐Sensor Es findet kein sequentieller Ladungstransport statt. Pixel lassen sich einzeln schalten oder auslesen. Es besteht eine deutliche geringere Stör‐ anfälligkeit gegenüber Blooming und Trans‐ portverlusten. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 55 CMOS‐Sensor Neben der Pixelmatrix und den Auslese‐ strukturen können ohne Weiteres Kamera‐ funktionen auf dem Sensor integriert werden, so dass mit der CMOS‐Technologie Einchip‐ Lösungen realisiert werden können. HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 56 CMOS‐Sensor [http://micro.magnet.fsu.edu/primer/digitalimaging/cmosimagesensors.html] HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 57 CMOS‐Sensor: Vorteile gegenüber CCD‐Sensor Nur 1/10 bis 1/3 des Energieverbrauchs Geringere Herstellungskosten Direkt adressierbare Sensorelemente Hohe Bildfrequenzen > 1000 Bilder/sec Sensorsteuerung und Bildverarbeitung direkt auf dem Chip Hoher Dynamikumfang und geringes Rauschen HS BO – Labor für Photogrammetrie: Aufbau und Funktion von Halbleitersensoren 58
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