分析計測標準研究部門主任研究員オロークブライアン 16:10

日時
会場
平成28年5月11日（水）13:00～17:10
産総研つくば第二事業所2-12棟 2F 第６会議室
〒305-8568
つくば市梅園1-1-1中央第２
主催文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム微細構造解析プラットフォーム
共催
国立研究開発法人産業技術総合研究所先端ナノ計測施設（ANCF)
H28年度陽電子ビーム利用材料評価コンソーシアム研究会
SIP-IMASM 第5回研究会（革新的構造材料先端計測拠点）
プログラム
14:30 – 14:40
閉会の挨拶
「高強度低速陽電子ビーム施設と利用例の紹介」
分析計測標準研究部門主任研究員大島永康
「陽電子を用いた鉄鋼材料の格子欠陥評価」
京都大学助教
杉田一樹
「量子プローブを活用した水素材料研究」
創エネルギー研究部門主任研究員
榊浩司
－休憩－
14:40 – 15:10
「小型中性子源の設計検討」
13:00 – 13:30
13:30 – 14:00
14:00 – 14:30
15:10 – 15:40
15:40 – 16:10
16:10 – 16:20
16:40 – 17:10
分析計測標準研究部門主任研究員
木野幸一
「陽電子・中性子による金属の破壊に至るプロセスの研究」
長岡技術科学大学教授
鈴木一彦
「光子誘起陽電子消滅法の測定技術開発」
分析計測標準研究部門主任研究員
オロークブライアン
閉会の挨拶
見学
■参加費：無料（懇親会費：3,000円）
研究会終了後(17:30-19:30)産総研内カフェ・ピクニックにて懇親会を行います。
皆様の参加をお待ちしております。
◆お問い合わせ・参加申し込み：分析計測標準研究部門 X線・陽電子計測研究グループ
E-mail : [email protected] 電話：029-861-1405
(講演会のみ当日の参加申し込みも可能です）

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