メソポーラスシリカのXAFSによる構造解析

放射光を利用したナノ構造・機能の計測・解析
立命館大学SRセンター
Nanotechnology Innovation by Synchrotron Radiation
平成19年度
トピックス
「XAFS」領域における支援成果
メソポーラスシリカ のXAFSによる構造解析
A京都大学工学系研究科, b立命館大学SRセンター
山本 孝a, 森 樹久a 、川口
俊明b 河合 潤a
徹a 、田中庸裕a 、中西 康次b, 太田
【研究目的】
我々は種々の酸触媒反応を促進するシリカメソ多孔体FSM-16のXAFS解析を行い,FSM-16
のシロキサン結合(≡Si-O-Si≡)が非晶質シリカより歪むことで特異な物性が発現するとする従
来の提案を裏付ける知見を得た.
【成
果】
シリカメソ多孔体FSM-16 は、左図に示すように非常に均質なサイズの孔径を持つ材料であり、
高い触媒活性を持つ。この試料の局所構造をSi K-XAFS測定によって調べた。まず中図に示
すように、XANESスペクトル形状はt他の標準試料と酷似しており、Siの周りを4配位のOが取り
囲む構造になっていることを示す。結晶性試料には微細構造が出現しているが、FEM-16では
それが消失していることから、非晶質であることがわかる。EXAFSのフーリエ解析結果を右図に
示した。FSM-16に長周期は観察されない。EXAFS解析からわかるSi-O距離を標準試料と比較
すると、: FSM-16 > 石英 > 非晶質シリカ,ZSM-5であり、シロキサンブリッジ(の一部)が
歪んで伸びていることを示している。このことが、ルイス酸点として作用する
FSM-16
の活性と相関があることを裏付けている。T.Yamamoto et al:J.Phys. Chem. C. 112 (2008)
328
細孔径分布曲線
Dk: 2.8 – 9.1 Å-1
2.8
1500
1000
silica gel
500
FSM-16
SiO2 gel
FSM -MES (4nm)
-4
FSM-16
FSM -C12 (2nm)
FSM-16 (3nm)
3
2000
no peak!
FT of k (k) /Å
FSM-16
28Å
5
FSM-16 as syn.
Normalized absorption
2500
dV/dR
EXAFS
XANES
ZSM-5
FSM- (3nm) as syn.
quartz
silica gel
0
2
4
6 8
2
10
2R /nm
Photon energy /eV
HO
O
Si
O
O
Si
O
O
O
H
ZSM-5
Si
1840 1860 1880 1900
quartz
0
1
2
3 4
R /Å
5
6