SiC基板向 研磨スラリー (DSCシリーズ)

SiC基板向 研磨スラリー
(DSCシリーズ)
低炭素社会を実現し、電力を有効利用するためのパワー半導体の基板素材として単結晶SiC基板への期待
が高まっています。SiCはその材料物性から加工が極めて難しい硬脆材であり、平坦化・鏡面化する研磨加
工に関する要求も厳しくなってきています。
DSCシリーズはSiC基板向研磨スラリーとして市場からの強い要望に応え、次のような特徴を有しています。
1.粒子径の均一性、粒子の分散性に優れ、リサイクル使用が可能である。
2.ダメージフリーの研磨加工面が得られ、表面粗さ(Ra)が0.1nm以下にできる。
3.2液混合した後のスラリーpHが中性域で、取り扱いしやすい製品である。
(研磨対象物)
SiC基板(単結晶4H/6H/3C・オフ角問わず、多結晶)
(製品ラインナップとその特性)
DSC-0901
DSC-0902
ポリッシュ(ファイナル)
研磨プロセス
結晶面
研磨方法
表面粗さ(Ra)
研磨レート
シリコン面、カーボン面、
M面、A面
シリコン面
シリコン面&カーボン面
(M面、A面も加工可)
片面研磨
両面同時研磨
片面研磨
0.1nm以下
0.1nm以下
0.1nm以下
研磨条件による(お問い合わせ下さい)
Part A
Part B
Part A
Part B
Part B
Part A
組成
DSC-1001
SiO2
加工促進剤
SiO2
加工促進剤、
他
SiO2、他
加工促進剤、
他
色
シリカ濃度(%)
pH
白
約39
10.3
薄黄~黄
7.8
比重(g/cm3)
臭い
1.282
1.035
白
約40
9.6
1.291
薄黄~黄
-
9.3
1.040
乳白~茶白
約35
10.3
1.254
薄黄~黄
8.9
1.039
無臭
無臭
無臭
無臭
無臭
無臭
※スラリーを使用前にPartAとPartBを重量比3:2で混合し、その後31wt%過酸化水素水を40g/kg添加する必要があります。
(研磨加工例)
工程
-基板メーカー
(表面)
工程
-デバイスメーカー
(表面・裏面)
切断
研削/ラップ
ダイヤスラリー
(1~3μm)
研削
ワイヤーソー
表面 ポリッシュ
シリカスラリー
デバイス
エピ・デバイス製造
ポリッシュ
ハードポリッシュ
SI-type4H-SiC(on-axis)
ダイヤスラリー
(0.25~0.5μm)
アルミナスラリー
シリカスラリー
裏面 研削/ラップ
ポリッシュ
研削・(ダイヤスラリー)
シリカスラリー
Ra=0.095nm
(その他提供可能な商材)
・パッド(スウェードタイプ、不織布タイプ)
・ダイヤスラリー(希望粒径の有無は問い合わせ下さい。)
・その他開発品(アルミナスラリー等)は別途相談下さい。
<本製品に関するお問い合わせ先>
株式会社フジミインコーポレーテッド 機能材営業部
〒509-0109 岐阜県各務原市テクノプラザ1-8
TEL(058)379-3181 FAX(058)379-3171
株式会社フジミインコーポレーテッド
本社:〒452-8502 愛知県清須市西枇杷島町地領2-1-1
FUJIMI INCORPORATED
1-1,Chiryo-2,Nishibiwajima-cho,Kiyosu,Aichi,452-8502 Japan
H24.10