2015年3月2日 アナログ用MOSFET動作の基礎 ーMOSFETモデルの考え方ー 群馬大学 松田順一 1 概要 • ドリフト電流と拡散電流 • エンハンスメント型MOSFET特性 – – – – – 強反転/弱反転一括モデル(表面電位表現) 強反転モデル 弱反転モデル EKVモデル ピンチオフ電圧、移動度、温度依存性 • イオン注入されたチャネルを持つMOSFET特性 • デプレッション型MOSFET特性 • 微細サイズ効果 – チャネル長変調 – 短/狭チャネル効果 – その他の微細サイズ効果 • 微細サイズ効果を取込んだ電流式 after Y. Tsividis (注)第55回 群馬大学アナログ集積回路研究会講演会(2006年12月1日)資料から作成 2 電流成分 • ドリフト電流 – 電界に依存した電流 – 強反転領域の電流 • 拡散電流 – 濃度勾配に依存した電流 – 弱反転領域の電流 電流⇒ドリフト電流+拡散電流 3 ドリフト電流の表現 d d ' I qncW | Q |W dx dx dΨ W c :移動度 I q:素電荷量 n:キャリア密度 dx :ポテンシャル V ' Q:単位面積当りの電荷 量 4 拡散電流の表現 dQ ' ( x) dn I DqcW tW dx dx dn W c I n(x) D :拡散係数 t (アインシュタインの関係) kT t :熱電圧 q dx k:ボルツマン定数 T:絶対温度 0 x 5 ドリフト電流+拡散電流 • 電子電流 A=cW (断面積) d dn I n qA n n( x) Dn dx dx 1 dEi 1 dEFn dEi nt n( x) qA n n( x) kT dx dx q dx dEFn d 1 dEi A n n( x) dx dx q dx • 正孔電流 I p A p p( x) dEFp dx EFn : 電子の擬フェルミレベル EFp : 正孔の擬フェルミレベル Ei : 真性エネルギーレベル Ei 1 Ei q x q x dE dn 1 dE n( x) Fn i dx kT dx dx E Ei n ni exp Fn kT 6 電流式導出の基本的な考え方 • ドリフト成分と拡散成分の分離(分離型) – 表面電位表現 – 端子電圧を表面電位に変換(収束) d s dQI' I DS ( x) W Q Wt dx dx ' I ⇒積分 • ドリフト成分と拡散成分の一体化(一体型) – 端子電圧表現 – 2重積分(数値積分) y c dV ( x) ' dV ( x) I DS ( x) W q n( x, y )dy W QI ⇒積分 dx dx y surface 7 電流式導出 ー強反転/弱反転モデルー • 分離型 – 強反転/弱反転一括モデル導出 – 強反転モデル導出 – 弱反転モデル導出 • 一体型 – 強反転モデル導出(計算容易) dV ( x) I DS ( x) W Q dx QI' :ドリフト+拡散成分 ドリフト成分(強反転電荷) ' I 8 MOSFET電流式 ーモデルの分類ー • 強反転/弱反転一括モデル – 完全対称チャージシートモデル – 簡単化された対称チャージシートモデル – 簡単化されたソース参照チャージシートモデル • 強反転モデル – 完全対称強反転モデル – 簡単化された対称強反転モデル – 簡単化されたソース参照強反転モデル • 弱反転モデル After Y. Tsividis 9 基板電圧VCBと表面電位Ψsとの関係 A' A P n+ VCB VGB Ec qΦF Ei VCB=0 qΨs=qΨ1 EF Ev EFn Ei EFp Ev qVCB qΨs=q(Ψ1+VCB) VCB>0 A-A’に沿ったエネルギーバンド Ec 10 ゲート~基板間電圧と表面電位との関係 Ψs Ψsa(VGB) 傾き=1/n ΔΦ 2ΦF+VCB sa ΦF+VCB VGB VFB 2 4 2 VCB=一定 0 VLB VMB 弱反転領域 VGB 11 2 強反転/弱反転一括電流式 ー完全対称チャージシートモデルー • ドリフト電流成分 W 1 2 2 ' 2 32 I DS1 Cox VGB VFB sL s 0 sL s 0 sL s302 L 2 3 • 拡散電流成分 I DS 2 W ' 12 Cox t sL s 0 t sL s102 L • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2 s 0 VGB VFB s 0 t e sL VGB VFB sL t e s 0 2 F VSB / t : チャネル・ソース端表面電位 sL 2 F VDB / t : チャネル・ドレイン端表面電位 12 電流式簡単化の考え方 • 空乏層広がりの電圧依存性の簡単化 ⇒1/2乗⇒1乗(表面電位でテイラー展開) • 空乏層広がりの電圧依存性の積分 ⇒3/2乗⇒2乗 13 空乏層電荷の電圧依存性の近似 • 空乏層電荷を表面電位でテイラー展開 ' QB' Cox s ; at s ( se s 0~ saまでの任意点) s se C se 2 se ' ox C se 1 s se ' ox 1 2 se • 反転層電荷 V ' QI' Cox VGB VFB s s ' Cox GB VFB se se s se 14 強反転/弱反転一括電流式 -簡単化された対称チャージシートモデル- • をテイラー展開 ⇒ se sa • ドリフト電流成分 ' Q 飽和点で B W n 2 ' 2 I DS1 Cox VGB VFB sa sL s 0 sL s 0 L 2 2 • 拡散電流成分 I DS 2 W ' Cox nt sL s 0 L n 1 2 sa • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2 15 QB' ' vs. 表面電位 sの近似 Cox QB' ' C ox QB' saで ' をテイラー展開 Cox チャネルドレイン 端での表面電位 飽和領域(弱反転) での表面電位 チャネルソース 端での表面電位 0 s0 sL sa s 16 強反転/弱反転一括電流式 -簡単化されたソース参照チャージシートモデル- • チャネル・ソース端で QB' をテイラー展開 ⇒ • ドリフト電流成分 se s 0 W ' sL s 0 sL s 0 2 I DS1 Cox VGB VFB s 0 s0 L 2 • 拡散電流成分 I DS 2 W ' Cox t sL s 0 L 1 1 2 s0 • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2 17 QB' ' vs. 表面電位 sの近似 Cox QB' ' C ox QB' s 0で ' をテイラー展開 Cox (a) (a ) 1 (b) 2 s0 (b) (a)の場合 より僅かに小 (c) 1 (c) s0 sL sa s 18 強反転電流式 ー完全対称強反転モデルー • 完全対称チャージシートモデルから導出 s 0 0 VSB , sL 0 VDB ⇒強反転条件 但し、0 2F ( 6t ) • 電流式 I DSN W 1 2 ' Cox VGB VFB 0 VDB VSB V DB V SB2 L 2 3 3 2 2 0 VDB 0 VSB 2 3 19 強反転電流式 ー簡単化された対称強反転モデルー • 簡単化された対称チャージシートモデル (ドリフト成分)から導出 • ピンチオフ電圧Vpを用いた表現 I DSN W 2 2 ' n Cox VP VSB VP VDB L 2 • ゲート~基板間電圧VGBを用いた表現 I DSN W n 2 ' Cox VGB VT 0 VDB VSB VDB VSB2 L 2 VGB VT 0 VP 但し、VT 0 VFB 0 0 n 20 強反転電流式 ー簡単化されたソース参照強反転モデルー • 簡単化されたソース参照チャージシート モデル(ドリフト成分)から導出 s 0 0 VSB , sL 0 VDB ⇒強反転条件 VDB VSB VDS , VGB VSB VGS • 電流式 I DSN W ' Cox VGS VT L 但し、VT VSB VSB V 2 VDS DS 2 VFB 0 0 VSB , 1 1 2 0 VSB 21 弱反転電流の基本的な考え方 • 弱反転領域の電流成分 – ゲート~基板間電圧VGB一定 • チャネルに沿う表面電位一定 (チャネルに沿う空乏層深さ一定) 2 sa (VGB ) VGB VFB 2 4 2 • ソースとドレインのキャリア密度差による拡散電流 I DS W t QIL' QI' 0 L 22 弱反転領域の電荷 • 弱反転領域の電荷 Q ' I 2q s N A 2 sa (VGB ) t e sa (VGB ) 2 F / t ・e VCB / t – チャネルソース端での電荷 ' • QI 0 :VCB→VSB – チャネルドレイン端での電荷 • QIL' :VCB→VDB 弱反転層電荷は表面電位(ゲート電圧)に対し指数関数的に変化 23 弱反転電流式(対称モデル) • ピンチオフ電圧Vpを用いた表現 I DS 0 2F VP VDB W t 2 VP VSB t ' t n 1e Cox t e e L 但し、 sa VP 0 , n 1 2 0 VP (VGB ) • ゲート~基板間電圧VGBを用いた表現 0 2F W t 2 ' n 1e I DS Cox t L eVGB VT 0 nVSB nt eVGB VT 0 nVDB nt 但し、VP VGB VT 0 n 24 弱反転電流(ソース参照モデル) • ゲート~ソース間電圧VGSを用いた表現 W ' (VGS VM ) /( nt ) VDS t I DS I M e 1 e L 2q s N A 2 ' I M t ' 2 2F VSB VM VFB 2F 2F VSB' n 1 2 2F VSB' 25 Log IDS vs. VGS特性 logIDS チャージ・シート・モデル 弱反転の式 ドリフト 電流 VDS , VSB : 一定 拡散電流 強反転の式 接合 リーク電流 弱反転 中反転 強反転 log I j VM VT VH VGS 26 弱反転領域のlog(IDS)‐VGS特性の傾 き • Subthreshold Slope S dVGS S 2.3nt d log I DS • nと容量の関係 1 d s Cb' 1 ' n Cox dVGB 界面準位による容量も考慮すると Cb' Cit' n 1 ' COX Cox' Cb' Cit' 27 EKVモデル(対称:VP表現) EKV:C. C. Enz, F. Krummenacher, and E. A. Vittoz • EKVモデル式:強反転/弱反転領域で使用(連続) I DS W ' 2nt2 Cox ln 1 eVP VSB 2t L ln 1 e 2 VP VDB 2t • 弱反転領域 ⇒ ln 1 x x, n 1e x ≪1, I DS W ' 2nt2 eVP VSB t eVP VDB t Cox L I DS W 2 2 ' n Cox VP VSB VP VDB L 2 t 2n • 強反転/線型領域 ⇒ ln 1 e ln e y 0 2F 2 2 y 2 y 2 , e y ≫1 ⇒簡単化された対称強反転モデル:VP 28 EKVモデル(対称:VGB表現) • EKVモデル式に VP VGB VT 0 n を代入 I DS W ' 2nt2 Cox L ln 1 e VGB VT 0 nVSB 2 nt ln 1 e 2 VGB VT 0 nVDB 2 nt • 弱反転領域:指数項≪1 I DS W ' 2nt2 eVGB VT 0 nVSB nt eVGB VT 0 nVDB nt Cox L • 強反転/線型領域:両指数項≫1 I DS W n 2 ' 2 Cox VGB VT 0 VDB VSB VDB VSB L 2 ⇒簡単化された対称強反転モデル:VGB 29 2 EKVモデル(ソース参照) • EKVモデル式 I DS W ' 2n t2 Cox L ln 1 e VGS VT 2 nt ln 1 e 2 • 弱反転領域:指数項≪1 W ' 2nt2eV V n 1 eV I DS Cox GS L T t DS VGS VT nVDS 2 nt t • 強反転/線型領域:両指数項≫1 I DS W 2 ' Cox VGS VT VDS VDS , ここでn L 2 ⇒簡単化されたソース参照強反転モデル 30 2 ソース参照モデルの利点 • • • • • • 通常の印加電圧に対応している。 閾値電圧が電流式中に自然に表れる。 バックゲートを第2のゲートとして扱える。 キャリア速度飽和をVDSによって簡単に扱える。 非対称デバイスに対応できる。 ソース参照モデルが高周波動作に対応している。 31 基板参照(対称)モデルの利点 • 対称デバイスに対応できる。 – アナログ回路対応 • 電流の飽和点をVSBに関係なくVDBで直接表現できる。 – 基板参照長チャネルモデル • 弱反転領域をよく表現できる。 – ΨsaはVGBのみに依存 • 縦方向電界による移動度変化をよく扱える。 • IDSとその微分はVDS=0で連続に扱える。 – コンピュータシミュレーションに適合 – 但し、速度飽和のようなソースからドレインへのキャリア輸送 に関連した効果はVDSを通して扱われるため、VDS=0で不連 続になる。 32 ピンチオフ電圧 • ゲート~基板間電圧VGBがピンチオフ電圧VPを決定 VP VGB VFB 2 4 2 2 , V VGB VT 0 0 P n – 飽和領域:ドレイン電圧≧ピンチオフ電圧 • チャネルのドレイン端 ⇒ 弱反転領域 • チャネルのソース端 ⇒ 強反転領域 – ゲート~基板間電圧一定 • ピンチオフ電圧一定 • 電流式:ソース電圧~ピンチオフ電圧まで積分 ⇒ ドレイン電流一定(飽和電流) 33 表面電位と端子電圧 チャネルのドレイン(ソース)端表面電位 vs. ドレイン(ソース)~基板間電圧 sL ( s 0 ) F VDB (F VSB ) 2 F VDB (2F VSB ) sa (VGB ) 飽和領域 中反転 VGB 一定 弱反転 2F F 0 強反転 食乏 VQ (VGB ) VW (VGB ) VU (VGB ) VDB (VSB ) 34 IDS-VDB特性とドレイン端での反転状態 IDS 飽和領域 ドレイン端 強反転 ドレイン端 中反転 ドレイン端 弱反転 0 VSB VQ VW VDB 35 移動度 • 移動度の縦方向電界依存性(電流と垂直方 向) 0 但し、 , :定数 B 1 VGS VT BVSB Log scale μ NA=NA1 NA=NA2 NA1<NA2 Log scale Ey,ave 36 ドレイン電流の温度依存性 • 飽和電流の温度依存性 I DS I DS ' 1 W Cox VGS VT (T ) (T ) 2 L 温度上昇 • 移動度の温度依存性 k3 T (T ) (Tr ) Tr T : 絶対温度、Tr : 室温、k3 1.2~2.0 : 定数 VGS • 閾値電圧の温度依存性 VT (T ) VT (Tr ) k4 T Tr k4 : 0.5 mV/K ~3 mV/K (k4大 N :大、 tox : 大、VSB:小) A 37 不純物分布の近似 ーエンハンスメントMOSFET:チャネルへのイオン注入ありー NAS NAB+Ni(y) N AS N AB N I NI Ni(y) NAB 0 NAB y 0 dI y ステップ近似 38 閾値電圧 ーチャネルへのイオン注入ありー • 閾値電圧の一般形 VTi (VSB ) VFBi 0i i 0i VSB – 空乏層広がり:イオン注入領域内(i=1) 2q s N AS VFB1 VFB , 1 , 01 2F ' Cox – 空乏層広がり:イオン注入領域外(i=2) 2q s N AB 1 dI qMd I , 2 VFB 2 VFB qM ' , 02 01 ' Cox 2 s Cox 2 s 39 但し、M N I d I , 6t 閾値電圧の基板電圧依存性 ーチャネルへのイオン注入ありー qN AS d I2 VI 01 2 s VT VT 傾き γ 2 VT2 VT1 0 γ1 VI VSB 0 (2ΦF+VSB)0.5 40 強反転領域の電流式 ーチャネルへのイオン注入あり:非飽和ー • ドレイン電流 W VDS I DSN (QI' )dVCB L VSB ' VGB VCB VT (VCB ) QI' Cox VT 1 (VCB ), VCB VI VT (VCB ) VT 2 (VCB ), VCB VI VDB VSB VDS 0, VCB : チャネルに沿って変化 41 MOSFET内の空乏層広がり 反転層 (a) VSB VDB VI N+ Pイオン注入 dI 空乏層 N+ P (b) VI VSB VDB N+ (c) VSB VI VDB N+ dI N+ P dI N+ P 42 強反転領域の電流式区分 ーチャネルへのイオン注入あり:非飽和ー • 電流式:完全対称強反転モデル W 1 2 ' I i (VX ,VY ) Cox VGB VFBi 0i VY VX VY VX2 L 2 2 32 32 i VY 0i VX 0i 3 • 印加電圧の違いによる電流式の区分 I DSN I1 (VSB ,VDB ), I 2 (VSB ,VDB ), I (V ,V ) I (V ,V ) 2 I DB 1 SB I (a) VSB VDB VI (b) VI VSB VDB (c) VSB VI VDB 43 強反転領域の電流式 ーチャネルへのイオン注入あり:飽和ー • ピンチオフ電圧: dI DSN dVDB 0 (1) VSB VDB VP1 VI : (a) 2 1 VP1 VGB VFB1 01 2 4 (2) VDB VP 2 VSB VI : (b), VDB VP 2 VI VSB : (c) 2 1 VP 2 2 2 VGB VFB 2 02 2 4 2 2 • 飽和電流 ' I DS I DSN V DB VP 44 飽和電流の基板電圧依存性 ーチャネルへのイオン注入あり:高ドーズー (1) VP VI ' I DS I VSB 0 High VSB (2) (3) ' DS W L Cox' V 2 I 1 GS VT 1 (0) (2) VP ≫VI I ' DS W L Cox' V GS VI VT 2 (VI ) W L Cox' V GS VT 2 (VSB ) 2 I 2 (3) VSB VI I (1) VGS ' DS 2 I 2 I1 I 2 45 弱反転電流の基板電圧依存性 ーチャネルへのイオン注入ありー S log I DS Slope 1/S dVGS 2.3nt d log I DS n 1 VSB 0 High VSB 2 2F VSB' VSB 0 空乏層端 イオン注入の中 1 VGS Large VSB 空乏層端 イオン注入の外 2 , 2 1 46 不純物分布の近似 ーデプレッションMOSFET :チャネルへのイオン注入ありー NI ステップ近似 ドナー濃度 Ni(y) アクセプタ濃度 NAB 0 NAB y 0 dI 47 デプレッションMOSFETの状態 ー全領域:空乏化ー G C N+ VGB VCB - - - - - - - - - - dI + + + + + + + + + + + + + + + - - - - - n型イオン注入 p型基板 p B VGB VTB , VGC VT 48 デプレッションMOSFETの状態 ー表面領域:空乏化(埋め込みチャネル)ー 条件:QG' Qo' QT' 0 G C VGB N+ VCB - - - - - + + + + + dI +QJ ΨT Qnb n + + + + + - - - - - -QJ QT Φbi+VCB n型イオン注入 p型基板 p B VTB VGB VNB , VT VGC VN 49 デプレッションMOSFETの状態 ー表面領域:中性化ー 条件:QG' Qo' 0 G C Qnn n VGB N+ VCB n型イオン注入 dI +QJ + + + + + - - - - - -QJ p B VGB VNB , VGC VT p型基板 VNB VFB bi VCB , 但し、VFB MS Qo' ' Cox 50 デプレッションMOSFETの状態 ー表面領域:蓄積化ー ' 条件:QG' Qo' Qna 0 G C + - + - + - + - + - + - + - n VGB N VCB + Qna dI +QJ + + + + + - - - - - -QJ n型イオン注入 Qnn p型基板 p B VGB VNB , VGC VN 51 デプレッションMOSFET ー閾値電圧ー NI:ドナー濃度 • 閾値電圧の条件 QT' VGB VTB NAB:アクセプタ密度 QJ' qN DS d I , 但し、N DS N I N AB • 閾値電圧:埋め込みチャネル形成開始 VT VT 0 I bi VSB bi , N I ≫ N AB qN DS d I VT 0 VFB bi ' Cox dIC I 1 s ' ox G ' d I Cox 1 I bi 2 s 2q s N AB , ' C ox Cox' C ' s C 52 s dI デプレッションMOSFET ー動作モードー VT (VSB ) VGS V N 表面食乏 VGS VN (c) VDS VGS VN 表面蓄積 非飽和 ' (a) VDS VDS 1 ' (d)VGS VN VDS VDS 2 表面蓄積/食乏 飽和 ' (b) VDS VDS 1 ' (e)VDS VDS 2 表面蓄積/食乏 53 デプレッションMOSFET ー動作モードとIDS-VDS特性との関係ー IDS 非飽和 表面蓄積/食乏(d) 飽和 表面蓄積/食乏(e) 表面蓄積(c) 表面空乏(a) 0 表面空乏(b) VDS 54 デプレッションMOSFET ー電流式(非飽和)ー • 表面空乏(a) I DSN W L VDB VSB ' B (Qnb )dVCB • 表面蓄積(c) I DSN W L (Q VDB ' na S VSB ' ) B (Qnn ) dVCB • 表面蓄積/空乏(d) I DSN W L VCBI VSB W S (Q ) B (Q ) dVCB L ' na ' nn VDB VCBI ' B (Qnb )dVCB 但し、 S : 表面移動度, B : バルク移動度, B S VCBI VCB Q' na 0 VGB VFB bi 55 デプレッションMOSFET ー電流・電圧特性ー IDS I DS VDS:一定(小) VT VN 0 VGS 飽和 VGS VT I DS k VGS VT 2 埋め込みチャネル 埋め込み+表面 チャネル 56 デプレッションMOSFETの状態 ー表面領域:ピンチオフ不可(反転化)ー G C ---------------+ + + + + + + + + ++ + N+ VGB VCB + dI + + + n型イオン注入 n + + + + + - - - - - p型基板 p B n型イオン注入:高 57 デプレッションMOSFET ーIDS‐VGS特性のVSB依存性:高カウンタードーピングー IDS VSB小 VDS:一定(小) VSB大 ピンチオフ不可状態 0 VGS 58 微細サイズ効果 • 微細サイズ効果 – チャネル長変調 – 短チャネルデバイス • 短チャネル効果(電荷配分) • 逆短チャネル効果 • ドレイン電圧によるバリア低下(DIBL) – 狭チャネルデバイス • 狭チャネル効果 • 逆狭チャネル効果 – パンチスルー – キャリアの速度飽和 – ホットキャリア効果 • 微細サイズ効果を取込んだ電流式 59 チャネル長変調(CLM) • CLMによる飽和電流 I DS I ' DS l p lp L ' I DS I DS 1 l p L ≪1 L lp L B1 NA B1 2 s q 12 D s Ε12 2qN A ' V V D DS DS D Em E1 ' VDS VDS ' DS V n+ n+ P lp L 60 短/逆短チャネル効果 VT ゲート 反転層 N+ ゲートによる空乏層 逆短チャネル効果 N + 層による空乏層 P基板 VT ゲート 反転層 短チャネル効果 N+ ゲートによる空乏層 P基板 0 N + 層による空乏層 L 61 短チャネル効果(電荷配分) QB' L QB' n+ dJ dJ dB dB n+ dB P ' B1 ' B Q VT VFB 0 0 VSB Q d j 2d B Q Q 1 1 1 L dj ' B ' B 62 ドレイン電圧の閾値電圧への影響 ー2次元解析ー • ドレイン電圧による閾値電圧の低下(DIBL) VTL 3bi 0 VDS e L s toxd B , ox 3 3 1 :フィッティングパラメータ VT 長チャネル VT チャネル長:小 0 VDS 63 ドレイン電圧/短チャネル化によるバリア低下(DIBL) VDS 1.5V VVGSGS 0V =0V 表面電位(V) ドレイン VDS 0V ソース Φbi バリア低下 x(μm) 64 狭/逆狭チャネル効果 酸化膜 VT 狭チャネル効果 空乏層 VT 酸化膜 逆狭チャネル効果 空乏層 0 W 65 パンチスルー ゲート N+ N+ ソースに よる空乏層 ドレインに よる空乏層 Log IDS VDS3 VDS2 VDS1 P基板 バルクパンチスルー VDS3>VDS2>VDS1 ゲート N+ ソースに よる空乏層 P基板 N+ ドレインに よる空乏層 表面パンチスルー VGS バルクパンチスルー による成分 66 キャリアの速度飽和 • キャリアの速度飽和を含む電流式 I DSN ,速 度 飽 和 を 含 む I DSN ,速 度 飽 和 を 含 ま な い 1 VDS LΕc • 電界が臨界電界より小: Εx ≪ Εc vd Εx • 電界が臨界電界より大: Εx ≫ Εc vd vd max vd vd vd (VGS ) Ε x 臨界電界 max Εc 0 Εc Εx vd max 67 IDS-VDS特性:速度飽和の有無 W ' VGS VT Cox L 2 2 I DS ' VGS VT c I DS WCox I DS I DS by Y. Tsividis VDS 0 速度飽和のない場合 VDS 0 速度飽和のある場合 68 ホットキャリア効果 ゲート 電子/正孔トラップ - - - + - 酸化膜 過剰界面準位 -- - - - - - - - - - ID - 電子の流れ + + +- N+ + - + + + + ドレイン + + + + + + + 正孔の流れ (基板電流) I 空乏層端 DB ・電子/正孔トラップ ・過剰界面準位 ↓ ・閾値電圧上昇 ソース・ドレイン逆方向 閾値電圧上昇顕著 ・ドライブ能力低下 ドレイン抵抗増加 P基板 69 ホットキャリア対策 ーLDDトランジスター ゲート ソース N+ ドレイン N- N- N+ 電界低減 ↓ インパクトイオン化低減 ↓ ホットキャリア低減 P基板 70 電流式に考慮すべき微細サイズ効果 • 閾値電圧の変化 – チャネル長Lの影響:短(逆短)チャネル効果 – チャネル幅Wの影響:狭(逆狭)チャネル効果 – ドレイン電圧VDSの影響(DIBL) • 高電界による移動度の低下 – キャリアの表面散乱(電流と垂直方向) – キャリアの速度飽和(電流の方向) • 飽和領域におけるチャネル長変調 71 微細サイズ効果を取込んだ電流式 • 実効閾値電圧 VT L,W ,VDS ,VSB VT VSB VTL L,VDS ,VSB VTW W ,VSB • 非飽和領域の電流:VDS ≪VDS' 2 VGS VT L,W ,VDS ,VSB VDS VDS 2 1 V V L , W , V , V V T DS SB B SB 1 VDS L c GS W C L ' ox I DS • 飽和領域の電流: VDS ≫VDS' ' '2 V V L , W , V , V VDS GS T DS SB VDS 2 l p ' 1 V V L , W , V , V V 1 V L T DS SB B SB DS c GS L W C L ' ox I DS 72
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