Chance, Challenge, Change 第25信頼性・ESD対策技術展示会 ワークショップ CDM規格ESDA-JEDEC-JS002-2014 に対応する試験器のご紹介 営業部 矢田 善久 © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 0 Chance, Challenge, Change ESDA-JEDEC-JS002-2014 注意する点 FI-CDM試験 ① 印加ピンはポゴピンを使用 ② 波形観測オシロは1GHzと6GHz ③ 試験環境は湿度30%以下 © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 1 Chance, Challenge, Change ESDA-JEDEC-JS002-2014対応装置 HED-C5000Rシリーズ © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 2 Chance, Challenge, Change ①印加ピンはポゴピンを使用 規格書内 P16 ANNEX D 電気回路の説明に ポゴピンを使用することが明確に記載 今回、 ポゴピンを採用した新ユニットを開発しました。 © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 3 Chance, Challenge, Change 印加ユニットの新規開発 ① ピン先形状を変更 ① 今までは特殊加工 ピン先約2mm ② ピン先をポゴピンに変更 ポゴピン使用で ピン先が長く作れる ピン先確認用のカメラを使用可能 デバイスピン形状でポゴピンを交換できる © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 4 Chance, Challenge, Change 印加ピン先照明 © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 5 Chance, Challenge, Change 印加ユニット新規開発 CDM規格比較表 発行時期 ESDA/JEDEC JS-002-2014 JESD22-C101F ANSI/ESD S5.3.1-2009 AEC - Q100-011 Rev-C1 2015年 4月発行 2009/12月 2009/12月 2013/3月 FI-CDM又はD-CDMを併記 FI-CDM/D-CDM /リレー式を併記 印加方式 5.1項 FI-CDM方式に限定 FI-CDM方式に限定 Pin先形状の定義 5.1項 Pogo Pinと明確に記載 図にPogoが描かれているの Probeと記載されているの み み ±125, 250, 500, 750, 1000 ±200, 500, 1000 観測電圧 ±125, 250, 500, 1000, 2000 ±250, 500, 1000, 2000 Small & Large (旧JEDEC同等) 校正モジュール 記載無し 4pf & 30pf Ipeak(Small on 500V) 4.4-5.9A (1GHzオシロ) 4.8-6.6A (1GHzオシロ) 3.6-5.4A (1GHzオシロ) Ipeak(Large on 500V) 9.1-12.3A (1GHzオシロ) 9.7-13.2A (1GHzオシロ) 11.2-16.8A (1GHzオシロ) Ipeak(Small on 500V) 上位オシロ 6.1-8.3A (6GHzオシロ以上) 6.0-9.0A (3GHzオシロ時) Ipeak(Large on 500V) 上位オシロ 10.3-13.9A (6GHzオシロ以上) 14.4-21.6A (3GHzオシロ時) 試験環境 7.2.1項 湿度は30%を超えてはならない 規定無し © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 低湿度を推奨 規定無し All rights reserved 6 Chance, Challenge, Change 試験環境の条件規定 FI-CDMの環境で試験を行う デバイス周囲湿度は30%以内とする 気中放電なので湿度でストレスが変化 湿度をコントロールするためのガス調整可能に © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 7 Chance, Challenge, Change 試験環境の条件規定 ガス供給口 © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. ガスバルブコントロールSW 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 8 Chance, Challenge, Change 試験環境の条件規定 © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 9 Chance, Challenge, Change 試験環境の条件規定 メイン画面右下の赤線内 温湿度管理 オプション設定で、温湿度管理を行う設定にした場合表示されす。 温度 :測定した温度が表示されます。 湿度 :測定した湿度が表示されます。 窒素ボタン :窒素の供給または停止を行います。 © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 10 Chance, Challenge, Change 時代を捉え、挑戦し、進化し続ける Chance, Challenge, Change © Copyright 2012 HANWA ELECTRONIC IND. CO., LTD. 阪和電子工業株式会社 All rights reserved 11
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