2. März 2016

Deutscher Arbeitskreis
für Analytische
Spektroskopie
.
23. Anwendertreffen
Röntgenfluoreszenzund
Funkenemissionsspektrometrie
Dortmund
1. - 2. März 2016
Der Deutsche Arbeitskreis für Analytische Spektroskopie (DAAS) veranstaltet gemeinsam
mit der Fachhochschule Münster, der Universität Hamburg, dem Chemikerausschuss des
Stahlinstituts/VDEh und dem ISAS – Leibniz Institut für Analytische Wissenschaften ein
Treffen von Anwendern der Röntgenfluoreszenz- und Funkenemissionsspektrometrie sowie
verwandter Methoden der Feststoffanalytik. Ziel des Anwendertreffens ist es, Forschung
und Industrie zusammenzuführen, um den Informationsaustausch zu fördern und neue
Entwicklungen anzuregen. In Kurzvorträgen wird über instrumentelle Neuentwicklungen,
Lösungen aktueller Fragestellungen und insbesondere über den Einsatz dieser Methoden in
Laboratorien verschiedenster Bereiche der Industrie berichtet.
Tagungsort und Termin
1. und 2. März 2016
Universität Dortmund
ISAS
Otto-Hahn-Straße 6b
Hörsaal ISAS
Organisation
Prof. Dr. J.A.C. Broekaert
Dr. J. Flock
Prof. Dr. M. Kreyenschmidt
Dr. A. von Bohlen
Fr. S. Hanning
Dr. E. Pappert
Formlose Anmeldung an:
Dr. Alex von Bohlen
ISAS City
Bunsen-Kirchhoff-Strasse 11
44139 Dortmund
Fax: 0231/1392120
Email: [email protected]
Aus organisatorischen Gründen erfolgt keine schriftliche Bestätigung der Anmeldung.
Die Teilnahme an der Veranstaltung ist kostenlos. Die Vorträge werden nach Abschluss der
Veranstaltung zum Download bereitgestellt.
1. März 2016, 9.00 Uhr
J. Niederstraßer, Witten
Praktische Erfahrungen mit einem Doppelelektroden-Funkenspektrometer am
Beispiel einer Groß-Gießerei
D. Siegmund, Witten
Einschlussanalytik: Ein Privileg der Photomultiplier-Funkenspektrometer?
K. Slickers, Bad Harzburg
Permanente Probleme der FOES
S. Recknagel, M. Ostermann, Berlin
Anwendung von RFA und FOES zur Homogenitätsuntersuchung von
Referenzmaterialien
R. Schramm, Bedburg-Hau
Praxisbericht – Herstellung neuer Referenzmaterialien
K. Tödter, Kleve
Was ist schon „norm“al? Normierung vs. Technischer Fortschritt
K. Bergers, J. Flock, Duisburg
Validierung – Sisyphos-Arbeit oder Best Practice
A. von Bohlen, Dortmund
Philosophische Betrachtungen zur Analytischen Chemie
C. Wiedmann, Dreieich
PGNAA in Sinter – online Basizität bestimmen und Sinterqualität optimieren
L. Seralessandri, Kleve
Practical Applications of the Stress X of GNR
H. Raschke, Dortmund
NAP-XPS-Technik und Anwendung
M. Krämer, Dresden
Maßgeschneiderte Multischicht-Röntgenoptiken – vom Computer ins Labor
W. Malzer, Berlin
Visualisierung von Elementverteilungen mit polychromatischer 3D-MikroRöntgenfluoreszenzanalyse
F. Reinhard, S. Scheller, E. Blokhina, Berlin
Ortsaufgelöste Messungen dünner Metalllegierungsschichten mit Mikro-RFA
B. Beckhoff, Berlin
Surface Analysis with SR excitation
2. März 2016, 9.00 Uhr
M. Dronov, G. Renner, D. Rudolph, M. Schneider, J. Schram, P. Timmer, Krefeld
Das Buch in der Analytik – Analytik im Buch
M. Paulus, Dortmund
Der Fall Bach – SR-µ-RFA
J. Horsch, Düsseldorf
Betonanalyse mittels µ-RFA
T.Bach, Hirschau
Schichtdickenmessung mittels RFA von Glas
A. Gross, Berlin
TXRF 2.0 – endlich auf Augenhöhe mit der ICP-OES?
V. Hückelkamp, D. Wissmann, Kleve
Der Aufstieg der ED-RFA – technologische Entwicklungen und
Anwendungsbeispiele
M. Haschke, D. Langbein, J. Flock, S. Scheller, Berlin/Duisburg
Präzisionsanalyse mit Röntgenfluoreszenz – Vergleich von EDXRF und WDXRF
J. Wess, Kassel
Kombinierte WDRFA und EDRFA in der Routine – lohnt sich das?
J. Gardonlinski, Almelo (Niederlande)
Verschiedene Ansätze in der Probenvorbereitung mit Schmelzaufschlüssen für die
RFA – auch für ungewöhnliche Materialien
D. Töwe, Engstingen
Einfache Oxidation von aluminiumhaltigen Probenmaterialien für eine effiziente
Verarbeitung durch einen Borataufschluss
K. Juchli, Ecublens (Schweiz)
Leitlinien, um eine gute Präzision, Genauigkeit und Richtigkeit für die Quantitative
Analyse mit WD-RFA-Geräten zu gewährleisten
F. Portala, K. Behrens, J. Stelling, D. Lamers, H. Lürs, Karlsruhe
Prozesskontrolle mit der RFA – Quo Vadis?
S. Dill, Sindelfingen
Referenzprobenfreie mobile XRF-Spektroskopie
M. Glaum, Sindelfingen
In-line und automatisierte Messungen mit der Röntgenfluoreszenz
K. Behrens, F. Portala, M. Scherrer, K. Termin, Karlsruhe
Höchstleistungen mit der RFA – die kleinen und großen Herausforderungen im
Zentrallabor mit der RFA gelöst
S. Hanning, S. Grothus, M. Kreyenschmidt, Steinfurt
Die Analyse von organischen Additiven in Kunststoffen mit der RFA

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