固体電解質に適した交流インピーダンス測定治具

第 5 6 回 電 池 討 論 会 ( 名 古 屋 )
2 F 0 1
2 0 1 5 / 1 1 / 1 2
ク オ ル テ ッ ク ・ 中 島
固体電解質に適した交流インピーダンス測定治具
および測定システムの開発
(株)クオルテック
滋賀県工業技術総合センター
○中島 稔
山本 典央、平野 真*
*現滋賀県庁
1.背景
2.測定システムの開発
(測定時の様子をビデオで紹介)
3.固体電解質の実測例
4.まとめ・今後の方針
謝辞
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他
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および測定システムの開発
1.背景
インピーダンスアナライザSolartron 1260と組み合わせて高精度で測定可能な測定治具の開発を行ってきた。
その結果、下記が明らかとなった。
●インピーダンスアナライザ・測定治具間の同軸ケーブル長は短いほど良い。 → 実用上30cmは欲しい。
●測定治具内のシールド配線が高周波特性に影響する。 → 被測定物を取り囲む必要あり
30cm
被測定物の周りに60°間隔で開けた
孔に3種類のシールド線を6本通す。
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および測定システムの開発
《測定治具2号機》
・ ケーブル長30cmの時、確度±5%(位相;±4.5°)で測定可能範囲は、
1MHz
1Ω~10kΩ
10MHz
20Ω ~ 1kΩ
・ 測定温度範囲は、-40℃~120℃。 ← シールド線を半田付け
《実測例》 LICGCTM(OHARA製) φ5.5mm×0.26mmt φ4mmAu電極
>10MHzの測定が必要!
最高測定周波数100MHz、最高測定温度300℃*を新たな目標に設定した。
*;硫化物系固体電解質の使用最高温度であり、かつ絶縁材としてポリイミドが使用できる最高温度である。
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および測定システムの開発
2.測定システムの開発
③一括制御ソフトウェア
(2台のインピーダンスアナライザ
と切替装置を一括制御)
①2台のインピーダンスアナライザ
(10mHz~100MHzを測定可能)
②切替装置
(同軸ケーブル4本を
一気に装脱着)
④測定治具
(300℃で四端子対法可能)
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および測定システムの開発
2.測定システムの開発
①2台のインピーダンスアナライザ
Solartron 1260
Keusight 4294A
(Keysight E4990A)
測定方式
周波数応答解析法
自動平衡ブリッジ法
周波数帯域
10μHz~32MHz
40~110MHz
(20~120MHz)
四端子対法
可 (O,I,H,L)
可 (Hc,Lc,Hp, Lp)
高→低周波数掃引
可
可
測定点毎の平均化
Auto Integration ; 3回
時間
回数
校正・補正
なし
ケーブル長校正
open-short-load補正
国内販売台数
>500
>1000
(?)
《必要要件》 10mHz~100MHzで測定可能
低周波数帯域 ; Solartron 1260 (事実上の標準機)
高周波数帯域 ; Solartron 1260に準ずる機能
(ⅰ)
(ⅱ)
(ⅱ)
(ⅲ)
(ⅳ)
最高測定周波数 100MHz以上
四端子対法が適応可能
高→低周波数への掃引可能
測定点毎の平均化が可能
多くのユーザー など
Solartron 1260 + Keysight Technologies 4294A or E4990A*
(10μHz~32MHz)
(40Hz~110MHz or 20Hz~120MHz*)
*2014年モデルチェンジした機種で、フルオプション時で上記の周波数帯域
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および測定システムの開発
2.測定システムの開発
②切替装置
《必要要件》 4本の同軸ケーブルを一気に装脱着可能
(ⅰ)
(ⅱ)
(ⅱ)
(ⅲ)
コネクタ・アダプタはプッシュオンタイプ
フローティング式アダプタ ← 装着時の位置ずれ緩和
コネクタ・アダプタを1枚の板に取り付け(計4組・8組)
パソコン制御可能 など
③一括制御ソフトウェア
《必要要件》 2台のインピーダンスアナライザと
切替装置を一括制御
(ⅰ) Windows7および8.1対応
(ⅱ) LabVIEW ® 2014で作成
(ⅱ) 測定データはZview ®形式で2ファイル など
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および測定システムの開発
2.測定システムの開発
④測定治具3号機
《必要要件》 300℃で四端子対法が可能
グローブボックスに持ち込み可能な大きさ
セラミックヒーター内蔵
測定治具内は300℃耐熱
耐熱同軸ケーブル、カルレッツ® Oリング、
耐熱クランプ、耐熱同軸フィードスルー他
(ⅲ) 被測定物 ; 最大φ20mm×5mmt
(ⅳ) 不活性ガス、真空雰囲気 など
(ⅰ)
(ⅱ)
(ⅱ)
→
耐熱同軸ケーブルアセンブリ
BNC
SMA
ステンレス製シールド
セラミックヒーター
ステンレス製芯線
ポリイミド
《-50℃測定時》
《300℃測定時》
熱電対
←ヒーターリード線
不活性ガス導入→
不活性ガス排出→
配管コック
配管コック
ステンレスデュワー
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※測定治具外壁温度;<100℃
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2.測定システムの開発 【測定システム全景(専用架台上)】
TypeⅠ 1260+4294A
TypeⅡ 1260+E4990A
一括制御ソフトウェア
一括制御ソフトウェア
Keysight 4294A
Solartron
1260
Keysight E4990A
切替装置
Solartron
1260
切替装置
測定治具
測定治具
※Solartron 1260と測定治具間の同軸ケーブル長を最短にするため、切替装置をSolartron 1260の端子直前に配置!
《注》 これ以降に提示する測定データは特に提示のない限り、TypeⅠで測定した。
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2.測定システムの開発
TypeⅠ 1260+4294A
1.E+04
5.1kΩ
1.E+03
1kΩ
20Ω
1.E+01
20kΩ
10kΩ
1.E+04
5.1kΩ
2kΩ
50Ω
100Ω
1.E+02
20Ω
10Ω
1.E+01
2Ω
1.E+00
1.E-01
1.E-02
10m
2Ω
1Ω
10kΩ
2kΩ
確度±5%
200Ω
50Ω
10Ω
1Ω
1.E+00
★両システムとも確度±5%での測定可能範囲は、下記の通り。
1MHzにおいて
2Ω~20kΩ
f [Hz]
f [Hz]
|→ 4294A
|→ E4990A
10MHzにおいて
2Ω~5.1kΩ
1260 ←|
100MHzにおいて
10Ω~1kΩ
1.E-01
1.E+00
1
1.E+01
1.E+02
100
1.E+03
1.E+04
10k
1.E+05
1.E+06
1M
1.E+07
1.E-01
1.E-02
1.E+08
100M
20
1.E-01
10m
1Ω
30
TypeⅡ 1260+E4990A
1260 ←|
1kΩ
1.E+03
確度±5%
200Ω
100Ω
|→ E4990A
1.E+05
1260 ←|
|Z| [Ω]
20kΩ
|Z| [Ω]
Tyco Electronics製チップ抵抗(1608サイズ)
|→ 4294A
1.E+05
1.E+02
【測定システムの基本性能(Bode線図)】
1.E+00
1
1.E+01
1.E+02
100
1.E+03
1.E+04
1.E+05
10k
30
1.E+06
1M
1.E+07
1.E+08
100M
1260 ←|
1Ω
20
2Ω
2Ω
10
10Ω
50Ω
100Ω
200Ω
1kΩ
2kΩ
確度±5%
0
θ [°]
θ [°]
10
-10
10kΩ
-10
-20
5.1kΩ
-20
10Ω
50Ω
100Ω
200Ω
1kΩ
2kΩ
確度±5%
0
5.1kΩ
10kΩ
-30
1.E-02
10m
20kΩ
1.E-01
1.E+00 1.E+01 1.E+02 1.E+03 1.E+04 1.E+05 1.E+06 1.E+07 1.E+08
1M
100M
100
10k
1
20kΩ
1.E-01
1.E+00
1
1.E+01
1.E+02
100
1.E+03
f [Hz]
f [Hz]
《注》 50Ωと100ΩはKeysight供給品で、
1Ωと2Ωは10Ωを並列に半田付けした。
-30
1.E-02
10m
9/16
1.E+04
10k
1.E+05
1.E+06
1M
1.E+07
1.E+08
100M
他
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【標準RC回路(Nyquist線図)】
2.測定システムの開発
TypeⅠ(30mV, 50 steps/decade, 100MHz→1kHz)
① 100Ω-(6.8kΩ, 68pF)
② 100Ω-(6.8kΩ, 7pF)
7000
7000
7000
1260
6000
1260
6000
7pF 3.47MHz
4000
3000
3000
1MHz
2000
1pF
25.1MHz
4000
3000
10MHz
2000
100kHz
1260
5000
-Z" [Ω]
4000
-Z" [Ω]
331kHz
4294A
6000
5000
5000
68pF
10MHz
4294A
4294A
-Z" [Ω]
③ 100Ω-(6.8kΩ, 1pF)
10MHz
2000
1MHz
100MHz
1000
1000
10MHz
100MHz
0
0
1000
2000
10kHz
1kHz
3000
4000
5000
1000
0
6000
0
7000
100kHz
1kHz
100MHz
1000
2000
3000
4000
5000
1MHz
1kHz
0
6000
7000
0
1000
2000
3000
Z' [Ω]
Z' [Ω]
《Zview ®によるフィッティング》
4000
5000
6000
7000
Z' [Ω]
(注) %表記はエラでー、赤字は正しく測定できている。
4294A
1260
4294A
1260
4294A
1260
R1 [Ω ]
99.65
0.0180%
94.79
0.3570%
R1 [Ω ]
96.64
0.2926%
-77.3
9.2955%
R1 [Ω ]
-134.7
10.5880%
-14639
11.4890%
R2 [Ω ]
6803
0.0120%
6802
0.0430%
R2 [Ω ]
6827
0.0349%
6965
0.1108%
R2 [Ω ]
7115
0.2486%
21519
7.7982%
C [F]
7.01E-11
0.0110%
7.07E-11
0.0570%
C [F]
6.88E-12
0.0110%
6.87E-12
0.2708%
C [F]
9.13E-13
0.6028%
1.58E-13
15.7200%
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および測定システムの開発
2.測定システムの開発 【測定時の様子
標準RC回路① 100Ω-(6.8kΩ, 68pF)
TypeⅠ(30mV, 50 steps/decade, 100MHz→1kHz)
2分版紹介ビデオ
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および測定システムの開発
3.固体電解質の実測例
3.1.LICGCTM(OHARA製) φ19mm×0.26mmt φ6mmAu/Cr電極
TypeⅠ
10mV(-50℃のみ50mV), 50 steps/decade, 4294A;100MHz→1MHz, 1260;10MHz→10Hz)
60
1,000
140,000
0℃~100℃
100℃~300℃
-50℃
0℃
800
40
100℃
150℃
100℃
300℃ 200℃
250℃
1MHz
400
25℃
1260
10Hz
80,000
3.8kHz
60,000
40,000
145Hz
200
50℃
0
4294A
100,000
100MHz
100MHz
120,000
-Z" [Ω]
-Z" [Ω]
-Z" [Ω]
600
20
測定後に割れたため
写真撮影せず。
20,000
1MHz
0
0
100MHz
-20
-200
0
20
40
Z' [Ω]
60
80
-20,000
0
200
400
600
800
1,000
1,200
0
20,000 40,000 60,000 80,000 100,000 120,000 140,000 160,000
Z' [Ω]
●大きな半楕円弧と小さな半楕円弧で構成される。 ← 単相でないことが原因か?
●150℃以上で小さな半楕円弧が見えなくなっている。
●200℃以上では100MHz付近のインピーダンスが小さすぎて、正しく測定できていない。
→ 大きなキャパシタンス成分を有する“厚くかつ大口径の被測定物”が必要!
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Z' [Ω]
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測定後
3.固体電解質の実測例
3.2.LLZ®(豊島製作所製) φ10mm×0.5mmt φ4mmAu/Cr電極
TypeⅠ
10mV, 50 steps/decade, 4294A;100MHz→100kHz, 1260;10MHz→0.1Hz, 25℃~300℃
50
600
120,000
25℃~100℃
100℃~300℃
100,000
50℃
400
100℃
150℃
300℃
20
200℃
250℃
10
100MHz
0
-Z" [Ω]
30
100MHz
1MHz
200
10MHz
100℃
10
20
30
Z' [Ω]
40
50
60
60Hz
0
100MHz
-20,000
-200
0
692Hz
100kHz
100kHz
100MHz
-10
60,000
20,000
0
100kHz
1.66Hz
40,000
10MHz
4294A
1260
80,000
10MHz
100MHz
100MHz
1MHz
25℃
-Z" [Ω]
40
-Z" [Ω]
25℃
0
200
400
600
800
0
20,000
40,000
Z' [Ω]
●大きな半楕円弧と小さな半楕円弧で構成される。 ← 単相でないことが原因か?
●200℃以上で小さな半楕円弧が見えなくなっている。
●200℃以上では100MHz付近のインピーダンスが小さすぎて、正しく測定できていない。
→ 大きなキャパシタンス成分を有する“厚くかつ大口径の被測定物”が必要!
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60,000
80,000 100,000 120,000 140,000
Z' [Ω]
他
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3.固体電解質の実測例
測定後
3.3.LLZO(豊島製作所製粉末をSPS焼結<500℃>)
φ20mm×2.9mmt φ18mmAu/Cr電極
TypeⅠ
500
25℃
25℃~300℃
50℃
8.E+03
200℃
100℃
400
150℃
300
1.585MHz
200
-100
-100
4.E+03
200℃
2.E+03
50℃
100℃
2.51MHz
100kHz
100MHz
200
300
Z' [Ω]
400
2.E+05
500
600
-2.E+03
0.E+00
100kHz
150℃
0.E+00
0.E+00
100
3.98kHz
3.E+05
100kHz
300℃
0
25℃~300℃
25℃
1.E+05
100kHz
0
100℃
25℃~300℃
158.5kHz
25℃
300℃
50℃
150℃
250℃
250℃
100
4.E+05
6.E+03
-Z" [Ω]
-Z" [Ω]
1.E+04
-Z" [Ω]
600
30~500mV, 10 steps/decade, 4294A;100MHz→1MHz, 1260;10MHz→10mHz)
2.E+03
4.E+03
6.E+03
8.E+03
1.E+04
1.E+04
-1.E+05
0.E+00
1.E+05
2.E+05
Z' [Ω]
●200℃以上でも小さな半楕円弧が出現している。
●大きなキャパシタンス成分を有する“厚くかつ大口径の被測定物”は高温測定に有効!
●位相が-90°に近いとややバラツキが大きい。 ← open-short-load補正が関係か?
14/16
3.E+05
Z' [Ω]
4.E+05
5.E+05
他
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4.まとめ・今後の方針
● 300℃まで加熱可能な専用の測定治具を有し、2台のインピーダンスアナライザ、切替装置、それらを
一括制御できるインピーダンス測定システムを開発した。
● 測定周波数帯域は10mHz~100MHzで、測定温度範囲は-50℃~300℃であり、確度±5%で測定可能な
インピーダンス値には次の通りである。
1MHz
2Ω~20kΩ
10MHz
2Ω~5.1kΩ
100MHz
10Ω~1kΩ
● さらに高温の測定ができるシステムへと改良を加えていく予定である。
謝辞
SPS法を用いた焼結に際してお世話になりました滋賀県東北部工業技術センター・斧氏に感謝いたします。
本件は、平成26年度新エネルギー・ベンチャー技術革新事業(NEDO)より委託を受けて実施したものです。
関係各位に感謝いたします。
15/16
他
お知らせ
◎本測定システムにご興味をお持ちの方へ
5分版ビデオ上映 ・A4版パンフレット配布
2F展示会場 宝泉様ブース
8F展示会場 東陽テクニカ様ブース
◎本測定システム実機をご覧になりたい方へ
オートモーティブワールド2016
2016/1/13-15
弊社ブースにて実機展示予定
16/16
@東京ビッグサイト