05_LC2850_W1890×H841 チップ裏面保護テープ (一般タイプ、赤外線透過タイプ、薄ウェハ対応タイプ、熱伝導タイプ) Backside Coating Tape (General Type, Infrared Transmission Type, Thin Wafer Type, Thermal Conductive Type) 熱伝導タイプチップ裏面保護テープ Backside Coating Tape for Thermal Conductive Type フリップチップ実装において、チップ裏面を保護する特殊テープです。 ■ ウェハ裏面の保護・補強に有効 ■ 液状コーティング剤と比較して、保護層の厚みを高い精度で実現 ■ 良好なレーザー印字適性 ■ 専用ラミネーター「RAD-3600F/12」、汎用マウンター「RAD-2510F/12Sa」 を使用することで、高精度の貼付が可能 デバイスからの発熱を外部に放熱させます。 Heat form device discharged externally. Effective in protecting and reinforcing the surface of wafer backside ■ High thickness uniformity compared to the conventional liquid coating ■ Excellent laser marking performance ■ Highly efficient lamination achieved with the “RAD-3600F/12” a laminator specially designed for LC Tape and “RAD-2510F/12Sa” 熱 Heat チップ Die LC Tape is a special protective tape which coats the wafer backside for Flip Chip packaging. ■ 熱伝導率 3W/m・K Thermal conduction チップ裏面保護テープ Backside coating tape ※「R A D -2510F/12Sa」は、薄ウェハ 対応タイプに適 応します。 ※“RAD-2510F/12Sa” 参考出展 Exhibited for reference バンプ Bump 従来品 Conventional product 基板 Substrate 開発品 Development product is only for thin wafer type. 参 考出展 Exhibited for reference 品番 Product Name タイプ Type 特徴 Features 一般タイプ General type 高信頼タイプ High reliability type 赤外線 透 過タイプ Infrared-transmission type 薄ウェハ対応タイプ Thin wafer type 熱伝導タイプ Thermal conductive type WLCSP デバイスの チップ 裏面保護 用として採用 Used for protection of back side of WLCSP device chips. 信頼性レベルを上げました。 The reliability level had raised. テープが赤外線を透 過します。 The tape penetrates through infrared rays. プリカット型 Pre-cut type デバイスからの発 熱を 外部に放 熱します。 Heat form device discharged externally. 信頼性レベル C Passed Condition C 赤外線を用いたテープ越しの チッピング検 査が可能 Permits tape-lifting chipping inspection using infrared. ウェハマウントされた状 態での ハンドリングが可能です。 Permits handling with wafer mounted. 熱伝導率 3W/m・K Thermal conduction 信頼性レベル G Passed Condition G ダイシングソー Dicing saw 従 来プロセス:LC2850/LC28X4/LC28X6 Conventional Process BG 用表面保護テープ BG tape バンプウェハ Bump wafer BG 用表面保護テープ ラミネート BG tape lamination LC テープラミネート LC tape lamination 熱硬化(130℃×2 時間) Heat curing 130 ℃×2hrs ウェハマウント Wafer mounting バックグラインド Back grinding ダイシング Dicing ピックアップ Pick up ダイシングソー Dicing saw 薄ウェハ対応プロセス:LC86R series Process for Thin Wafer ウェハマウント Wafer mounting BG 用表面保護テープ剝離 BG tape peeling 熱硬化(130℃×2 時間) Heat curing 130 ℃×2hrs ダイシング Dicing ピックアップ Pick up
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