総合技術研究所 分析関連装置一覧 表面/バルク分析装置 X 線光電子分光分析装置(XPS) 微小部 X 線光電子分光分析装置(μ-XPS) 原子間力顕微鏡(AFM) 電子線プローブマイクロアナライザ(EPMA) 電界放出形走査電子顕微鏡[エネルギー分散型 X 線分析装置付](FE-SEM-EDS) 高周波グロー放電発光分光分析装置(HF-GDS) 蛍光 X 線分析装置(XRF) X 線回折装置(XRD) 有機/無機分析装置 フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR) フーリエ変換核磁気共鳴分析装置(FT-NMR) ガスクロマトグラフ-質量分析計[熱分解装置付](Py-GC-MS) ラマン分光分析装置(RAMAN) 高速液体クロマトグラフ(HPLC) ガスクロマトグラフ(GC) 誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP) 原子吸光分析装置(AA) 紫外・可視分光光度計(UV-VIS) イオンクロマトグラフ(IC) 物性測定装置 示差熱・熱重量測定装置(TG-DTA) 示差走査熱量計(DSC) 電気化学顕微鏡(SECM)
© Copyright 2024 ExpyDoc