Automotiveシンポジウム 2015 ■■ 次世代製品開発のためのシミュレーションと計測の最前線 ■■ 本シンポジウムは、⾃動⾞産業向けのエレクトロニクス機器の開発や製造、メンテナンスに携わるエンジニアの⽅に最新の計測テク ノロジーやシミュレーション環境をご紹介するものです。レーダーシステムや通信機器、更に電⼦部品やモジュール機器などの評価 に役⽴つ情報をご提供いたします。時節柄ご多忙のこととは存じますが、万障お繰り合わせの上、ご来場賜りますようお願い申し 上げます。 ⽇時 2015年1⽉22⽇（⽊） 13:00〜 18:30 （※）受付は、 12:30 より開始致します。 名古屋ルーセントタワー 16階 G/F会議室 住所： 〒451-6040 愛知県名古屋市⻄区⽜島町6-1 名古屋ルーセントタワー 16階 JR名古屋駅より 徒歩5分 会場 交通： 受講料 申込締切 無料（事前申込制） 定員になり次第締め切らせていただきます。 お早めにお申し込みください。 ※同業他社の⽅、および個⼈の⽅のご参加は、お断りさせて頂く場合がございます。 あらかじめご了承ください。 定員 各セッション 70名 主催 キーサイト・テクノロジー合同会社 お問合わせ キーサイト・イベント事務局 e-mail：[email protected] 詳細・お申込みはこちら： http://www.keysight.co.jp/find/autosympo キーサイト・テクノロジー合同会社 本社〒192-8550 東京都⼋王⼦市⾼倉町9-1 計測お客様窓⼝ 受付時間9:00-18:00（⼟・⽇・祭⽇を除く） TEL 0120-421-345 (042-656-7832) FAX 0120-421-678 (042-656-7840) Email [email protected] ホームページ www.keysight.co.jp 記載事項は変更になる場合があります。 Automotive 2015 Automotive・トラック 12:30〜 受付 セッション１ EMI評価を知ろう！ 弊社 電⼦計測本部アプリケーションエンジニアリング部⾨ 池原 司益 昨今、⾞載機器の電⼦回路複雑化により、種類/規模を問わず、EMIへの対応の必要性が⾼まっています。 電⼦機器の内部⼲渉(⾃家中毒)の問題、国際規格のCISPRも規制も改定され、EMIは避けて通れません。 本セッションはデジタルエンジニアが知っておくべき規格および測定(プリコンプライアンス/フルコンプライアンス)について 多種機器を使ったノイズの評価⼿法を紹介します。 13:00〜14:00 ◆ノイズ測定のためのスペクトラムアナライザの基礎講座（20分） を含みます。 14:00〜14:10 セッション2 ⾞両内環境を模擬した最新ECU測定⼿法 弊社 電⼦計測本部アプリケーションエンジニアリング部⾨ ⼩室 ⾏央 ⾞載ネットワークを構成する⾞載製品の電⼦化が進んでいます。その⼀⽅で、⺠⽣機器と⽐較すると⾞両の環境 はノイズが多く⾞載機器の動作には厳しい環境です。 本セッションでは、⾞載製品で重要な役割を果たすECUに注⽬し、⾞両を模擬した環境化での最新通信規格評 価、電源変動評価、温度評価の３つの切り⼝から最新のECU測定⼿法をご紹介します。 14:10〜15:10 ◆オシロスコープの基礎講座（20分） を含みます。 15:10〜15:30 休憩 / プロダクトフェア セッション３ 次世代衝突防⽌レーダ開発における最新評価⼿法 弊社 電⼦計測本部アプリケーションエンジニアリング部⾨ ⼤津⾕ 亜⼠ 最新のミリ波⾞載レーダは、距離分解能の向上、より広い視野⾓の実現のため、より⾼いキャリア周波（79GHz 帯）への移⾏、超広帯域FM変調（最⼤4GHz）、フェーズドアレイ・アンテナの採⽤等、最新技術の研究開発 が盛んに⾏われています。これらの最新技術を測定評価するためには⾰新的な測定器と⼿法が不可⽋です。 本セッションでは、新製品である超広帯域信号発⽣器とスペクトラム・アナライザを始め、最新の衝突防⽌レーダの 評価⼿法をご紹介させていただきます。 15:30〜16:30 ◆ネットワークアナライザの基礎講座（20分） を含みます。 16:30〜16:40 休憩 セッション４ ⾼効率スイッチング回路設計に⽋かせないパワーデバイス測定⼿法 弊社 電⼦計測本部アプリケーションエンジニアリング部⾨ 渡邊 裕 16:40〜17:40 パワーデバイスを⽤いた回路で、スイッチング/駆動損失を抑えた設計には、静電容量、ゲート電荷の評価が不可 ⽋で、カーブトレーサなど従来のツールでは対応でません。本セミナ-ではゲート電荷/温度制御機能が追加された、 パワーデバイス・アナライザB1506Aによる対応を実例をご覧いただきながら、紹介致します。 ◆半導体パラメータアナライザの基礎講座（20分）を含みます。 17:40〜18:30 プロダクトフェア/ハンズオン・体験コーナー ハンズオン・体験コーナーでは 一目瞭然。最新ハンディーサーモグラフィによる基板温度測定 “体験” 次世代オシロスコープによる簡単不具合切り分け “体験” 【同時開催】 次世代開発に貢献する様々な最新計測Solutionを展示致します！ NEW Release! CANバス不具合に対する画期的な切り分け解析手法を実現したオシロスコープ NEW Release! 超広帯域！次世代レーダー模擬試験対応信号源/スペクトラムアナライザ NEW Release! 温度特性試験に対応した、業界初！半導体パラメータアナライザ 一体型フィールドテスタ（信号源/パワーメータ/ネットアナ/スペアナ全部入り！） NEW Release! 新しい測定器のあり方を提案するモジュール型計測器ラインナップ紹介 最大１０KWまで拡張可能な簡易充放電試験システム シミュレーションから実測へ！最新設計ツール ほか、多数展示をご用意しております！
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