20140410 ASSIST REPORT 異 異物 物の の調 調査 査 KAR009 異物が混入することによる外観不良、機能不良の問題でお困りではないでしょうか。異物の正体が判れば、異物の 混入経路解明の重要な手がかりとなります。 環境アシストは分析機器を使用して、その異物の正体を調査解析いたします。 【光学像による観察】 通常の顕微鏡写真では、対象物自体の高低差で焦点が合わないことがありますが、弊社では高低差に影響されず に鮮明な写真をご提供します。 ●マイクロスコープ 倍率 35～200 倍 段差の影響で一部焦点が合わない個所がありますが、弊社では、1 枚の写真で焦点を合わせた写真を提供するこ とが可能となります。 （通常撮影）ピントが合わない個所があります。 (マイクロスコープ）ピントが合った写真を撮影できます。 ●レーザー顕微鏡 倍率～1000 倍程度 凹凸のある表面の観察は高倍率であるほど焦点が合わなくなります。レーザー顕微鏡は、凹凸があっても鮮明に 撮影する事ができます。下の写真は、上記に示した樹脂の表面を撮影したものです。１つの製品の場所を変えて撮 影したもので、表面状態の違いを確認することができます。また表面粗さを数値化（Ra、Rz など）する事も可能です。 （上記写真緑印の箇所） （上記写真青印の箇所） 弊社では、異物の大きさに合わせて、上記の方法で鮮明な写真を撮影しご報告いたします。上記のように外観の 大きさ、色調、付着の状態などを詳しく観察を行い、次の分析に進みます。有機物であれば FT-IR、無機物であれば SEM／EDX で分析を行います。 （１／2） 株式会社 環境アシスト 群馬県高崎市倉賀野町 2925-3 TEL027-346-6114 http://www.kankyoassist.com/ FAX027-346-6112 [email protected] 20140410 ASSIST REPORT 【フーリエ変換型赤外分光光度計による分析】 フーリエ変換型赤外分光光度計（FT-IR）は、定性つまりどの様な材質であるかを知るのに有効な分析装置です。 例えば、異物の原因と考えられる物質の赤外吸収スペクトルを測定し、異物の赤外吸収スペクトルと比較すること によって、原因となったものを特定することができます。また原因となる物質がまったく判らないときには、ライブラリ ーと比較し、似通った化合物を検索することも可能です。 （異物） （ライブラリー検索） FMX #78; NYLON ライブラリー検索結果 ピンセット等で採取 FT-IR 測定 0.5 0 正常補正 異物 0.2 0.1 0 4000 3500 3000 2500 2000 1500 1000 500 wavenumbers 【SEM/EDX】 光学顕微鏡は光の波長より小さいものを観察できませんが、電子顕微鏡(SEM)は光の波長より短い電子線を試料 に照射する事で発生する二次電子を用いて、数 10nm（1ｎｍは 1mm の 1／1000000）の構造を鮮明に観察することが できます。同時に SEM に装着しているエネルギー分散型 X 線分析装置（EDX）によって、元素分析（どの様な元素で 構成されているか）ができます。 （上記樹脂製品表面の SEM 写真 3500 倍） （EDX：イメージ） 001 SiKa 5500 5000 4500 FeKa FeKb CrKa 500 CrKb KKb CaKa 1000 TiKa FeKesc TiKb 1500 CaKb 2000 ClKb 2500 KKa 3000 ClKa Counts 3500 CKa TiLl TiLa CrLa CrLl OKaFeLl FKa FeLa NaKa AlKa 4000 0 0.00 1.00 2.00 3.00 4.00 5.00 6.00 7.00 8.00 9.00 10.00 keV 弊社ではご要望に応じて、元素分析以外に表面状態を SEM 観察することも致します。 （アクリル製樹脂表面 SEM 写真 3500 倍） （アクリル樹脂写真） 左図は、アクリル製の透明樹脂の 表面を観察した SEM 写真です。 透明な樹脂でも、表面状態の観察 が可能です。 （アクリル製樹脂→） 他にご要望があればお気軽にご相談ください。 （2／2） 株式会社 環境アシスト 群馬県高崎市倉賀野町 2925-3 TEL027-346-6114 http://www.kankyoassist.com/ FAX027-346-6112 [email protected]
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