Agilent T4010S LTE RFコンフォーマンス /DVテスト・システム Technical Overview 概要 Agilent T4010Sシリーズの自動テスト・ システムには、LTE端末（UE）のデザイ ン検証（DV）／コンフォーマンス・テスト （CT）用のLTE/LTE-Advancedキャリ ア・アグレゲーション （CA）RFソリューシ ョンが含まれています。T4010Sシリー ズには、キャリア承認に必要なさまざま なネットワーク・プロバイダ・テスト・プラ ンが用意されており、3GPPで定義され ているLTE RFコンフォーマンス・テスト・ ケースなどが可能なオールインワンのプ ラットフォームです。 T4010Sは、他のLTE RFテスト・システ ムと比べてコンパクトで機器効率の高い テスト・プラットフォームです。このため、 保守／校正コストの削減、消費電力の最 小化による運用コストの削減、占有面積 の低減を実現できます。 デザイン検証 ベースバンド/RFハードウェア開発者のテ スト・ニーズに対応するために、T4010S DVシステムには、3GPP 36.521-1テス ト仕様に準拠した包括的なテスト・ケー スが用意されています。このため、す ぐに、LTE UEのプリコンフォーマンス・ テストが可能です。 T4010S DVシステムを開発の早い段階 で使用すれば、テスト・ケースを作成／ カスタマイズし て、LTE UEのRFパラ メトリック・デザイン特性を検証し、プロ ジェクトの後半でコストのかかる再設計 や変更を回避できます。このため、新 しいLTE UEのデザインの信頼性を高 め、製品化までの時間を短縮できます。 T4010S DVは、モジュール方式で柔軟 性が高いため、品質保証や量産スクリ ーニングにも最適です。 コンフォーマンス・テスト T4010S CTシステムは、UE/チップセ ット・メーカやサード・パーティの認証テ スト・ハウスのニーズに対応するために、 被試験デバイス （DUT）のデータのテスト・ システムへの入力、実行するテスト・プ ランの定義、特定のUEの特性に準拠し たテストを実行するためのシステムの設 定、テスト結果の解析、関連するテスト・ レポートの作成を支援する包括的なツー ル・セットが用意されています。 バンド数の増加に対応する検証ステータ ス、GCF/PTCRB固有の要件のサポー ト、テスト・システムの完全自動化機能、 システム全体の占有面積の削減により、 Agilent T4010S CTシステムは、ラボ 環境で最もコスト・パフォーマンスの高い テスト・プラットフォームとなっています。 主な特長 Agilent T4010S CT/DVシ ス テ ム は、 LTE UEの市場投入までの期間の短縮 に必要な機能を備えています。 • 使いやすいプロジェクト管理環境でテ ストの実行や結果の解析が容易 • すぐに使えるすべてのハードウェア 構成で3 GHzまでのLTEで定義され ているすべての周波数バンドをサポ ート • GCF/PTCRBで検証済みのテスト・ケ ースをすべてカバー。継続的な検証 により、将来のテスト要件にも対応 可能 2 • 運用保守コストを削減：同一のテス ト・カバレージで比較した場合、業界 で最もコンパクトで効率の高いハード ウェア・アーキテクチャ • RF経路補正手順の自動化 • レポート作成機能を使用すれば、テ スト結果に直接アクセス可能。エクス ポート機能では、さまざまなフォーマ ット （html、CSV、XMLなど）に対応 可能 • 主要なLTEシグナリング／テスト条 件の設定パラメータにアクセスして、 RFテスト・ケースをカスタマイズで き、3GPPのコンフォーマンス・テスト 仕様の範囲外の設定でテストが可能 • T4010S DVシステムは、T4010S CT と同じハードウェア構成とソフトウェ ア・アーキテクチャをベースにしてい るため、コンフォーマンス要件に完全 にトレーサブル 目標達成の加速 GCF/PTCRBの要件に準拠した 3GPPテスト・ケースを 完全にカバー T4010S CTシステム（GCF/PTCRBテス ト・プラットフォーム番号95）は、GCF/ PTCRB要件に従って検証済みの3GPP TS 36.521-1コンフォーマンス・テスト・ ケースを す べ て サポートし て い ま す。 こ れ ら の テ スト・ケー ス に は、GCF/ PTCRBのチャネル帯域幅要件の異なる バンドを含め、認証のために必要なす べてのデュプレックス／バンド／帯域幅 の組み合わせが含まれています。さら に、Agilentでは、新しい要件が明らか になると同時にテスト・ケースを追加し 続けています。最新の検証済みテストの リストについては、計測お客様窓口まで お問い合わせください。 コスト・パフォーマンスの 高い汎用ハードウェア 包括的なテスト・システム 自動化機能 T4010S CT/DVシ ス テ ム は、Agilent T2010A LTE無線通信テスト・セットを 中心に構築されています。T2010Aは、 自動化されたT4010Sシステムでは、無 人操作が可能で、生産性が最大限に向 上します。ATコマンドまたは規格外の UE固 有 のコマンド・セットを 使 っ て、 被試験UEを自動制御するようにテスト・ システムを設定することもできます。 システム・コンポーネント間の相互接続に 対応できるだけでなく、RF信号のコン ディショニング／フィルタリング機能が あり、専用のフィルタ・バンドが不要で、 ハードウェアをアップグレードしなくて も3 GHzまでの既存のすべての周波数 バンドに対応した共通ハードウェア・プラ ットフォームを構築できます。高性能の Multi-RATネットワーク・エミュレータで あるT2010Aには、さまざまな機能が あります。 • 3GPPで定義されているすべての帯 域幅およびバンド （3 GHzまで）に対 応するFDD LTE/TD-LTEネットワー ク・エミュレータ UEの特性を評価するための さまざまなRF測定手順 • 2つのMIMOコンポーネント・キャリア T4010S DVシステムは、規格や周波数 バンドに依存しないカスタマイズ可能な テスト手順がすべて用意されています。 これらのテスト手順は、以下のような LTE UEの特性評価に必要な測定をす べてカバーしています。 • チャネル内測定（3GPP TS 36-521-1、 Chapter 6のテスト・ケース）用の内蔵 LTE ULシグナル・アナライザ • パワー／パワー制御測定 • グローバル・インチャネル測定 • レシーバ測定 • レシーバ性能測定 • CQI/サブバンドCQI/PMIレポート 測定 • 占有帯域幅／スペクトラム・マスク／ 隣接チャネル漏洩電力測定 • ブロッキング／相互変調測定 を同じ測定器でエミュレートできる LTE-Advancedキャリア・アグレゲー ション・エミュレータ • レシーバの実環境条件下での特性評 価（3GPP TS36.521-1、Chapter 8 および9のテスト・ケース）用の内蔵フ ェージング・チャネル・エミュレータ • 目 的 の 信 号 にAWGN、OCNG、 任 意の干渉を付加することができる内 蔵 干 渉 発 生 器（3GPP TS36.521-1、 Chapter 8および9のテスト・ケースに 対応） チャネル外測定に必要な追加測定器は ごくわずかです。以下の測定器を追加 するだけで、T4010S CT/DVシステム のフル構成が可能です。 • 外部スペクトラム・アナライザ（チャネ ル外UEトランスミッタ測定用） 3 UEの自動制御に対応するために、テス ト・システムがUEを自動制御する際に使 用するAPIが公開され、独自のUEドラ イバを開発して、テストの実行を自動化 できます。T4010Sシステムにおける自 動化には、電源や気候室などの補助装 置も含まれているため、極限条件での テストも完全に無人化できます。 テスト機能に対応するための アップグレード・オプション T4010Sシリーズのシステムはすべて同 じ基本ハードウェア／ソフトウェア・プラ ットフォームを共有しているため、ニー ズの変化に応じて、コンフォーマンス・テ ストやデザイン検証のパラメトリック・テ ストを簡単に追加できます。さらに便利 なことに、DVシステムとCTシステムの 両方のソフトウェア・バージョンを同じテ スト・システムに搭載して、任意に切り 替えることができ、利便性とコスト・パ フォーマンスが最大限に高まります。 システム・コンポーネント Agilent T4010SシリーズのLTE RFテ スト・システムには、2種類のハードウェ ア構成（DVとCTの両方のシステムに共 通）があります。 ベンチトップ構成 スケーラビリティはT4010Sの最大の特 長の1つで、変化するニーズに簡単に対 応できます。このため、2種類のベンチ トップ構成が用意されています。 フル・テスト・システム構成 測定器の種類を減らして1つのラックに 収納した構成です。すべてのUEのRF 特性をテストでき、ベンチトップ構成で サポートされている一連のテストに加え て、ACS、ACLR、OBW、バンド内／ バンド外ブロッキング、相互変調、トラ ンスミッタ／レシーバのスプリアス・テス トが可能です。 1台のAgilent T2010A LTE無線通信テ スト・セットでは、レシーバの性能テスト やCSIテストはもちろん、UEのトランス ミッタ／レシーバのチャネル内特性など のテストが可能です。 バンド外測定（スプリアス・エミッション、 ACLR、OBW、SEMなど）が必要な場 合は、ワンボックス・ソリューションに Agilent N9020A MXAシグナル・アナラ イザとT1250A RFスイッチング・ユニッ トを追加することで、よりカバレージの 広いベンチトップ構成にアップグレード できます。 1.6 mのラック 1×N9020A MXA 1×T2010Aユニット 1×E66311B DC PSU （オプション） 1×T1250A RF スイッチング・ ユニット T2010Aユニット 1×E8257D CW SG 4 ユーザ・インタフェース Agilent T4010Sには、テスト・サイクル 全体をサポートする使いやすいソフトウ ェア・ツール・セットが付属しています。 • テスト・ケースのパラメータ化 • テスト・プロジェクトの作成／実行 • 結果の解析 テスト完了後、テスト・システムのデータ 解析ツール （テキスト表示とグラフィック 表示の両方）を使って、RF測定結果を 簡単に処理することができます。デー タをさまざまなフォーマットでエクスポ ートして、すべての関係者と簡単にデー タを共有できます。DUTとテスト・シス テムの間のIOTプロトコルの問題など、 Agilent T4010S CTシステムを使用す れば、Agilentが開発／検証したテスト・ ケース・ライブラリの中から、実行する テスト・ケースを選択することができま す。これらのライブラリのさまざまなバ ージョンをいつでもインストールできる ので、大変便利です。またドロップ・ア ンド・ドロップの簡単な操作で、実行す るテスト・ケースを選択できます。選択 したテスト・シーケンスをカスタム・テス ト・プランとして保存して、後で再利用 することもできます。簡単なダイアロ グ・ボックスの設定に基づいて、周波数 バンド、チャネル帯域幅、特定の周波数 チャネル、極限条件でのテストの設定が テスト・システムによって自動的に行わ れます。 図1. テスト・プランの作成 テスト実行パラメータを変更する必要が ある場合には、プロジェクト管理ツール 内のテスト・キャンペーン・エディタ・ウィ ンドウで簡単に変更できます。T4010S のCTバージョンでは、直接変更するパ ラメータを選択できるので、テスト・ケ ースをある程度カスタマイズすることが できます。 DUTの自動制御、電源、気候室の管理、 自動テストの再試行に関連するパラメー タもオペレータが設定できます。これら のパラメータは、T4010S CTシステム だけでなく、Agilentのほとんどのテス ト製品に共通です。 図2. 解析結果（グラフィック・ビュー） 図3. プロトコル解析（MSCビュー） 5 一般的な相互運用性の問題が発生した 場合には、T4010S CTに付属のトレー ス／ログ解析ツールのデータ・ビュー （ロ グ、表形式、MSCなど）を使用できま す。メッセージ・デコード機能と収集し たデータの長さによって、こうした問 題を簡単に特定して解決することがで きます。 T4010S移動機テスト・アプリケーション Agilent T4010S LTE移動機テスト・ア プリケーション （T4010S-MTA）は、LTE 対応UE用の究極の開発ツールです。 T4010S-MTAテスト・アプリケーション は、T2010A LTEテスト・セット上で動 作し、UEおよびチップセットの開発者 向けに、ベンチトップLTEネットワーク・ エミュレータ、マルチパス・フェージング・ エミュレータ、アップリンク・シグナル・ア ナライザの機能を提供します。RF開発 に必要な機能を1台の測定器に統合して います。 強力なLTE ULシグナル・ アナライザ機能 リモート制御および 自動化機能 T4010S-MTAには、高度な信号解析機 能（チャネル・パワー、コンスタレーショ ン、スペクトラム・フラットネス、CCDF など）を備えたULシグナル・アナライザ が内蔵されています。この機能を使用 すれば、基準測定チャネルを容易に変更 でき、シグナル・アナライザは自動的に 設定を変更して、LTE対応UEから送信 される信号の品質を適切に解析します。 T4010S-MTAのSCPIインタフェースに より、システムのリモート制御と自動化 が可能です。 図4. 測定：マルチビュー また、T4010S-MTAは、non-signaling 動作モードでの柔軟な信号生成／解析 手法により、LTE UEの開発の早い段 階でのコンポーネント・テストから統合フ ェーズまでサポートしています。 T4010S-MTAでは、HARQフィードバ ックに基づいたレシーバ測定も可能で す。内蔵チャネル・エミュレータとの組み 合わせにより、完全なレシーバ特性評 価テスト・スイートをベンチ測定器で実現 できます。 LTE UEレシーバ測定 MTAは、 測 定 中 にUEをネットワーク から切断せずに、セル・パワー・レベル、 AWGN、マルチパス・フェージング・エミ ュレーション、アンテナ相関を変更でき、 レシーバ性能解析とベンチマーク測定に 最適です。またMTAでは、UEから測 定レポート （RSRPおよびRSRQ）とチャ ネル・ステート情報（CSI）を報告させて その正確さを測定することも簡単に行 えます。 図5. RB割り当て 図6. Tx測定：チャネル・パワー 図7. Rx測定：BLER/スループット 6 技術仕様 3GPP LTE eNodeBトランスミッタ 周波数バンド FDD TDD バンド1、2、3、4、5、7、8、9、10、11、12、13、14、17、18、19、20、21、23、24、25、26、27 バンド33、34、35、36、37、38、39、40、41 帯域幅 1.4、3、5、10、15、20 MHz 巡回プリフィックス ノーマル、拡張 搬送波間隔 出力レベル分解能 15 kHz −110 ∼ 0 dBm −110 ∼−7 dBm 0.1 dB MIMO構成 2×2、4×2 コネクタの出力レベル範囲 Tx Tx/Rx 3GPP LTE eNodeBレシーバ 周波数バンド 入力レベル範囲 FDD TDD バンド1、2、3、4、5、7、8、9、10、11、12、13、14、17、18、19、20、21、23、24、25、26、27 バンド33、34、35、36、37、38、39、40、41 ＋26 ∼−50 dBm オーダ情報 オプション 概要 T4010Sハードウェア・オプション T4010S-H01 T4010S-H02 T4010S-H05 T4010S-H06 T4010S-H10 T4010S-H11 T4010S LTE RFベンチトップ・ワンボックスH01 T4010S LTE RFベンチトップH02 T4010S LTE RFベンチトップ・デュアル・セルH05（ワンボックス） T4010S LTE RFベンチトップ・デュアル・セルH06 T4010S LTEフル・コンフォーマンスRFテスト・システム T4010S LTEフル・コンフォーマンス／補助RFテスト・システム T4010Sプラットフォーム・ソフトウェア・オプション T4010S-SOP T4010S-DRV T4010S-TCC T4010S-MTA T4010S LTE RF操作ソフトウェア・パッケージ T4010S LTE RF外部測定器ドライバ・パッケージ T4010S LTE RF DVテスト・ケース構成ツール T4010S LTE移動機テスト・アプリケーション T4010S CT測定ソフトウェア・オプション T4010S-C00 T4010S-C01 T4010S-C02 T4010S-C03 T4010S-C04 T4010S-C05 T4010S-C06 T4010S-C07 T4010S-C08 T4010S-C20 T4010S-C21 T4010S-C22 T4010S-C50 T4010S-C51 T4010S-C52 T4010S-C53 T4010S-C54 T4010S-C55 T4010S-C56 T4010S-C57 T4010S-C58 FDD基本出力パワー／チャネル内／レシーバ：イントロ・パッケージ FDDトランスミッタ出力パワー／チャネル内：アドバンスド・パッケージ FDDトランスミッタRFスペクトラム／スプリアス／相互変調 FDDレシーバ性能：ベーシック・パッケージ FDDレシーバ性能：CQI/PMIレポート・パッケージ FDDレシーバのスプリアス／相互変調／変調/CW干渉源測定 FDD Rel-9レシーバ性能（バッチ1） FDD Rel-9レシーバ性能（バッチ2） FDD Rel-9レシーバ性能（バッチ3） FDD Rel-10 CA RFバンド間1 ULチャネル内テスト・ケース（バッチ1） FDD Rel-10 CA RFバンド間1 ULチャネル外テスト・ケース（バッチ1） FDD Rel-10 CA RFバンド間1 UL性能（バッチ1） TDD基本出力パワー／チャネル内／レシーバ：イントロ・パッケージ TDDトランスミッタ出力パワー／チャネル内：アドバンスド・パッケージ TDDトランスミッタRFスペクトラム／スプリアス／相互変調 TDDレシーバ性能：ベーシック・パッケージ TDDレシーバ性能：CQI/PMIレポート・パッケージ TDDレシーバのスプリアス／相互変調／変調/CW干渉源測定 TDD Rel-9レシーバ性能（バッチ1） TDD Rel-9レシーバ性能（バッチ2） TDD Rel-9レシーバ性能（バッチ3） 7 オーダ情報（続き） オプション 概要 T4010S DVソフトウェア・テスト・メソッド・パッケージ・オプション T4010S-D00 FDDパワー／パワー制御測定 T4010S-D01 FDDグローバル・インチャネル測定 T4010S-D02 FDDレシーバ測定 T4010S-D03 FDDレシーバ性能測定 T4010S-D04 FDD CQI/サブバンドCQI/PMIレポート測定 T4010S-D05 FDD OBW/スペクトラム・マスク/ACLR測定 T4010S-D06 FDDスプリアス測定 T4010S-D07 FDDブロッキング測定 T4010S-D08 FDD Rel-9レシーバ性能測定（バッチ1） T4010S-D09 FDD Rel-9レシーバ性能測定（バッチ2） T4010S-D10 FDD Rel-9レシーバ性能測定（バッチ3） T4010S-D20 FDD Rel-10 CA RF DVバンド間1 ULチャネル内テスト・ケース（バッチ1） T4010S-D21 FDD Rel-10 CA RF DVバンド間1 ULチャネル外テスト・ケース（バッチ1） T4010S-D22 FDD Rel-10 CA RF DVバンド間1 UL性能（バッチ1） T4010S-D50 TDDパワー／パワー制御測定 T4010S-D51 TDDグローバル・インチャネル測定 T4010S-D52 TDDレシーバ測定 T4010S-D53 TDDレシーバ性能測定 T4010S-D54 TDD CQI/サブバンドCQI/PMIレポート測定 T4010S-D55 TDD OBW/スペクトラム・マスク/ACLR測定 T4010S-D56 TDDスプリアス測定 T4010S-D57 TDDブロッキング測定 T4010S-D58 TDD Rel-9レシーバ性能測定（バッチ1） T4010S-D59 TDD Rel-9レシーバ性能測定（バッチ2） T4010S-D60 TDD Rel-9レシーバ性能測定（バッチ3） T4010S LTE 10776 R1 Supplementaryオプション T4010S-AT1 バンド内テスト・ケース （バッチ1） T4010S-AT2 バンド外テスト・ケース （バッチ1） T4010S-AT3 バンド内テスト・ケース （バッチ2） T4010S-AT4 バンド外テスト・ケース （バッチ2） T4010S LTE Supplementary RFバンド13テスト・ケース T4010S-VZ1 バンド内テスト・ケース （バッチ1） T4010S-VZ2 バンド外テスト・ケース （バッチ1） T4010S LTE T-Mobile US Supplementary RFテスト・ケース T4010S-TM1 バンド内テスト・ケース （バッチ1） T4010S LTE Supplementary RFバンド25テスト・ケース T4010S-SP1 バンド内テスト・ケース （バッチ1） T4010S-SP2 バンド外テスト・ケース （バッチ1） T4010S LTE TELEC RFテスト・ケース T4010S-TL1 FDDテスト・ケース（バッチ1） T4010S-TL2 TDDテスト・ケース（バッチ1） T4010Sサポート・オプション T4010SC T4010S LTE RFテスト・システム年間サポート契約 8 www.agilent.co.jp www.agilent.co.jp/find/systems www.agilent.co.jp/find/T4010S myAgilent myAgilent http://www.agilent.co.jp/find/myAgilent お客様がお求めの情報はアジレントがお届 けします。myAgilent に登録すれば、ご使 用製品の管理に必要な様々な情報を即座 に手に入れることができます。 BluetoothおよびBluetoothロゴは、 Bluetooth SIG, Inc.が所有する登録商標で あり、Agilent Technologies, Inc.にライセ ンスされています。 LTEロゴおよびLTE-Advancedロゴは、 ETSIの商標です。 アジレント・アドバンテージ・サービスは、 お客様の機器のライフタイム全体にわたって、 お客様の成功を支援します。また、サービス の品質向上、サービス内容の充実、納期の短 縮に継続的に取り組みます。こうした取り組 みは、機器の維持管理費の削減にも繋がると 信じております。このような修理・校正サー ビスに支えられたアジレント製品を購入後も 安心してお使いください。機器およびサービ スの管理の効率化に、Infoline Webサービスも ご活用いただけます。修理・校正サービスを 通じて、お客様のビジネスの成功に貢献でき るよう努め、エンジニアは専門知識を積極的 にお客様に提供します。 www.agilent.co.jp/find/advantageservices DEKRA Certified ISO 9001:2008 Agilent Electronic Measurement Group Quality Management System Sys www.agilent.co.jp/quality その他のAgilentテスト・システム Agilentのテスト・システムは、以下のような幅広い無線テクノロジー に対応したテスト・ソリューションを提供しています。 • Bluetooth ® • LTE • RFID、NFC • GSM、GPRS、EDGE アジレント・テクノロジー株式会社 本社〒 192-8510 東京都八王子市高倉町 9-1 計測お客様窓口 受付時間 9:00-18:00（土・日・祭日を除く） TEL ■■ 0120-421-345 (042-656-7832) FAX ■■ 0120-421-678 (042-656-7840) Email [email protected] 電子計測ホームページ • UMTS、HSPA www.agilent.co.jp ● 記載事項は変更になる場合があります。 ご発注の際はご確認ください。 © Agilent Technologies, Inc. 2014 Published in Japan, January 31, 2014 5991-2980JAJP 0000-00DEP
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