捉えて離さない、止まらない。だから驚異のスループット。画像測定機 Catalog No.14017 ■特長 ●従来比5倍以上*の高スループット測定が可能です。 * 弊社サンプルワークによる ●ステージを停止せずに画像を捉え続ける新方式を採用しました。を搭載。オートフォーカス動作に ●ワーク表面のうねり・そりに追従して連続的にフォーカスするTAF（トラッキングオートフォーカス）伴う無駄時間をカットします。 ■仕様 TAF搭載 QV STREAM PLUSシリーズの仕様コード№ 符号 ■本体部測定範囲（X軸ⅹY軸ⅹZ軸） ■性能 X・Y軸（画像）測定精度E1 Z軸（画像）測定精度E2 XY平面（画像）最小表示量 TAF Z軸分解能精度保証温度 ■主要装置・機能画像検出方式垂直落射照明透過照明照明装置プログラム制御リング照明観察装置 363-176 QV-X302T1S-D 363-186 QV-X404T1S-D 363-196 QV-X606T1S-D 300×200×200mm 400×400×250mm 600×650×250mm （1.5＋3L/1000）µm 注1 （1.5＋4L/1000）µm 注1 （2＋4L/1000）µm 注1 0.1µm 0.3µm 20±1℃ B&W CCDカメラカラー LED 青色 LED カラー LED（4分割）プログラム制御パワーターレット（1×、2×、6×）注1：当社検査方法による。精度保証光学倍率：2.5×対物レンズ（QV-HR2.5×又はQV-SL2.5×）＋2×チューブレンズ ■トラッキングオートフォーカス（TAF） ■TAF（トラッキングオートフォーカス）対物レンズ同軸方式(ナイフエッジ法) 測定物の高さ変化に合わせて、連続的にフォーカオートフォーカス原理適用対物レンズ QV-HR1x QV-SL1x QV-HR2.5x QV-SL2.5x QV-5x スする機能です。表面のうねり・そり（Z軸高さ方向） 6.3mm 6.3mm 1mm 1mm 0.25mm 注2 に自動追従することで、測定スループットの向上をトラッキングレンジ (±3.15mm) (±3.15mm) (±0.5 mm) (±0.5 mm) (±0.125mm) 実現します。また、手動測定においても、面倒なピスポット径注3 5.2µm 8.0µm 2.1µm 3.1µm 1.5µm 半導体レーザ（ピーク波長690nm）ント合わせが減ることで、測定作業者の負担が軽レーザ光源レーザ出力 0.9mW 減されます。レーザ安全性 Class2（JIS C6802:2011,EN/IEC60825-1:2007）準拠注）変位の連続測定は行えません。注2：ワークの表面性状や反射率によって異なります。注3：設計値です。 Z軸自動追従同焦点同焦点測定物の表面 ●お問い合せは、下記最寄りの営業課までお申し付けください。弊社商品は外国為替及び外国貿易法に基づき、日本政府の輸出許可の取得を必要とする場合があります。製品の輸出や技術情報を非居住者に提供する場合は最寄りの営業課へご相談ください。本社川崎市高津区坂戸 1-20-1 〒 213-8533 東北営業課 (022)231-6881 北関東営業 1 課 (028)660-6240 北関東営業 2 課 (0270)21-5471 南関東営業 1 課 (044)813-1611 南関東営業 2 課 (046)226-1020 甲信営業課 (0266)53-6414 東海営業 1 課 (0566)98-7070 東海営業 2 課 (052)741-0382 関西営業 1 課 (06)6613-8801 関西営業 2 課 (077)552-9408 中四国営業課 (082)427-1161 西部営業課 (092)411-2911 http://www.mitutoyo.co.jp お求めは当店で̶ ●外観・仕様などは商品改良のために、一部変更することがありますのでご了承ください。 ●本カタログに掲載されている価格、仕様は2014年 4月現在のものです。 053 1404(1)E-(CH)PR123