新標準測定法01の解説教育講演 - MT Pro

新標準測定法01の解説
（西臺）
回
59
大会
術
学
総会講演
第
27
会期：2003年 4 月11日
会場：パシフィコ横浜会議センター
新標準測定法01の解説
教育
西臺武弘
日本医学物理学会測定委員会
An Explanation of the New Standard Dosimetry 01
Takehiro Nishidai
Japan Society of Medical Physics, Committee of Dosimetry
はじめに
すなわち，放射線治療では正確な線量を治療部位に限
日本医学物理学会測定委員会は，外部放射線治療に
局して投与しなければならない．放射線治療患者に投
おける吸収線量標準測定法の大幅な改定を行い，2002
与する線量評価の不確定度は，Fig. 1に示すようにȀ5
年 9 月，新たに
『外部放射線治療における吸収線量の
％以内が勧告されている．このうち，Ȁ4.3％は治療
1）
標準測定法
（標準測定法01）
』
（以下，新01法と記す）
と
計画に使用され，残されたȀ2.5％が治療装置の出力
して発刊した．なお，旧標準測定法は1986年に発刊さ
測定に残された不確定度である．それを受けて
れ，1989年に改定された
『放射線治療における高エネ
JASTROのQAプログラムではX線Ȁ2％，電子線Ȁ3％
2）
ルギーX線および電子線の吸収線量の標準測定法』
以内が勧告されている14）．そのためには，リファレン
ス線量計の国家標準に対する不確定度はȀ1％以内が
（以下，旧86法と記す）
である．
放射線治療施設のリファレンス
（基準）
線量計の校正
60
要求される．
は，IAEA，AAPMはじめ国際的には， CoͲ線の照射
線量の精度とは，国家標準
（産業技術総合研究所：
線量場を基準とした校正から水吸収線量場を基準とし
以下，産総研と記す）
へのトレサービリティにおける
た校正へと移行している．新 0 1 法は， I A E A，
相対精度である．日本におけるすべての放射線治療施
AAPM，BJR等の報告
3∼7）
を参考にして，主にIAEA
3）
設が，国家標準のもとに統一された同じ方法
（標準測
TRS 398 を取り入れ，水吸収線量校正定数ND,Xを用い
定法）
で，治療線量を求めることが重要である．さら
た新標準測定法への変更，用語，データの見直しと新
に理想的には国際的なトレサービリティが求められ
たな採用，さらに定位照射等におけるナロービームの
る．国際度量衡局
（パリ）
の基準線量計はわが国の産総
線量測定，および陽子線，炭素線の線量測定を追加し
研と同じく電離箱線量計であるが，多くの国の1次標
た．
準線量計はカロリメータが多い．現在，多くの国家間
以下に新01法の解説を示す．本文中，下線で示した
の1次標準
（国家標準）
は空気カーマ値でȀ0.5％以内の
個所は旧86法からの変更，追加等である．なお，新01
差になっている15）．
法発刊後に報告された関連文献8∼13）をも参照していた
だきたい．
2．リファレンス線量計の校正
リファレンス線量計の校正は日本医学放射線学会医
1．新標準測定法01の目的
療用線量標準センター
（以下，標準センターと記す）
で
新01法の目的は，各放射線治療施設の高エネルギー
行われる．
光子線，電子線，陽子線，炭素線による線量を国際的
リファレンス線量計はそれぞれの施設の基準となる
に統一された方法で測定することにより，わが国の放
線量計であり，新01法では，原則として，ファーマ形
射線治療線量のトレサービリティを確立し，放射線治
［電離箱］
線量計をリファレンス線量計とする．ただし
–
電子線の場合，平均入射エネルギーE 0が10MeV以下
療のQA/QCを確立することにある．
ある種の癌は線量を10％上昇させるとその制御率を
の場合には平行平板形電離箱線量計を，10MeV以上
15％から75％に上げることができるといわれている．
では平行平板形およびファーマ形電離箱線量計をリフ
一方，腫瘍の周りの正常組織は有害事象が発生しない
ァレンス線量計とする．ファーマ形電離箱線量計は，
ように可能なかぎり線量を落とさなければならない．
電離体積 0.6ml，円筒形部外形 7mm，内径 6mm，長
2004 年 1 月
日本放射線技術学会雑誌
28
Fig. 1 放射線治療における線量評価の不確定度
さ24mm前後の大きさを持つ円筒形電離箱である．旧
86法ではファーマ形の一種であるJARP形電離箱線量
計がリファレンス線量計であったが，新01法では現在
Fig. 2 水吸収線量校正定数N D,wを使用する理由
一般的に市販されているファーマ形に変更した．
放射線治療の線量測定における基準線質Q0は60CoͲ
線である．リファレンス線量計の校正は，産総研の
る．一方，定位照射ビームの測定では，ユーザーによ
60
CoͲ線による国家標準に対して校正定数を持った標
りユーザービームを用いた感度比較によって得られた
準センターの標準線量計
（医療用 2 次標準器）
によっ
使用線量計のコバルト校正定数
（感度校正定数）
をNλと
60
て， CoͲ線の照射線量が確定した校正位置
（空中，照
表記する．
射野10×10cm）
で行われる．リファレンス線量計の指
新01法では，コバルト校正定数Nc，Nc,Xから得られ
示値から，一般に繰り返し計測の平均値を使用して，
る水吸収線量校正定数ND,wを使用する．放射線治療の
コバルト校正定数Ncが与えられる．60CoͲ線照射線量
基礎は水吸収線量であり，照射線量のコバルト校正定
場でビルドアップキャップを装着した電離箱線量計を
数Ncの使用よりも水吸収線量校正定数ND,wの導入によ
校正する場合，電離箱
（ファーマ形および平行平板形）
って，Fig. 2に示すように，各治療施設における線量
の幾何学的中心位置における照射線量をX air，このと
測定の誤差要因が減少する．旧86法の出力測定では，
きの線量計の指示値をMとすると，コバルト校正定数
リファレンス線量計の指示値MにNcおよび吸収線量変
N cは次式で与えられる．
換係数Cλ，CEを乗じて校正点吸収線量を求めていた．
（1）
Nc = Xair / M ……………………………………
一方，新01法では指示値Mに標準センターから与えら
れる水吸収線量校正定数ND,wおよび線質変換係数kQを
なお，新01法の校正定数は，旧86法と同様に，
“湿
乗じることにより校正点吸収線量を求める．2002年 8
潤空気”
で与えられる．一般的な空調がなされた環境
月の標準センター会議において，従来のNcとともに
での湿度範囲内で測定を行えば，その湿度補正係数kh
ND,wを供給することが決められた．なお，リファレン
値として 0.9975が採用でき，その誤差は最大でも 0.1
ス線量計の校正は年 1 度の頻度で行うことが望まし
％である．日本における測定では，産総研での値づけ
い．
をも含めて，この誤差を容認して測定ごとの湿度補正
水吸収線量校正定数N D,wは，コバルト校正定数N c
はお互いにキャンセルできるとして，特に湿度補正を
（あるいはNc,X）
にリファレンス線量計ごとに与えられ
11）
行っていない．
コバルト校正定数はファーマ形電離箱線量計で水フ
ァントムまたは水等価ファントム中のリニアックX線
場における標準線量計との感度比較によっても得ら
る校正定数比kD,X
（=ND,w/Nc）
を乗じて求める．
（2）
ND,w = Nc kD,X ……………………………………
ここで，校正定数比kD,Xは次式で与えられる．
れ，このときのコバルト校正定数はNc,Xと表記する．
標準センターは，ファーマ形電離箱線量計99本に対し
て，X線の公称エネルギーや加速器の機種の違いには
有意には依存せずにNc,X/Nc=1.001Ȁ0.006を実験的に得
ている
k D, X =

 L 
N D,w W air
katt km kcel  
Pwall Pcav Pdis Pcel 
=
Nc
e
 60Co
 ρ  w,air
………………………
（3）
16）
．N c，N c, Xは標準センターにより与えられ
第 60 卷第 1 号
新標準測定法01の解説
（西臺）
29
新01法では，W/e値として国際的に勧告されている
照射野A（A）
0
を10×10cmにセットする．ただし，電
空気乾燥状態の33.97Ȁ0.15 J/Cを採用した．一方，旧
子線の照射野
（A0）
はR50によって決定する．
86法では，湿度状態の値として33.73 J/Cを採用してい
たが，本来，産総研
（旧電総研）
での値づけは
（乾燥状
態の）
照射線量でなされ，産総研における新W/e値
（R50≦7gcm−2）
A0 = 10×10cm
A0 = 20×20cm
（R50>7gcm−2 ）
33.97 J/C採用
（1995年）
以降の一連の校正および測定に
高エネルギー光子
（X，Ͳ）
線の線質指標は，組織フ
おいては乾燥状態のW/e値を使用すべきであった．こ
ァントム比TPR20，10で与えられる．TPR20，10は，線源
のW/e値に関連する新旧の相違は+0.7％（33.97／
検出器
（電離箱）
間距離を100cm，その位置での照射野
33.73=1.007）
となる．
を10×10cmとした場合の水中での20cmと10cm深さの
60
kattは電離箱材質による CoͲ線の吸収および散乱の
水吸収線量の比である．なお，TPR20，10の測定では測
補正係数であり，旧86法のAcである．kmは電離箱壁お
定位置は電離箱幾何学中心で，その変位補正は行わな
60
よびビルドアップキャップの空気に対する CoͲ線の
い．旧86法では，線質表示にTPR20，10と深部量 7 割深
不等価性の補正係数であり，旧86法のA wである．kcel
d0.7を採用していた．高エネルギーX線のTPR20，10と公
は，新01法に新しく採用した補正係数で，中心電極の
–
影響の補正項である．
（L /ρ）
W,airは水と空気との平均制
称エネルギーである加速エネルギー
（MV）
との関係近
限質量衝突阻止能比である．電離箱を水中に設置する
ある．
似式は次式で表される13）．ここで X はTPR20，10の値で
ことによる擾乱補正係数PにPwall，Pcav，Pdis，Pcelがあ
λ
（MV）
=−1818.9+8183X−12284X2+6172X3
る．各擾乱補正係数については次節で説明する．概念
（4MV≦λ≦18MV）
……………………
（4）
60
的には，kD,Xは旧86法での CoͲ線に対するCλに相当す
kD,X値は，既存の電離箱線量計に関して新01法冊子
電子線の線質はR50から求める．電子線の公称エネ
–
ルギーである平均入射エネルギーE（MeV）
0
は，次式に
に与えると同時に，その計算法を解説している1）．そ
より求める．
る．
の値のない線量計あるいは今後新たに導入される線量
計に関しては，その形状，材質の近い線量計の各補正
係数等を使用して求めるものとする．なお，新01法で
は種々の係数の定義，名称，および記号を変更した．
また，それらの名称，記号は新01法1），IAEA 3∼5），
AAPM6），BJR7）冊子でわずかずつ異なるので注意が必
–
（5）
E0=2.33・R50 ……………………………………
R50は深部電離量半価深I50から次式により求める．
R50 = 1.029 I50−0.06gcm−2
（I 50≦10gcm−2） ……
（6）
（I50>10gcm−2） ……
（7）
R50 = 1.059 I 50−0.37gcm−2
要である．
ここで，I50は水ファントムまたは水等価ファントムを
2002年 8 月の標準センター会議以後に，国家標準の
用いてSSD 100cmで測定する．
Xair値がわずか
（0.3％下方修正）
に変更され，また校正
高エネルギー光子線の校正深dcは，ビーム軸に沿っ
定数比kD,Xに使用されている種々の係数値についての
た水中10cmの深さである．一方，電子線の校正深dcは
変更があるので，一般ユーザーはすべてのリファレン
R50を用い，次式により決める．
ス線量計の校正を改めて受ける必要がある．
3．高エネルギー光子線，電子線の校正点吸収線量の
測定
（8）
dc = 0.6 R50 −0.1gcm−2 …………………………
なお，旧86法の校正深は線質ごとに決められていた．
水ファントム中の測定では，測定位置が電離空洞内の
測定用ファントムは，基本的に水平断面積
どこにあるかを決めなくてはならない．円筒
（ファー
30×30cm，深さ30cm以上の水ファントムである．特
マ）
形電離箱では，電離空洞内面が曲面であるから電
3）
6）
に，IAEA ，AAPM では，水ファントム以外での使
離空洞内の線量勾配を補正するため，測定の実効中心
用を避けることを強く勧告している．ただし電子線の
–
場合，深部［吸収線］量半価深R 50 が4.0gcm −2（E 0 ≒
は電離空洞の幾何学的中心から線源寄りの位置にある
10MeV）
未満では，水等価ファントムを使用してもよ
Dcの測定では，ファーマ形電離箱幾何学的中心を測定
と考えられている．しかし，光子線の校正点吸収線量
い．そのときには，あらかじめファントム材質の違い
点として変位補正係数P disによる補正法を採用する．
に対するスケーリング補正係数
（深さスケーリング係
なお旧86法では，変位補正係数または半径変位法
（2/3r
数c pl，フルエンススケーリング係数h pl ）
を求めてお
前方変位，r：円筒形の半径）
の採用が認められてい
く．ファントムは，その表面がビーム軸に垂直でコリ
た．電子線の測定では，平行平板形電離箱線量計の測
メータに対し指定の位置になるよう固定する．
定点は電離箱空洞内前壁
（前壁変位法採用）
であり，フ
2004 年 1 月
日本放射線技術学会雑誌
30
Table 1 高エネルギー光子線，電子線の校正点吸収線量D c測定の基準条件
項目
光子線
電子線
ファントム材質
水
水または水等価ファントム
校正深，dc
10cm
dc=0.6 R50−0.1g cm−2
電離箱
ファーマ形a
平行平板形，ファーマ形
電離箱の基準点
幾何学的中心
前壁内側中心（平行平板形）
0.5rcyl（ファーマ形）d
基準点の位置
校正深（水）：10cm
校正深
SSDまたはSCD
80cmまたは100cmb
80cmまたは100cmb
照射野
10×10cmc
e
−2 または
10×10cm（R
50≦7gcm ）
e
−2）
>7gcm
20×20cm（R
50
a 平行平板電離箱は，光子においては，リファレンス線量計として推奨されていない．
b SSDまたはSCDは臨床に使用しているセットアップ値にする．
c 照射野サイズは，SSDセットアップではファントム表面の値であり，STD（SAD）
セットアップでは校正深の
電離箱平面の値である．
d ファーマ形電離箱は，R50が4.0gcm−2以上の場合に用いることができる．
e 照射野サイズは，ファントム表面の値である．
ァーマ形電離箱線量計の測定点はその電離箱の幾何学
的中心より0.5rcyl前方である
（半径変位法，rcyl：円筒形
の半径）
．なお旧86法では，光子線の場合と同じく2/3r
前方変位であった．
高エネルギー光子線，電子線の校正点吸収線量Dc測
定の基準条件をTable 1に示す．

 L 
 
Pwall Pcav Pdis Pcel 

 ρ  w,air
Q
k
=
……………
（11）
Q

 L 
 
Pwall Pcav Pdis Pcel 
 60Co
 ρ  w,air
–
ここで，
（L/ρ）
W,airは水と空気との平均制限質量衝突阻
上記の条件で測定したとき，必要な補正を施したリ
止能比である．光子線TPR 20,10を関数とした材質と空
ファレンス線量計の指示値Mは，次式で求められる．
気の平均制限質量衝突阻止能比の新旧相違は，高エネ
M = M raw kTP kpol ks kelec …………………………
（9）
ルギーで差が生じ，約10MV X線で約−1％の修正とな
っている．一方電子線の場合，平均制限質量衝突阻止
–
ここで，Mrawは 3 回以上の測定により得られるリファ
能比の相違は浅部で+0.5％程度，深部で−0.5∼1.0％程
レンス線量計の平均指示値，k TP は温度気圧補正係
度の差となる．
数，kpolは極性効果補正係数，ksはイオン再結合補正係
Pwallは電離箱壁材と電離箱防水鞘材質の水不等価性
数，kelecは電位計校正定数である．なお，kelecは新たに
による電離箱線量計の応答の違いを補正する係数
（壁
導入された校正定数であり，電離箱および電位計を一
材質補正係数）
であり，2 次電子平衡が成立している
体として校正した場合の値は1.0である．新01法で
60
CoͲ線では 1.0である．Pwallは次式で与えられる．
は，これら係数の一部の名称および記号を変更した．
校正点吸収線量D cは，次式より求める．
（10）
Dc = M ND,w kQ ………………………………
( Pwall )Q
  L

 µ en 
 µ en 
 L
 L
+ (1 − α − τ ) 
+τ 
α  





 ρ  sleeve,air  ρ  w,sleeve
 ρ  w,air 
  ρ  wall,air  ρ  w,wall
=

 L


 


 ρ  w,air


ここで，M，N D,w ，k Q はリファレンス線量計の指示
……………………
（12）
値，水吸収線量校正定数，および線質変換係数であ
ここで，Ͱは電離箱内空気の電離箱に対する電離箱壁
る．
から発生した 2 次電子による電離割合，τは電離箱内
線質変換係数kQとは，電離箱線量計の校正に用いる
60
空気の電離量に対する防水材質から発生した 2 次電子
基準線質Q（=
0
CoͲ線）
と測定対象とする線質Qに対す
による電離割合である．
る電離箱線量計の応答の違いを補正する係数である．
Pcavは水中に電離箱の空洞がある場合とない場合に
kQの値は線質Q
（光子線ではTPR20, 10，電子線ではR50に
ついて，電子の散乱の変化に起因する電子フルエンス
よって規定）
の関数で，電離箱線量計に依存する．kQ
の相違に基づく電離箱線量計の応答の違いを補正する
は次式で与えられる．
係数
（空洞補正係数）
であり，旧86法のPfに相当する．
光子線のPcavは円筒形の 2 次電子平衡が成立している
第 60 卷第 1 号
新標準測定法01の解説
（西臺）
31
場合で1.0，平行平板形で 1.0 である．電子線のPcavは
平行平板形
（Capintec PS-033 およびMarkus形を除く）
で1.0，円筒形の場合は次式で表される．
P cav=1−0.0217rcylexp
（−0.153R50）
………
（13）
Pdisは測定の実効中心を電離箱の幾何学的中心とし
た場合，水を電離箱空洞で置き換えることによる影響
を考慮した係数
（変位補正係数）
であり，旧86法のPdに
相当する．円筒形電離箱のPdisは，一般に次式で表さ
れる．
 1  D20 

Pdis = 1 − 
ln
（14）
 − 0.0016  deff − dp ………
 100  D10 

0.6<
（D 20/D 10）
<0.8および90cm<SSD<100cm
(
)
ここで，D20/D10=TPR20,10，deff-dp=0.6×rcyl，rcylはmm単
位の空洞半径である．60CoͲ 線の場合は次式で表され
Fig. 3 代表的な電離箱線量計の光子線kQ値
る．
（15）
P dis=1−0.004r cyl ………………………………
Pcelは円筒形電離箱による水ファントム内測定の場
合，中心電極による電離箱線量計の応答の影響を補正
Dr = 100Dc/PDDc ………………………………
（16）
（17）
Dr = Dc/TMRc ………………………………
する係数
（中心電極補正係数）
で，中心電極の空気不等
ここで，PDDc，TMRcは線質Qの照射野10×10cm，校
価性に対する補正係数である．1mm直径のAl電極を
正深における深部量百分率，組織最大線量比である．
1）
持ったファーマ形電離箱のPcelが新01法冊子に与えら
なお，基準点とはビーム軸上の基準深drの点であり，
れている．
一般的にはPDDの100％，TMR，TPRの 1 となる深さ
リファレンス線量計のkQ値を既存の電離箱線量計に
1）
である．
関して新01法冊子に与えると同時に，その計算法を
加速装置のモニタ線量計は，通常，照射野10×10cm
解説している．Fig. 3に代表的な電離箱線量計のkQ値
のD rを出力として校正する．モニタ線量計の校正で
を示す．
は，測定を迅速に行うためには，水等価ファントム
線質変換係数kQと校正定数比kD,Xを乗じた値は概念
（大きさが20cm×20cm×20cm以上）
の使用が便利であ
的に旧86法の吸収線量変換係数C λ，C Eと同じもので
–
ある．新01法では，W/e値，阻止能比値，各種補正係
る．ただし，あらかじめ水ファントムとの比較を行
数等の見直しを行い，その値を変更している．Table 2
正係数を求めておく．モニタ指示値の直線性等は，外
に代表的な電離箱の旧86法のCλ値と新01法のkD,X ×kQ
部放射線治療装置の保守管理プログラム14）などを参考
値を比較する．これらの値のうち 0.5％を超える差を
にして，チェックされていなければならない．
生じるものもあるが，その比の平均は+0.2Ȁ0.4％
ビーム軸上の任意深さ d，任意照射野A
（A0）
の深部
（n=42）
であった．旧86法から新01法の変更により，Nc
〔吸収線〕
量D
（d, A
（A0）
）
は，照射野10×10cmのDrから
い，大きさおよび材質の違いに対するスケーリング補
の国家標準が約−0.3％修正，光子線ではkD,X ×k（=C
Q
λ）
基準点出力係数 OPFrおよびPDD，TMR，TPR を用い
が約+0.2％の変更であり，その結果，新01法採用によ
て計算により求める．
る光子線の出力測定値の変更はほとんどないといえ
る．
4．基準点吸収線量D（
r A0
（A ）
）
および深部吸収線量
D
（d ，A
（A 0）
）
の計算
D
（d,A0）
= D（A
r
0=10cm×10cm）
・OPF（A
r
0）
・PDD
（d,A0）
/100
……………………
（18）
D（d,A0）
= D（A=10cm×10cm）
r
・OPF（A）
r
・TMR（d,A）
……………………
（19）
治療装置の出力である基準点吸収線量D（最大深吸
r
ここで，それぞれの治療装置の水中深部量比
（PDD，
収線量D
（dmax）
）
は，校正深で測定した校正点吸収線量
TMR）
および各種照射野と照射野10×10cmとの出力比
D cから深部量比PDD，TMRを用いた計算により求め
であるOPF（A
r
（A）
0
）
は，前もって，各種線量計を用い
る．
て求めておく．
2004 年 1 月
日本放射線技術学会雑誌
32
Table 2 代表的な電離箱のC λ値とkD, X ×k Q値との比較
線質/MV
TPR20,10
JARP
PTW233
NE25/3A
NE2571
NE2581
PR-06C
Cλ
0.572
Cλ
kD,X
比
36.77
37.00
1.006
36.81
36.94
1.004
36.72
36.95
1.006
36.72
37.09
1.010
36.54
36.68
1.004
36.43
36.72
1.008
4
0.626
Cλ
kD,X×kQ
比
36.65
36.83
1.005
36.67
36.78
1.003
36.67
36.91
1.006
36.67
37.04
1.010
36.29
36.43
1.004
36.48
36.71
1.006
6
0.676
Cλ
kD,X×kQ
比
36.64
36.68
1.001
36.67
36.62
0.999
36.74
36.78
1.001
36.74
36.92
1.005
36.28
36.18
0.997
36.55
36.58
1.001
8
0.713
Cλ
kD,X×kQ
比
36.43
36.45
1.001
36.47
36.39
0.998
36.53
36.61
1.002
36.53
36.75
1.006
36.07
35.92
0.996
36.38
36.37
1.000
10
0.731
Cλ
kD,X×kQ
比
36.35
36.33
0.999
36.39
36.27
0.997
36.41
36.50
1.002
36.41
36.63
1.006
35.91
35.77
0.996
36.26
36.24
0.999
15
0.763
Cλ
kD,X×kQ
比
35.99
36.00
1.000
36.02
35.95
0.998
36.09
36.21
1.003
36.09
36.35
1.007
35.55
35.43
0.997
35.90
35.91
1.000
20
0.782
Cλ
kD,X×kQ
比
35.67
35.79
1.003
35.71
35.73
1.001
35.81
36.00
1.005
35.81
36.14
1.009
35.24
35.22
0.999
35.59
35.66
1.002
注）下線は 0.5％以上の差が生じた場合を示す．
5．深部量百分率曲線および基準線量分布の取得
療装置の保守管理プログラム14）などによって担保され
光子線の深部量百分率は，使用する円筒形電離箱の
ていることが必須である．さらに治療装置，線量計
半径変位法
（0.6rcyl：rcyl円筒形の半径）
を採用すれば，
側，自動制御水ファントム，およびこれら相互の幾何
電離量百分率と同じになる．電子線の場合，小型円筒
学的配置条件に関わる恒常性が維持されていなければ
形電離箱では0.5rcyl
（半径変位法）
，平行平板形電離箱
ならない．これらの測定は，治療装置あるいは計画装
では電離箱空洞内前壁
（前壁変位法）
として，測定した
置ごとに，使用者の責任において実施しなければなら
深部電離量百分率に各深さにおける平均制限質量衝突
–
阻止能比
（L/ρ）
W,airを考慮することにより得られる．特
ない．
に，電子線の深部量百分率は深部における変化が激し
おわりに
く，その測定にはなるべく小型の線量計を使用するこ
標準測定法01では，水吸収線量校正定数を用いた標
とが望ましい．現時点では，電子線のための擾乱補正
準測定法への変更，用語，データの見直しと新たな採
係数が深さにより変化しない平行平板形電離箱を用い
用，さらに定位照射等におけるナロービームの線量測
て深部量百分率を測定すべきである．
定，および陽子線，炭素線の線量測定を追加した．こ
外部照射による体内線量分布を計算する治療計画装
こでは主に光子線と電子線の標準測定法について新標
置に，実際に用いる治療装置の実測ビームデータを格
準測定法01を解説した．今後，すべての放射線治療施
納する必要がある．新01法では，これら測定項目，方
設において，この新標準測定法01に準拠して線量測定
法，設備を具体的に説明している．まず治療装置の線
がなされ，わが国の放射線治療QA/QCシステムの確
量および機械的精度に関わる諸条件が，外部放射線治
立に寄与されることを希望する．
第 60 卷第 1 号
新標準測定法01の解説
（西臺）
33
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