第33回信頼性・保全性シンポジウムプログラム日本の新しいものづくりー源流からの信頼性の創り込みー発表時間：一般発表の持ち時間は１件につき30分です(発表20分､質疑応答10分）チュートリアル発表の持ち時間は１件につき60分です（発表45分，質疑応答15分）平成15年7月8日（火）・9日（水）ＪＡビル（東京・大手町）［受付］9：00∼9：30 （敬称略）平成15年7月8日（火）会場：8・9階大ホール〔総合司会：宮村鐵夫中央大学教授・報文小委員会委員長〕 9 ：30∼ 9 ：35 9 ：35∼10：00 10：05∼10：20 10：25∼11：40 11：40∼11：50 発表時間主催者挨拶日科技連役員基調講演：「日本の新しいものづくりー源流からの信頼性の創り込みー」向殿政男明治大学教授・組織委員会委員長 2002年度（第32回）Ｒ＆ＭＳ推奨報文･奨励報文表彰式賞状・副賞の授与：向殿政男明治大学教授・組織委員会委員長選考理由について：益田昭彦帝京科学大学教授・推奨報文小委員会委員長特別講演：「失敗に厳しい日本でのロケット開発」五代富文宇宙開発委員会委員・前宇宙開発事業団副理事長事務連絡日科技連事務局Ａ会場（8･9階：大ホール）【Session１】LSI半導体 12：50∼13：20 13：20∼13：50 13：50∼14：20 14：20∼14：50 15：00∼15：30 15：30∼16：00 16：00∼16：30 16：30∼17：00 17：00∼17：30 １）半導体デバイスの機械的強度評価方法について !日立超ＬＳＩシステムズ高梨雄一２）ゼーベック効果（SEI）によるレーザダイオードの故障解析技術キヤノン! 芝重光３）タグチメソッドによるLSIパッケージのモールドボイド対策 !東芝今井洋４）樹脂封止下でのＬＤの信頼性日本電気! 神田征広５）薄膜ゲート絶縁膜TDDB評価手法の検討 !東芝牟田まどか６）高沸点有機化合物のＳｉ表面吸着挙動､および酸化膜厚測定に与える影響について日立製作所 ! 加藤治夫７）Cu配線間におけるCu拡散の影響 !東芝井出恵美子８）Power MOSの故障解析方法(裏面からの解析技術) 東芝ナノアナリシス! 植木剛史司会（補佐）（表彰報文発表報文の中から参加者の投票を基に選定されます．内容は、１創意性､２実用性､３完結性､４利用価値､【推奨報文賞】（発表セッション順）・「低電圧領域でのAg，Cuイオンマイグレーション発生過程の解析」松村麻子，佐竹学，野口博司，岡田誠一 !村田製作所・「雑排水ポンプシステムの信頼性解析事例」泉山浩郎鹿島建設! 【奨励報文賞】・「電子製品試験分野でのISO／IEC Guide25（ISO／IEC 17025）への取り組み」熊田明 TDK! ・「電磁環境のISO／IEC 17025試験所認証取得ー測定不確かさを含む製品評価信頼性の向上ー」小原常男，平田真幸富士ゼロックス! B会場（8階：第1会議室）司会（補佐） C会場（8階：第4会議室）【Session 8】安全性解析宮中１）耐用年数経過後の安全率の定量化による接着接合の設計品質の創り込み１）安全性技術の定石と環境安全の提唱村央三菱電機! 原賀康介帝京科学大学益田昭彦大２）高速DRY切削における刃具寿命向上鐵学 !デンソー萱野敬洋夫３）エポキシ樹脂の強度信頼性技術２）人間/機械安全作業システムのドアシステムへの適用ス !デンソー長坂進介日本信号! 森貞晃４）圧入締結体における曲げモーメントによるすべり評価法の確立３）安全管理目標のモデル表示化の提案アイシン精機! 小沢伸吉（下河）日本信号! 小林孝之（手塚）司会（補佐）展示 9F・ホールロビー【Session 5】機械的強度の信頼性山富士ゼロ悟ック木電村気通忠信正大学吉東原芝節夫（藤田）【Session 6】解析手法１）混合分布に基づく市場信頼性寿命データの解析電気通信大学大学院酒井謙有２）a−FTAの提案オリンパス光学工業! 柴田義文３）ＢＤＤ（Binary Decision Diagram）EXCELプログラム石川島播磨重工業! 藤本良一４）FMEA作業効率化への取り組み三菱重工業! 川上義行（門田）向明殿治大政学男（山）４）危険源から安全方策を導き出す一手法の提案 @ 佐藤Ｒ＆Ｄ佐藤国仁５）機械類の電気系統の安全性チェックリストの開発東急車輌製造! 神長智治６）ＩＴＳ安全性/社会受容性評価に関する一考察日産自動車! 岡田安玄７）ＮＡＳＤＡにおけるリスクマネジメント宇宙開発事業団東原和行８）右折衝突防止支援システムのPSA 東京商船大学叶海紅益帝田京科昭学彦大学１日目：11：50∼17：30 ２日目： 9：30∼14：30 １ !日本科学技術研修所２テックサポートマネジメント@ ３ @メディアリンク４日本サイエンティフィック! （吉原）５ SAS Institute Japan ! 平成15年7月9日（水）【Session 2】接合 9 ：30∼10：00 10：00∼10：30 10：30∼11：00 11：00∼11：30 １）導電性接着剤の信頼性評価ｴｽﾍﾟｯｸ環境試験技術ｾﾝﾀｰ! 中村誠２）BGAはんだボール端子の接続測定方法の検討松下電器産業! 松下浩一３）低融点鉛フリーはんだ材料の信頼性検討ﾊﾟﾅｿﾆｯｸﾓﾊﾞｲﾙｺﾐｭﾆｹｰｼｮﾝｽﾞ! 山田保４）シミュレーションにＳＱＣを応用したはんだ寿命予測技術の開発トヨタ自動車! 中尾健司【Session 3】電子部品 12：30∼13：00 13：00∼13：30 13：30∼14：00 14：00∼14：30 １）錫めっきホイスカ再考摂南大学川中龍介２）液晶表示デバイスの劣化故障モードの解析の事例ｲﾝﾀｰﾅｼｮﾅﾙﾃﾞｨｽﾌﾟﾚｲﾃｸﾉﾛｼﾞｰ! 今原和光３）携帯機器に搭載された電子部品の落下試験法に関する検討松下電子部品! 江口和幸４）光学特性に着目したLCD表示不良解析 !アイテス高橋真治【Session 4】コンデンサ 14：40∼15：10 15：10∼15：40 15：40∼16：10 １）ユーザーからみた最近のコンデンサの技術的諸事情について !サンミナーSCIシステムズ・ジャパン村田憲司２）チップタンタル電解コンデンサの信頼性比較オムロン! 安井徹３）含水系コンデンサの寿命日本電気! 井原惇行）５普遍性､６発表方法、７発表データの利用度の各項で評価されます.2002年度の受賞報文は次のとおりです．佐ソニ々ー木セミコン健ダ二クタ九州【Session 7】故障診断１）マハラノビス・タグチ法による絶縁劣化診断三菱電機! 三木伸介２）スイッチギヤの劣化診断・余寿命推定技術−絶縁物の余寿命推定− 三菱電機! 岡澤周３）複数の不完全修理を考慮したマルコフ的劣化モデルについて中央大学田村信幸（岩間）９）プラトーン走行のA-Cモデルによるハザード同定東京商船大学下平庸晴 10）ナイトビジョンシステムの安全性評価東京商船大学末松雅史 11）ビデオを用いた産業用塗装ロボットのリスクアセスメント実施訓練とその結果 !モリタ製作所岩岡和幸（渡辺）（高久）井日原本電惇気行６ !アイテス目三崎菱電道機夫【チュートリアルセッション】コーディネーター：門田靖 !リコーテーマ「ミクロ∼ナノレベルの観察技術」本年度の本チュートリアルセッションは「ミクロ∼ナノレベルの観察技術」を企画いたしました。ご存知の通り、故障物理的な劣化は原子分子のレベルの反応まで遡ります。従って本質的に故障の対策を実施しようと考えれば、ナノ∼原子レベルの観察技術が必要となります。そこで今回は主としてその観察技術として、SEM(走査電子顕微鏡)、FIB(収束イオンビーム装置)＆TEM(透過電子顕微鏡)、SPM(走査プローブ顕微鏡)について、その基礎とアプリケーション例を解説していただきます。本チュートリアルは最先端の技術報告ではなく、あくまで様々な形で適用可能な装置ですので、これを機に皆様の知見と、業務の質の向上が図れれば幸いです。「狙い」初･中級若手∼中堅のエレクトロニクスや材料関連の信頼性技術者を対象として、生日基本原理や事例に基づき平易に解説いただきます。これにより現場の信頼性技術のレ岩本ベルアップを目的といたしております。放門田靖 !リコー 12:30∼12:40 本セッションの主旨説明と観察技術紹介量送協多持隆一郎 !日立サイエンスシステムズ 12:40∼13:40 SEMの最近の進歩と応用久会兼原龍二 !アイテス 13:50∼14:50 FIB観察からTEMによる高分解能観察門田靖 !リコー（荒木） 15:00∼16:00 SPMの基礎と材料評価への応用 ※発表テーマは変更になる場合があります．※司会者および司会者欄の（補佐）は組織委員です（補佐は社名・学校名略）田デ中ンソ克ー幸（西脇）【Session 9】システム信頼性１）ｅ-4WDシステム信頼性確保の取り組み日産自動車! 宮島完五２）プロジェクト品質への信頼性概念の導入に関する研究千葉工業大学関哲朗３）東京駅地下総武・横須賀線列車制御システム取替えの信頼性と保全性東日本電気エンジニアリング! 青木茂弘４）鉄道の信号職場におけるヒューマンエラーの背後要因について &鉄道総合技術研究所宮地由芽子佐東藤京商吉船信大学（田中）【Session 10】試験・評価技術１）妨害波抑圧型アンテナ・インピーダンス測定器の開発日本放送協会山添雅彦２）宇宙機用デジタルラジオグラフィの研究宇宙開発事業団宮本宏西ト脇ヨタ自剛動車（佐藤）〔世話人〕井原惇行（日本電気）