Test Sheet of Monolithic Ceramic Capacitor GJM15(0402/1005) series [Temperature Compensating Type] Typical Murata Global Part No GJM1555C1H3R3BB01 (MADE IN SINGAPORE) GJM1555C1H3R3BB01 (MADE IN JAPAN ) Size (inch/mm) Temp. Chara. Cap.Value Cap.Tol. Volt. 0402/1005 C0G 3.3pF +/-0.1pF 50V 0402/1005 C0G 3.3pF +/-0.1pF 50V Data No.:QU-GJ-052 DATE: 2013.4.5 Murata Manufacturing Co., Ltd. Operating Temperature Range / 使用温度範囲 : -55 ~ +125℃ Tested Item/ 試験項目 1.Adhesive Strength of Termination /固着性 Tested Condition/ 試験条件 Substrate/基板 : Glass-epoxy Pressurization Power / 加圧力 : 5N Keeping Time / 保持時間 : 10±1s Solder Type / はんだ種類 : Sn-3.0Ag-0.5Cu Pressuring Speed/加圧速度 : 0.5 mm/sec 2.Vibration Resistance/ 耐振性 Oscillation Frequency/振動周波数 : 10Hz to 55Hz to 10Hz for 1min. Total Amplitude/全振幅 : 1.5 mm Time/時間 : A period of 2 hours in each of 3 mutually perpendicular directions. (Total 6 hours) 3.Deflection / 耐基板曲げ性 Substrate/基板 : Glass-epoxy (100mm × 40mm × 0.8mm) Deflection/たわみ量 : 1mm Keeping Time/保持時間 : 5±1s Pressure jig/加圧治具 : R230mm 4.Solderability of Flux/ﾌﾗｯｸｽ : Ethanol solution of rosin 25(wt)% Termination / Solder/はんだ : Sn-3.0Ag-0.5Cu はんだ付け性 Solder Temperature/はんだ温度 : 245±5℃ Immersion Time/浸せき時間 : 2s±0.5s Immersion Position/浸せき位置 : Covering terminal electrode / 端子電極が隠れるところまで。 Preheat/試験前予熱 : 80 to 120℃ for 10-30 sec 5.Resistance to soldering Heat/ はんだ耐熱性 Solder/はんだ : Sn-3.0Ag-0.5Cu Solder Temperature/はんだ温度 : 270±5℃ Immersion Time/浸せき時間 : 10s±0.5s Immersion Position/浸せき位置 : Covering terminal electrode / 端子電極が隠れるところまで。 Preheating/試験前予熱 : 120 to 150℃ for 60 sec 6.Temperature 1 Cycle condition/1ｻｲｸﾙ条件 Cycle/温度ｻｲｸﾙ step 1: Min. Operating Temp.℃(+0℃,-3℃) , 30min±3min step 2: Ordinary Temp.,2min to 3 min step 3: Max. Operating Temp.(+3℃,-0℃) , 30min±3min step 4: Ordinary Temp.,2min to 3 min Cycle/回数 : 5 cycles 7.Humidity (Steady State)/ 耐湿性 Temperature/温度 : 40℃±2℃ Humidity/湿度 : 90%(RH) to 95%(RH) Time/時間 : 500±12h 8.Humidity Load/ Temperature/温度 : 40℃±2℃ 耐湿負荷 Humidity/湿度 : 90%(RH) to 95%(RH) Voltage/電圧 : The Rated Voltage/定格電圧 Time/時間 : 500±12h 9.High Temperature Load/ 高温負荷 Result/試験結果 (Rejection Number/Sample Number) Temperature/温度 : Max. Operating Temp.±3℃ Voltage/電圧 : Apply 200% of ｔｈｅ rated voltage / 定格電圧 x 200% Time/時間 : 1000±12h Note: These test condition and specification are for the typical item. 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 Test Result/試験結果データ Data No.:QU-GJ-052 Size (inch/mm) Temp. Chara. Cap.Value 0402/1005 C0G 3.3pF +/-0.1pF 50V 0402/1005 C0G 3.3pF +/-0.1pF 50V Appearance/外観 No defects including no peeling of the termination. 端子電極のはく離及びその他異常はありません。 OK Appearance/外観 No defects /著しい異常はありません。 OK 3.Deflection/ 耐基板曲げ性 4.Solderability / はんだ付け性 Appearance/外観 Capacitance Change/ 静電容量変化(pF) No defects /著しい異常はありません。 2000 3.25 1000 0 75% of the termination is to be soldered evenly and continuously./ 端子電極の3/4以上に切れ目なくはんだが付着しています。 OK Appearance/外観 No defects /著しい異常はありません。 OK ±0.25pF(within) 466 (min.) 10000 (min.) No defects/異常ありません。 OK Appearance/外観 No defects /著しい異常はありません。 OK 7.Humidity (Steady State)/ 耐湿性 466 (min.) 10000 (min.) 3000 2000 1000 0 No defects/異常ありません。 OK Appearance/外観 No defects /著しい異常はありません。 OK Capacitance Change/ 静電容量変化(pF) Q 233 (min.) 2000 1000 0 Initial After test 2000 -0.25 1000 0 IR/絶縁抵抗(MΩ) 500 (min.) 0.75 5000 0.50 4000 0.25 3000 0.00 Initial After test Initial After test Initial After test 1E+7 1E+6 After test -0.25 1000 -0.50 0 -0.75 233 (min.) 1000 (min.) 1E+7 1E+6 After test 0.3 5000 0.2 4000 0.1 3000 1E+9 Q ±0.3pF(within) Initial After test 1E+8 OK Cap. change [pF] No defects /著しい異常はありません。 1E+9 2000 0.0 2000 -0.1 1000 -0.2 0 -0.3 IR/絶縁抵抗(MΩ) Initial After test 1E+8 OK ±0.75pF(within) 111 (min.) Q After test 1E+7 1E+9 3000 0.00 Initial 9.High Temperature Load/ 高温負荷 Initial 1E+8 4000 Q No defects /著しい異常はありません。 Q Capacitance Change/ 静電容量変化(pF) After test 10000 (min.) 8.Humidity Load/ 耐湿負荷 Appearance/外観 Initial 1E+6 After test 5000 0.25 Cap. change [pF] Capacitance Change/ 静電容量変化(pF) 1E+6 1E+9 3000 Initial Appearance/外観 1E+7 4000 -0.50 IR/絶縁抵抗(MΩ) After test 1E+8 5000 0.50 ±0.5pF(within) Initial After test 0.25 0.20 0.15 0.10 0.05 0.00 -0.05 -0.10 -0.15 -0.20 -0.25 Initial Dielectric Strength/ 耐電圧 1E+9 4000 Q IR/絶縁抵抗(MΩ) ±0.25pF(within) Cap. change [pF] Q After test Q Dielectric Strength/ 耐電圧 Cap. change [pF] 6.Temperature Cycle/ 温度ｻｲｸﾙ Initial 5000 0.25 0.20 0.15 0.10 0.05 0.00 -0.05 -0.10 -0.15 -0.20 -0.25 Initial Capacitance Change/ 静電容量変化(pF) After test OK Wetting area/ はんだ付き面積 IR/絶縁抵抗(MΩ) 3000 Initial OK Q 4000 3.30 3.20 466 (min.) ±0.5pF (within) Capacitance Change/ 静電容量変化(pF) 5.Resistance to Soldering Heat/ はんだ耐熱性 3.2 to 3.4pF IR (Mohm) Q 5000 3.35 IR (Mohm) Capacitance / 静電容量 3.40 Cap.[pF] 2.Vibration/ 耐振性 MIN. Specification and Result / 規格値および試験結果 Cap. change [pF] 1.Adhesive Strength of Termination /固着性 Confirmed Criteria/ 評価項目 MIN. MAX. IR (Mohm) (MADE IN JAPAN ) Tested Item/ 試験項目 MAX. AVE. IR (Mohm) GJM1555C1H3R3BB01 AVE. IR (Mohm) (MADE IN SINGAPORE) Volt. Q GJM1555C1H3R3BB01 Cap.Tol. Q Typical Murata Global Part No Initial After test Initial After test 1E+8 1E+7 1E+6