走査プローブ顕微鏡
先端機器分析センター
仕様
環境制御型 E-sweep
型名
株式会社日立ハイテクサイエンス
走査範囲
150 μm ×150 μm, 20 μm × 20 μm
測定モード
AFM, DFM, MFM
観察像
二次電子像、反射電子像
付属装置
・環境制御ユニット, 到達真空度: 8.1 × 10-4 Pa
202 室

旋光計

質量分析装置

環境放射線測定装置

電子スピン共鳴装置

核磁気共鳴装置

紫外可視分光光度計

電子線プローブマイクロアナライザ 先端機器分析センター 103 室

走査型電子顕微鏡

ブック 1.indb

振動試料型磁力計

試料共振型磁力計

フォトルミネッセンス分光分析装置 先端機器分析センター 202 室

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