第 52 回 X 線分析討論会 主催：（公社）日本分析化学会 X 線分析研究懇談会 共催：筑波大学大学院数理物質科学研究科 協賛学協会：（公社）応用物理学会，（公社）環境科学会，関西分析研究会，（一社）資源・素材学会， （一社）触媒学会，（公社）石油学会，（公社）大気環境学会，（公社）電気化学会，（一社）電気学会，（公 社）土木学会，（一社）日本トライボロジー学会，日本 XAFS 研究会，（公社）日本化学会，（公社）日本金 属学会，（一社）日本結晶学会，（公社）日本材料学会，（公社）日本セラミックス協会，（一社）日本鉄鋼 協会，（公社）日本農芸化学会，（公社）日本表面科学会，（公社）日本分光学会，日本放射光学会，（公 社）日本薬学会，（一社）廃棄物資源循環学会，表面分析研究会，（一社）粉体粉末冶金協会，PF ユー ザーアソシエーション，（一社）日本物理学会，（公社）日本磁気学会，（一社）日本粘土学会，日本鉱物 科学会，日本結晶成長学会 協賛企業：アグネ技術センター，朝倉書店，神津精機，島津製作所，ツジ電子，テクノエックス， 仁木工芸，日本電子，浜松ホトニクス，Bee Beans Technologies，ブルカー・エイエックスエス， 堀場製作所，リガク， 会期 2016 年 10 月 26 日（水）〜 2016 年 10 月 28 日（金） 会場 筑波大学東京キャンパス文京校舎（会場住所：〒112-0012 東京都文京区大塚 3-29-1） 特別講演 S 「X 線分析と溶液中のイオン・分子」 （福岡大）脇田久伸 浅田賞受賞講演 「X 線回折/X 線分光融合技術の開発と蓄電池反応解析への応用」 （京大）福田勝利 特別講演 1 「内殻電子励起 X 線レーザーの発振と制御」 （電通大）米田仁紀 特別講演 2 「超高速時間分解電子線回折法―動きで埋もれた構造を探る」 （岡山大）羽田真毅 特別講演 3 「X 線回折による固液界面の広域構造とダイナミクス」 （千葉大）中村将志 特別講演 4 「放射光 X 線の先進的利用を支える検出器開発」 （KEK）岸本俊二 特別講演 5 「X 線表面散乱法を用いた有機薄膜の構造形成と表面・界面モルフォロジーのその場観察」 （関学大）高橋功 討論主題 (1) 新 X 線源による新たな分析の可能性 (2) 埋もれた薄膜界面の X 線分析 (3) X 線検出器技術の新展開 第 1 日（10 月 26 日（水）） 開会 （14:00～14:10） 特別講演 S （14:10～14:50） X 線分析と溶液中のイオン・分子（福岡大）脇田久伸 ポスターセッション （14:50～16:00，16:40～17:50） P1S. 製鋼スラグに含まれる固溶体(Ca,Fe)O の蛍光 X 線分析法によるエチレングリコールへの溶 解挙動の観察（東京都市大院工）○望月寛孝，江場宏美 P2S. 共焦点型微小部蛍光 X 線分析法による鋼板の微生物腐食その場観察（阪市大院工） ◯細見凌平，辻幸一 P3S. ハンドヘルド型蛍光 X 線分析計による河川礫種判定（1 富山県大，2 富山大）○南優平 1， 丸茂克美 2，手計太一 1，畠俊郎 1 P4S. トンネル工事で発生する掘削残土の蛍光 X 線分析用データ管理試料の作成（1 富山大，2 ア ースコンサル）○福手健太郎 1，モハマトサムスンナハール 2，加藤幸輝 1，丸茂克美 1 P5S. 蛍光 X 線分析法による堆積岩中の硫黄の現場分析（富山大）○加藤幸輝，福手健太郎， 丸茂克美 P6S. 偏光光学系蛍光 X 線分析装置を用いたコンブ試料の多元素定量（1 東電大工，2 農研機構食 品研究部門，3 理研仁科加速器セ）○船橋華子 1，保倉明子 1，鈴木彌生子 2，白川侑希 3， 阿部知子 3 P7S. 蛍光 X 線分析による中世の中央アジア出土ガラスの化学組成に関する研究（1 東理大理， 2 MIHO MUSEUM，3 キルギス国立歴史博物館，4 タジキスタン科学アカデミーA.Donish 歴史・考 古学民族学研究所）○村串まどか 1，澤村大地 1，S. Lapteff 2，稲垣 肇 2，A. Isiralieva3， S. Bobomulloyev4，中井泉 1 P8S. 非破壊オンサイト蛍光 X 線分析による日本出土重層ガラスの起源推定（東理大理） ○今井藍子，村串まどか，阿部善也，中井泉 P9S. 蛍光エックス線分析装置とイメージングプレートを組み合わせたエックス線教育（1 明大院 理工，2 明大理工，3 リガク，4 明大理工知財戦略機構）○藤井健悟 1，笠利実希 2，大渕敦司 2, 3， 萩原健太 4，中村利廣 2，小池裕也 2 P10S. Fluorescence X-Ray AsKα:AsKβ:PbLα:PbLβ Intensities Ratios by 18-30 keV Electron Excitation （Kyoto University）○Bolortuya Damdinsuren，河合潤 P11S. 全反射蛍光 X 線分析法による微量アルミニウム分析法の検討（東理大工）○寺田脩一郎， 堀江祐希，新貝智樹，国村伸祐 P12S. 3 全視野型 EDXRF イメージング装置の開発と特性評価（ 1 阪市大院工， 2IBAM-CNR， LNS-INFN）○瀧本雄毅 1，Francesco Paolo Romano2, 3，辻幸一 1 P13S. カソードルミネッセンス法を用いた複合酸化物の合成過程の観測（東北大金研） 〇小野晃一朗，今宿晋，我妻和明 P14S. 焦電結晶による金ナノ粒子生成機構の検討（東理大院総合化）○目﨑雄也，国村伸祐 P15S. X 線回折法による粘土鉱物定量法の検討（1 明大理工，2 明大院理工，3 リガク） 〇笠利実希 1，福田大輔 2，大渕敦司 1, 3，小池裕也 1 P16S. 微弱白色 X 線を用いたエネルギー分散型 X 線回折装置による粉末試料の測定（東理大院 総合化）○長島陽一，国村伸祐 P17S. 結晶相分布の分析のための共焦点型 X 線回折装置の改良とその評価（東京都市大） ○高橋良仁，淡路さつき，江場宏美 P18S. XRD および XAS を用いた液相合成金属水酸化物の酸化過程および熱分解挙動の解析 （東北大多元研）○加藤玄一郎、藤枝俊、篠田弘造、鈴木茂 P19S. X 線回折法から得られる転位組織と耐応力緩和特性の関係解明（1 茨城大，2 三菱マテリア ル，3 東北大）○伊藤美優 1，佐藤成男 1，伊藤優樹 2，森広行 2，松永裕隆 2，牧一誠 2，鈴木茂 2 P20S. ステンレス鋼の引張荷重その場中性子回折測定による転位増殖解析（1 茨城大，2NIMS， 3 JAEA，4 日本冶金工業，5 東北大）○黒田あす美 1，加藤倫彬 1，友田陽 2， ステファヌス ハルヨ 3，轟秀和 4，齋藤洋一 4，鈴木茂 5，佐藤成男 1 P21S. 中性子回折を用いた Co 合金のマルテンサイト変態に伴う組織形成の解析（1 茨城大工， 2 茨城大フロンティア応用原子科学研究セ，3 東北大金研，4 仙台高専マテリアル環境工学科，5 茨 城大院理工）〇中川真惟子 1，小貫祐介 2，山中謙太 3，森真奈美 4，千葉晶彦 3，佐藤成男 5 P22S. 中性子回折ラインプロファイル解析を用いた二相ステンレス鋼の冷間圧延に伴う組織形 成異方性の解析（1 茨城大工，2 茨城大フロンティア応用原子科学研究セ，3 日本冶金工業，4 東北 大，5 茨城大院理工）〇塙健太 1，小貫祐介 2，轟秀和 3，齋藤洋一 3，鈴木茂 4，佐藤成男 5 P23S. 小角 X 線散乱による構造因子と液体の統計力学を利用した粒子間二体分布関数の解析: Nelder-Mead 法を用いたモデルポテンシャルフリーな計算手法（1 京大院工，2 岡山大基礎研， 3 産総研）○澤住亮佑 1，天野健一 1，墨智成 2，今村比呂志 3，深見一弘 1，西直哉 1，作花哲夫 1 P24S. Operando X-ray reflectivity studies on thermo-responsive ultra thin polymer film（1 筑波大， 2 NIMS）Yuwei Liu1, 2，桜井健次 2, 1 P25S. Visualization of buried interfaces by X-ray reflectivity imaging（1 筑波大，2NIMS） ○Jinxing Jiang1, 2，桜井健次 2, 1 P26S. ゾルゲル法を用いてシリカガラスに含有させた希土類元素の均一性に関する研究（1 九大 院工，2 福島大理工，3 九大院理，4JASRI/SPring-8）○川本悠人 1，米津幸太郎 1，大橋弘範 2，川 本大祐 3，横山拓史 3，本間徹生 4 P27S. 担持金触媒調製時における金導入量と金粒子径との関係（九大）○新城智央，川本大祐, 田中和也, 長谷川貴之, 岡上吉広, 徳永信, 横山拓史 P28S. 充放電時のチタン K 殻 XAFS スペクトルの変化を利用したチタン酸リチウム負極におけ るリチウムサイトの評価（1 広島大院工，2 マツダ技術研）○金田敦徳 1，森啄也 1，三根生晋 2， 住田弘祐 2，Alvaro Munoz-Noval1，早川慎二郎 1 P29S. メタン雰囲気下におけるシリカ担持ニッケル化学種の還元特性の解析（立命大院生命） ○井狩浩貴，山下翔平，片山真祥，稲田康宏 P30S. Ni/CdS 系光触媒中の Ni 助触媒の存在状態の XANES による分析と光触媒活性の相関 （1 東北大院環境，2 東北大多元研）○岩間守弘 1，横山俊 1，篠田弘造 2，高橋英志 1，田路和幸 1 P31S. リチウムイオン電池正極反応分布の温度依存性（立命大院生命）○安田翔伍，片山真祥， 稲田康宏 P32S. 微量 B ドープしたグラファイトにおける B-K 線吸収・発光スペクトルの入・出射角度依 存性とバンド構造変化（兵庫県大高度研 1，理研 SPring-8 セ 2，JAEA3）○竹平徳崇 1，新部正人 1， 徳島高 2，岩田忠夫 3 P33S. 酸素プラズマ処理した TiO2 薄膜の XPS および NEXAFS 法による組成・ダメージと触媒活 性の相関（兵庫県大高度研 1，徳島大院工 2，中部大総工研 3）○荒木佑馬 1，竹平徳崇 1， 新部正人 1，川上烈生 2，中野由崇 3 P34S. 第一原理計算によるホウ素ドープグラファイトの XANES 解析と予測（兵庫県大工） ○濱中颯太，村松康司 P35S. 導電性基板に密着させた絶縁性薄膜の全電子収量測定(2)有機薄膜の XANES 測定および 透過法と全電子収量法の比較（兵庫県大院工）○大内貴仁，村松康司 P36S. 酸化黒鉛系炭素の CK 端 XANES における π～σ*間構造の解析（兵庫県大院工） ○太田雄規，岡田融，村松康司 P37S. 軟 X 線吸収分光と第一原理計算による有機半導体薄膜の配向性評価（1 兵庫県大院工， 2 住化分析セ，3 山形大有機エレクトロニクスイノベーションセ）○太田雄規 1， 高橋永次 2，末広省吾 2，硯里善幸 3，村松康司 1 P38S. 帯電中和 3 点予測 XPS 法による high-k 材料/SiO2 界面バンドオフセット評価 （京大）〇速水脩平，豊田智史，福田勝利，森田将史，中田明良，松原英一郎 P39. ED-XRF の一次フィルタを用いた軽合金材料の微量分析 （日本電子）○宇津木里香， 衣笠元気，永岡浩充，髙橋はるな，小野寺浩 P40. X 線分析技術を用いたリチウムイオン二次電池部材中の金属異物評価（日立ハイテクサイ エンス）○篠原圭一郎，大柿真毅 P41. PM2.5 高濃度地域における PM2.5 発生源推定のための元素分析（堀場製作所）〇青山朋樹， 水野裕介，内原博 P42. X 線分析顕微鏡による化石（珪化泥炭）の元素分布測定 （1 堀場テクノサービス，2 中央大 理工）○中村ちひろ 1，中野ひとみ 1，西田治文 2，横山政昭 1，駒谷慎太郎 1 P43. 陸上節足動物大アゴ先端部の亜鉛分布の測定（堀場テクノサービス）○中野ひとみ， 中村ちひろ，横山政昭，田中悟，駒谷慎太郎 P44. エネルギー分散型 X 線分析装置を用いた食品中の塩分測定（1 堀場製作所，2 堀場テクノサ ービス）○瀬川真未 1，中野ひとみ 2，青山朋樹 1，上田英雄 1，坂東篤 1 P45. 科学捜査のための放射光マイクロビーム蛍光 X 線法を用いた自動車塗膜マイカ粒子の微量 元素分析（1 高知大教育，2JASRI，3 広島大院工）西脇芳典 1, 2，本多定男 2，橋本敬 2，金田敦徳 3， 大和拓馬 3，Munoz-Noval Alvaro3，早川慎二郎 2, 3 P46. 和歌山カレーヒ素事件鑑定と他事件鑑定の共通点（京大工）河合潤 （テクノエックス） P47. 単色励起源を用いた EDXRF による超軽元素(6C～9F)の定性・定量分析例 ○タンタラカーン クリアンカモル，大森崇史，西萩一夫，谷口一雄 P48. 微小点元素マッピングと有害重金属元素分析を両立できる X 線分析装置 （テクノエックス） ○柴澤恵，タンタラカーン クリアンカモル，西萩一夫，谷口一雄 P49. EDXRF による微量元素測定のための励起条件最適化（アメテック・スペクトロ） Joachim Heckel，Dirk Wissmann，○宮城琢磨 P50. 蛍光 X 線による RoHS スクリーニング分析における自己吸収の影響（三菱電機先端総研） 上原康 P51. 不均質試料の共焦点微小部 XRF 分析における定量的データ解析（1 阪市大院工，2 リガク） ○河原直樹 1, 2，松野剛士 1，細見凌平 1，辻幸一 1 P52. X 線分析手法を用いた都市ごみ焼却飛灰中セシウムの化学種推定 （1 リガク，2 明大理工， 3 明大院理工）〇大渕敦司 1, 2，藤井健悟 3，小池裕也 2，藤縄剛 1，中村利廣 1, 2 P53. ガラス製造時に発生した結晶異物の格子定数とクラック発生メカニズムの解明（旭硝子） ○宮嶋達也，齊藤健太，渡邉俊成 P54. Stable capturing cesium ininorganic crystal formed by solvothermal synthesis from montmorillonite （1NIMS，2 ベトナム国家大，3 東京都市大）Yen Pham1, 2, 江場宏美 1, 3，○桜井健次 1 P55. リートベルト解析とラインプロファイル解析を併用した Co 合金の強化機構の解釈 （1 茨城大院理工，2 茨城大工，3 東北大金研，4 仙台高専マテリアル環境工学科）○佐藤成男 1， 加藤翔太 2，山中謙太 3，森真奈美 4，千葉晶彦 3 P56. 転炉スラグに含まれる遊離石灰の X 線回折法による組成・定量分析（東京都市大工） ○江場宏美，長沢祥吾，安藤大哲，路川小百合 P57. 角度分解トポグラフィーと局所ロッキングカーブ法によるイオン注入 SiC 基板の歪分布観 察（1KEK 物構研，2 阪大院工，3 長町サイエンスラボ）○高橋由美子 1， 平野馨一 1，志村考功 2，長町信治 3 P58. 放射光 X 線の回折・分光で解明する SrIrO3/SrTiO3 超格子の電子状態（1 東大物性研，2 東大 工，3 原研/SPring-8，4 JASRI，5 理研 CEMS，6 東大理，7 マックス・プランク研）○和達大樹 1, 2， 山村周玄 2，石井賢司 3，鈴木基寛 4、池永英司 4、松野丈夫 5、高木英典 6, 7 P59. タングステンジルコニウムオキシ水酸化物の脱水過程観察および酸触媒特性（徳島大院理 1 工 , 徳島大総科 2）○山本孝 1, 2，近藤真季 2，入江智章 2 P60. X 線吸収微細構造スペクトルの成分分析による塩酸溶媒中の Cu(II)クロロ錯体構造解析 （東北大多元研）◯打越雅仁，篠田弘造 2 筑波大， P61. 放射光 X 線分析による福島第一原発事故由来の放射性粒子の性状解明（1 東理大， 3 産総研，4 気象研）○阿部善也 1，飯澤勇信 1，小野貴大 1，小野崎晴佳 1，中井泉 1，佐藤志彦 2， 末木啓介 2，金井豊 3，足立光司 4，五十嵐康人 4 P62. 超伝導検出器を用いた X 線吸収分光装置の高感度化（1 産総研，2KEK）○志岐成友 1，藤井 剛 1，浮辺雅宏 1，北島義典 2，大久保雅隆 1 P63. 軟 X 線 XAFS による鉄酸化膜の状態分析（1 日鉄住金テクノロジー，2 立命大） ○伊藤亜希子 1，安達丈晴 1，速水弘子 1，薄木智亮 1，山中恵介 2，太田俊明 2 P64. 黒鉛系炭素の C K 端 XANES から局所構造を識別する π*ピークマップの提案（兵庫県大院 工）○村松康司，村山健太郎 P65. 溶液中のマグネシウムイオンの XAFS 測定（立命大 SR セ）○家路豊成，中西康次， 太田俊明 P66. 立命館大学 SR センター軟 X 線 XAFS ビームラインへの Quick XAFS システムの導入（立 命大 SR セ）○吉村真史，中西康次，太田俊明 P67. 蓄電池解析のための軟 X 線 XAFS ビームラインの開発とその応用（立命大 SR セ） ○山中恵介，中西康次，渡辺巌，太田俊明 P68. 軟 X 線発光分光器におけるトライデントミラーの効果（兵庫県大高度研 1，理研 SR セ 2） 新部正人 1，竹平徳崇 1，徳島高 2 P69. 汎用波長分散型蛍光 X 線分析装置による S の化学状態評価（1 リガク，2 徳島大院理工自然 科学系化学）○児玉憲治 1，森山孝男 1，山本祐平 2，山本孝 2，今井昭二 2 P70. 非走査型 WDX 分光器の開発と化学状態分析への応用（島津製作所基盤研）○和泉拓朗， 西村暁弘，貝野正知，足立晋，佐藤賢治 P71. HAXPES によるトライボ表面の分析（豊田中研）○高橋直子，奥山勝，磯村典武， 木本康司，大森俊英 浅田賞受賞講演 （16:00～16:40） X 線回折/X 線分光融合技術の開発と蓄電池反応解析への応用（京大）福田勝利 イブニングセッション （17:55～19:30） 大型研究施設の産業利用 －企業の分析部門はどう考えてい る？－ イントロダクション （17:55～18:00） （旭硝子）宮嶋達也 プレゼンテーション （18:00～19:00） （三菱電機）上原康，（キャノン）野間敬，（日産アーク）伊藤孝憲，（旭硝子）山本雄一， （旭化成）松野信也 ディスカッション (19:00～19:30) 第 2 日（10 月 27 日（木）） 特別講演 1 （9:00～9:40） 内殻電子励起 X 線レーザーの発振と制御（電通大）米田仁紀 第 1 セッション （9:40～10:20） O1S. 偏光光学系における蛍光 X 線理論強度（京大院工）○田中亮平，河合潤 O2. ボロン-K 発光分光計測のための高回折効率広角ラミナー型回折格子（1 量研機構量子ビーム， 2 東北大多元研，3 島津デバイス）○小池雅人 1，羽多野忠 2，浮田龍一 3，笹井浩行 3，長野哲也 3 第 2 セッション （10:40～12:00） O3. 全反射結像ミラーを用いた高分解能蛍光 X 線イメージング （1 阪大，2 理研） ○松山智至 1， 安田周平 1，山田純平 1，香村芳樹 2，矢橋牧名 2，山内和人 1 O4S. Retrieving X-ray fluorescence spectra by Scientific CMOS camera for visible light and its application to element movie imaging （1 筑波大，2NIMS）○Wenyang Zhao1,2，桜井健次 2,1 O5S. WD-XRF イメージングによる化学反応過程の元素モニタリング（阪市大工）○会田翔太，辻幸一 O6. X 線元素分析を可能とする非接触原子間力顕微鏡 XANAM の開発 （1 名大院工，2 北大触媒研， 3 ICU，4KEK-PF）○鈴木秀士 1，向井慎吾 2，田旺帝 3，野村昌治 4，朝倉清高 2 特別講演 2 （13:30～14:10） 超高速時間分解電子線回折法―動きで埋もれた構造を探る（岡山大） 羽田真毅 第 3 セッション （14:10～14:50） O7. 医薬品不純物元素分析への理論散乱 X 線を用いた FP 法の適用検討（1 島津テクノリサーチ，2 島津 製作所） ○中尾隆美 1，市丸直人 1，古川博朗 2，鈴木桂次郎 2，寺下衛作 2，西埜誠 2，越智寛友 2 O8. ガラスビード/蛍光 X 線法による大島および八丈島出土土器の胎土分析（1 福岡大理，2 東海大文， 3 明大理工）○市川慎太郎 1，松本建速 2，中村利廣 3 第 4 セッション（15:10～16:30） O9. 蛍光 X 線分析法における不均質試料に対する前処理法の検討（1 リガク，2RITE，3 産総研） ○高原晃里 1，大渕敦司 1，森山孝男 1，中野和彦 2，村井健介 3 O10. XAFS 測定に基づく塩化鉄微粒子存在下における 3-ヘキシルチオフェン酸化カップリング重合の 反応機構の解明（1 九大先導研，2 九大院工，3I2CNER）◯平井智康 1, 2, 3，永江勇介 2，高原淳 1, 2, 3 O11. X-ray Absorption fine structure approach to the study of particle nucleation and in situ charge-discharge processes in Zn-air negative porous electrodes（1 広島大院工，2 京大院工） ○A. Munoz-Noval1，深見一弘 2，小山輝 2，來間拓也 1，邑瀬邦明 2，安部武志 2，作花哲夫 2， 早川慎二郎 1 O12S. X 線吸収分光法を利用したマンガンクラストへの Pt 濃縮機構の解明 （九大院理）〇田中和也， 川本大祐，新庄智央，岡上吉広，徳永信，横山拓史 特別講演 3 （16:50～17:30） X 線回折による固液界面の広域構造とダイナミクス（千葉大）中村将志 集合写真 （17:30～17:50） ミキサー （18:00～） 第 3 日（10 月 28 日（金）） 第 5 セッション （9:00～10:20） O13. プルシアンブルー類似体によるリーゼガングバンドの X 線分光分析 （1 日本女子大理，2KEK-PF， 3 総研大）○林久史 1，阿部仁 2, 3 O14. 微生物起源マンガンノジュールの粉末 X 線回折及び蛍光 X 線分析（国立環境研）○瀬山春彦 O15. ポータブル粉末 X 線回折計の開発と美術館における絵画のその場分析（1 東理大理，2 テクノエッ クス，3 アムステルダム国立美術館，4 アントワープ大）○中井泉 1，平山愛里 1，阿部善也 1， K. タンタラカーン 2，谷口一雄 2，A. v. ルーン 3，P. ノーブル 3，K. ヤンセン 4 O16. TOF 型中性子回折計 iMATERIA における集合組織測定 ―X 線、電子線を用いた手法との協奏 ―（茨城大）○小貫祐介，佐藤成男，星川晃範，石垣徹 特別講演 4 （10:40～11:20） 放射光 X 線の先進的利用を支える検出器開発（KEK）岸本俊二 第 6 セッション（11:20～12:00） O17. 超伝導トンネル接合アレイ X 線検出器を搭載した SEM-EDX 装置の開発（産総研）○藤井剛， 浮辺雅宏，志岐成友，大久保正隆 O18. 高精細直接検出型 2 次元検出器 SOPHIAS の現状と将来展望（1 理研，2JASRI，3 兵庫県大） 〇工藤統吾 2, 1，東末敏明 2，小林和生 2, 1，尾崎恭介 1，寺西信一 3, 1，初井宇記 1, 2 特別講演 5 （13:30～14:10） X 線表面散乱法を用いた有機薄膜の構造形成と表面・界面モルフォロジ ーのその場観察（関学大）高橋功 第 7 セッション （14:10～15:30） O19. リチウムイオン二次電池中軽元素成分観察のためのその場軟 X 線吸収分光技術の開発（1 立命大 SR セ，2JASRI，3 立命大生命，4 京大院人環，5 京大産官学連携本部）○中西康次 1，家路豊成 1，吉村 真史 1，山中恵介 1，為則雄祐 2，鶴田一樹 2，菊崎将太 2，折笠有基 3，小島一男 3，内本喜晴 4，小久見 善八 5，太田俊明 1 O20. 硬 X 線光電子分光を用いた Cu/ポリイミド界面の化学結合状態解析（住友電工解析セ） ○久保優吾，溝口晃，斎藤吉広 O21. 高融点金属の溶融塩電解回収を目指した溶融塩および電析物の局所構造解析（1 東北大多元研， 2 三徳）○篠田弘造 1，立山祐資 2，秋山大輔 1，助永壮平 1，打越雅仁 1，鈴木茂 1，佐藤修彰 1 O22. 導電性基板に密着させた絶縁性薄膜の全電子収量測定（1） 膜厚方向の導電現象の観察（兵庫 県大） ○村松康司，大内貴仁 閉会 15:30 参加申込方法 第 52 回 X 線分析討論会ホームページ（http://www.nims.go.jp/xray/xbun/X52/） 上で申し込みを受け付けます． 参加登録料（8 月 1 日以降） 一般 6,000 円，学生 3,000 円 （いずれも税込） 参加登録料の入金後の払い戻しはいたしかねます．参加登録をされた方は 10 月 12 日（水）から講演要 旨集電子ファイルの事前ダウンロードの特典があります． 振込先 水戸信用金庫（金融機関コード 1240） つくば支店（店コード 035） 普通 0273860 第 52 回Ｘ 線分析討論会実行委員長桜井健次 （「52 エックスセンサクライケンジ」で振込できます） 連絡先 桜井健次（〒305-0047 茨城県つくば市千現 1-2-1 国立研究開発法人物質・材料研究機構高 輝度光解析グループ，E-mail: [email protected]（学術・研究機関以外のドメインからメールを 送られる方は，事前に FAX: 029-859-2801 までご連絡ください）） 最新の情報は，X 線分析研究懇談会ホームページ http://www.nims.go.jp/xray/xbun/index.htm および 第 52 回 X 線分析討論会ホームページ http://www.nims.go.jp/xray/xbun/X52/をご覧ください．
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