QEの絶対値測定に関して（林田）

XIS低エネルギー側ＱＥ
PCのQE、XIS-EUのＱＥの測定
林田清、勝田哲、鳥居研一、並木雅章、
白庄司貴之、他大阪大学ＸＩＳチーム
ガス比例計数管（ＰＣ）：斜入射較正実験
X-rays
X-rays
異なる入射角における比例計数管の
スペクトル
30°
45°
Counts
0°
PH (ch)
白庄司Ｍ論
Hayashida et al., 2004 SPIE
2004年１月実験の再解析

比例計数管の窓のメッシュ
50mm厚、0.5mmピッチ
 開口率0.763 (X線で実測）
 断面○ではなく□を仮定

30°/0°と45°/0°を
同時フィット
 Ｘ線発生装置の長期変
動を補正

比例計数管の検出カウントの比
1
0.9
0.8
30°/0°
count rate ratio
0.7
45°/0°
0.6
0.5
今回の結果
窓透過率測定
2000年
ポリプロ膜厚
0.896±0.016mm
1.49±0.03mm
水
0.196±0.012mm
0.17±0.02mm
P10ガス不感層
70.0±1.2mm
x
0.4
0.3
0.2
0.2
0.4
0.6
0.8
Ex (keV)
1
PC QE (2005/02/14 version)
Model PCQE(Shouho)
Model PCQE(Shouho extrapolation)
比例計数管ＱＥのモデル
PC-QE
1
QE model
斜入射実験：今回の解析
0.1
0.2
窓透過率測定(2000年）
0.4
0.6
0.8
Ex (keV)
1

斜入射法により検出効率を求めた比例計数管を
リファレンス検出器としてXISの検出効率を求めた。
比例計数管
XIS2
XISEU-QE(2004Jul)
XISEU-QE(2003Dec)
XISEU-QE model(20050225version)
1
XISEU-QE
今回の結果
0.1
0.01
SiO2厚み
0.396±0.040mm
Si厚み
0.229±0.026mm
Si3N4厚み
0.000±0.007mm
定数ファクタ
0.883±0.031
C-Kのデータ点モデルの1/3以下
0.2
0.4
0.6 0.8 1
Ex(keV)
0.277keVの点を除いて一定の相対重み
でフィット
BI1-QE(20050214 version)
BI1-QE (20050225 version)
XIS-BI1-QE
2
1
0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
どうがんばっても一様吸収モデルでC-K
をあわせるのは難しい
0.4
0.6 0.8 1
Ex(keV)
検討課題


XIS-FMのQE絶対値の精度は比例計数管のQEの
精度で決まっている。
ガス不感層の厚みはエネルギーによらないか？厚
みはもっともな値か？




PENELOPEによるシミュレーションをする予定
メッシュの斜入射透過率のよりよいモデルは？反射
は効かないか？
打ち上げ後BI0について斜入射実験ができればベ
スト。
FI-CCD,BI-CCDともに0.3keV以下のレスポンスに
関してはQEモデルの検討必要。
バッドコラムその１

(1) 転送不良 Trail Column
PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY
V
25
55 381 271
1 / 668 325
V
27
61 1029
4
-1 / 668 336
V
30
64 1490
-2
-1 / 668 239
V
24
54 1471
1
1 / 668 729
V
22
62 1043 164
-2 / 668 239
V
22
44 1672
1
1 / 668 221
V
32 145 1316
3
0 / 668 570
<PH[7]-PH[2]>で判別可能(e.g. >8AU)
バッドコラムその２
(2)上下漏れ出し Column
PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY
V 189 393 551 486
6 / 238 897
V
4
6 1565
7
0 / 238
97
V 179 353 549 346
3 / 238 798
V
0
5 1548
3
2 / 238 171
V 109 293 498 335
4 / 238 610
V 204 394 565 459
8 / 238 919
PH[7]>SplitTH(e.g.20) && PH[2]>SplitTH(e.g.20)のイベ
ントの割合（e.g. >0.2)で判別可能
バッドコラムその３
(3) Flickerging Pixel
PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY
V
26
74
81
42
17 / 51 879
V
1
5
58
1
-3 / 51 262
V
-1
-2
54
2
3 / 51 262
V
-1
3
75
1
1 / 51 262
V
0 671 945
2
0 / 51 272
V
1
2 1779
1
2 / 51 717
ピクセル毎のイベントの頻度で判別可能(e.g.>0.1c/frame)
xisDL / xisread
XIStrailCorrection
 XIStrailCheck
 XISareaSelect

バッドコラムの数
EU= 21
 FI0=14, FI1=12, FI2=17,FI3=24
 BI0=23, BI1=50
 探すmodule=XIStrailCheck
 除外するmodule=XISselectArea

A/I
電荷もれ補正したデータで解析しなおす(京
大）
 ＱＥ

やらなければいけない多くのこと






打ち上げ前の試験＠相模原＆鹿児島
鹿児島運用準備、相模原運用準備
マイクロコードの準備と管理（試験は？）
相模原と鹿児島のQLソフト
バッドコラム、ホットピクセル、ＣＴＩ、ゲイン管理。そ
のための体制
応答関数作成



BIの解析法、P-sum の応答、電荷漏れ補正、CTI補正、
PIの決定、各応答関数成分の
観測者用FITSファイルのチェック、ソフトのテスト
運用のもろもろ（SAA前後、CTI、ジッターDAC)

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