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Astro-E2 搭載 XIS のX線検出効率における
X線吸収微細構造の影響
並木雅章、林田清、鳥居研一、勝田哲、東海林雅幸、松浦大介、
宮内智文、常深博（阪大理）、片山晴善（JAXA）、幸村孝由（工学院大）、
他 Astro-E2 XIS チーム
干渉～吸収係数の変調に
よる微細構造の出現
－吸収端近傍のエネル
ギー
多重散乱による微細構造
(XANES)
－高エネルギー側になるに
つれ緩やかに減衰する振動
(EXAFS)
XAFS (X-ray Absorption Fine Structure)
－ XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure)
－ EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure)
XIS の検出効率と XAFS のモデル化
酸素K吸収端付近の分散X線スペクトル
表面照射型 CCD、裏面照射型 CCD
Q.E. との比
電極 (Si)
保護膜 (SiO2)
規格化した
分散スペクトル
+ XIS Q.E.
エネルギー範囲を分割
⇒ モデルフィッティング
⇒ エネルギーの関数
⇒ XIS 応答関数への組み込み
W09c 宮内他
Astro-E2 XIS 裏面照射型 CCD における
信号電荷の広がりとデータ処理パラメータの最適化
W10c 松浦他
較正用軟X線発生装置のX線強度変化とスペクトル変
化

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