Progress of Shintake Monitor (ATF2 IP-BSM) ATF2 weekly meeting : KEK site meeting 2008/7/25 T. Yamanaka 干渉縞測定セットアップ • ピンホール付き、フォトダイオードを自動ステージで動かし、レーザー光の プロファイルを測定 • 別の場所でもフォトダイオードで光量を測定し、光量のジッターを補正 • 本番と同じセットアップで測定 位相安定化用 ディレイライン R=100% mirror R=100% prism φ1μm pinhole photo diode R=50% splitter イメージ反転 ダブプリズム R=100% mirror f=250mm convex lens automatic stage 干渉縞の測定結果 今回の測定 前回の測定 • 干渉縞の乱れが小さくなっている ← レーザーの収束点で測定したため • レーザー光のプロファイルそのものの形が目立つようになっている 干渉縞のコントラスト • 片方のpathのみのプロファ イルから、干渉縞のとり得る 最大値と最小値を計算 Imax = I1 + I2 + 2(I1 I2)1/2 Imin = I1 + I2 - 2(I1 I2)1/2 • 測定した干渉縞と重ねて プロット • 一見したところ、中央付近 でのコントラストが悪いよう に見えるが、これは2つの光 の光量に差があるためで、 それを考慮すると、良いコン トラストが得られている 光学系の配置 垂直定盤(正面図） レーザー定盤(上面図) PSD2 PSD1 垂 直 定 盤 へ IP レ ー ザ ー 定 盤 か ら 位置のジッター レーザー定盤上のPSD(PSD1) 20,000パルスのレーザーでの測定結果 垂直定盤上のPSD(PSD2) IPでの位置ずれの計算 • レーザーの出射口での角度と位置を指定し、 IPまでの光路を計算。同時に2か所のPSD上 での位置が出る • 2か所のPSDで測定すれば、レーザー出射口 での角度と位置が一意的に求まるので、IPで の位置も求まる • PSDでの位置測定データとIPでのレーザー光 プロファイルを同時に取得することでIPでの位 置ずれの補正が可能と考えられる 光線追跡の計算結果 レーザー出射口において、 角度：±0.001°(17.5μrad) 位置：±0.1 mm の範囲で振ってみて、PSD1、PSD2、 IPでの位置の変化を計算 光線追跡計算 • PSD1とPSD2での位置のジッターの実測値を 再現するように、角度、位置を振ると、IPでの 位置ずれはおよそ±1μm • IPがレーザーの収束点になるようにしてある ので、出射口での位置ずれはIPでの位置ず れには効かず、角度ずれのみが問題になっ てくる
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