Astro-E2 XISの軟X線領域における量子効率

ポスター
W27b
Astro-E2 XISの軟X線領域
における量子効率（QE）Ⅱ
松浦大介、勝田哲、林田清、鳥居研一、並木雅章、東海林雅幸、
宮内智文、常深博（阪大理）、中嶋大、山口弘悦（京大）
幸村孝由（工学院大）、片山晴善（JAXA）、他Astro-E2 XISチーム
X線発生装置
チェンバー内部
～3m
分光X線
較正実験方式＠大阪大学
比例計数管
（PC）
XIS-EU
XIS-FM
(FM品と同チップ)
(FI ４台 & BI 2台)
ポスター
W27b
発生X線の強度補正
モデルによる同時フィット
X線強度とX線ジェネレータ稼動時間
分散X線スペクトルの強度（1ヶ月ごと）
2004.4
2004.4 (EU)
(EU)
2004.2.4 (FM)
2003.12.30(EU)
このエネルギー
バンドの強度を稼
働時間でプロット
X線強度[counts/8sec]
X線強度[counts/8sec]
X線強度
[counts/8sec/column]
2004.4.5 (EU)
2004.2
(FM)
2004.2
(FM)
同時フィットモデル
黒：EUのデータ
= at + b
2003.12(EU) IEU赤：FMのデータ
2003.12(EU)
100
100
補正方法
１、同条件で繰り返し測定（データ点を増やす）
２、エネルギーバンドごとX線強度を発生装置
の稼動時間でプロット（右図）
３、同時フィットを行う（他のバンドでも同様に）
K(E)倍
I200
+400b)
FM= K(E)×(at
300
200
300
400
稼働時間[h][h]
稼働時間
I EU  at  b
I FM
強度補正した各エネルギーの相対検出効率
同時フィットモデル
QE FM

(at  b)  K ( E ) I EU (t )
QE EU
I : X線強度
t : X線ジェネレータ稼動時間
K(E) : 相対検出効率
XIS-FM : ＥＵに対する相対検出効率
FI1（表面照射型）
K(E) ～1.1倍@0.6 keV
BI1（裏面照射型）
K(E) ～10倍@0.6 keV
～80倍@0.28 keV
ポスター
W27b
XIS-FM 絶対検出効率
XIS-FM :XIS
FI1(表面照射型)
FI1 QE
XIS-FM : BI1（裏面照射型）
1
0.1
FI1-QE(Osaka)
0.01
赤 : 阪大データ点
青 : 京大データ点
FI1-QE(Kyoto)
1
10
Ex(keV)
阪大と京大で得られた
1を超えるデータ点がある
データが繋がらない
→比例計数管のQEを再検討中
ポスター
W27b
XIS-FMの絶対検出効率
FI1 QE
XIS-FM :XIS
FI1(表面照射型)
XIS-FM : BI1（裏面照射型）
1
0.1
FI1-QE(Osaka)
FI1-QE(Kyoto)x0.8
0.01
FI1 QEmodel
1
10
Ex(keV)
FM-FI1
FM-BI1
0.28keV 0.65keV 1.8keV
～0.7% ～20%
～80%
～45%
～85%
～85%
1. 比例計数管（PC）の検出効率
2. EU（Engineering Unit）の検出効率
PC
分散X線
XIS-EU
分散X線
スリット
斜入射較正法:垂直入射と45º入射の検出効
率の比から絶対効率を求める
ON/OFF
スリット
PC
1
XIS-EUのPC
に対する
相対効率測定
0.1
XIS-EU QE
Model XISEU QE
0.01
0.2
0.4
0.6 0.8 1
Ex(keV)
XIS-FM-FIの相対検出効率
FI0
FI1
K(E) ~ [email protected] keV
FI2
FI3
XIS-FM-BIの相対検出効率
BI0
BI1
K(E) ~ [email protected] keV
~ [email protected] keV
1keV以下のエネルギーで非常に高くなっている
C-K(0.277keV)で約80倍
系統誤差
FI-1
BI-1
K(E)
系統誤差: 5%以下
検出効率
K(E) ~ [email protected] keV
K(E) ~ [email protected] keV
~ [email protected] keV
FI3
現在の量子効率モデルパラメータ
FI-CCD
BI-CCD
SiＯ2層
Si層
空乏層
SiＯ2層
HfO2層
空乏層
0.443μm
±0.004
0.181μm
±0.003
68.9μm
±1.7
0.0000μm
±0.0005
0.005μm
fixed
45.7μm
±0.7

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