PDF, 500 KB - Matworks GmbH – Materials Engineering Solutions

Multi-Sample-Holder
Systemlösung
 Bis zu 6 Schliffproben mit D = 25 oder 30 mm
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Schliffhöhe bis zu 15 mm
Reproduzierbare Fokusebene mit eindeutigem
Koordinatensystem
Individuelle Drehfunktion zur Ausrichtung je Schliff
Hohe Effizienz bei Reihenuntersuchungen
und zugleich flexible Handhabung
Sputterfähigkeit für REM
Effiziente korrelative Mikroskopie
Kompatibilität zu Carl Zeiss Licht- und
Rasterelektronenmikroskopen und Shuttle&Find
Komponenten
 Grundplatte mit 6 Aussparungen und Schwalben

schwanzführung für Lichtmikroskop und REM
Einzeln zu entnehmende REM- und sputtertaugliche
Probenhülsen
Kalibrationsmarker CorrMic und EDX-Kalibration
integriert
Kompatibilität
 Carl Zeiss Lichtmikroskope Axio Zoom.V16,
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Axio Imager.M2m / .Z2m, Axio Imager Vario
Scanningtisch mit Verfahrbereich
mindestens 125 x 80 mm
Carl Zeiss Rasterelektronenmikroskope
EVO, SIGMA, MERLIN, AURIGA,
auch einige LEO-Geräteserien
Gängige Sputtercoater (Rezipient mind. D = 50 mm)
für REM-Analysen
Software Carl Zeiss AxioVision
CorrMic-Softwaremodul Shuttle&Find
Preis
Einführungspreis 4.700 € als Komplettsystem* mit
 6 Probenhülsen D = 25 oder 30 mm
 Adapterplatte CorrMic 160 x 116 mm
 Kalibrationsmarker CorrMic (drei Stück)
*
ohne Softwaremodul
matworks
Materials Engineering Solutions
Einsatzbeispiele
Serienanalysen an 6 x 6 Mehrfachschliffen
 Lichtmikroskopische Schichtdickenanalyse mit statistischer Auswertung
Korrelative Mikroskopie
 Defekt- oder Einschlussanalyse Stahl / Licht- und Rasterelektronenmikroskop poliert, Lichtmikroskop geätzt
20 µm
 Phasenanalyse Magnete / Hellfeld-, Polarisations- und Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Analyse
20 µm
Matworks GmbH
Gartenstraße 133, 73430 Aalen
Tel. + 49 7361 999-0; Email [email protected]
www.matworks.de
Zertifiziert nach DIN EN ISO 9001:2008
matworks
Materials Engineering Solutions

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