放射光利用 XAFS 測定の電気化学分野への応用と時間分解 XAFS へ

_f» XAFS ± &ùªic ñ)&»#õcÝ XAFS )
&
Ö&«}~||÷ZõigÄÂÉÄ
è× s
ùªi&W$ÂÉã'ùÝä²°V%³¯v]Āù¥ā#°]ĀùÝä²°ā
#&¼ü%2ù~ÅhGN=<"1vĂª¼ü"&m#p¨ù¥Úü&^
¿§ë.ù~¶%/!m|ý32v]Úü&§ë.ä'RÕ%EL
9&3#'½$1Ç&Îüúb+<@?G.7O9-w!23
0'33+½$m4Ã+ù¥m&ìÙ%#-$!Āù\
4{i2%
3!āù¥&®{i2&'ù¥Úü&§ë{iRu"2#Ñ
032!ù¥Ă²°ĀvĂ°ā¼ü&ù~ÅhmĀùªimā4ò
¿%¹Ýµù¬.=O:#¸wÀ3!2BD@9DN;Q)#»P
ô!,%'ù¥Ă²°¼ü&^§ë4k~Pc~&MHL"-m
å!2&yĀin situā"ÜPêç2XUo©"2&,û%ÿ
ÊõcÝÓ"¼ü4§!2k~&ù~¶Ăïd§ë%ö2x032
_f» XAFS ±&ùªiÍ)&î»% ÿ+!2¾Ú"'
ùªi%
!¦áé2&þÎ£%
XAFS )&%
!á!%õcÝ
!é*!
'GaAs(100)ù¥T)& Cu &ù¢%
!& SR _f» XAS ±4ÙCu 9K
<>Q&óíÆ4&yêç 1-3)±'PF & BL13B FQJK5O%!ÙĄ
Ï'am¡["`mĄÏ#' 90½$2q%ÞÐ SSD ¤bt"à0&
Ø_ĄÏ4±2X"Úü#GaAs(100)T& Cu &ù¢ò'ù¢&ùªò
0ÛÈ-Cu ù¢ò 0.05 ML "-Ý¢%Ò2ä& XANESĂEXAFS <I9AL
03ùªiÍ"-jc XAFS ±oÓ"2#ß3±*!&ù
CuO
¢ò&à/(l´#!± Cu ÌĀCu ði 0āCu2 O ÎĀCu ði+1ā
ÎĀCu ði+2ā& XANES <I9AL/1±*!&àĀù¢òă0.05 ML
6 MLā"rnË6CL8Q Cu Ì&-&#RÔ*!&ù¢à" Cu &ði 0
"2XcEXAFS ±ĂÝ¢&Î£/1GaAs(100)T)& Cu &ù¢%!'
ù¢e %Yò]Sò]# Cu BD9K<>QĀCu-Cu k~õæøEL9&3/
1Áāºù¢òz2%
k~õæø4-
3! Cu BD9K<>QóEL9#p Cu-Cu
Cu 9K<>Q4!#Îâ4
lÑ·
1)
K. Tamura, T. Kondo, H. Oyanagi, M. Koinuma, and K. Uosaki, J. Surf. Anal., 3, 498-501
(1997).
2)
T. Kondo, K. Tamura, M. Koinuma, H. Oyanagi, and K. Uosaki, Chem. Lett., 761-762 (1997).
3)
K. Tamura, H. Oyanagi, T. Kondo, M. Koinuma, and K. Uosaki, J. Phys. Chem. B, 104(38),
9017-9024 (2000).

Download Report