日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツジョイントセミナー in 大阪 2015 開催のご案内『最新電子材料（半導体・金属・樹脂）のための「表面観察＆分析」ソリューション』拝啓灼熱の候、貴社いよいよご清祥のこととお慶び申し上げます。平素は格別のお引き立てを賜り、ありがたく厚く御礼申し上げます。恒例になりました JEOL/OXFORD ジョイントセミナーを今年は電子材料にフォーカスを当てて開催致します。近年、エレクトロニクス分野では多様な高機能材料が開発されており、１台の装置で全ての特性を把握することは困難になっています。そのため今回のセミナーでは、1つの装置にこだわらず、 SEM・FIB・EDS ・EBSD・XRF ・AFMなど多機種の装置を用いた分析ソリューションをご提供させて頂きます。この機会にぜひご参加下さいませ。敬具日時：2015年10月21日（水）12:50～17:30 会場：日本電子株式会社西日本ソリューションセンターセミナープログラム時間講演内容 12:20-12:50 開場 12:50-13:00 開会のご挨拶 13:00-13:40 「大きな絶縁物でもコーティング不要！ JSM-7800F Primeの最新低真空&低加速電圧技術」 13:40-14:15 14:15-14:55 14:55-15:10 15:10-16:10 16:10-16:50 16:50-17:20 日本電子株式会社「低真空・低加速電圧条件下での高感度EDS/EBSD分析」ｵｯｸｽﾌｫｰﾄﾞ･ｲﾝｽﾄｩﾙﾒﾝﾂ株式会社分析機器事業部「AFMを用いたエレクトロニクス材料の電気特性評価」ｵｯｸｽﾌｫｰﾄﾞ･ｲﾝｽﾄｩﾙﾒﾝﾂ株式会社ｱｻｲﾗﾑﾘｻｰﾁ事業部コーヒーブレーク（休憩、質問タイム）「FIB-SEMを用いた3D-EDS分析」／「3D-EBSD分析と透過EBSD分析」日本電子株式会社／ｵｯｸｽﾌｫｰﾄﾞ･ｲﾝｽﾄｩﾙﾒﾝﾂ株式会社「SEM-EDSを用いた微粒子（異物）自動解析と微小部膜厚分析」ｵｯｸｽﾌｫｰﾄﾞ･ｲﾝｽﾄｩﾙﾒﾝﾂ株式会社分析機器事業部「XRF活用術最新ファンダメンタルパラメーター法を用いた各種材料の簡易定量分析」日本電子株式会社 17:20-17:30 閉会のご挨拶 17:30-18:30 実機見学、インターフェーシング（お飲物、お菓子をご準備しております。ご質問タイムとしてもご活用ください。）セミナーに関するお問い合わせオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社分析機器事業部担当: 五十嵐・三井 TEL: 03-6732-8967 / FAX: 03-6732-8939 E-mail: [email protected] www.oxford-instruments.jp 日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツジョイントセミナー in 大阪 2015 開催のご案内 2015年10月21日（水）【日時】 12:50 ～ 17:30 （開場12:20）【参加費】無料【会場】日本電子株式会社西日本ソリューションセンター大阪府大阪市淀川区西中島5丁目14番5号ニッセイ新大阪南口ビル1 階 TEL：06-6305-0121 【アクセス】 JR新大阪駅中央口徒歩5分地下鉄御堂筋線新大阪駅南口(7番出口) 徒歩2分【お申込み方法】日本電子株式会社西日本ソリューションセンター案内図 1. ホームページからお申込み  弊社ホームページより必要事項を記載してお申込みください。セミナー情報ページ www.oxford-instruments.jp/JointSeminar2015 2. E-mailでお申込み  必要事項（お名前、貴社名、ご所属、住所、電話番号）を記載して下記受付メールアドレス宛に送信してください。受付アドレス：[email protected] 3. FAXでお申込み  下記お申込み欄にご記入の上、以下のFAX番号へご送信ください。 FAX番号：03-6732-8939 お申込みご記入欄貴社名：部署名：〒ご住所：お名前： TEL： FAX： E-mail： □ 今後E-mailでのご案内を希望するセミナーに関するお問い合わせオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社分析機器事業部担当: 五十嵐・三井 TEL: 03-6732-8967 / FAX: 03-6732-8939 E-mail: [email protected] www.oxford-instruments.jp