Bruker ローコスト、短納期製品 今からでも年度末のご予算に間に合う ナノ表面計測事業部のローコスト製品のご紹介 2015 Nov Innova 多機能高性能AFM コンパクトなボディに多くの機能を搭載した、コストパフォーマンスに優れたSPM システムです。小型ながら45mm×45mmまでのサンプルを搭載可能で、標準付属 の直上CCDを利用してサンプルとプローブの位置合わせが容易に行えますので、 非常に使い勝手の良い設計となっております。 ● 高機能本体設計 ● その他様々なSPM測定機能をオプションで拡張可能 ¥9,800,000.- ～ 価格 MultiMode8 アップグレード 今お使いの10年以上前のMultiMode SPMでも最新のシステムにアップグレード できます。アップグレードにより操作性が向上するだけでなく様々な先進の機能を お使いいただけます。 ● ナノスケール機械特性・導電性のマッピング、高分解能ケルビンフォース 測定への拡張（オプション） ※価格はご所有のシステムにより異なります。 詳しくはお問い合わせ下さい。 価格 ¥12,100,000.- ～ MultiMode8用 高速測定オプション ScanAsystHR MultiMode8用の高速測定オプションになります。 ● 従来の測定スピードが6倍～20倍高速になります。 ※価格はご所有のシステムにより異なります。 詳しくはお問い合わせ下さい。 価格 ¥1,870,000.- ～ Windows7 PC アップグレード WindowsXP PCをWindows7(64ビット）にアップグレードできます。 ● 対象機種 MultiMode8、Dimension Icon、Dimension FastScan 、Dimension FastScan-Bio, Dimension Edge、Innova ※価格はご所有のシステムにより異なります。 詳しくはお問い合わせ下さい。 価格 ¥2,820,000.- ～ Bruker Probe AFM用プローブ Brukerは高性能なAFM装置群と豊富なプローブの両製品を製造している唯一の会社です。 ● Class 100 クリーンルームで製造 ● Bruker社AFMの専門家・技術者が共同開発 ● 確かなパフォーマンスを保証する品質 ※数量お値引きもございます。 ※各種キャンペーンもございますので お問い合わせください。 ※表示価格は、為替の急激な変動などにより予告なく変更することがございます。 価格 ¥23,000.- ～ ● ブルカーナノ表面計測事業部 ブルカー・エイエックスエス株式会社 ■ 東京営業所 ■ 大阪営業所 〒104-0033 東京都中央区新川1-4-1 〒532-0004 大阪市淀川区西宮原1-8-29 テラサキ第2ビル TEL:(03)3523-6361 FAX:(03)3523-6364 TEL:(06) 6393-7822 FAX:(06) 6393-7824 E-mail: [email protected] E-mail: [email protected] AFMオプションとメンテナンス/保守契約について PeakForce QNM 定量的機械特性マッピングオプション 画期的な原子間力顕微鏡（AFM）イメージングモードで、 AFM研究者にナノスケール材料の定量的特性評価を行うための これまでにない機能を提供します。このモードは、試料形状の イメージングを高分解能で行うと同時に、弾性率と吸着力を含む ナノ機械特性を識別してマッピングします。 ● 形状のみならず、弾性率、吸着力等を定量的にマッピング ● 多成分ポリマー混合物内での材料の視覚化と定量化が容易 ● 4種類の形状測定モードが標準装備 ※価格はご所有のシステムにより異なります。 詳しくはお問い合わせ下さい。 価格 ポリマーブレンドの測定例 PeakForce TUNA ¥2,710,000.- ～ ピークフォースタッピングモード電流測定オプション Li Battery Example ピークフォースタッピングモードを用いて試料、プローブ間の電流測定 が可能です。機械特性との同時測定も可能で様々な角度からサンプ ルの物性を評価します。 ● 軟材料、基板への固定が弱いサンプルの電流測定に最適 Z position C Force A E ● 定量的機械特性マッピングとの同時測定が可能 B D ● 従来のコンタクトモードによる電流測定もサポート Current Time ※価格はご所有のシステムにより異なります。 詳しくはお問い合わせ下さい。 価格 ¥6,330,000.- ～ リチウムイオン電池の電極測定例 PeakForce KPFM ピークフォースタッピングモード表面電位測定オプション ピークフォースタッピングモードを用いて試料の表面電位測定が可能 になります。またFM検出方式の採用により従来にない空間分解能を 達成しています。機械特性との同時測定も可能で様々な角度からサン プルの物性を評価します。 ● FM検出方式の採用により従来にない空間分解能を達成 ● 定量的機械特性マッピングとの同時測定が可能 Sn60Pb40 合金の測定例 ※価格はご所有のシステムにより異なります。 詳しくはお問い合わせ下さい。 価格 ¥4,300,000.- ～ メンテナンス/保守契約 導入設備の能力を十分に発揮し、安心して運用頂くために、 ブルカーの充実したサポート/サービスをぜひご利用ください。 SPM/AFM （原子間力顕微鏡システム） AutoAFM ● 優先対応させて頂きますので、お客様のダウンタイムを 最小限に抑えることができます。 （大型自動原子間力顕微鏡） 3D Optical Microscopy （3次元白色光干渉型顕微鏡） ● 部品交換費用を含んでいますので、修理発生時の Stylus Microscopy （触針式プロファイリングシステム） UMT （ユニバーサル トライボロジーテスター） 伝票処理の時間を短縮できます。 ● 故障してから保守に入ることが可能です。 ● 修理を含まない校正作業のみのご契約もございます。 ※価格はご所有のシステムにより異なります。 詳しくはお問い合わせ下さい。 ※サポート内容は製品群ごとに異なります。 ※表示価格は、為替の急激な変動などにより予告なく変更することがございます。 校正料金 ¥200,000.- ～ 白色光干渉型顕微鏡オプション TTMレンズ 環境制御用対物レンズ （ECOライン仕様 タイプⅢ） 透過物を通して、サンプル表面に干渉像を得ることが出来るとてもユニークな対物 レンズです。 汎用型環境制御用チャンバーを用いる事で、加熱、冷却、真空中などのさまざまな環境下 におけるサンプルの経時変化を計測する事が出来ます。 また、専用イルミネーターを用いる事で、ハイアスペクト形状への測定も可能とします。 【ECOライン仕様】 ● NT9X00シリーズ, ContourSPシリーズに対応 ● 対応倍率 2倍, 5倍, 10倍, 20倍（20倍使用時は専用イルミネーターが必要です。） ● ハイアスペクト測定能力 トレンチ構造 1:20 ビア構造 1:10 ハイアスペクト測定例 通常の対物レンズ ECO価格 TTMレンズ ¥2,000,000.-～ ContourGT向け各種オプション （ECOライン仕様 タイプⅣ） ContourGTシリーズに様々な拡張オプションが用意されています。 この機会にお手持ちの装置をより充実した仕様にして頂くご提案です。 カラーCCD対応 環境制御用対物レンズ 側壁測定用ホルダー AFMレンズ 高分解能測定AcuityXR 膜厚測定 データステッチング 計26種の対物レンズ ECO価格 お問い合わせください。 ※表示価格は、為替の急激な変動などにより予告なく変更することがございます。 Bruker ローコスト、短納期製品 今からでも年度末のご予算に間に合う ナノ表面計測事業部のローコスト製品のご紹介 ContourGTK 2015 Nov 白色光干渉型顕微鏡（ECOライン仕様 タイプⅠ） Wyko時代からの30年以上に渡る経験と実績を備えた、白色光干渉型顕微鏡です。白色の 光干渉を利用することで、サンプル表面の3次元形状情報を非接触で高速、高精度且つ広 範囲に計測することが出来、研究開発から量産の品質管理まで幅広く使用されています。 64bit版Windows7をベースとした解析ソフト”Vision64”による粗さパラメータを始めとした 各種フィルタリングも含めた多岐に渡る数値解析を用いて、精密加工部品・ 研磨加工表面・ 摺動による摩耗面・透明体表面（膜厚）などの計測が可能です。 【ECOライン仕様】 ● ● ● ● ● ● ECO価格 4種類の形状測定モードが標準装備（PSI,VSI,VXI,Intensity） 5倍、50倍 干渉対物レンズ（対物レンズ5個接続型タレットハウジング付き） 6インチ手動ステージ ±4度 手動傾斜調整ステージ 光量調整、スキャン量、焦点合わせすべて自動制御 Vision64 64bit専用解析ソフト（Dektakデータも読み込み可能） 専用防振台（コンプレッサーは含みません。） ¥9,000,000.- ナノレベルの段差測定結果 DektakXTE 10μm基準段差（測定誤差 0.01%） 触針式プロファイリングシステム（ECOライン仕様 タイプⅡ） Dektak XTは、40年以上に渡り業界をリードしてきた触針式プロファイリングシステム Dektakの第十世代目です。測定パフォーマンス、使いやすさにこだわり、マイクロエレクトロ ニクス、半導体、太陽光パネル、高輝度LED、医療、材料科学分野において重要となるナノ メートルレベルの表面測定を可能にします。 【ECOライン仕様】 ● ● ● ● ● ECO価格 手動4インチXY試料ステージ スタイラス：曲率値 2μｍ もしくは12.5μｍ どちらかを選択 Vision64 64bit専用解析ソフト（ContourGTデータも読み込み可能） 基準段差ゲージを一つ選択（段差値:8nm,44nm,88nm,180nm,450nm,940nm,4500nm） 防振台卓上型防振台（コンプレッサー,作業台は含みません。） 拡張性・対応スタイラス ¥4,600,000.3Dマッピング機能の拡張もできます 先端曲率の選択（50nm～25μm） 高アスペクト比(10μm x 2μm・200μm x 20μm) その他ご希望に応じて対応可能 ※表示価格は、為替の急激な変動などにより予告なく変更することがございます。 ● ブルカーナノ表面計測事業部 ブルカー・エイエックスエス株式会社 ■ 東京営業所 ■ 大阪営業所 〒104-0033 東京都中央区新川1-4-1 〒532-0004 大阪市淀川区西宮原1-8-29 テラサキ第2ビル TEL:(03)3523-6361 FAX:(03)3523-6364 TEL:(06) 6393-7822 FAX:(06) 6393-7824 E-mail: [email protected] E-mail: [email protected]
© Copyright 2024 ExpyDoc
