FX-101S FPD 露光装置総合 Gen 10 Plate FPD Lithography System for Ultra-large Panel Production 第10世代プレートサイズ対応 超大型パネルの生産に最適な FPD 露光装置 Key Features 特長 Multi-lens System マルチレンズシステムを搭載 High Throughput High throughput for ultra-large plate sizes is achieved using a wide exposure field coupled with a high-speed stage. Two 60-inch wide panels can be exposed in a single scan. 高スループット 広い露光範囲と高速ステージにより、超大型プレートサイズにおいても高い スループットを実現。露光範囲は一回のスキャン露光で60インチワイド パネルを2面焼き付けることが可能。 2,880 mm × 3,130 mm プレートサイズの場合: 毎時270枚 (65インチワイドパネル) 毎時410枚 (60インチワイドパネル) 毎時810枚 (40インチワイドパネル) 2,880 mm × 3,130 mm plate size: 2 70 panels/hr (65-inch wide panel) 410 panels/hr (60-inch wide panel) 810 panels/hr (40-inch wide panel) High Resolution An excellent resolution of 3 μm (L/S) across the entire plate High Alignment Accuracy An accuracy of ±0.6 μm or less is achieved using simultaneous multi-point alignment with the ultraprecise stage. Improved Exposure Performance 100-8331 東京都千代田区丸の内3-2-3 富士ビル www.nikon.co.jp/ NIKON CORPORATION Fuji Bldg., 2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100-8331, Japan www.nikon.com/ 100-8331 東京都千代田区有楽町1-12-1(新有楽町ビル) www.nikon.co.jp/ NIKON CORPORATION Fuji Bldg., 2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100-8331, Japan www.nikon.com/ 100-8331 東京都千代田区有楽町1-12-1(新有楽町ビル) www.nikon.co.jp/ NIKON CORPORATION Fuji Bldg., 2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100-8331, Japan www.nikon.com/ 高解像度 プレート全面で3 μm (L/S) の高解像度を実現。 高精度アライメント 多点同時アライメントの採用と高精度ステージにより、±0.6 μm以下を実現。 露光性能の向上 Performance FX-101S Resolution (L/S) (switchable) 解像度(L/S) (切替可) Projection magnification 投影倍率 Alignment accuracy アライメント精度 Plate size プレートサイズ Takt time タクトタイム WARNING 3.5 µm (g+h+i-line), 3.0 µm (i-line) (option) 1:1 ≦ ±0.6 µm 2,880 mm 3,130 mm 70 sec./plate Conditions: 4 scans, g+h+i-line, 30 mJ/cm2 TO ENSURE CORRECT USAGE, READ THE CORRESPONDING MANUALS CAREFULLY BEFORE USING YOUR EQUIPMENT. All of the products in this brochure are under export restriction. The export of these products is controlled by Japanese Foreign Exchange and Foreign Trade and International export control regime. They shall not be exported without authorization from the appropriate government authorities. Performance and equipment are subject to change without any notice or obligation on the part of the manufacturer. Products and brand names are trademarks or registered trademarks of their respective companies. March 2016 ©2016 NIKON CORPORATION NIKON CORPORATION NIKON PRECISION TAIWAN LTD. Shinagawa Intercity Tower C, 2-15-3, Konan, Minato-ku, Tokyo 108-6290, Japan Tel: +81-3-6433-3641 Fax: +81-3-6433-3758 NIKON SINGAPORE PTE LTD. FPD Lithography Business Unit Sales Department 3F-1, 2, 3, 5 No. 28, Tai Yuen Street, Chu Pei City, Hsin Chu Hsien, Taiwan Tel: +886-3-552-5888 Fax: +886-3-552-5858 NIKON PRECISION INC. 1399 Shoreway Road, Belmont, CA 94002-4107, U.S.A. Tel: +1-(650)-508-4674 Fax: +1-(650)-508-4600 NIKON PRECISION EUROPE GmbH Precision Division 23 Church Street, Unit #13-07, Capital Square, Singapore, 049481 Tel: +65-6367-4020 Fax: +65-6367-4021 NIKON PRECISION SHANGHAI CO., LTD. RM. 601 Xin Jin Qiao Tower, No. 28 Xin Jin Qiao Road, Pudong New District, Shanghai 201206, China Tel: +86-21-5899-0266 Fax: +86-21-5899-1660 Robert-Bosch-Strasse 11, D-63225 Langen, Germany Tel: +49-6103-973-0 Fax: +49-6103-973-333 NIKON PRECISION KOREA LTD. レーザ光 17-24 Singal-Dong, Giheung-Gu, Yongin-Si, Gyeonggi-Do, Korea Tel: +82-31-288-5601 Fax: +82-31-288-5609 ビームをのぞきこまないこと Max. 1mW CW He-Ne 633nm クラス2 レーザ製品 安全に関するご注意 ご 注 意 ■ご使用の前に「使用説明書」 をよくお読みの上、正しくお使いください。 本カタログに掲載した製品および製品の技術(ソフトウェアを含む)は「外国為替および外国貿易法」に定める規制貨物等(特定技術を含む) に該当します。輸出する場合には政府許可取得等適正な手続きをお取りください。 ・このカタログは2016年3月現在のものです。仕様と製品は、製造者側がなんら債務を被ることなく予告なしに変更されます。 ・このカタログに掲載の会社名および商品名は各社の商標または登録商標です。 ©2016 NIKON CORPORATION http://www.nikon.co.jp/pec FPD 装置事業部 営業部 108-6290 東京都港区港南2-15-3 品川インターシティ C 棟 電話 (03) 6433-3641 株式会社ニコンテック 140-0012 東京都品川区勝島 1-5-21 東神ビル 電話(03)5762-8911 Printed in Japan 4CEJ-SUQH-10 (1603-0.6)T 2016-2017 FPD Lithography Systems FX-68S FX-66S2/66S Gen 6 Plate FPD Lithography System Delivering a High Resolution of 1.5 μm 第6世代プレートサイズ対応 1.5 μ m の高解像度を達成した FPD 露光装置 Gen 6 Plate FPD Lithography Systems Delivering a Resolution of 3 μm with High Productivity 第6世代プレートサイズ対応 高生産性を実現した3 μ m 解像度 FPD 露光装置 The FX-68S supports the production of leading edge high-resolution smalland medium-sized panels from Gen 6 plates. The scanner method enables improved productivity, excellent resolution and high alignment accuracy. 第6世代プレートによる最先端高精細中小型パネルの生産に対応。スキャ The FX-66S2/66S supports the production of small- and medium-sized panels from Gen 6 plates. With the high productivity and stable exposure performance, the FX-66S2/66S enables the high volume production of small- and medium-sized panels with a resolution of 3 μm or less (L/S). 第6世代のプレートによる中小型パネルの生産に対応した FPD 露光装置 ナー方式により、生産性向上と高解像度・高精度アライメントを同時に実 現しました。 Key Features 特長 Multi-lens System High Resolution In order to achieve higher resolution, we developed a new i-line projection lens and an innovative correction system that takes advantage of our multi-lens system in large plate exposure. In this correction system, the focal surface follows inclination changes in a plate. This enables the high volume production of panels with a high resolution of 1.5 μm (L/S) in Gen 6 plates. 高解像度 高解像度化のために i 線の投影レンズを新規開発。さらにプレート面の傾 斜とその変化に対して焦点面を最適に追従させる画期的な補正システム を開発搭載。これらにより第6世代プレートで1.5μ m(L/S)の高解像度で の量産を実現。 高精度アライメント 位置計測の干渉計システムを新規設計し、計測精度と位置制御性能を上げ ることにより高精度アライメントを実現。 High Alignment Accuracy The new interferometer system for position measurement is designed to realize high accuracy alignment by enhancing measurement accuracy and position control performance. 高スループット 新開発の投影レンズとステージにより、第6世代プレートで4スキャンを 可能とし、高スループット (毎時78プレート) を実現。 High Throughput With the new projection lens and stage, the FX-68S achieves high throughput of 78 plates per hour by enabling 4-scan on a Gen 6 plate. 特長 Key Features マルチレンズシステムを搭載 高解像度 3.0μm (L/S) の高解像度を達成。 High Alignment Accuracy Alignment accuracy is improved using simultaneous multi-point alignment with the ultraprecise stage. 高精度アライメント 多点同時アライメントと高精度ステージにより、アライメント精度を向上。 Improved Exposure Performance The FX-66S2/66S employs a variety of calibration functions developed utilizing our unique technology and provides enhanced exposure performance stability. FX-68S Projection magnification 投影倍率 Alignment accuracy アライメント精度 Maximum plate size 最大プレートサイズ Takt time タクトタイム Performance 第6世代プレートによる中小型パネルの生産に対応。スキャナー方式により、 生産性向上と高解像度・高精度アライメントを同時に実現しました。 Key Features Multi-lens System High Throughput 高スループット 高解像度 2.0μm (L/S) の高解像度を達成。 High Resolution Both models achieve a high resolution of 2.0 μm (L/S). High Alignment Accuracy Alignment accuracy is improved using simultaneous multi-point alignment with the ultraprecise stage. Improved Exposure Performance The FX-67S2/67S employs a variety of calibration functions developed utilizing our unique technology and provides enhanced exposure performance stability. 高精度アライメント 多点同時アライメントと高精度ステージにより、アライメント精度を向上。 露光性能の向上 独自技術により開発したさまざまなキャリブレーション機能を適用し、 総合的により安定した露光性能を実現。 Performance FX-67S2 アライメント精度 最大プレートサイズ Takt time タクトタイム タクトタイム 1,500 mm 1,850 mm 53 sec./plate Conditions: 1,500 mm 1,850 mm, 4 scans, g+h+i-line, 30 mJ/cm2 55 sec./plate Conditions: 1,500 mm 1,850 mm, 4 scans, g+h+i-line, 30 mJ/cm2 FX-86SH2/86S2 Gen 8 Plate FPD Lithography Systems for Large Panel Production 第8世代プレートサイズ対応 大型パネルの生産に最適な FPD 露光装置 The FX-86SH2/86S2 incorporates techniques from both the FX-67S, which is ideal for high-definition panel production, and the FX-101S, which supports ultra-large plates, enabling high-definition large panel production. The FX-86SH2/86S2 achieves reduced takt time compared with previous Gen 8 lithography systems. The FX-86SH2 also enables a high resolution of 2.2 μm. 高精細パネルの生産に適した FX-67S と、超大型プレートサイズに対応した FX-101S の技術を融合し、高精細大型パネルの生産に対応。既存の第8世代 装置に比べて、タクトタイムを短縮しました。FX-86SH2では、2.2μm の FX-67S ≦ ± 0.5 μm 57 sec./plate Conditions: 1,500 mm 1,850 mm, 4 scans, g+h+i-line, 30 mJ/cm2 61 sec./plate Conditions: 1,500 mm 1,850 mm, 4 scans, g+h+i-line, 30 mJ/cm2 高解像度 FX-86SH2では、2.2μ m (L/S) の高解像度を達成。 High Alignment Accuracy The optimally designed measurement system, which incorporates an interferometer, has led to improved measurement stability and a high alignment accuracy of ±0.5 μm. Improved Exposure Performance The FX-86SH2/86S2 employs a variety of calibration functions developed utilizing our unique technology and provides enhanced exposure performance stability. 高精度アライメント 干渉計による位置計測システムを新たに最適設計したことにより計測安定 性が向上し、±0.5μ m の高精度アライメントを実現。 露光性能の向上 独自技術により開発したさまざまなキャリブレーション機能を適用し、 総合的により安定した露光性能を実現。 Performance Resolution (L/S) 1,500 mm 1,850 mm 特長 高スループット 2,200 mm × 2,500 mm プレートサイズの場合: 毎時587枚 (46インチパネル) 毎時378枚 (55インチパネル) High Resolution The FX-86SH2 achieves a high resolution of 2.2 μm (L/S). 2.0 μm (g+h+i-line) 1:1 高解像度も実現しています。 マルチレンズシステムを搭載 Multi-lens System High Throughput 2,200 mm × 2,500 mm plate size: 5 87 panels/hr (46-inch panels) 378 panels/hr (55-inch panels) マルチレンズシステムを搭載 Maximum plate size 最大プレートサイズ 1:1 ≦ ± 0.6 μm Key Features 特長 Alignment accuracy Maximum plate size 46 sec./plate Conditions: 1,500 mm 1,850 mm, 4 scans, 30 mJ/cm2 The FX-67S2/67S supports the production of small- and medium-sized panels from Gen 6 plates. The scanner method enables improved productivity, excellent resolution and high alignment accuracy. 投影倍率 アライメント精度 ≦ ±0.35 µm 第6世代プレートサイズ対応 2 μ m の高解像度を達成した FPD 露光装置 解像度(L/S) 投影倍率 Alignment accuracy 3.0 μm (g+h+i-line) 1,500 mm 1,850 mm Gen 6 Plate FPD Lithography Systems Delivering a High Resolution of 2 μm Projection magnification Projection magnification Takt time 1:1 FX-66S 解像度(L/S) 1.5 µm (i-line) FX-67S2/67S Resolution (L/S) 露光性能の向上 独自技術により開発したさまざまなキャリブレーション機能を適用し、 総合的により安定した露光性能を実現。 FX-66S2 Performance 解像度(L/S) 高スループット High Resolution Both models achieve a high resolution of 3.0 μm (L/S). Resolution (L/S) Resolution (L/S) マルチレンズシステムを搭載 Multi-lens System High Throughput 露光性能の向上 Improved Exposure Performance です。高い生産性と安定した露光性能で、3 μ m(L/S)以下の解像度に よる中小型パネルの量産を実現します。 解像度(L/S) Projection magnification 投影倍率 Alignment accuracy アライメント精度 Maximum plate size 最大プレートサイズ Takt time タクトタイム FX-86SH2 FX-86S2 2.2 μm (g+h+i-line) 3.0 μm (g+h+i-line) 1:1 ≦ ±0.5 μm 2,200 mm 2,500 mm 49 sec./plate Conditions: 2,200 mm 2,500 mm, 4 scans, g+h+i-line, 30 mJ/cm2
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