多様なニーズにお応えするニレコの品質検査装置ラインアップ 無地表面品質検査装置 TypeS コンセプトはそのままに、 機能を限定したローコスト版登場。 無地表面品質検査装置 Defect Inspection System for Plain Surface Type S は、Mujiken＋のコンセプトはそのままに、コンパクトな筐体を 実現した検査装置です。 仕 様 カメラ台数 MAX 8 台 モニタ 1 画面、2 画面対応 ー その他の仕様は Mujiken＋に準じます。 無地表面品質検査装置 Mujiken の検査能力はそのままに お求めやすい価格のコンパクトモデル ! LT は、Mujiken ＋ の検査能力はそのままに、PC ラックに組み込める システムレイアウト自由自在な検査装置です。 仕 様 カメラ台数 MAX 8 台 入力系統 MAX 2 系統 照明部 高輝度白色 LED 照明 発光長 200 ∼ 1600mm （∼ 2400mm はオプション） オフラインシート 品質検査装置 Ev-01 光学フィルム、ガラス基板、銅箔 CCL などのカットシート専用のオフライン 品質検査装置です。この品質検査装置は、シートの異物、キズ、変色、 しみなどの検査データを出力するほか、全検査シートのデータを集計し、 そのロットごとの欠陥傾向をグラフに表示することも可能です。 また、ユーザに対して製品の品質データとして活用いただけます。 仕 様 シートサイズ Ａ４∼（お打ち合わせ） 照明装置 透過方式、反射方式 コマンド 高速ラインでも あらゆる欠点を見逃さない 検査開始、画像入力、マニュアル移動（＋−）、検査範囲設定など 欠陥画像マルチ表示、欠陥マップ出力、 データ分析機能 CSV検査データ （XY座標、サイズ、種別）、 個数密度（個/m2 ）、粒径分布データ、種別個数グラフなど ニレコ、N I R E C Oおよびニレコ、N I R E C Oロゴは、株 式 会 社ニレコの日本 国 内における登 録 商 標または商 標です。 このカタログの記 載 事 項は、予 告 無しに変 更される場 合があります。ご計 画の際は営 業 部へ、 ご確 認くださるようにお願いいたします。 ■お問い合わせは ■八王子事業所 東京都八王子市石川町2951-4 〒192-8522 TEL. （042） 660-7330 FAX. （042） 644-6658 ■大阪営業所 大阪市中央区南船場4-8-6 （渕上ビル） 〒542-0081 TEL. （06） 6243-2461 FAX. （06） 6243-2466 QI0867.3 1510TP05 Printed in Japan 高機能フィルム検査の最高峰機種 Mujiken+ （ムジケン・プラス）誕生。 無地ウェブ生産の新しいソリューション 超高速モノクロカメラと画像処理エンジン。そしてシステムとユーザーを つなぐソフトウェア。ニレコは、産業界の検査部門で多くの実績を積み重 ねてきました。業界最高レベルの無地表面品質検査システム Mujiken+ は、 ニレコが提案する新しいソリューションです。 カメラ （正透過） エンコーダ ペンマーカ カメラ （反射） 照明装置 照明装置 電源ボックス 遠隔操作PC Mujiken+操作盤 Mujiken+ の新たな特長 検査専用高速処理基板のハードウェア化により従来比約 2 倍の画像処理を実現 正確な測長を実現可能にする ラベリング機能 を強化 ムラやノイズを補正する シェーディング補正機能 フィルター機能 を強化 新たな検査頭脳アルゴリズムの追加 カメラ台数 MAX128 台 入力系統 MAX8 系統 センサ 画素 画像処理 ムラ、薄汚れ、横スジといった、検出が難しい欠点を対象に開発された 薄汚れ 横スジ 検査回路を新たに追加 ストリーク強調処理による縦スジ検出回路のさらなる強化 検査処理 対応カメラの充実化、光学系の進化 Windows 7 Embedded 64bit 階調変換、エッジ強調、ラベリング、孤立点除去 信号方式 デジタルラインセンサ 濃度積算、濃度ヒストグラム 8,192 画素 640MHz（ M A X 1 0 b i t ） 画像濃度一定レ ベル自動補正（AGLC） 8,192 画素 320MHz（ 10bit、MAX12bit） シェーディング補正（オフセット、自動追従補正） 超高速タイプ（モノクロ） ２値化検知、多値検知 欠陥マップ（範囲指定 , 全スパン） 欠陥データリスト出力（CSV） 欠陥画像弁別機能（ビューワ機能オプション） 異物（点状、すじ状、気泡） 欠陥検出 8,192 画素 160MHz（ 10bit、MAX12bit） 4,096 画素 320MHz（ 10bit、MAX12bit） 4,096 画素 160MHz（ 10bit、MAX12bit） 2,048 画素 160MHz（ 1 0 b i t 、MAX12bit） 1,024∼7,168 画素 ノーマルタイプ（モノクロ） ラ 部 外部モニタ増設により、欠点画像の拡大表示が可能 オペレータ監視場所に設置し、異常欠点を早期発見 DVD、H D D など OS メ ツイン・モニタ対応を実現 外部記憶 8,192、6,144、4,096、2,048、1,024、16,384 欠陥画像表示、欠陥画像ファイル データ処理 マップ表示、検査データ表示 全 体 制 御 、検 査開始終了指示など カラー検知（RGB 輝度方式、IHP ベクトル方式） OS をリニューアル Windows 7 Embedded にリニューアル。高速データ処理を実現 光通信採用により、ハードウェア設計の大幅な簡略化を実現。これにより、PC の信頼性が飛躍的に向上 カラー 160MHz、 80MHz（共通） 検 査 状 況 のリアルタイム監 視 表 示 画素検査機能 カ 超高速モノクロカメラ 640MHz、320MHz（10 ビット）にも対応し、処理速度倍増 カラーカメラを新たにラインナップ LED 照明のみならず、近赤外光、紫外光などの、特殊照明との組み合せが可能 これら光学系の進化により、見えない欠点の可視化など対応範囲が拡大し、検出能力が大幅にアップ モノクロラインセンサ640MHz、 320MHz、 160MHz、 80MHz、 40MHz メインプロセッサ 操作部 さらに高速化した画像処理機能 Mujiken+ 仕 様 MAX80MHz（ 10bit） 4,096 画素 160MHz（ 8 ビット） ３ラインカラータイプ 4,096 画素 80MHz（ 8 ビット） キズ（連続、不連続） 8,192 画素 160MHz（ 8 ビット） 変色（部分、広領域） 8,192 画素 80MHz（ 8 ビット） しみ（モノクロ、淡い色斑）など 信 号 ケ ーブ ル 長 外部I/F 操作ツール ∼15ｍ 標準 ∼100ｍ 光リンクによる ラベラ出力、カッタ信号入力、警 報 出 力 キーボード、マウス、タッチパネル リアルタイム空間フィルタ （強調 , 微分 , 平滑化など） Mujiken + は生産ラインにおける安定検査と 視認性を高いレベルで実現します。 スピーディなデータ分析を実現 対応カメラのラインナップ充実と、光学系の進化 高機能フィルムはもちろん、一般フィルム、紙、箔など、検出が困難だった無地素材の欠点を、高精度に抽出します。 超高速モノクロカメラ 640MHz、320MHz（10 ビット）にも対応し、処理能力が従来比で倍増となりました。 高速撮影されたモノクロ画像を独自のアルゴリズム演算処理を施し、欠点部分を表示します。欠点部にはラベルが貼られ、 画像処理能力が大幅に向上したことにより、超高速モノクロカメラを用いても高精度な検査が可能となりました。高機能フィルム 次工程への欠陥納品を未然に防ぐことができます。 といった高分解能を要求される場合やライン速度が高速なラインに最適です。 Mujiken+ が 持 つ 画 像 の 鮮 明 さ（ イメ ー ジ ） 検査例 フィルム 表面画像 ラミネートフィルム 表面画像 紙巻き皺 表面画像 10bitカメラ （1,024階調） 8bitカメラ （256階調） カラーカメラを新たなラインナップとして加えるとともに、 ＬＥＤ照明のみならず、近赤外光、紫外光などの特殊照明との組 み合せも可能。これら光学系能力の進化により、見えない欠点の可視化などの対応範囲が拡大し、検出能力が従来と比べ て大幅にアップしました。 検出画像 検出画像 さまざまな用途に対応 フィルム コート紙 加工紙 金属箔フィルム 不織布 ガラス板 PET、PE フィルム AR フィルム 偏光フィルム スパッタ・メッキ銅箔 圧延銅箔 電解銅箔 など カラ ー 種 別 手 法 例 検出画像 新たな検査頭脳アルゴリズムを追加 ムラ、薄汚れ、横スジといったこれまで検出が難しかった欠点を対 象に、この度新たに開発した検査回路も加えました。 ストリーク強調処理による、縦スジ検出回路をさらに強化しました。 薄汚れ、ムラの検出画像 ＩＨＰ設定バーグラフ 横スジの検出画像 カラー・カメラによる検出結果 カラー解析法にはＲＧＢ絶対値法とＩＨＰ （輝度、色相、純度）ベクトル法の二通りがあります。従来のＲＧＢ法では不 可能だったごく淡い色の領域をＩＨＰ法を用いることによりシェーディング、わずかな色の差など精度の高いカラー色検出 が容易に行えます。 カラー色検出機能により、 欠点部の色の特徴情報による種別分けが可能となります。人間の色彩感覚に一致するＩＨＰ法 （特 許取得）は目視と同様の色分別が可能になります。フィッシュアイ欠点と焦げ欠点の識別、油染み欠点の検出、紙面上の 赤色欠点を重大欠点として分類するといった使い方が可能となります。 快適な操作性を求めたインターフェース 技術とノウハウが生んだニレコオリジナルの機器 欠点検査画面 欠陥画像マルチ表示 充実の周辺機器 欠点検査画面 カメラユニット（モノクロ・センサ） 照明装置 生産ラインで流れるウェブを 10bit カメラ（12bit カメラ）で高速撮影 します。 無地ウェブを適切な明るさに照射します。標準照明の蛍光灯タイプ・ ロッド照明タイプと、新開発の LED タイプから用途に合せて選べます。 視野の中央と端との感度（ゲイン）差を補正するためのゲイン補正 機能を搭載しました。カメラレンズや照明輝度分布の影響による欠点 ゲインを補正して精度の高い欠点検出が可能です。 欠点検出パフォーマンスを最大限に引き出すために、LED 照明を 独自開発しました。高輝度によりムラをなくし、高均一性に優れた 検査装置のための照明です。 カメラのゲインをコントロールする機能を搭載しました。透明なフィルム と不透明なフィルム中の欠点検出などで、同一系統の検出が可能です。 デュアル・インプット機能を搭載しました。 ※全欠陥データから自動的にランダムサンプリング（系統抽出法）を実行して対象データを絞り込みます。 統計分析によるグループ化 10bit、12bit 階調入力のため、8bit、10bit、12bit の 3 段階の階調 画像入力が可能です。 欠点検査画面 欠陥トレンドグラフ表示① 欠陥種類別個数分布表示 ビューワによる欠陥分類基準の自動生成機能 対象欠陥データ※に基づき統計分析を行い、類似欠陥同士をグルー ピングする種別データを自動生成します。 グループA 計測データ 分析パラメータの指示 nグ ル ープ 数 n類似点 欠陥トレンドグラフ表示② グループB 種別データ 自動生成 グループC 流れ方向分布表示 LED 照明は、超高輝度、高拡散タイプなどラインナップを大幅に 増やしました。近赤外などの特殊照明にも対応可能です。 コンパクトサイズから数ｍの長尺サイズまで、ご注文に応じて対応 可能です。 多彩な検査・表示・分析機能 無地ウェブの欠点を検査 コラム毎の欠点データの表示・保存 フィルム、 金属箔、 紙等の表面検査 欠点のマップ表示 欠点データの表示・保存 欠点の種類別表示 欠点画像の表示・保存 警報出力、 ラベラ （マーカ）の出力 ツイン・モニタ対応を実現 外部モニタを増設したことにより、欠点画像の拡大表示が可能となりました。モニタをオペレータが監視する場所に設置することで、異常欠点を 早い段階で発見することができます。 （10,000パルス／１回転） エンコーダ Mujiken+ とウェブの同期をとります。 流れ方向 5μm の高分解能を実現しました。 ペンマーカ この度、新たにペンマーカを独自に開発、併せてインクだまりや転写 を徹底的に改善したマジックペンをメーカと共同開発しました。 幅方向の多軸マーキング装置もご注文に応じて対応可能です。 カメラ・スキャンとの外部同期が可能なのはニレコだけ。エンコーダ は外部同期のトリガーとして重要な役割を果たします。 ラベラ 検出された欠陥の箇所に、自動的に ラベルを貼り付けます ツイン・モニタ画面参考例
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