JTAGフォーラム 大好評につき「JTAGフォーラム2015」追加開催決定！ 無料 2016年 2月 23日（火） 13:00-17:00 東京会場 JTAGテスト技術解説と 最新 JTAGテストシステム 半導体パッケージの進化とBGA実装基板の検査手法 １ 増え続けるBGA搭載基板と将来の部品内蔵基板、3次元LSI 時代に おける実装基板検査の課題とJTAGテストの進化をご紹介します。 ・IEEE1149規格 JTAGバウンダリスキャン解説 ・わずか5本の信号で基板全体を検査する仕組み ・JTAGテストのテストコード自動生成と実行、故障診断 ・BGAオープン不良(未接合)とブリッジ不良を特定する方法 ・BGAパッケージの実装不良を改善するヒント 実装基板の検査手法とJTAGテストの活用 国内8社の事例にみるJTAGテストの活用と効果 ２ PICK UP 1 8社のお客様導入事例をご紹介！ これまでご協力頂いた8社様の JTAG導入事例とJTAGテストの メリットと効果をご紹介します。 ・アズビル太信株式会社 様 ・アンリツ株式会社 様 ・株式会社沖電気ｺﾐｭﾆｹｰｼｮﾝｼｽﾃﾑｽﾞ様 ・コニカミノルタ電子株式会社 様 ・サクサテクノ株式会社 様 ・スパンション 様 ・ティアック株式会社 様 ・株式会社リコー 様 (50音順) 国内の開発現場、製造現場で起きている問題とJTAGテストによる 課題解決を8社のJTAGテスト導入事例でご紹介します。 ・開発現場での活用と開発期間短縮 ・製造現場での活用と検査コスト削減 ・サービス現場での活用と修理コスト削減 PICK UP 2 基板検査の明るい未来 様々な検査手法の特徴とJTAGテスト複合検査 JTAGテストによる基板検査の明るい未来 ３ 当社の20年を超えるJTAGテストの実績・ノウハウと 多くの企業が抱える実装基板検査の課題と解決策をご紹介します。 ・自動外観検査の長所と短所 ・インサーキットテスタの長所と短所 ・X線検査の長所と短所 ・ファンクションテストの長所と短所 ・JTAGテストの長所と短所 ・JTAGテスト複合検査 JTAGフォーラムは、ウェブからお申込み頂けます。 JTAGフォーラム2016 検索 JTAGテストを設計開発から 製造検査、サービスまで、 JTAGテストをどのように活用して、 コスト削減と 検査品質を 向上したか ご紹介します。 お申込みは今すぐ または http://www.andor.jp/jtag/jtag_forum2016/ FAX でお申込みください 03-3450-8109 JTAGフォーラム 2016 申込書 御社名 御所属 御役職 御名前 御住所 TEL FAX E-mail セミナー会場 2016年2月23（火） 東京会場 13:00～1700 会場：アンドールシステムサポート 株式会社 （最寄駅： 京急 青物横丁） 会場：アンドールシステムサポート株式会社 東京都品川区南品川2-15-8 ■京急「青物横丁駅」より徒歩10分、 ■りんかい線「品川シーサイド駅」より徒歩10分 ＜お問合せ＞ アンドールシステムサポート株式会社 〒140-0004 東京都品川区南品川2-15-8 E-mail ： jtag＠andor.jp （担当：古長、松爲） JTAGソリューションセンター TEL 03-3450-7201 FAX 03-3450-8109 http://www.andor.jp
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