平成 27 年度共用機器センター電子顕微鏡 (SEM・TEM) 基礎講習会

平成 27 年度共用機器センター
電子顕微鏡 (SEM・TEM) 基礎講習会
～走査型・透過型電子顕微鏡の基礎と応用～
日
時
平成 28 年 2 月 29 日（月） 13：30～16：30
（１） 13:30 ～ 14:50
（受付開始 13:15 ～）
走査型電子顕微鏡（SEM）の基礎と応用
講義 60 分・質疑応答 10 分・休憩 10 分
（２） 14:50 ～ 16:00
透過型電子顕微鏡（TEM）の基礎と応用
講義 60 分・質疑応答 10 分
（３） 16:00 ～ 16:30
会
場
装置実機見学
千葉大学西千葉キャンパスベンチャービジネスラボラトリー 3F 会議室
http://www.vbl.chiba-u.jp/access.html
内
容
電子顕微鏡の機種に依らない基礎原理や装置構造のような理論的な
講義と、装置を使用した分析例・像観察時の条件設定などの紹介を
座学形式で行います。
講
（
師
予
定
）
SEM：株式会社日立ハイテクノロジーズアプリケーション開発部
宮木充史様
TEM：株式会社日立ハイテクノロジーズアプリケーション開発部
仲野靖孝様
参
加
費
無料（テキスト有り）
参加要件
電子顕微鏡（センター外機器でも可）の使用者や興味がある教職員・学生
定
40 名（先着順）
員
参加申込
氏名・所属学部・学年または役職・メールアドレスを明記の上、
（事前登録）
下記までメールにてお申込み下さい。
E - m a i l
[email protected]
連
絡
先
〒263-8522 千葉市稲毛区弥生町 1-33
T
E
L
043-290-3810
ホームページ
http://www.cac.chiba-u.ac.jp/
申込締切
平成 28 年 2 月 12 日（金）
千葉大学共用機器センター

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