電子デバイス II 課題 解答例 清水大雅 2014 年 10 月 9 日出題分 1.p 型半導体における少数キャリア:電子の拡散長 Ln, n 型半導体における少数キャリア: 正孔の拡散長 Lp を求めよ。不純物密度 NA = 1023 m-3、ND = 1026 m-3、少数キャリア寿命 p = 10-9 s、n = 10-8 s、移動度p = 0.05 m2/Vs、 n =0.15 m2/Vs とする。 2.拡散電位 VD を求めよ。また、室温(T=300K)における逆方向飽和電流密度を求めよ。 Si の 300K における真性キャリア濃度 ni = 1.5 x 1016 m-3 を用いよ。 解答例 1.拡散距離の式から求める。 L p D p p 、 Ln Dn n 拡散係数 Dp, Dn はアインシュタインの関係式 Dn k BT k T n 、 Dn B n q q から求められる。 Lp = 1.14 m, Ln = 6.23 m 特に断らないときは室温を用いる習慣をつけよう。 2.熱平衡時の拡散電位 VD と不純物濃度の関係式 VD k BT N A N D ln q ni2 を使って、VD = 0.99V となる。 逆方向電流密度の式 J 0 q( Dp Dn n p0 pn0 ) Ln Lp に代入すると J0 = 2.3×10-7 A/m2 となる。
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