参考出展 Exhibited for reference 赤外線(IR)透過型 チップ裏面保護テープ Infrared (IR) Transmission Type Backside Coating Tape 当社チップ 裏面保護テープに IR 透 過機能を付与したテープです。 薄型のフリップ チップ製造において赤外線を用いた微細なチッピング検査が可能となり、より確実 なデバイスをお客様に提供いたします。 ■ チップ裏面の赤外線によるチッピング検査が可能 ■ ウェハ裏面の保護・補強に有効 ■ レーザー印字性は既存の LC テープと同等 Backside coating tape with infrared transmission function. This tape allows infrared inspection of micro chipping for more reliable thin flip chip manufacturing. ■ Allows IR inspection of wafer backside ■ Effective wafer backside protection and reinforcement for thin chip ■ Excellent laser marking performance 赤外線カメラで撮影した写真 Wafer backside inspection by IR camera 開発品 Development product テープ越しの チッピング検査が可能 Die can be inspected through tape LCテープ LC Tape ダイシング済みウェハ Diced wafer 一般チップ裏面保護テープ General LC Tape ※チップサイズ : 1mm×1mm Die size: 1mm×1mm レーザー印字写真 Sample of laser marking 良好なレーザー印字性 Excellent laser marking performance ※チップ 裏面保護テープ厚み : 25μm Backside coating tape thickness: 25µm 撮 影方法 Shooting condition IR camera (Top View)
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