島根大学研究シーズ 低温高速スパッタエピ成長による Si系太陽電池の製造技術 葉 文昌(総合理工学研究科) 【概要】 No.S-27-A 太陽光発電のさらなる普及に向けて,太陽電池製造における高 効率化,成膜の大面積化,低コスト化が要求されている。 本研究は,スパッタ堆積法により,Si膜またはGe膜を400℃以下, 3nm/s以上の高速でエピタキシャル成長を可能にする技術であり, ドーパント元素との共スパッタにより,比較的簡単にSi及びGe膜へ の高濃度ド ピングができる 大面積かつ低コストな成膜が可能で の高濃度ドーピングができる。大面積かつ低コストな成膜が可能で あり,紫外レーザダイオードアニールにより,准単結晶化されたガラ ス上のSi薄膜を厚膜化してGe膜を積層すれば,高効率な薄膜Si太 陽電池の製造が期待できる。 本研究に関連する特許 1)特願2012-184731 )特願 2)特願2013-047407 Si上のSiホモエピタキシ Si/Ge多接合太陽電池のメリット 断面 断面TEM AM1.5Gフォトン流量と光浸透深さ 6 2 Si 1 界面 0 0 200 400 600 DCパワー(W) 基板 Si Si 5000 nm 成長表面 Si上のGeヘテロピタキシ Si薄膜が吸 収する光子: 36% 5 9 Ge薄膜が余分 に吸収できる 光子:52% 8 7 4 6 3 5 4 2 Si Si吸収端 1 3 Ge 2 1 0 3 1000 nm 1 Ge SE膜 Si 拡大 0 0 50 100 150 DCパワ (W) DCパワー(W) 0 0.0 断面TEM 2 10 nm 成長速度(nm/s) 10 SE膜 Ge Si 基板 光の浸透深さ さ(μm) 3 フォトン流量(×1018 個/s/m2/nm) 成長速度(nm/s) 4 500.0 1000.0 波長 (nm) 1500.0 ・Ge膜によって余分に52%取出可能 ・Si/Ge-Ge直列構造 ⇒並列で電圧マッチング 0.6V Si Ge 0.3V Ge 0.3V Si/Ge低温高速エピキタシ技術が鍵となる Si 5000 nm 成長表面 【応用例】 太陽電池,LSI,ディスプレイ製造 太陽電池,LSI,ディスプレイ製造への応用 の応用 【研究シーズ,特許に関するお問い合わせ先】 島根大学 産学連携センター 〒690-0816 島根県松江市北陵町2番地 電話:0852-60-2290 FAX:0852-60-2395 電子メール:[email protected] (2014.01)
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