高速、高精度偏光計 Stokes Polarimeter Dual PEM 型ポラリメーター型ポラリメーター Dual PEM Dual PEM stokes polarimeter Stokes Polarimeter 最先端のストークスメーター Dual PEM型ポラリメーターは、標準仕様の装置は、波長光の偏光状態をあらわすス 400 ～ 700nm の波長からトークスパラメーターを測定す測定波長を選択して使用しる装置です。 4 つのストークスます。モノクロメーターを追パラメーターを最大 100Hz で加することで波長を切り替え測定し、直線偏光、楕円偏光、ながらの測定にも対応してい偏光度(DOP) を計算します。ポラリメーター光学系ます。また、 VUV ～ MIR 本装置は高精度偏光測定に使われる光弾性変調器領域に対応したモデルにも (PEM) を 2 台搭載しています。 PEM によって入射光の偏対応可能です。光状態が高速に変調され、その結果得られる検出信号を光ファイバー測定用光学ロックインアンプで解析、ソフトウェア上に測定結果を出力し系、マッピングステージなどます。この測定原理によって、ストークスパラメーター感のハードウェア、さらに用途に合わせたソフトウェア改良など度は 0.0005 という従来装置にはない感度を実現していまのご要望にも対応可能ですので、す。ご相談ください。主な用途は光学素子や偏波面保存ファイバーの特性評価、レーザー品質評価、天文学用途が挙げられます。 19 特注仕様に対応光ファイバー測定用装置 Dual PEM 型ポラリメーター Stokes Polarimeter 高速、高精度偏光計測定例 He-Ne レーザーの偏光ランダム偏光の He-Ne レーザーは一般的には偏光特性がないレーザーだと思われています。しかし、実際に偏光状態を測定した下図を見ると、光強度だけではなく、直線偏光の方位、楕円偏光化、また偏光度 (DOP) も常に変化することがわかります。この結果を見ると、ランダム偏光の He-Ne レーザーは偏光測定用の光源として適していないことがわかります。対策としてレーザーの直後に偏光子を置くと完全な直線偏光にできます。しかし、レーザーの偏光変化によって偏光子を透過する光も増減してしまうため、測定用の光源としては不向きであることには変わりありません。上から光強度、水平偏光成分、45 度偏光成分、円偏光成分、偏光度を表しています。時間が経過するにしたがって、偏光状態が変化型ポラリメーター Dual PEM ■ランダム偏光のHe-Ne レーザー測定結果する速度が遅くなっています。 Stokes Polarimeter 仕様 ■ソフトウェア画面偏光変化をグラフで表示します。 DC は光強度、 Qn は 0 度直線偏光成分、 Un は 45 度直線偏光成分、 Vn は円偏光成分を表すストークスパラメーターです。左下はポアンカレ球表示で、偏光状態を球表面の軌跡で表します。波長範囲可視標準装置 400ｎm～700ｎm 紫外～可視 180ｎm～ 850ｎm 800ｎm～ 2.5μｍ測定パラメーター近赤外～中赤外近赤外ファイバー用 1.5μｍ～15μｍ 1310ｎm、 1550ｎm 1％精度感度（標準）可視～近赤外 0.0005 0.005 ストークスベクトル（SOP,DOP,DOLP,DOCP） ※仕様は変更されることがあります 20