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＊＊＊＊解析の件
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株式会社チップワンストップ
カスタマーマーケティング部
20××年××月××日
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依頼品 解析結果報告
■背景・目的
・****社製 ****解析
■サンプル情報
・サンプル名
・依頼個数
****
****個 (良品 *個 解析品 *個)
■解析手法
・外観観察
・X-Ray観察
・I-V特性観察
・SAT観察
デジタルマイクロスコープ(キーエンス / VHX-700F)
マイクロフォーカスX線装置(SHIMADZU / SMX160E)
Curve Tracer (Tektronix / 370B)
超音波探傷装置(HITACHI / mi-scope hyper)
■解析結果
解析項目
外観観察
X-Ray観察
I-V特性観察
SAT観察
解析結果
異常は確認されておりません
異常と思われるモードは確認されておりません
2pinにOpen特性を確認しました
インナーリード部に剥離を確認しました
■考察
・SAT観察結果より、インナーリード部に剥離と思われるコントラストが確認されております。
インナーリード – モールド樹脂間剥離により、2nd Bondネック部断線の可能性がございます。
2
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外観観察結果
Top View
Bottom View
異常は確認されておりません
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X-Ray観察結果
Top View
1pin
2pin
Wire形状に異常は確認されておりません
4
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V-I特性観察結果(対GND)
1pin
2pin
3pin
4pin
5pin
6pin
7pin(GND)
8pin
9pin
10pin
13pin
14pin
基準ピン
11pin
12pin
2pinにOpen特性を確認しました
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SAT観察結果
反射法
インナーリード部に剥離を確認しました
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実験機器

中島構成員事前検討資料（PDF形式：283KB）

都立産業技術研究センター利用内訳書