μVからGHzまで 開催日 7月2日 テクトロニクス／ケースレー （火） イノベーション・フォーラム 2013 高速シリアル ノイズ／ジッタ DDR RF 高効率電源 デバイス／材料 今年のフォーラムは、高効率電源の評価、 ノイズの特定／解析、さらに高速シリアルやメモリ・システム設計などに おけるさまざまな課題にフォーカスし、最新の技術動向や最新のソリューション、活用事例をご紹介いたします。 また、本年よりケースレーインスツルメンツによる講演も加え、パワーデバイス、太陽電池、有機材料などの評価も 含めた、より充実したプログラム46セッションをご用意してお待ちしております。 開催要項 日 時 2013年7月2日（火）10:00 -17:20 SAPIATOWER サピアタワー 開催場所 東京ステーションコンファレンス （4～6F） 東京ステーションコンファレンス 5・6F （東京駅直結） 今年から2フロアに拡大し、広々した環境で ご聴講いただけるようになりました！ http://www.tstc.jp/tokyo/access.html お申込み方法 事前登録制 http://tektronix-seminar.jp/ 上記WEBサイトから、 お申込みください。 お申込み後の変更も可能です。 入場無料 プログラムは 裏面をご覧ください 会場内では、 最新の計測ソリューションの展示・デモンストレーションのほか、 当社エンジニアが直接ご質問、 ご相談を承ります。 ぜひご参加ください。 事前登録、詳細はこちらから http://tektronix-seminar.jp/ お問い合わせ先：テクトロニクス／ケースレー イノベーション・フォーラム（TIF）事務局 TEL：03-6714-3015 Eメール：[email protected] A Tektronix Company テクトロニクス／ケースレー イノベーション・フォーラム 2013 プログラム 会場 A 時間 A-1 〜 高速信号伝送の 基礎と 10:00 設計トレンドの 最前線［1］ B B-1 有機デバイスの 電気的特性評価 ケースレー 大里 一徳 10:50 芝浦工業大学 A-2 〜 D ギガビットWi-Fi （IEEE802.11ad/ 11aj）の最新動向、 測定課題と測定技術 最新ディスプレイ・ インタフェース 規格動向と 計測ソリューション C-1 株式会社 日立製作所 柴垣 信彦 様 須藤 俊夫 様 高速信号伝送の 基礎と 11:00 設計トレンドの 最前線［2］ C B-2 C-2 パワーデバイスの 高速・広帯域 信頼性評価 通信時代の 最新ノイズ計測 ケースレー 技術 宮本 純一 11:50 芝浦工業大学 テクトロニクス 岡田 信孝 須藤 俊夫 様 D-1 E E-1 F F-1 SiCパワーデバイス Thunderbolt の開発動向 とは 株式会社東芝 四戸 孝 様 テクトロニクス 畑山 仁 テクトロニクス 杉山 敏男 G H G-1 H-1 パワ・エレ分野で 解析、 シミュレーション ができる MATLAB/Simulink ソリューション アルテラの次世代 FPGA ポートフォリオと メモリ・ インタフェース技術 MathWorks Japan 大開 孝文 様 D-2 eDP1.4の 機能的解説と 製品への 応用範囲 株式会社ジップス 中村 洋一 様 E-2 高効率パワー・ デバイスの評価 技術 テクトロニクス 宮崎 強 ケースレー 宮尾 豊 F-2 G-2 H-2 FPGAによる LabVIEWと USB3.0システム Arduinoを用いた 設計の勘所 ラピッド・ プロトタイピング NEC エンジニアリング 手法の提案 株式会社 永尾 裕樹 様 日本アルテラ 株式会社 橋詰 英治 様 日本ナショナル インスツルメンツ 株式会社 岡田 一成 様 DDR・ 高速シリアルI/F を安定動作させる ための勘所 株式会社トッパン NECサーキット ソリューションズ 金子 俊之 様 休憩（11:50〜13:00） 〜 13:00 A-3 B-3 電磁波の 発生と伝搬 パワー 40GHz広帯域 マネージメントIC プローブによる 近磁界測定技術と、 の特性評価 遠方界近似値との ケースレー 相関性について 宮本 純一 WBANと 人体通信技術と その応用 13:50 東京電機大学 Aprel Inc. Stuart Nicol 様 根日屋 英之 様 A-4 〜 14:10 池田 典夫 様 A-5 〜 高速シリアル・ インタフェース 15:30 物理層はこう測る： 基本編 （～2.5Gbps） C-4 D-3 E-3 A-6 〜 F-3 関忍様 ジャパン株式会社 竹原 茂昭 様 F-4 D-4 E-4 高効率スイッチング 今日の標準インタ 3G-SDI 電源の評価技術 フェースである デジタル・ビデオ・ PCI Express インタフェースの テクトロニクス Gen1/2の測定 評価と測定 宮崎 強 B-5 C-5 D-5 CV測定の 最適手法 コモンモード変換 MIPIの規格動向と スイッチング PCI Express の原因と測定 測定ソリューション 電源のノイズ評価 Gen3の 規格認証試験と テクトロニクス テクトロニクス テクトロニクス ソリューション 神林 一郎 宮崎 強 鹿取 俊介 テクトロニクス 鈴木 克彦 E-5 F-5 テクトロニクス 薩摩 泰文 B-6 C-6 SMUを使った DC設計検証方法 100GB Ethernet 組込み機器開発 物理層における に有効な ジッタ、ノイズ解析 汎用オシロスコープ の応用例 テクトロニクス ケースレー 山﨑 健一 神林 一郎 テクトロニクス 畑山 仁 ATEサービス 株式会社 小林 伸至 様 DisplayPort 規格概要と 設計ポイント ルネサス エレクトロニクス 株式会社 長野 英生 様 ケースレー 田中 秀和 H-3 パワー・アナライザ USB3.0の シリアル・データ・ プロービングの による電力測定の 規格認定試験と リンク解析の 悩みを解決する 測定ソリューション 概要と応用 基礎と応用 ソケット技術と MHL LLC DDRメモリ・ Judy Chen様 テクトロニクス テクトロニクス ATEサービス インターポーザ 宮崎 強 薩摩 泰文 株式会社 シリコンイメージ・ セミコンダクター 株式会社 酒井 敏昭 様 株式会社 東陽テクニカ 山口 政紀 様 G-3 What is next for MHL テクトロニクス 畑山 仁 高速シリアル・ インタフェース 16:30 物理層はこう測る： 上級編 （3Gbps～） 17:20 B-4 NFCの互換性向上 極低温プローバー 超高速信号 のためのRF解析 による物性の 伝搬技術 電気特性評価 ソニー株式会社 富士通 15:00 16:20 C-3 D-6 テクトロニクス 中門 哲士 E-6 パワーエレ測定 のための プロービング テクトロニクス 宮崎 強 F-6 新フォーム・ ファクタの登場！ SATAの規格動向と 測定ソリューション テクトロニクス 鈴木 克彦 G-4 H-4 テクトロニクス 塚田 雄二 複雑なメモリ測定 を簡単に！ 最新DDRメモリの コンプライアンス 試験 テクトロニクス 高橋 誠 H-5 Ethernet インタフェースの 評価手法 テクトロニクス 脇本 雄太 H-6 USB2.0 インタフェースの 評価手法 テクトロニクス 脇本 雄太 プログラムについては変更される可能性がありますのでご了承下さい。 ■ 受講票はご登録ページより印刷のうえ、お名刺2枚とともに当日ご持参ください。 同業他社の方のお申込みについては、参加をご遠慮いただく場合がございますのでご了承下さい。 ■ ■ www.tektronix.com/ja www.keithley.jp テクトロニクス／ケースレーインスツルメンツお客様コールセンター TEL: 0120-441-046 電話受付時間／9：00～12：00・13：00～18：00（土・日・祝・弊社休業日を除く） 〒108-6106 東京都港区港南2-15-2 品川インターシティB棟6階 記載内容は予告なく変更することがありますので、あらかじめご了承ください。 Copyright © Tektronix, Keithley Instruments. All rights reserved. TEKTRONIXおよびTEKは、Tektronix Inc.の登録商標です。 KEITHLEYは、Keithley Instruments, Inc.の登録商標です。記載された製品名は、各社の商標又は登録商標です。 2013年4月25日現在 A Tektronix Company
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