第8回精密加工プロセス研究会講演会 - 次世代三次元半導体デバイスとそのプロセス - 主催:AIST 計測・診断システム研究協議会 精密加工プロセス研究会 共催:SIIQ 九州半導体・エレクトロニクスイノベーション協議会 連絡先:産総研九州センター産学官連携センター TEL 0942-81-3634、[email protected] 日時:平成23年8月26日(金) 13:00 ~ 17:20 場所:八重洲博多ビル 10階 7号室 (福岡市博多区博多駅東 2 丁目 18 番 30 号) アクセス情報: http://www.kyushu-yaesu.co.jp/hall/map.html プログラム 13:00 開会挨拶 九州大学大学院工学研究院機械工学部門 教授 土肥 俊郎 (精密加工プロセス研究会 幹事) 13:10 講演1「三次元半導体研究センターにおける三次元実装研究開発に対する取り組み」 (財)福岡県産業・科学技術振興財団 三次元半導体研究センター センター長 開 俊一 要旨:福岡県は、大学等頭脳資源と半導体産業・自動車産業の企業集積等地域ポテンシャル を最大限活用し、世界最大の半導体消費地域であり且つ最大の生産地域である東アジア地域 の核として機能する先端システム LSI 開発拠点を構築する事を目的としてシリコンシーベ ルト福岡プロジェクト(SSB 福岡 Pj)を推進している。従来から活動している設計開発セン ターに加え、この4月から新たに発足した三次元半導体研究センターにおける三次元実装研 究開発への取り組みを紹介する。 14:05 講演2 「平坦化 CMP 技術とその応用技術―CMP の見える化の取り組みー」 九州大学大学院 工学研究院 客員准教授/金沢工業大学 工学部 准教授 畝田 道雄 要旨:平坦化 CMP 技術に関する発達の歴史を俯瞰しつつ,現状における技術課題と展望を 包括的に考察した結果を述べる.そして,「CMP の見える化」として現在までに開発した接 触画像解析法によるパッド評価に加えて,研磨シミュレーション技術などを紹介する。 15:00 休憩 15:10 講演3 「CMP用の消耗資材の現状と今後」 ニッタ・ハース株式会社 取締役 シニアバイスプレジデント 生産本部 本部長 中林伸一 要旨:半導体製造の中で最も重要な工程の一つなったCMPは、消耗材がその鍵を握ってい る。従来はアプリケーション毎にスラリーが開発され、標準研磨パッドであるIC1000 (TM)で研磨されて来たが、最近では研磨パッドも用途毎に使い分けされ始めている。研 磨パッド、スラリーについての最近の技術動向と将来への取り組みについて解説する。 15:55 講演4 「カーフロスの無いダイシング技術 ~ステルスダイシングと その最新応用~」 浜松ホトニクス株式会社 電子管事業部 市場開発G グループ長 内山 直己 要旨: 「光(レーザ)を用いて材料を内部から切る」、という概念の新しいダイシング技術と して、浜松ホトニクスはステルスダイシング技術を開発。その原理から最新の量産工場での 普及事例を交えて、特長をご紹介します。代表的な Si ウェーハ市場以外にも急速に普及の 進む白色 LED 市場や、SiC やガラスなど、従来の技術では困難であった難加工材料への SD の応用展開についてご紹介します。 16:40 講演5 「TSV ウエーハの薄化技術」 株式会社ディスコ 営業技術本部 マーケティンググループ マーケティングチーム 主任 河田 修 要旨:TSV ウェーハの薄化技術は、TSV 形成プロセスのコスト低減に寄与する。一方、ウェー ハ厚みバラツキ、研削/研磨面の清浄性、異種材料の同時研磨などの課題もあります。本講演で は、難易度の高まるこれらの課題へのディスコの取り組みを、グラインダポリッシャ DGP8761HC を中心にご紹介します。 17: 25 閉会 17:30 交流会 AIST計測・診断システム研究協議会 第8回精密加工プロセス研究会 参加申込書 [申込期限:平成23年8月22日(月)] 先着50名 E-mail : [email protected] FAX : 0942-81-4089 産業技術総合研究所 九州センター 計測・診断システム研究協議会 「精密加工プロセス研究会」事務局 行 一般参加者用 機関名 SIIQ会員 (機関として) 会員 非会員 会員 非会員 所 属 (役職) 御氏名 E-mail TEL 交流会 (2000円) 参加 不参加 参加 不参加 通信欄 交流会参加をキャンセルされる場合は、お早めに事務局宛ご連絡をお願いいた します。 収集した情報は、本分科会の運営事務や・・・・・・・・・・・・・・主催の講演会等の案内以外に利用することはあり ません。 外部に公開されることはありません。
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