UNIVERSITÀ DEGLI STUDI DI CAGLIARI Proprietà ottiche di solidi di nanocristalli Tesi di laurea di Valerio Sarritzu Matricola n. Relatore: dr. Michele Saba Correlatore: prof. Giovanni Bongiovanni Facoltà di Scienze Corso di Laurea Magistrale in Fisica aprile “Je n’ai fait celle-ci plus longue que parce que je n’ai pas eu le loisir de la faire plus courte.” Blaise Pascal UNIVERSITÀ DEGLI STUDI DI CAGLIARI Facoltà di Scienze Corso di Laurea Magistrale in Fisica Abstract Questo lavoro studia le proprietà ottiche di solidi di nanocristalli colloidali di CdSe la cui superficie è passivata con il complesso di calcogenuro metallico (NH4 )AsS3 . L’indagine è basata su tecniche di spettroscopia di assorbimento lineare UV/Vis/NIR, spettroscopia ultraveloce di luminescenza risolta in tempo e spettroscopia di assorbimento transiente. Si riporta che i solidi di nanocristalli passivati con complessi di calcogenuri metallici mostrano proprietà optoelettroniche compatibili con l’ipotesi di un solido conduttivo. Indice Abstract iv Introduzione I nanocristalli . Struttura elettronica dei semiconduttori II-VI . . . . . . . .. Struttura a bande nei semiconduttori bulk . . . . . .. Eccitoni . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Confinamento quantico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. Regime di confinamento quantico . . . . . . . . . . .. Energia di gap e densità degli stati nei quantum dot . Proprietà ottiche . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. Assorbimento e fotoluminescenza . . . . . . . . . . .. Rilassamento intrabanda . . . . . . . . . . . . . . . .. Assorbimento e bleaching . . . . . . . . . . . . . . . .. Effetto Stark . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. Decadimento Auger . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Solidi di nanocristalli . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. Superreticoli di nanocristalli . . . . . . . . . . . . . .. Struttura elettronica: minibande . . . . . . . . . . .. Interazione tra nanocristalli in fase di solido . . . . . Sintesi colloidale di nanocristalli . . . . . . . . . . . . . . .. Nucleazione e crescita dei quantum dot . . . . . . . .. Leganti di superficie . . . . . . . . . . . . . . . . . .. Calcogenuri metallici come leganti di superficie . .. Scambio di legante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Tecniche sperimentali . Nanocristalli di CdSe LP . . . . . . . . . . . . . Spettroscopia di assorbimento lineare UV/Vis/NIR . Spettroscopia di fotoluminescenza risolta in tempo .. Streak camera . . . . . . . . . . . . . . . . . . Spettroscopia di assorbimento transiente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Risultati e conclusioni . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . v Indice . Assorbimento lineare UV/Vis/NIR . . . . . . . . . . . Fotoluminescenza risolta in tempo . . . . . . . . . . . Assorbimento transiente . . . . . . . . . . . . . . . . .. Segnali di bleaching e dinamiche elettroniche .. Segnali di assorbimento fotoindotto . . . . . . Conclusioni e prospettive . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A Elementi di ottica A. Interazione radiazione-materia . . . . . . . . . . . . . . A.. Emissione spontanea . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Emissione stimolata . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Assorbimento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Emissione laser . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A. Amplificatore rigenerativo al Ti:zaffiro . . . . . . . . . . A.. Selettore elettro-ottico basato su cella di Pockels A.. Nd:YLF . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Mode locking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Ti:zaffiro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Chirped pulse amplification . . . . . . . . . . . . . A. Rivelazione della luce . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Spettrometro o monocromatore . . . . . . . . . . A.. Blazed grating . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. CCD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Microchannel plate . . . . . . . . . . . . . . . . . . A. Effetti non lineari . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A.. Generazione della seconda armonica . . . . . . . A.. Luce bianca supercontinua . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Bibliografia vi . . . . . . Ai miei genitori vii 1 | Introduzione I nanocristalli sono cristalli le cui dimensioni sono dell’ordine dei nanometri e sono composti tipicamente da un numero di atomi compreso tra i ∼ 100 e i ∼ 10000. Ci si concentrerà sui nanocristalli di semiconduttori, elementi otticamente attivi molto promettenti per quanto riguarda la realizzazione di dispositivi optoelettronici. Grande interesse riveste il fatto che i nanocristalli possono essere ottenuti per sintesi colloidale, facendo reagire precursori appropriati in una soluzione calda. Il processo è piuttosto economico e permette di realizzare in maniera riproducibile i nanocristalli in una buona varietà di forme e dimensioni, controllando i parametri del processo come concentrazione dei reagenti e temperatura. Allo scopo sono sufficienti le apparecchiature presenti nella maggior parte dei laboratori chimici, senza ricorrere a costosi macchinari di alta precisione. I nanocristalli sono attualmente oggetto di un’intensa attività di ricerca con la prospettiva di un’ampia gamma di potenziali applicazioni tra cui diodi emettitori di luce, (LED), dispositivi fotovoltaici,, transistor a singolo elettrone e marcatori a fluorescenza per analisi biologiche., Particolarmente appetibile è la possibilità di ingegnerizzare le loro proprietà ottiche ed elettroniche, in particolare gli spettri di assorbimento ed emissione, agendo sulla loro dimensione. Di particolare interesse sono i nanocristalli di CdX e PbX (dove X = S, Se e Te), che presentano energie di gap relativamente piccole e sono pertanto adatti all’assorbimento della luce nelle bande del visibile e dell’infrarosso. La realizzazione di dispositivi optoelettronici richiede l’assemblaggio dei nanocristalli colloidali in strutture macroscopiche. Le proprietà di tali strutture sono determinate sia dalle caratteristiche dei singole particelle che dalle loro interazioni. La natura isolante dei tensioattivi tipicamente utilizzati non permette un efficiente accoppiamento interparticellare. La ricerca ha recentemente trovato un’alternativa plausibile nei complessi di calcogenuri metallici, ovvero molecole contenenti composti di metalli con elementi del gruppo – detti calcogeni. Si è scoperto che tali molecole Capitolo . Introduzione possono essere utilizzate con successo nel processo di sintesi e assumono le proprietà dei semiconduttori se sottoposte a riscaldamento, generando solidi nanocristallini inorganici. Questo lavoro si propone di studiare le proprietà di assorbimento ottico di solidi di nanocristalli colloidali di CdSe trattati in superficie con il calcogenuro metallico (NH4 )3AsS3 . Lo studio si inquadra in una collaborazione internazionale tra il gruppo di fotonica e optoelettronica del dipartimento di fisica dell’università di Cagliari e il gruppo di ricerca del prof. Maksym Kovalenko del laboratorio di chimica inorganica del politecnico federale di Zurigo. 2 | I nanocristalli Quando la dimensione del nanocristallo diventa così piccola da essere comparabile con la lunghezza d’onda di de Broglie dell’elettrone, il sistema presenta livelli energetici discreti in analogia col problema della particella in una scatola. Questo capitolo si propone di fornire una panoramica sui sistemi basati sui nanocristalli, dalla procedura di sintesi ai fondamenti teorici del confinamento quantico e le proprietà fisiche di principale interesse. Ci si concentrerà in particolare sui semiconduttori II-VI quali il CdSe, oggetto di questo studio. 2.1 Struttura elettronica dei semiconduttori II-VI 2.1.1 Struttura a bande nei semiconduttori bulk Il legame tra i semiconduttori II-VI è formato dalla condivisione dei sei elettroni di valenza dell’elemento del gruppo VI e dai due dell’elemento del gruppo II, per un totale di otto elettroni per i due atomi. Tale configurazione è energeticamente favorevole e dà luogo ad un cristallo la cui forma termodinamicamente più stabile a K nel caso del CdSe è la wurtzite, una cui rappresentazione schematica è mostrata in fig. .. Il carattere dei legami è parzialmente covalente a causa della differenza di elettronegatività tra gli elementi dei gruppi II e IV. La figura . mostra schematicamente l’evoluzione degli stati atomici s e p, tramite gli orbitali leganti e antileganti s e p della molecola, verso le bande di valenza e conduzione del solido cristallino. La cima della banda di valenza assume un carattere di tipo p mentre il fondo della banda di conduzione ha un comportamento di tipo s, e questo caratterizza di conseguenza le transizioni tra la banda di valenza e di conduzione. Questo porta al modello semplificato a quattro bande per un semiconduttore a gap diretto, mostrato in figura .. Capitolo . I nanocristalli Figure 14 Atomic model of the CdSe wurtzite crystal structure. The (001) and the (001) crystal are emphasized to highlight theadifferent number del of dangling Figura .:faces struttura cristallina wurtzite CdSe. bonds associated with each Cd atom (three and one, respectively). (From Ref. 38, reprinted with permission.) mer again refers to various molecular precursor species. Specifically, the phosphonic acids may simply permit the high monomer concentrations that are required for kinetic, anisotropic growth. As strong metal binders, they may coordinate Cd monomers, stabilizing them against decomposition to metallic Cd [12]. More complex shapes, such as ‘‘arrows,’’ ‘‘pine trees,’’ and ‘‘teardrops,’’ have also been prepared in the CdSe system, and the methods used are an extension of those applied to the preparation of CdSe rods. Once again, CdSe appears to be the ‘‘proving ground’’ for semiconductor nanoparticle synthesis. Several factors influencing growth of complex shapes have been investigated, including the time evolution of shape and the ratio of TOPO to phosphonic acid ligands [38], as well as the steric bulk of the phosphonic acid [12]. Predictably, reaction temperature also influences the character of the Copyright 2004 by Marcel Dekker, Inc. All Rights Reserved. Figura .: diagramma schematico dei livelli elettronici in un cristallo covalente formato da atomi tetravalenti come il Ge o da composti binari come GaAs, CdSe o CdS. Banda di conduzione E(k) hh lh so Banda di valenza Figura .: modello a quattro bande per i semiconduttori II-VI a gap diretto con struttura a wurtzite. Capitolo . I nanocristalli Figura .: eccitone in un cristallo di semiconduttore. Dall’orbitale 5s del Cd si ottiene una sola banda di conduzione, due volte degenere per lo spin nel punto di minimo Γ a k = 0. La banda di valenza deriva dagli orbitali atomici 4p del Se e ha un massimo nel punto Γ a k = 0. La degenerazione della banda di valenza viene rimossa nel CdSe dal forte accoppiamento spin-orbita, la cui entità è ∆ = , eV. Si formano due sottobande p3/2 e p1/2 , dove il pedice si riferisce al momento angolare J = l + s (l = 1, s = 1/2), con il contributo orbitale l e di spin s al momento angolare. La banda p3/2 è ulteriormente divisa nelle sottobande Jm = ±3/2 e Jm = ±1/2 dove Jm è la proiezione di J. Queste tre sottobande sono note come heavy hole (hh) e light hole (lh), perché la diversa curvatura si traduce in una differente massa effettiva per le buche, e banda split-off. Nel caso della wurtzite, il campo cristallino rimuove la degenerazione tra le sottobande hh e lh a k = 0. La separazione consiste in ∆cf = meV nel CdSe. Tutte e quattro le bande hanno un andamento approssimabile come parabolico nell’intorno di k = 0. Gli elettroni di un semiconduttore macroscopico possono avere qualunque energia superiore all’energia di gap Eg e la densità degli stati è proporzionale a (E − Eg )1/2 . 2.1.2 Eccitoni Gli eccitoni sono coppie elettrone-buca tenute assieme dall’interazione coulombiana. Il sistema può essere studiato applicando il modello di Bohr e prendendo in considerazione la costante dielettrica r del mezzo e la massa ridotta µ = m∗e m∗h /(m∗e + m∗h ). Il sistema legato risulta caratterizzato dal numero quantico n e l’energia del livello n-esimo relativa al limite di ionizzazione è: E (n) = − µ 1 RH R = − X2 mo r n2 n (.) dove RH ≈ 13.6 eV è la costante di Rydberg dell’atomo di idrogeno e si definisce con RX la costante di Rydberg dell’eccitone. Il raggio dell’orbita è: Capitolo . I nanocristalli Figura .: coefficiente di assorbimento di un semiconduttore bulk in funzione dell’energia del fotone incidente. Si nota la presenza di una riga poco prima dell’energia di gap, dovuta alla formazione di eccitoni. rn = mo n2 aH = n2 aX µ r (.) dove aH ≈ 5.3 · 10−11 m è il raggio di Bohr dell’atomo di idrogeno e si definisce con aX il raggio di Bohr dell’eccitone. Gli eccitoni sono generati dalle transizioni ottiche tra le bande di valenza e di conduzione, come discusso nel par. ... Affinché si formi una coppia legata, le velocità di gruppo ve e vh di elettrone e buca devono essere all’incirca uguali. Tali velocità sono date dal gradiente delle bande nella zona di Brillouin in cui la transizione avviene: vg = 1 ∂E h ¯ ∂k (.) In un semiconduttore a gap diretto, a k = 0 il gradiente è nullo e la condizione ve = vh è soddisfatta. L’energia assorbita è pari a quella di gap e si osserva un forte effetto eccitonico in quell’intorno della regione spettrale. L’energia dell’eccitone creato in tale transizione sarà la differenza tra l’energia richiesta per la creazione della coppia elettrone-buca e l’energia di legame coulombiana: En = Eg − RX n2 (.) Gli eccitoni possono formarsi quando l’energia del fotone è almeno En . La probabilità che questo avvenga è alta perché la configurazione è energeticamente più favorevole rispetto alla coppia libera elettrone-buca. Come si può vedere dalla figura ., questo si riflette in forti righe di assorbimento ottico all’energia En , poco sotto l’energia di gap del materiale. Capitolo . I nanocristalli 2.2 Confinamento quantico La lunghezza d’onda di de Broglie associata agli elettroni è: λdeB = h p (.) dove p è la quantità di moto. L’elettrone nella banda di conduzione di un semiconduttore è libero di muoversi nelle tre direzioni, e l’energia cinetica alla temperatura T è: pi2 1 Eth = ∗ ∼ kB T 2me 2 (.) dove m∗e è la massa effettiva e il pedice i si riferisce ad una delle tre direzioni x, y o z. La lunghezza d’onda di de Broglie è quindi dell’ordine: h λdeB ∼ √ ∗ me kB T (.) Normalmente, la lunghezza d’onda di de Broglie è molto più piccola delle dimensioni del cristallo e il moto è assimilabile a quello di una particella libera con una massa efficace m∗e . Quando una o più dimensioni del cristallo sono dell’ordine di λdeB , il moto in quella direzione è quantizzato e si parla di confinamento quantico. Considerando che in un tipico semiconduttore si ha m∗e ∼ 0.1 me , il fenomeno del confinamento quantico interviene su dimensioni di circa nm o meno a temperatura ambiente. Se il moto è confinato in una sola direzione, la struttura è chiamata quantum well. Gli elettroni si muovono liberamente in due direzioni, mentre il loro moto è quantizzato nella terza. Se il moto è confinato in due direzioni, si parla di quantum rod. Il moto è libero in una direzione, quantizzato nelle altre due. Infine, se il moto è confinato, e di conseguenza quantizzato, in tutte e tre le direzioni, la struttura è chiamata quantum dot. Il confinamento quantico modifica lo spettro dei livelli energetici e la densità degli stati. L’entità del gap e la forma funzionale ∼ (E − Eg )1/2 non sono più valide quando la dimensionalità del sistema decresce, cioè quando gli elettroni risultano confinati in una o più direzioni. Capitolo . I nanocristalli 2.2.1 Regime di confinamento quantico Si consideri un portatore di carica in un nanocristallo. Il suo raggio di Bohr è definito come: aB = me a m∗ 0 (.) dove è la costante dielettrica del materiale, m∗ la massa del portatore di carica, me la massa a riposo dell’elettrone e a0 il raggio di Bohr dell’atomo di idrogeno. Nel caso di un nanocristallo è conveniente definire tre differenti raggi di Bohr: quello dell’elettrone (ae ), quello della buca (ah ) e eccitone (aexc , vedi par. ..). Se a è il raggio del nanocristallo, possono essere individuati tre differenti limiti: • regime di confinamento forte quando a < ae , ah , aexc ; • regime di confinamento debole quando ae , ah < a < aexc e solo il centro di massa dell’eccitone risulta confinato; • regime di confinamento intermedio quando ah < a < ae , aexc e una particella è fortemente confinata mentre l’altra non lo è. 2.2.2 Energia di gap e densità degli stati nei quantum dot Il quantum dot può essere modellato come una buca di potenziale cubica di dimensione L: 0 V (x, y, z ) = ∞ in 0 < x, y, z < L (.) altrove Risolvendo l’equazione di Schrödinger: ! h ¯2 2 − ∗ ∇ + V (x, y, z ) ψm,n (x, y, z ) = Em,n ψm,n (x, y, z ) 2m (.) e sfruttando come condizioni al contorno che la funzione d’onda sia nulla in 0 e L, si trova che l’energia della particella è data da: E (nx , ny , nz ) = π2 h2 1 2 (n + n2y + n2z ) 2m∗ L2 x (.) Capitolo . I nanocristalli Figura .: densità degli stati per diverse dimensionalità del sistema. tratteggiata mostra la dipendenza La linea dove nx , ny e nz sono numeri interi e m∗ è la massa efficace della particella. La massa efficace tiene conto della curvatura delle bande dovuta al potenziale periodico percepito dal portatore di carica nel reticolo cristallino e l’approssimazione è valida se il passo del reticolo è considerevolmente inferiore alla dimensione del nanocristallo. Quest’assunzione è giustificata nel caso del CdSe, il cui passo reticolare a K è di circa , nm. L’energia minima da fornire ad un elettrone per farlo passare in banda di conduzione risulta quindi: Emin = Eg + π 2 h2 2m∗ L2 (.) dove L è la dimensione del quantum dot. Questo mostra che l’energia di gap effettiva aumenta quando la dimensione del quantum dot L diminuisce. Inoltre si può osservare dalla . che la forma funzionale g (E ) della densità degli stati, cioè il numero di soluzioni dell’equazione di Schrödinger per unità di volume ed energia, ha per i quantum dot un comportamento del tutto simile a quello di un atomo, nel quale i livelli energetici sono quantizzati. È possibile dimostrare che la densità degli stati risulta essere una successione di picchi infinitamente alti e infinitamente stretti e può essere scritta come: g (E ) = 2 X gnx ,ny ,nz × δ [E − E (nx , ny , nz )] (.) nx ,ny ,nz dove δ [E −E (nx , ny , nz )] è la funzione delta di Dirac e gnx ,ny ,nz la degenerazione dello stato contraddistinto dai numeri quantici nx , ny e nz. La fig. . mette a confronto la densità degli stati g (E ) del sistema zerodimensionale (-D) con quella del semiconduttore bulk (-D). tions in atoms Capitolo . I nanocristalli 2.3 Proprietà ottiche Le proprietà ottiche dei semiconduttori sono determinate dalle transizioni tra le bande d’energia, come mostrato nella figura .. transitions in (a) absorption; s the band-gap Figura .: transizione tra la banda di conduzione e di valenza di un semiconduttore in (a) assorbimento e (b) emissione. In the absorption process illustrated in Fig. 4.6(a), an electron is promoted from the valence band to the conduction band, leaving a hole in 2.3.1 fotoluminescenza theAssorbimento valence band. eThe transitions can take place over a continuous range of photon energies determined by the lower and upper energy limits of bands. An absorption band is passa therefore with aa threshold Nel the processo di assorbimento un elettrone dallaobserved, banda di valenza quella di conat the band-gap energy E . g duzione, lasciando una buca nella banda di valenza. Le transizioni possono avvenire mission from a The interband luminescence process shown schematically in intervallo continuo di energia dei fotoni, determinato dai limiti inferiore e superally called lumi-in un Fig. 4.6(b) is more complicated. For emission to be possible, it is necesbe further clas-riore dell’energia delle bande. Si osserva una banda di assorbimento con un’energia di sary that there should be an electron in the conduction band and an roluminescence unoccupied soglia pari a Eg . level (i.e. a hole) in the valence band. These electrons and ce depending on is excited electriholes are typically injected into their respective bands either from an Perché avvenga l’emissione occorre che un elettrone si trovi nella banda dithat conduelectrical current or by previous optical excitation. The electrons aree nella injected relax very rapidly the non bottom of thecioè conduction zione banda di valenza ci sia unto livello occupato, una lacuna.band Questo by emission of phonons. Similarly, the injected holes relax very rapidly può avvenire in seguito all’iniezione di cariche da parte di una corrente elettrica o alto the top of the valence band. (Hole energies are measured downwards l’eccitazione ottica. Gli elettroni iniettati rilassano rapidamente sul fondo della banda from the top of the valence band.) The radiative transitions therefore di conduzione fononi. Similarmente, le buche rilassano la cima della take placeemettendo at energies very close to the band-gap energy Everso g . The width banda di valenza. Perciò radiative luogo ad energie vicine of the emission line leis transizioni determined by thehanno thermal spread of themolto charge carriers within their bandsdella or by effects.termica As a rule of a a quella di gap, Eg . La larghezza rigainhomogeneous d’emissione è di natura o dovuta thumb, the linewidth at temperature T in energy units is of order kB T disomogeneità. unless this energy is smaller than the inhomogeneous broadening, in which case the latter thelelinewidth. Se il semiconduttore è adetermines gap indiretto, transizioni devono essere accompagnaStrong interband transitions can occur whenperthe transitions are te dall’emissione o dall’assorbimento di un fonone e sono questo meno probabili. allowed by the electric-dipole selection rules, and when the semiconQuesto aspetto verrà però trascurato in quanto il CdSe, che è oggetto di questo studio, ductor has a direct band gap. In the case of a semiconductor with an è unindirect semiconduttore gap diretto. band agap, a phonon must be absorbed or emitted whenever the electron jumps between the bands, and this substantially reduces the transition probability. Many III–V compound semiconductors like GaAs exhibit very strong interband transitions because they have direct band gaps and E1 transitions are allowed between the conduction and valence bands. By contrast, the elemental semiconductors silicon and germanium have weaker transition probabilities because their band gaps are indirect. m that stands for ‘Light Amplification by ation’. Laser operation was first demonhen, lasers have become essential tools in Capitolo . I nanocristalli cs. In this section we give a brief review t underly laser operation, and then give a properties of the lasers that are commonly Exciton Absorption diagram of a typical laser oscillator. The um and two end mirrors called the output with reflectivities of R1 and R2 , respectthe two end mirrors and is amplified each n medium. If the amplification in the gain nce the losses during a round trip, then laser will operate. The output of the laser oupler, which has a partially transmitting Emission Figura .: confronto tra gli spettri di emissione e assorbimento di un semiconduttore Fig. 4.7 (a) Absorption and (b) emishat occurs within the gain medium is sion spectra of a GaN crystal of thickness 0.5 µm at 4 K. In part fa (a), the ci sia una differenza quaprima dell’emissione sì che cient γ(ω) defined by: Il rilassamento delle cariche optical density is directly proportional litativa tra gli spettri di emissione e assorbimento di un semiconduttore, come mostrato to the absorption coefficient. (UnpubI lished data from K. S. Kyhm in figura .. Si osserva differenza nella posizione deiand massimi di assorbimento ed = γ(ω)I(z), (4.38) una R. A. Taylor.) z emissione relativi alla stessa transizione elettronica e questo comportamento è piuttosto diverso da quello degli spettri atomici, dove le righe di emissione e assorbimento coincidono. Tale fenomeno è chiamato spostamento di Stokes e fa sì che il pompaggio sia ottico che elettrico avvenga solitamente ad energie superiori al gap del materiale per massimizzare l’efficienza dell’assorbimento. La freccia evidenzia un picco nello spettro di assorbimento causato dalla formazione di eccitoni. La figura . mostra, a titolo esemplificativo, lo spettro di assorbimento e luminescenza di quantum dot di CdSe di raggio ∼, nm. Diversi effetti fanno sì che i livelli quantizzati attesi sulla base della trattazione teorica si allarghino e lo spettro reale presenti una serie di picchi su fondo continuo. Ciascun nanocristallo che compone il campione infittisce lo spettro apporta i propri livelli dipendenti dalla taglia la quale, per quanto il campione possa essere monodisperso, varia da dot a dot. Inoltre bisogna considerare l’energia di agitazione termica kT , che a temperatura ambiente è meV e fa sì che gli elettroni non si trovino esattamente in k = 0 ma in un certo intorno di larghezza finita, allargando la riga corrispondente a ciascuna transizione. 2.3.2 Rilassamento intrabanda Preliminarmente all’emissione radiativa avviene il rilassamento intrabanda, processo che porta le cariche ad effettuare la transizione radiativa di più bassa energia. Nei semiconduttori bulk II-VI, il rilassamento dei portatori è dominato dalle interazioni con fononi ottici longitudinali (LO) che portano a dinamiche veloci di raffreddamento Capitolo . I nanocristalli Assorbimento Luminescenza 4 1.5 3 1.0 2 0.5 1 0.0 0 400 450 500 550 600 Lunghezza d'onda (nm) 650 Assorbanza (u. a.) Intensità di PL (u. a.) 2.0 700 Figura .: spettro di assorbimento (linea continua) e fotoluminescenza (linea tratteggiata) di quantum dot di CdSe di raggio ∼ 1, 9 nm. In luminescenza, il campione è stato eccitato a nm. dei portatori, tipicamente sotto il picosecondo. I quantum dot presentano uno spettro quantizzato con spaziature che vanno dai ai meV, molto maggiori delle energie dei fononi – ∼ meV per i fononi acustici, ∼ meV per i fononi ottici. Pertanto ci si aspetterebbe un rilassamento più lento perché occorre che avvenga emissione multifononica, e il fenomeno è chiamato phonon bottleneck. L’osservazione sperimentale di dinamiche di rilassamento veloci suggerisce invece che il processo è dominato da meccanismi non fononici. Per quanto riguarda gli elettroni, si verifica il trasferimento dell’energia in eccesso verso una buca che poi compie un rilassamento veloce attraverso il proprio denso spettro di stati. Questo processo si basa sulle interazioni intrinseche di tipo Auger ed è significativamente più veloce dell’emissione multifononica. Per quanto riguarda le buche, l’emissione di fononi da parte delle buche può fornire un meccanismo efficiente per la dissipazione di energia. Una descrizione quantomeccanica completa della struttura degli stati in banda di valenza nei nanocristalli di CdSe produce una separazione tra i livelli di buca in una struttura fine generata dalla rimozione della degenerazione per effetto del campo cristallino, dalle deviazioni dalla sfericità dei nanocristalli reali e dalle interazioni di scambio elettrone–buca. I tassi di rilassamento per le buche sono vicini a quelli stimati per le interazioni buca–fonone LO nel CdSe bulk (∼, eV/ps), ulteriore indizio di processi di rilassamento con emissioni monofononiche. Il fatto che l’emissione di fononi singoli non sia inibita dal carattere discreto dei livelli energetici implica che lo spettro degli stati in banda di valenza forma un quasi-continuo. Capitolo . I nanocristalli Le dinamiche ultraveloci delle popolazioni eccitate osservate sperimentalmente per gli stati di elettrone e buca nei quantum dot indicano che, nonostante la larga separazione tra gli stati elettronici, il rilassamento in regime di confinamento forte non è significativamente più lento di quello dei materiali bulk. 2.3.3 Assorbimento e bleaching Poiché l’assorbimento della radiazione è legato alla promozione di elettroni dai livelli banda di valenza a quelli della banda di conduzione, quando i livelli della banda di conduzione si riempiono si verifica il fenomeno dello state filling che porta ad una diminuzione dell’assorbimento in favore dell’emissione stimolata. Questo fenomeno è noto come bleaching della transizione ottica interbanda coinvolta. Le variazioni dell’assorbimento che risultano da questo effetto sono proporzionali alla somma dei numeri di occupazione ne e nh dell’elettrone e della buca. Se si considera lo spettro di assorbimento lineare dei nanocristalli come una somma di bande di assorbimento separate corrispondenti alle differenti transizioni ottiche quantizzate, le variazioni di assorbimento (∆α) indotte dallo state filling possono essere calcolate con la seguente espressione: ∆α ( h ¯ ω) = − X ai Gi ( h ¯ω−h ¯ ωi )(nei + nhi ) (.) i dove Gi ( h ¯ω − h ¯ ωi ) è il profilo di assorbimento per area unitaria della transizione h ¯ ωi , ai è l’area della transizione (proporzionale alla sua forza di oscillatore) e nei e nhi sono i numeri di occupazione degli stati di elettrone e buca coinvolti nella transizione. In condizioni di quasi-equilibrio termico, quando il rilassamento intrabanda è terminato, i numeri di occupazione possono essere trovati utilizzando la distribuzione di Fermi. A causa della grande differenza tra le masse effettive dell’elettrone e della buca – nel CdSe si ha m∗h /m∗e ≈ 6 – le probabilità di occupazione degli stati elettronici a temperatura ambiente sono molto maggiori di quelli degli stati di buca corrispondenti e la popolazione delle buche è distribuita su molti livelli adiacenti dalla distribuzione termica. Alla luce di questa considerazione, la conseguenza dell’eq. . è che le variazioni nell’assorbimento indotte dallo state filling sono dominate dagli elettroni. Il ruolo delle buche nel bleaching delle transizioni ottiche è ulteriormente ridotto a causa del rapidissimo spopolamento iniziale (scale di tempi fino al picosecondo) degli stati eccitati in banda di valenza che si osserva tipicamente nei nanocristalli II-VI. Capitolo . I nanocristalli 2.3.4 Effetto Stark Oltre allo state filling, la fotoeccitazione dei portatori di carica genera modifiche allo spettro ottico dei nanocristalli a causa dell’effetto Stark. Quando un campo elettrico DC ε viene applicato ad un eccitone, la buca e l’elettrone vengono allontanati l’una dall’altro. Sulla base di quanto visto nel paragrafo .., il valore del campo elettrico tra elettrone e buca nello stato fondamentale dell’eccitone è 2RX /eax . Se ε eccede questo valore, un eccitone in un semiconduttore bulk viene slegato. Questo non può avvenire in regime di confinamento quantico, situazione nella quale la barriera di potenziale ha dimensione inferiore al raggio eccitonico. Nei nanocristalli, gli eccitoni restano stabili fino a intensità di campo elettrico elevate e l’interazione col campo elettrico produce uno spostamento energetico ∆EStark delle transizioni eccitoniche, detto spostamento di Stark. Sfruttando la teoria delle perturbazioni e si ottiene, per il livello eccitonico con n = 1: ∆EStark = −24 2 3π 6 e2 ε2 m∗ d 4 h ¯2 (.) dove d è il diametro del nanocristallo. In assenza di campi elettrici esterni applicati al campione, l’osservazione dello spostamento di Stark nei nanocristalli può essere interpretato come segue. In seguito a fotoeccitazione, uno dei due tipi di portatori di carica può interagire con i difetti di superficie, restando intrappolato. Il risultato è la formazione di eccitoni con separazione di carica che generano forti campi locali. In tal caso si parla di effetto Stark indotto da portatori di carica intrappolati (trapped-carrier induced Stark effect) e il fenomeno assume particolare rilevanza nei nanocristalli a causa dell’elevato rapporto superficie/volume. Nel caso di due coppie elettrone–buca interagenti, la causa dell’effetto Stark può essere ricondotta all’interazione coulombiana tra i due eccitoni, e lo spostamento Stark può essere utilizzato come misura dell’energia di legame del bieccitone confinato. Al contrario dello state filling, che altera selettivamente le transizioni che riguardano stati popolati, l’effetto Stark indotto dai portatori di carica non ha questa selettività e modifica tutte le transizioni dei nanocristalli. Nel caso di transizioni ottiche isolate e nel limite di piccoli campi (spostamento Stark ∆EStark piccolo rispetto alla larghezza Γ della transizione) i cambiamenti di assorbimento dovuti allo spostamento di Stark possono essere calcolati come proporzionali alla prima derivata dello spettro di assorbimento lineare α (hν ): ∆α (hν ) ≈ ∆S α00 (hν ). In presenza di due transizioni larghe ravvicinate (spaziate in energia di una quantità ∆E12 con ∆E12 < ∆EStark e ∆E12 < Γ ) l’effetto Stark porta a una repulsione tra le transizioni e la variazione di assorbimento può essere approssimata dalla seconda derivata Capitolo . I nanocristalli 3 eh 3 2 eh 2 1 eh 1 0 eh Figura .: ricombinazione Auger multiparticellare in sistemi in regime di confinamento quantico. ¯ ω ). Questo secondo caso si applidel profilo di assorbimento: ∆α ( h ¯ ω ) ≈ ∆S ∆12 α000 ( h ca ai nanocristalli, caratterizzati da grande spostamento Stark dai portatori di carica intrappolati e stati ravvicinati in banda di valenza. 2.3.5 Decadimento Auger La dinamica dei portatori è determinata in una certa misura da processi competitivi col decadimento radiativo, quali l’interazione con trappole di superficie e la ricombinazione Auger multiparticellare. A basse intensità di eccitazione (al di sotto di una coppia elettrone–buca a nanocristallo) il ruolo dell’effetto Auger è trascurabile e lo scenario più probabile è l’intrappolamento delle cariche in difetti di superficie come, ad esempio, legami non saturati (dangling bond) su scale di tempo dei picosecondi. Nella ricombinazione Auger multiparticellare, l’energia di ricombinazione tra elettrone e buca non è emessa come fotone ma trasferita ad una terza particella (un elettrone o una buca) che viene rieccitata ad uno stato di energia più alta entro il dot o fuori (il secondo caso è noto come ionizzazione Auger). Il processo ha luogo tramite una serie di passi quantizzati da N a N − 1, N − 2, . . . e, infine, una coppia elettrone buca (fig. .). Ogni passo è caratterizzato da una costante di decadimento e la sequenza può essere descritta dal sistema di equazioni: nN dnN dt = − τN nN −1 dnN −1 nN dt = τN − τN −1 ... dn1 = n2 − n1 τ τ dt 2 (.) 1 Capitolo . I nanocristalli dove ni (i = 1, 2, . . . , N ) è la concentrazione di nanocristalli del campione contenenti i coppie elettrone–buca e τi il tempo di vita dello stato di coppia i. Si ricava una soluzione che esprime le popolazioni medie in funzione del tempo come segue: hN (t )i = N X Ai e−t/τi (.) i =1 dove Ai sono coefficienti determinati dalle densità iniziali di portatori. È stato mostrato sperimentalmente che la ricombinazione Auger è caratterizzata, sia nei semiconduttori bulk che nei sistemi confinati, da un tasso proporzionale al cubo della densità dei portatori neh : dN = CA n3eh dt (.) o, in alternativa, dalla costante di tempo: τA = 1 CA n2eh (.) dove CA è la costante di Auger. È stato ricavato sperimentalmente che tale costante ha una dipendenza ∼ R3 dal raggio R della particella, assumendo valori tra 7 · 10−29 e 2 · 10−30 cm6 /s per quantum dot di CdSe decrescenti dai , agli , nm. Quando la passivazione della superficie del nanocristallo è ben effettuata, la ricombinazione Auger domina le dinamiche di ricombinazione non radiativa. 2.4 Solidi di nanocristalli Nelle applicazioni elettroniche e optoelettroniche l’elemento attivo dei dispositivi non è costituito da singole nanoparticelle ma da loro aggregati macroscopici. In analogia con i solidi convenzionali, sono desiderabili un’alta mobilità dei portatori di carica e una buona efficienza in processi quali l’assorbimento della luce e la separazione della carica in celle solari, l’emissione luminosa nei LED, ecc. Da un punto di vista ingegneristico, agire su taglia, forma e composizione delle nanoparticelle permette di governare con precisione le proprietà del materiale. Le proprietà del solido di nanocristalli, invece, dipendono non solo dalle proprietà delle singole particelle ma anche da quelle del trasporto elettronico e ottico tra di esse, dal mezzo in cui sono alloggiate, dalla densità, Capitolo . I nanocristalli ecc. Se da un lato questo introduce nuovi livelli di complessità nella progettazione dei dispositivi, dall’altro amplia gli orizzonti dell’indagine scientifica e ingegneristica. I nanocristalli possono formare strutture amorfe o reticoli ordinati e periodici. I solidi amorfi di nanocristalli sono materiali isotropi caratterizzati da ordine a corto raggio. La formazione di tale tipo di struttura è favorita da un’elevata dispersione della taglia delle particelle, la scarsa solubilità in un certo solvente o l’evaporazione rapida di tale solvente o la presenza di forze repulsive tra le particelle che dominano su quelle di interazione attrattiva. I solidi di nanocristalli ordinati sono materiali anisotropi caratterizzati da una periodicità sulle tre dimensioni. La densità e la composizione chimica del solido sono uniformi lungo l’intera struttura e tale regolarità è interessante sia per le applicazioni pratiche che per la ricerca di base. Lo sviluppo di un metodo riproducibile per la produzione di reticoli di nanocristalli presenta attualmente alcune difficoltà tecnologiche quali la mancanza di controllo sulle dimensioni e sui difetti strutturali. Il resto del capitolo si concentrerà su quest’ultima tipologia di strutture, offrendo una panoramica sulle proprietà di trasporto di carica di maggior rilievo e sulle metodologie di sintesi e produzione. 2.4.1 Superreticoli di nanocristalli I nanocristalli monodispersi, ovvero caratterizzati da una distribuzione in taglia non superiore al %, possono autoassemblarsi in strutture ordinate a lungo raggio, note come superreticoli, durante un’evaporazione del solvente sufficientemente lenta, o sotto piccola perturbazione della soluzione colloidale. La fig. . mostra un esempi di superreticolo di nanocristalli di PbSe autoassemblato. I nanocristalli di forma sferica si organizzano solitamente in reticoli cubici a facce centrate (fcc). Tuttavia anche una lieve anisotropia nella forma dei nanocristalli o le interazioni di dipolo possono portare a reticoli di diversa simmetria quali la fase esagonale ad alta densità (hcp) o la fase esagonale semplice. A guidare l’ordinamento di particelle sferiche non interagenti è l’entropia, la quale favorisce decisamente la fase fcc rispetto a quella disordinata. e in misura minore rispetto alla fase hcp. Nel caso delle nanoparticelle occorre considerare anche il contributo delle forze di Coulomb tra le cariche e i dipoli statici o indotti, di van der Waals tra i core o i leganti di superficie, carica-dipolo, dipolo-dipolo e altre forze particella–particella e la differenza di energia libera tra le strutture fcc e hcp è molto piccola a parità di densità, sim−3 kB T per particella Capitolo . I nanocristalli Chemical Reviews, 2010, Vol. 110, No. 1 397 e colloidal soluon (Figure 3). ined by spinon. Typically, ordering (i.e., of the nearest th any kind of solvents and for obtaining ne:octane (9:1 uniform dropgands, such as c acid capped surface with helps obtaining Figura .: immagine TEM di un superreticolo di nanocristalli di PbSe autoassemblato di , nm di diametro; l’inserto mostra una micrografia ottica di supercristalli di vents such as nanocristalli di PbSe. making closeating. Differentparticella–substrato. Il contributo di queste forze dipende dalla natura del materiale, oparticles with dal legante di superficie, dalla carica delle nanoparticelle, dalla temperatura ecc. a mixture of epare films of ating and drop-2.4.2 Struttura elettronica: minibande Blodgett,186-189 ng, and inkjetA differenza dei cristalli atomici e molecolari, dove gli atomi, la geometria del reticolo e-packed films e le distanze interatomiche sono entità fissate, i solidi di nanocristalli offrono la poson with photosibilità di accordare alle proprie necessità le proprietà ottiche. Le proprietà di questo NC films with oparticle filmstipo di materiali dipendono sia dalle proprietà dei singoli nanocristalli che dalle intech negativelyrazioni di scambio a molti corpi. La presenza di ordine traslazionale a lungo raggio nei based devices.superreteicoli di nanoparticelle porta alla alla formazione di una struttura a bande. drying films; Figure 8. TEM images of self-assembled nanocrystal superstrucper7.5 semplicità sistema reticolare cubicooptical come quello mostrato in fig. tures: (a) nm PbSun nanocrystals; inset shows micrographs ation or other Si consideri di un singolo portatore caricaPbS in tale sistema è descritto dall’equazione of “supercrystals” grown difrom nanocrystals. (b) Smectic he preparation.. Il moto ordering of 29 nm long, 4.5 nm diameter CdS nanorods. Image everal reviewdi Schrödinger: courtesy of M. Bodnarchuk. 1density (∼0.7405) is very small, about h ¯2 with identical packing ∇r ∗ ∇r + V (r) ϕ (r) = Eϕ (r) (.) − -3 2 m (r) 10 kBT per particle. In the case of nanoparticles, Coulombic, van der Waals, tandard devia- La struttura atomica del solido di nanocristalli è tenuta in conto nell’analisi con charge-dipole, dipole-dipole, entropic, capillary, convecd superlatticesla massa efficace m∗ . Questo parametro assume valori differenti nel quantum dot e tive, shear, and other forces contribute to the paprticle-particle ,183 or gentle and particle-substrate interactions.198 The contributions of -203 Some exthese forces depend on the nature of inorganic core and are shown in surface ligands, charging of nanoparticles, surrounding d domains can media, temperature, etc. The electrostatic interactions bepherical shape tween nanoparticle can originate from static electric charges, .183 However, 209-212 " # Capitolo . 400 I nanocristalli Chemical Reviews, 2010, Vol. 110, No. 1 Figure 12..: Schematic of adimodeled quantum dot crystal. Figura strutturastructure schematica un solido di nanocristalli. Reprinted with permission from ref 248. Copyright 2001 American Institute of Physics. nella barriera. Il potenziale V (r) corrisponde ad una sequenza infinita di quantum independent functions coordinates x, y, and dot di dimensioni Lx , Ly periodic e Lz separate dalle of barriere di spessore Hx ,zHwith y e Hz come in periods of dx, dy, and dz (dξ ) Lξ + Hξ): fig. .. Per semplicità si è assunto che V (r) possa essere scritto come somma di tre funzioni periodiche indipendenti con periodi d(5) dove 13. Conduct V(r) )delle Vx(x)coordinate + Vy(y) x,+y Vezz(z) x , dy e dz Figure quantum dot superlat dξ = Lξ + Hξ : 3 where 0 in the quantum dots r) = Vx (x ) + Vy (y ) + Vz (z ) Vξ(ξ)V () V0 in the barrier { dove: (6) Here, index ξ denotes a particular coordinate axis. This choice of potential allowed one to separate the carrier motion along three coordinate axes and decouple the three 0 nel quantum dimensional (3D) Schro ¨ dinger equationdot into three identical Vξ = one-dimensional (1D) quantum-well superlattice equations. V 0 nella barriera The 3D envelope wave function φ(r) was presented as a product of three 1D eigenfunctions χ(ξ) in the following way: 2 × 2 × 2 nm , an coordinate directions the barrier height is 1 (.) silicon. The energy b nxnynz with the super of the band. Reprint 2006 American Insti quite similar to th superlattices. To de Balandin237 introdu corresponds to the Qua ξ = x, y o z indica un determinato asse di coordinate. Questa scelta per il poteneach direction. Th (x, y, z) ) χ (x)χ (y)χ (z) (7) φ(r) ≡ φ fundamental degen ziale permette di separare il moto portatori dinxcarica nx,ny,ndei ny lungo nz i tre assi di coordinate z spin degeneracy. Ji e disaccoppiare l’equazione di Schrödinger tridimensionale in tre identiche equazioni lower barrier heig wheredinsuperreticolo The totaltridimensionale energy ξ denoted thediquantum unidimensionali quantum number. well. L’inviluppo delhigher dispersion.2 spectrum for this wave function was given by le funzioni d’onda ϕ (r) risulta essere il prodotto di tre autofunzioni unidimensionali effect of the barrier and the bandwidt Enxnynz ) Enx + Eny + Enz (8) χ (ξ ): narrower width of bands. The dot si where En are the eigenvalues of the one-dimensional Schro¨energy level rather ϕ (r) ≡ ϕnx ,ny ,nz (x, y, z ) = χnx (x )χny (y )χnz (z ) (.) dinger’s equations. the calculated ene Equation 4 with the potentials from eqs 5 and 6 was solved relatively insensit analytically.248 Despite its simplicity, this approach captured dielectric barrier.23 the key features of quantum dot superlattices, at least for It is well-known “type I” superlattices where the envelope function varied 238,249,250 spectrum. When q slowly on the scale of the atomic lattice period. The barrier and position validity of this model has been also confirmed by numerical (.) Capitolo . I nanocristalli dove nξ è il numero quantico corrispondente alla direzione ξ. Lo spettro energetico totale per questa funzione d’onda è dato da: Enx ny nz = Enx + Eny + Enz (.) dove gli En sono gli autovalori delle equazioni di Schrödinger unidimensionali. L’equazione (.) con i potenziali delle equazioni (.) e (.) è stata risolta analiticamente e la validità del modello è stata confermata da soluzioni numeriche dell’equazione di Schrödinger con forme più realistiche per la barriera di potenziale.– La figura . mostra la relazione di dispersione calcolata delle bande di un superreticolo cubico di quantum dot di silicio in una matrice dielettrica di nitruro di silicio (la cui barriera è alta ∼ 1, 9 eV per la banda di conduzione). La dimensione del nanocristallo è 2x2x2 nm mentre la spaziatura è nm in tutte le tre direzioni, valori tipici per un superrreticolo di nanoparticelle. La terna di numeri quantici nx ny nz in fig. . corrisponde alla numerazione delle soluzioni ammesse in ciascuna direzione mentre i numeri in apice indicano la degenerazione fondamentale delle bande trascurando la degenerazione dovuta allo spin. È stato mostrato che una matrice con minore altezza e larghezza di barriera produce una più alta densità di bande e una maggiore dispersione e che questi parametri influiscono anche sull’energia delle minibande e sulla loro larghezza, come mostrato in fig. .. Barriere più strette e più basse producono bande più larghe, mentre la dimensione dei nanocristalli influenza più i livelli di energia delle bande che la loro larghezza. L’influenza della massa effettiva dell’elettrone nella barriera dielettrica è risultata trascurabile. Come mostrato nel par. .., i singoli quantum dot hanno uno spettro discreto. Quando però sono separati da una barriera finita e posizionati molto vicini gli uni agli altri in modo che ci sia una significativa sovrapposizione tra funzioni d’onda, i livelli di energia discreti si organizzano in minibande. La fig. . B mostra che la sovrapposizione tra le funzioni d’onda diminuisce e le minibande si riducono a livelli discreti quando la distanza tra i nanocristalli o l’altezza della barriera aumentano, tendendo al caso del quantum dot isolato. In ogni caso, la formazione di stati estesi (in contrapposizione agli stati discreti) richiede materiali di alta qualità in termini di: Capitolo . I nanocristalli Figura .: relazione di dispersione della banda di conduzione per un superreticolo di quantum dot di silicio in una matrice di nitruro di silicio. La dimensione del dot è × × nm3 e la distanza tra i dot è nm in tutte e tre le direzioni. La massa effettiva dielettrica è ,me e l’altezza della barriera è di , eV rispetto all’estremo della banda di conduzione del silicio. Le bande di energia sono etichettate con tre numeri quantici nx ny nz con un apice che indica la degenerazione fondamentale della banda. (a) (b) Figura .: minibande in un cristallo di quantum dot di silicio. (a) L’effetto dell’altezza della barriera dielettrica sulla larghezza di banda e sui livelli energetici nel cristallo simulato. La massa dielettrica effettiva è , me . L’energia di riferimento è presa dall’estremo della banda di conduzione del silicio. La dimensione del dot, la distanza tra i dot e la massa effettiva anisotropa del silicio sono le stesse della figura .. (b) L’effetto della distanza tra i dot sulla larghezza della banda e sui livelli di energia. I parametri di calcolo sono gli stessi della fig. . ad eccezione dell’altezza della barriera, che è , eV (tipica per matrici di SiC). Capitolo . I nanocristalli 2.4.3 Interazione tra nanocristalli in fase di solido Quando due o più nanocristalli sono in prossimità, le funzioni d’onda dei portatori di carica possono sovrapporsi in una certa misura e accoppiarsi, formando stati delocalizzati su alcune lunghezze nanocristalline o anche lungo l’intero solido. L’energia quantomeccanica di accoppiamento può essere approssimata come: r ∗ ∆E 2m β ≈ hΓ ≈ exp − ∆x 2 h ¯ (.) dove h è la costante di Planck, Γ è il tasso di tunneling tra due nanocristalli adiacenti, m∗ è la massa efficace del portatore di carica, h ¯ = h/2π è l’altezza della barriera di tunneling e ∆E e ∆x è la distanza tra due nanocristalli., Appare quindi evidente come il trasporto della carica nei solidi di nanocristalli sia determinato in misura pressoché totale dalle caratteristiche del mezzo interparticellare. Verrà di seguito descritto un approccio al problema basato sulla sintesi colloidale di nanoparticelle. 2.5 Sintesi colloidale di nanocristalli La sintesi colloidale di nanostrutture inorganiche è una branca della chimica di recente sviluppo. Si è attualmente in grado di creare oggetti che vanno dalle semplici nanoparticelle sferiche monodisperse a strutture più complesse la cui dimensione, forma e dinamica di aggregazione in strutture multicomponente possono essere governate a piacere. Tra i pregi della sintesi colloidale sono da menzionare la possibilità di controllare taglia e forma delle nanostrutture preparate e l’applicabilità ad un’ampia gamma di materiali. Inoltre, l’uso di strumentazione e materiale chimico relativamente semplice permette di ottenere materiali di elevata qualità a costi piuttosto esigui. In generale, la realizzazione di un buon solido di nanocristalli richiede: • omogeneità della dimensione e della forma dei nanocristalli; • periodicità della struttura; • forte accoppiamento tra nanocristalli per mezzo del legante appropriato • bassa concentrazione di difetti di superficie. Viene di seguito descritta in maniera sommaria la metodologia della sintesi colloidale di nanocristalli di semiconduttori. Capitolo . I nanocristalli 2.5.1 Nucleazione e crescita dei quantum dot Tipicamente, i nanomateriali colloidali sono sintetizzati facendo reagire appropriati precursori molecolari quali sali inorganici e composti organometallici. I passi fondamentali nella sintesi colloidale sono i seguenti: . nucleazione da una soluzione inizialmente omogenea; . crescita dei nuclei preformati; . isolamento dalla soluzione di reazione delle particelle che hanno raggiunto la taglia desiderata; . trattamento della superficie delle particelle. Per ottenere una stretta dispersione in taglia occorre separare temporalmente gli eventi della nucleazione dalla crescita. Allo scopo, viene utilizzata la cosiddetta tecnica di iniezione a caldo, nella quale i precursori sono rapidamente iniettati in un solvente caldo. Si può ottenere lo stesso risultato anche attraverso un costante riscaldamento della miscela di reazione. Nella sintesi di nanocristalli di CdSe, ad una miscela di solventi coordinanti vengono aggiunti i precursori di cadmio e selenio. I solventi citati hanno il compito di decomporre i precursori in modo che il CdSe possa formarsi. La formazione della fase cristallina desiderata avviene alla presenza in soluzione di tensioattivi che si legano alla superficie del cristallo. La dimensione del nanocristallo può essere accordata alle esigenze regolando le concentrazioni dei tensioattivi, la temperatura di reazione e la durata della fase di crescita. La passivazione della superficie tramite tensioattivi è essenziale per almeno tre motivi. In primo luogo, serve sia a proteggere il nanocristallo da interazioni indesiderate con le sostanze con cui entra in contatto, per esempio ogni genere di impurità incontrata nel processo di sintesi. Serve inoltre a saturare eventuali legami liberi (dangling bonds) che provocano intrappolamento dei portatori di carica. Infine permette di controllare la dinamica di crescita. Infatti l’assorbimento dei tensioattivi è diverso per ciascun piano cristallografico e determina diversi tassi di crescita sulle diverse facce, proprietà che può essere sfruttata per governare la forma del cristallo. Tra i tipici tensioattivi si annoverano molecole carbossiliche a catena lunga e acidi fosfonici quali l’acido oleico e n-octadecilfosfonico, alcantioli quali il dodecantiolo, alchili fosfinici, ossidi alchilfosfinici i cui più classici esempi sono la trioctilfosfina (TOP) e l’ossido di trioctilfosfina (TOPO) e alchilammine come l’esadecilammina. Una delle tipiche reazioni di sintesi è la seguente. Capitolo . I nanocristalliColloidal Nanocrystals in Electronic Applications Figura .: immagine TEM di nanocristalli colloidali di CdSe realizzati tramite sintesi in soluzione calda. 300◦ , HDA-TOPO-TOP Cd(CH3 )2 + (C8 H17 )3 PSe CdSe (nanocristalli) La figura . mostra un’immagine, ottenuta col microscopio elettronico a trasmis- Figure 3. Siz solutions of C the smallest (∼ largest (∼5 n reference 95. sione, di nanocristalli colloidali di CdSe realizzati con la procedura di sintesi in soluzione calda appena descritta. 2.5.2 Leganti di superficie La scelta dei tensioattivi nella sintesi dei nanomateriali colloidali influenza in primo luogo la dinamica della nucleazione, la crescita e la stabilità della soluzione colloidale. Nella fase di aggregazione in solido, la passivazione della superficie governa le interazioni tra le nanoparticelle e la loro spaziatura, sia nell’ordine a corto che a lungo raggio. Figure.., 2. Examples of colloidal nanocrystals Come mostrato nella sezione la superficie influenzasemiconductor fortemente le proprietà fi- of different materials. siche degli aggregati nanocristallini a causa dell’elevato rapporto superficie/volume. L’appropriata passivazione della superficie è considerata la chiave per ottenere buo- colloidal solution, semiconductor NCs often grow through ni dispositivi basati su nanocristalli fotodetector, cellewhere solari, the transistor LED. the Ostwaldquali ripening mechanism, largestoparticles in solution grow at the of dissolving ones. La tabella . riassume gli elementi strutturali deiexpense tensioattivi considerati smaller e impiegati As a result, average particle size increases with time,72 and nelle applicazioni elettroniche dei solidi di nanocristalli. the particle concentration decreases. A number of studies investigated thesuccesso kineticsper of nanoparticle growth and dissoluLe metodologie di sintesi di maggior i nanomateriali colloidali, tra le tion to model this self-consistent growth process and quali quella descritta nel par. .., usano per stabilizzare le particelle leganti di superunderstand the parameters that control particle size distribuficie con lunghe (da C8 a C18 ) catene idrocarburiche o grosse molecole organometallition during the synthesis of semiconductor NCs.80 Two che. Tale struttura molecolare offre so-called un’elevata flessibilità punto di vista chimico regimes, “focusing”daland “defocusing” ofma size during nanoparticle growth,tra were described by presenta l’inconvenientedistribution di agire come barriera altamente isolante i nanocristalli, 88,89 et al. “Nano-Ostwald ripening” model was proposed ostacolando il trasporto Peng di carica. to describe the evolution of an ensemble of nanoscale particles.90 Onecome of the mostdiimportant 2.5.3 Calcogenuri metallici leganti superficie manifestations of quantum confinement in semiconductors is the relationship between the electronic structure and particle size.2,3 In semiconductor L’obiettivo è progettare leganti di superficie per nanostrutture colloidali che: NCs, it gives rise to discrete electron and hole states that can be precisely tuned by varying particle size (Figure 3).2,3 The proper control of surface chemistry can eliminate the midgap states associated with surface dangling bonds. As a result of reduced probability of carrier trapping and nonra- colic acid, c thiol group b carboxylic g colloidal sta NCs.96,99 Th different IIHgTe,103 etc are not as solvents, bu ficiency, col they can be interest in th scale manufa The other technique th popular route precursors fo chlorides, w reactions to include a ser the precurso forming first gregating int be divided solutions of t from the form by a polycon gel (syneres network and drying to rem gel network M-OH grou at high temp network are are decompo Capitolo . I nanocristalli Legante Spaziatura Caratteristiche • Tecnica consolidata Molecole con singolo gruppo di testa e catena idrocarburica lunga Molecole con singolo gruppo di testa e catena idrocarburica corta • Elevata stabilità colloidale <, nm • Superficie idrofoba • Solidi di NC altamente isolanti (σ ∼ 10−12 − 10−9 S cm−1 • Trattamento di solidi di NC o scambio di legante in soluzione , - nm • Minore stabilità colloidale • Miglior trasporto elettronico rispetto alla catena lunga • Conduttività fino a σ = 10−1 S cm−1 • Preparate per trattamento di solidi di NC Molecole reticolanti con doppio gruppo di testa • Mobilità fino a µ = 2 cm2 V−1 s−1 in solidi di NC di PbS trattati con N2 H4 , - nm • Mobilità µ ∼ 10−2 cm2 V−1 s−1 in solidi di NC di CdSe passivati con ,-fenilendiammina • Celle solari basate su solidi di NC di PbS e PbSe con efficienze di conversione fino al ,% • Preparati tramite scambio di legante in soluzione Complessi di calcogenuri metallici ≥ , nm • Completa rimozione dei leganti organici originari • Superfici idrofile • Alte conduttività fino a ∼ S cm−1 in solidi di NC di Au-(Sn2 S6 )4− Tabella .: diversi tipi di tensioattivi utilizzati nella sintesi di nanocristalli e di solidi di nanocristalli. Per ciascuna famiglia di molecole sono riportati la spaziatura interparticellare e le caratteristiche di maggior rilievo a fini applicativi. Capitolo . I nanocristalli Figura .: nanocristalli di Au, d ≈ 5 nm. (A) immagine TEM di uno strato di nanocristalli passivati con dodecantiolo. (B) immagine TEM di uno strato di nanocristalli passivati con (N2 H5 )4 Sn2 S6 . (C) immagine TEM di un superreticolo di nanocristalli passivati con (N2 H5 )4 Sn2 S6 . (D) Caratteristiche corrente–tensione per film di nanocristalli passivati con dodecantiolo (cerchi) e (N2 H5 )4 Sn2 S6 (quadrati); le frecce indicano il verso di scansione della tensione. • aderiscano alla superficie del nanocristallo e forniscano stabilità colloidale; • agevolino il passaggio di carica tra i nanocristalli; • consentano un adeguato ordinamento in fase solida. Alla luce di quanto visto nel par. .. e nella tab. ., l’adozione di leganti appartenenti alla famiglia dei complessi di calcogenuri metallici (MCC) al posto delle lunghe catene idrocarburiche isolanti riduce fortemente sia δE che ∆x, facilitando la comunicazione elettronica tra i nanocristalli. Tali proprietà possono essere indagate tramite misure di assorbimento ottico e trasporto di carica. La fig. . mostra un’immagine TEM delle strutture che è possibile ottenere assemblando nanocristalli passivati con leganti MCC e la loro minore resistività rispetto alle strutture omologhe di nanocristalli passivati con le convenzionali molecole organiche. Esiste evidenza sperimentale della possibilità di creare film semiconduttivi di nanocristalli con alta mobilità di portatori., Molti MCC possono essere sintetizzati sciogliendo calcogenuri di metalli del gruppo principale o di transizione in idrazina. Solitamente si aggiunge calcogeno in eccesso sotto forma di specie anioniche solubili come Sn2 S6 4− con idrazinio (N2 H5+ ) come controione. Questo approccio permette di ottenere, ad esempio, il complesso covalente (N2 H4 )2 ZnTe, N4 H9 Cu7 S4 stratificato e il complesso a metallo misto (N2 H4 )5 SnS4 Mn2 . Capitolo . I nanocristalli Possono essere preparati complessi stabilizzati in idrazina per molti altri calcogenuri metallici tra cui Ga2 Se3 , Sb2 Se3 , Sb2 Te3 , CuInSe2 , CuInx Ga1−x Se2 e HgSe. La rimozione completa del legante organico risulta difficoltosa. Spesso si generano molteplici legami non saturati (dangling bond) alla superficie e stati trappola nel mezzo del gap. Una rimozione parziale può essere effettuata per ricottura (annealing) ma spesso porta alla sinterizzazione dei nanocristalli. Inoltre, alte temperature di annealing lasciano tipicamente specie carboniose indesiderabili dovute alla parziale pirolisi del legante. Il semplice scambio dei grossi leganti originali con molecole più piccole è un approccio ormai collaudato per migliorare il trasporto di carica. 2.5.4 Scambio di legante La preparazione di nanocristalli passivati con complessi di calcogenuri metallici viene realizzata con una procedura di scambio di legante basata sul trasferimento della fase nanocristallina da un mezzo organico non polare a un solvente polare come l’idrazina o il dimetilsolfossido (DMSO). Tipicamente, una soluzione di MCC in idrazina anidra ( to mmol/ml) viene mescolata con nanocristalli disciolti in esano ( to mg/ml) finché la fase organica diventa incolore e si forma una soluzione colloidale stabile di nanocristalli in idrazina. Il processo di scambio di legante è decisamente facilitato dalla natura nucleofila degli MCC, dall’elettrofilia degli atomi metallici scoordinati verso la superficie dei nanocristalli e dall’efficienza dell’idrazina nella rimozione dei leganti idrocarburici. La spettroscopia IR, l’analisi della composizione chimica e la spettroscopia di risonanza magnetica nucleare mostrano l’assenza di specie idrocarburiche nei nanocristalli passivati con MCC tramite la procedura di scambio di legante. L’idrazina può essere rimpiazzata da solventi di minore tossicità quali acqua, DMSO, formammide o etanolammina 3 | Tecniche sperimentali 3.1 Nanocristalli di CdSe LP1284 I nanocristalli dei campioni oggetto di questo studio sono costituiti da un core sferico di CdSe, sia in soluzione colloidale che sotto forma di film. Più precisamente: • CdSe passivati con legante organico, colloidali in esano • CdSe passivati con (NH4 )AsS3 , colloidali in DMSO • CdSe passivati con (NH4 )AsS3 (film) Per una panoramica sulle metodologie di sintesi, si vedano le sezioni . e ... Le proprietà optoelettroniche dei solidi di nanocristalli di semiconduttori, le cui generalità sono state discusse nel capitolo , possono essere studiate tramite tecniche di spettroscopia ultraveloce. In particolare, questo studio si concentra sulle dinamiche dei portatori di carica a bassi regimi di eccitazione . Questo capitolo si propone di definire le quantità fisiche di interesse e le tecniche sperimentali appropriate all’indagine. 3.2 Spettroscopia di assorbimento lineare UV/Vis/NIR Come discusso nella sez. ., le proprietà di assorbimento ottico permettono di dedurre informazioni sulla struttura elettronica dei materiali. La fig. . mostra un fascio di radiazione monocromatica di lunghezza d’onda λ e intensità I0 (λ) che attraversa un campione di spessore s. Parte della potenza del fascio viene assorbita dal campione e il fascio emerge con un’intensità I (λ, s ), la cui attenuazione è determinata dalla legge di Lambert-Beer: < eccitone/nanocristallo Capitolo . Tecniche sperimentali Campione I0 s Figura .: assorbimento ottico lineare. I (λ, s ) = I0 e−α (λ)s (.) dove α (λ) è il coefficiente di assorbimento, il quale determina il profilo spettrale dell’assorbimento caratteristico del materiale. Un tipico apparato sperimentale per misure di assorbimento è mostrato schematicamente in fig. .. L’apparato utilizzato in questo esperimento permette di effettuare misure di assorbimento nelle regioni dell’ultravioletto (UV), visible (Vis.) e vicino infrarosso (NIR) come segue. La sorgente impiegata è costituita due lampade la cui emissione luminosa è combinata tramite un sistema di specchi, omesso in figura per semplicità di esposizione, in un unico fascio d’uscita. La radiazione UV è costituita dalla porzione spettralmente continua (÷ nm) dello spettro di emissione di una lampada ad arco al deuterio, opportunamente filtrata. La componente visibile e infrarossa è invece ottenuta tramite una lampada ad incandescenza con filamento di tungsteno riscaldato a circa K in un involucro di quarzo contenente un gas nobile e tracce di un gas alogeno. In questo modo, l’intervallo spettrale coperto si estende fino ai nm. La lunghezza d’onda λ alla quale effettuare la misura viene selezionata tramite un monocromatore dotato di un reticolo di diffrazione olografico da tratti/mm con blaze a nm per l’UV/Vis e da tratti/mm con blaze a nm per il NIR, in configurazione Littrow. Per una trattazione più dettagliata delle tecniche di dispersione e analisi della radiazione luminosa si rimanda all’appendice. Il fascio è poi diviso in due da uno specchio semitrasparente (). Una porzione attraversa il campione da studiare (), sotto forma di film o soluzione colloidale contenuta in una cuvette. L’altra porzione attraversa invece un vetro identico a quello su cui è stato accresciuto il film o una cuvette che contiene solo il solvente (). Questo accorgimento permette di ottenere, per sottrazione, spettri di assorbimento ripuliti da ogni contributo introdotto dal substrato nel caso di film e dal vetro o cristallo del contenitore nel caso di campioni in soluzione colloidale. I fotorivelatori () e () di questo esperimento sono costituiti da un fotomoltiplicatore con fotocatodo sensibile sull’intervallo di lunghezze d’onda UV/Vis e un sensore al PbS raffreddato con una cella di Peltier nell’intervallo NIR. In PerkinElmer UV/Vis/NIR Lambda Hamamatsu R Capitolo . Tecniche sperimentali Sorgente UV/Vis/NIR Monocromatore (5) (5) I0 (5) (5) (5) Figura .: apparato sperimentale per misure di assorbimento lineare UV/Vis/NIR. maniera automatizzata, il monocromatore esplora l’intero intervallo UV/Vis/NIR nelle modalità sopra descritte e il software ricostruisce lo spettro di assorbimento. 3.3 Spettroscopia di fotoluminescenza risolta in tempo La spettroscopia di fotoluminescenza risolta in tempo (Time-Resolved Photoluminescence Spectroscopy, TRPL) è una variante della normale spettroscopia nella quale l’eccitazione è fornita da un breve impulso luminoso e un rivelatore veloce è utilizzato per determinare l’evoluzione temporale dell’emissione successivamente all’eccitazione. L’apparato sperimentale per la misura di fotoluminescenza è schematizzato nella figura .. La sorgente è un amplificatore rigenerativo al Ti:zaffiro operante in regime di mode locking. I principi di funzionamento del dispositivo sono descritti nella sezione A... Il sistema emette impulsi di fs di durata alla lunghezza d’onda di 780 ± 5 nm, con un’energia di 1, 3 mJ a impulso. La radiazione infrarossa non è sufficientemente energetica da eccitare il campione perché il CdSe ha un’energia di gap di 1, 74 eV e necessita di una lunghezza d’onda superiore a 713 nm perché si creino coppie elettrone–buca. Per questo motivo, una parte del fascio viene inviata per mezzo di uno specchio semitrasparente () verso un cristallo di β-borato di bario (BBO) (). Le proprietà ottiche non lineari del BBO consentono di sfruttare l’elevata energia degli impulsi per ottenere la seconda armonica della radiazione, a nm. Un filtro () blocca la prima armonica. Since the streak camera is a two dimensional device, it can be used to detect several tens of different light channels simultaneously. For example, used in combination with a spectroscope, time variation of the incident light intensity with respect to wavelength can be measured (time resolved spectroscopy). Used in combination with proper optics, Capitolo . Tecniche it is possible to measure timesperimentali variation of the incident light with respect to position (time and space-resolved measurement). (1) (2) (3) Operating Principle 780 nm Laser 390 nm Fig. 1 shows the operating principle of the streak camera. The light being measured passes through a slit and is formed by the optics into a slit image on the photocathode of the streak tube. At this point, four optical pulses which vary slightly in terms of both time and space, and which have different optical intensities, are input through the slit and arrive at the photocathode. The incident light on the photocathode is converted into a number of electrons proportional to the intensity of the light, so that these four optical pulses are converted sequentially into electrons. They then pass through a pair of accelerating electrodes, where they are accelerated and bombarded against a phosphor screen. As the electrons produced from the four optical pulses pass between a pair of sweep electrodes, high voltage is applied to the sweep electrodes at a timing synchronized to the incident light (see Fig. 2). This initiates a high-speed sweep (the electrons are swept from top to bottom). During the high-speed sweep, the electrons, which arrive at slightly different times, are deflected in slightly different angles in the vertical direction, and enter the MCP (micro-channel plate). As the electrons pass the MCP, they are multiplied several thousands of times, after which they impact against the phosphor screen, where they are converted again into light. On the phosphor screen, the phosphor image corresponding to the (5) (4) optical pulse which was the earliest to arrive is placed in the uppermost position, with the other images being arranged in sequential order from top to bottom, in other words, the vertical direction on the phosphor screen serves as the time axis. Also, the (6) images is proportional to the brightness of the various phosphor intensity of the respective incident optical pulses. The position in the horizontal direction of the phosphor image corresponds to the horizontal location of the incident light. In this way, the streak camera can be used to convert changes in the Spettrometro Streak camera temporal and spatial light intensity of the light being measured into an image showing the brightness distribution on the phosphor screen. We can thus find the optical intensity from the phosphor image, and the time and incident light position from the location of the phosphor image. Figura .: apparato sperimentale per misure di fotoluminescenza risolta in tempo. SWEEP CIRCUIT TRIGGER SIGNAL SWEEP ELECTRODE STREAK IMAGE ON PHOSPHOR SCREEN LENS LIGHT INTENSITY TIIME TIME SPACE SLIT PHOTOCATHODE ACCELERATING MESH MCP PHOSPHOR SCREEN SPACE Fig.1 Operating Principle of the Streak Tube Figura .: schema di funzionamento di una streak camera. In seguito, una lente focalizza il fascio laser su un’area del campione () il cui raggio PHOSPHOR IMAGE TRIGGER SIGNAL è ∼ µm. Qui si SWEEP ha l’emissione della radiazione di luminescenza, che viene raccolta VOLTAGE e collimata da una lente posta a distanza focale. Un filtro () taglia la radiazione laser trasmessa per evitare che raggiunga gli strumenti, danneggiandoli. Una lente focalizza il fascio luminoso sulla fenditura d’ingresso di uno spettrometro accoppiato ad una streak camera . PHOSPHOR SCREEN INCIDENT LIGHT SPACE Fig.2 Operation Timing (at time of sweep) 3.3.1 Streak camera La streak camera è uno strumento che permette di misurare fenomeni luminosi ultraveloci e fornisce informazioni sull’intensità in funzione del tempo e della posizione (o della lunghezza d’onda). Il funzionamento dello strumento è illustrato schematicamente nella figura .. Hamamatsu C 3 accelerated and bombarded against a phosphor screen. As the electrons produced from the four optical pulses pass between a pair of sweep electrodes, high voltage is applied to the sweep electrodes at a timing synchronized to the incident light (see Fig. 2). This initiates a high-speed sweep (the electrons are swept from top to bottom). During the high-speed sweep, the electrons, which arrive Capitolo . Tecniche sperimentali at slightly different times, are deflected in slightly different angles in the vertical direction, and enter the MCP (micro-channel plate). horizontal direction of the phosphor image corresponds to the horizontal location of the incident light. In this way, the streak camera can be used to convert changes in the temporal and spatial light intensity of the light being measured into an image showing the brightness distribution on the phosphor screen. We can thus find the optical intensity from the phosphor image, and the time and incident light position from the location of the phosphor image. In figura sono mostrati quattro impulsi luminosi, ciascuno con una propria intenSWEEP CIRCUIT TRIGGER SIGNAL SWEEP STREAK IMAGE ON sità, posizione e tempo di emissione, che si intendono misurare. La luce incontra una ELECTRODE PHOSPHOR SCREEN LENS fenditura orizzontale di ampiezza regolabile e attraversa un sistema ottico per poi inciLIGHT fotocatodo. Qui viene emesso per effetto fotoelettrico esterno un numero di dere su un INTENSITY TIIME TIME SPACE elettroni proporzionale all’intensità della radiazione. Il fascio di fotoelettroni SPACE attraverSLIT PHOSPHOR PHOTOCATHODE ACCELERATING MESH MCP SCREEN sa poi un campo elettrico variabile nel tempo e sincronizzato con il segnale luminoso Fig.1 Operating Principle of the Streak Tube per mezzo di un fotodiodo, come illustrato in maggiore dettaglio nella fig. .. PHOSPHOR IMAGE TRIGGER SIGNAL SWEEP VOLTAGE PHOSPHOR SCREEN INCIDENT LIGHT SPACE Fig.2 Operation Timing (at time of sweep) Figura .: segnale di trigger di una streak camera. 3 Il fascio elettronico viene così deflesso istante per istante ad un angolo leggermente diverso e, dopo essere stato sottoposto ad intensificazione attraverso un microchannel plate (par. A..), spazza dall’alto verso il basso uno schermo di fosfori al quale è accoppiata la matrice CCD che si utilizza come rivelatore. L’immagine risultante contiene sull’asse orizzontale l’informazione spaziale, su quello verticale il profilo temporale e in ciascun pixel l’informazione sull’intensità. Essendo l’ingresso della streak camera accoppiato alla fenditura d’uscita di uno spettrometro a reticolo, la luce risulta dispersa in lunghezza d’onda e l’immagine contiene sull’asse orizzontale il profilo spettrale. Il principio di funzionamento è illustrato nella figura .. La figura . mostra più nel dettaglio lo schema di funzionamento del sistema. Non è rappresentato il sistema di dispersione in lunghezza d’onda perché lo schema è valido anche nel caso più generale in cui si voglia analizzare l’informazione spaziale. In aggiunta a quanto si è già detto, si può notare il fotodiodo () che, all’arrivo dell’impulso luminoso, genera il segnale di trigger che sincronizza la scansione del campo elettrico. Hamamatsu CCD Camera C- Figura .: accoppiamento tra il reticolo di diffrazione di uno spettrometro e la fenditura d’ingresso di una streak camera. Definitions of Terms Capitolo . Tecniche sperimentali Time Characteristic / Unit / Gate / Trigger • Temporal Resolution • Dynamic Range This is the boundary of the resolution which distinguishes between two events which are consecutive in terms of time. In HAMAMATSU catalogs, the temporal resolution is defined as the FWHM (full width at half maximum) of the intensity of the streak image in relation to an incident light pulse whose temporal width (pulse width) can be Figura .: schema a blocchi di un sistema basato su streak camera. infinitely close to but not equal to zero. This indicates the light intensity the streak camera. In this book dynamic range is specified as th be measured, instead of the no been used to define the dynam between the strongest pulse and input/output linearity ( γ = 1) is tak speaking, there is a tendency for as the temporal resolution improve TEMPORAL RESOLUTION STREAK IMAGE TIME • Trigger Delay 0 1/2 1 In order to obtain a streak ima screen, the trigger signal has t incident light. The trigger delay i timing. LIGHT INTENSITY • Trigger Jitter Fig. 4 Temporal Resolution Figura .: determinazione della risoluzione temporale di una streak camera. When a phenomenon is being rep images are being summed), the • Picosecond (ps) / Femtsecond (fs) phosphor screen jumps slight One picosecond equal streak to one-trillionth second (10–12temporale second). perché Un importante parametrois della camera èoflaa risoluzione in- because of fluctuation repeated, Light in vacuum travels 0.3 mm in a picosecond. One femtosecond circuit and other factors. This fluc dica il limiteisentro quale due consecutivi possono essere distinti equalilto 1/1000 th eventi of a picosecond (1/one thousand trillionth of aed è definita one element which limits the temp second, or 10–15 second). come la larghezza temporale a metà altezza del segnale di rivelazione di un impulso be a particular problem with hig del tipo delta• di Dirac. Gate sweeps, the trigger jitter is lower ignored.) The trigger jitter is determined by of a single pulse and the FWHM w AVERAGE FWHM OF A SING 44 ps TIME This is an operation carried out in order to render the streak camera temporarily insensitive. If light positioned before and after the light in the field being measured is allowed to enter streak camera, the photoelectrons produced by 3.4 Spettroscopia ditheassorbimento transiente that light will be scattered and multiplied inside the streak tube, causing optical noise to appear on top of the actual streak image, and lowering the S/N of the streak image.anche In order to prevent La spettroscopia di assorbimento transiente, detta pump this andproblem, probe, permette di the streak camera is equipped with a cathode gate which blocks the osservare la dinamica dei processi Il campione vienegate sottoposto ad photoelectrons produceddionassorbimento. the photocathode and an MCP which stops from being the MCP. eccitazione risonante daelectrons un impulso dettomultiplied pump, diindurata breve rispetto ai tempi di AVERAGE FWHM OF 100 PULSES SUMMED TOGE 53 ps vita dei livelli del materiale. dinamica dell’assorbimento del campione • Gate ExtinctionL’evoluzione Rate This is the ratioè ofricostruita the phosphor screen brightness when the gate is della train seguito all’eccitazione misurando la variazione temporale open and when it is closed, in relation to incident light which is smittanza diconstant un impulso di of sonda, in terms time. detto probe. L’apparato sperimentale è mostrato Fig. 5 Determ schematicamente nella figura . Sweep Method / Measurement Method La sorgente è l’amplificatore rigenerativo al Ti:zaffiro descritto nelle sez. . e A... Attraverso uno specchio semitrasparente () una parte del fascio viene focalizzata alSingle-Sweep l’energia di ∼• 1µJ per impulso su una lamina di zaffiro () di circa mm di spessore, Essentially, this term comes from the fact that only one sweep is frequency, but it must be an integ generando impulsi luce bianca supercontinua il cui spettro comprende il visibile e il involved (a single shot). In this booklet and in HAMAMATSU the sweep frequency. The tem catalogs, wefrazione use the del termfascio to refer to any sweep ranging vicino IR (par. A..).however, Un’altra viene fatta incidere su un cristalseveral hundred ps to 2 ns or 3 n from a single shot to sweeps with a repetition rate of up to tens of lo di BBO (),kHz. cheThe genera la seconda armonica nm. measurement range which della coversradiazione this sweepamethod is I due fasci from 60 ps to 10 ms. A ramp voltage is applied to the deflection (sweep) electrodes during the sweep. (see Fig. 6) • Synchroscan This refers to a high-speed repeated sweep in which a highfrequency sinewave voltage is applied to the deflection electrodes (see Fig. 6). By synchronizing the repeated sweep frequencies, streak images can SWEEP VOLTAGE D PL ELECTRON IMAGE PATH LENS Capitolo . Tecniche sperimentali (1) (2) (3) 780 nm continuo (4) (5) (6) 390 nm probe Chopper driver pump (7) (8) Spettrometro CCD Figura .: rappresentazione schematica dell’apparato sperimentale per misure di assorbimento transiente. attraversano i filtri () e () che tagliano la radiazione trasmessa alla frequenza fondamentale del laser. Gli impulsi così ottenuti vengono utilizzati rispettivamente come probe e come pump. I due fasci vengono fatti convergere su uno stesso punto del campione. Il diametro del pump è considerevolmente maggiore di quello del probe, in modo che il sondaggio avvenga su un’area uniformemente fotoeccitata. L’arrivo del probe sul campione viene ritardato rispetto a quello del pump per mezzo di un sistema mobile di specchi () che ne varia la lunghezza del cammino ottico. Sul cammino ottico del pump viene posto un chopper rotante alla frequenza di Hz in sincronia con gli impulsi di eccitazione. Il segnale è poi focalizzato sulla fenditura di ingresso di uno spettrometro accoppiato con una camera CCD . La grandezza misurata è la variazione della trasmittanza del campione alla lunghezza d’onda del probe probe in funzione del ritardo τ = ∆s/c. Si definisce trasmittanza differenziale la quantità: Acton SpectraPro i Andor Newton EM Capitolo . Tecniche sperimentali Figura .: esempio di spettrogramma. T − T0 ∆T (τ ) = T T0 (.) dove T0 è la trasmittanza del campione non eccitato e T la trasmittanza del campione eccitato. Il sistema di pilotaggio del chopper (chopper driver) comunica lo stato di chiusura o apertura al sistema di acquisizione, il quale calcola la trasmittanza differenziale e ne rappresenta le caratteristiche spettrali e temporali in una matrice bidimensionale in falsi colori, o spettrogramma. 4 | Risultati e conclusioni Il capitolo riporta i risultati delle misure di spettroscopia di fotoluminescenza risolta in tempo e assorbimento transiente. 4.1 Assorbimento lineare UV/Vis/NIR Preliminarmente alle misure di spettroscopia ultraveloce, si è proceduto a quelle di spettroscopia di assorbimento UV/Vis/NIR. I risultati sono mostrati in fig. .. Le transizioni osservate sono di tipo eccitonico; il raggio dei quantum dot è significativamente inferiore al raggio di Bohr e il regime è quello di confinamento quantistico forte per le ragioni esposte nel cap. . I picchi possono essere identificati con gli stati eccitonici nanocristallini riportati in tab. .. 0.5 Inorganico, film Inorganico, colloidale Organico, colloidale 472 nm Assorbanza (u. a.) 0.4 0.3 581 nm 543 nm 0.2 0.1 0.0 400 450 500 550 600 Lunghezza d'onda (nm) 650 700 Figura .: spettri di assorbanza dei campioni. 750 Capitolo . Risultati e conclusioni Lunghezza d’onda nm nm nm Transizione S3/2 Se S3/2 Se P3/2 Pe Tabella .: transizioni elettroniche corrispondenti agli stati eccitonici osservati negli spettri di assorbimento lineare UV/Vis/NIR. Figura .: andamento sperimentale della posizione del primo picco eccitonico in funzione della taglia dei nanocristalli. La serie di dati rappresentata con i punti è di derivazione sperimentale. La linea continua rappresenta il fit di tale serie di dati, il cui risultato è la rel. .. La posizione spettrale del primo picco eccitonico permette di risalire alla taglia dei nanocristalli secondo la curva sperimentale mostrata in fig. .. La dimensione delle particelle può essere determinata sfruttando la relazione empirica risultante dal fit dei dati sperimentali: D = 1, 6122·10−9 ×λ4 −2, 6575·10−6 ×λ3 + 1, 6242·10−3 ×λ2 −0, 4277×λ + 41, 57 (.) dove D è il diametro in nanometri della particella e λ è la lunghezza d’onda in nanometri del primo picco eccitonico. Per λ = 581 nm, da cui si ottiene D = 3, 9 nm. La posizione dei picchi eccitonici non varia, in buona approssimazione, nei tre campioni. Essendo i nanocristalli derivanti dallo stesso processo di sintesi, questo è indicativo del fatto che la loro dimensione non subisce alterazioni durante lo scambio di legante. Per lo stesso motivo, il sostanziale allargamento dei picchi eccitonici dei nanocristalli con passivazione inorganica non è consistente con l’ipotesi di una più elevata dispersione in taglia quanto, piuttosto, con quella di una maggiore presenza di trappole superficiali. Il lieve spostamento verso il rosso osservabile nel campione in film, è Capitolo . Risultati e conclusioni compatibile con il rafforzamento dell’accoppiamento elettronico tra i singoli nanocristalli, o conversamente con un’indebolimento del regime di confinamento, sulla base di quanto discusso nelle sez. . e . Il raggio del nanocristallo può essere sfruttato per ricavare la sezione d’urto di assorbimento secondo la relazione: σ = 1, 6 · 10−16 [R(nm)]3 = 1, 14 · 10−15 cm2 4.2 (.) Fotoluminescenza risolta in tempo L’eccitazione del campione è stata effettuata facendo incidere il fascio su un’area di raggio r = µm al tasso di ripetizione f = Hz, ad una potenza P . Il flusso φ dei fotoni può essere calcolato tramite la relazione: φ= P f · πr 2 · Eph (.) dove l’energia del fotone è Eph = hc/λ = , eV per λ = nm. Il numero medio hN i di eccitoni iniettati in ciascun nanocristallo da ciascun impulso laser si può calcolare sfruttando la sezione d’urto di assorbimento ricavata dalla rel. .: hN i = σ · φ (.) Poiché l’assorbimento dei fotoni segue la statistica di Poisson, la probabilità P (n) di trovare n eccitoni in ciascun nanocristallo è: P (n) = hN in e−hN i n! (.) e tale relazione fornisce i valori mostrati in tab. .. Il rapporto P ()/P () raggiunge il % già a P = µW. Ciò si riflette sull’andamento dei profili temporali di luminescenza per potenze di eccitazione via via crescenti, mostrati nella figura .. Si può osservare una sensibile differenza qualitativa, caratteristica dell’aumento della popolazione di nanocristalli che contiene due eccitoni. Ad elevate densità di eccitazione (N > 1) si assiste ad alterazioni delle dinamiche di ricombinazione dovute all’effetto Auger multiparticellare. Si tratta di un canale di Capitolo . Risultati e conclusioni P (µW) , hN i , , , , , , P ()/P () , , , , , , Tabella .: numero medio di eccitoni per nanocristallo e rapporto tra le popolazioni bi- e monoeccitoniche a diverse potenze di eccitazione. ricombinazione non radiativa elettrone–buca nel quale l’energia non viene emessa sotto forma di fotone ma trasferita ad un elettrone o una buca. Come descritto nel par. .., il processo consiste in una successione quantizzata di ricombinazioni degli eccitoni multipli e l’andamento temporale è del tipo: hN (t )i = N X Ai e−t/τi (.) i =1 ovvero una somma di esponenziali decrescenti. Le ampiezze Ai aumentano assieme alla probabilità di trovare n eccitoni in un nanocristallo – e quindi con la potenza di eccitazione. I tempi di decadimento, invece, hanno una dipendenza τi ∼ n−2 e il decadimento è tanto più breve quanto più alto è il numero di eccitoni. A basse densità di eccitazione si ha P (n > 1) P (1) e i contributi alla . per i > sono trascurabili. In questo regime non si osserva una variazione del profilo di decadimento all’aumentare della potenza, come mostrato nella fig. .. La figura . compara il decadimento temporale a bassa densità di eccitazione per i due campioni. Si osserva un primo decadimento iniziale veloce (qualche centinaio di ps) dovuto a trappole di superficie. Tale fenomeno giunge presto a saturazione nel caso del legante organico, mentre continua più a lungo nel campione con legante inorganico. Tale comportamento è attribuibile a un maggior numero di trappole di superficie che peggiorano l’efficienza dei processi di ricombinazione delle cariche per un tempo maggiore, a discapito dei fenomeni di fotoluminescenza. Non è stata osservata alcuna fotoluminescenza sul campione in film. Questo comportamento è compatibile con l’ipotesi di un solido conduttivo, ovvero riconducibile alla delocalizzazione delle funzioni d’onda dei portatori di carica permessa dai complessi di calcogenuri metallici nei solidi di nanocristalli. I portatori fotoeccitati sono liberi di muoversi all’interno del solido, accedendo a meccanismi di ricombinazione veloci di carattere non radiativo, in particolare la cattura da parte di trappole. Capitolo . Risultati e conclusioni Intensità di PL normalizzata (u. a.) 1 1,6 µW - N = 0,05 16 µW - N = 0,47 46 µW - N = 1,35 115 µW - N = 3,38 300 µW - N = 8,80 9 8 7 6 5 4 3 2 0.1 9 8 7 6 λexc = 390 nm 5 0 Intensità di PL normalizzata (u. a.) 1 5 10 Tempo (ns) 15 1,6 µW - N = 0,05 13 µW - N = 0,38 35 µW - N = 1,02 137 µW - N = 4,02 250 µW - N = 7,34 8 6 4 2 0.1 8 6 4 2 0.01 8 6 4 λexc = 390 nm 0 5 10 Tempo (ns) 15 Figura .: decadimento temporale della fotoluminescenza dei nanocristalli con passivazione organica (in rosso) e inorganica (in verde) in soluzione colloidale per diverse densità di eccitazione. 200 nW 500 nW 1 µW 9 8 7 6 5 4 3 λexc = 390 nm 2 0 1 2 3 Tempo (ns) (a) nW 4 5 1 Intensità di PL normalizzata (u. a.) Intensità di PL normalizzata (u. a.) 1 200 nW 500 nW 1 µW 9 8 7 6 5 4 3 2 0.1 9 8 7 λexc = 390 nm 0 1 2 3 Tempo (ns) 4 5 (b) µW Figura .: decadimento temporale della fotoluminescenza dei nanocristalli a basse densità di eccitazione (hN i < 1). Poiché in questo regime il contributo del decadimento dei bieccitoni è trascurabile, non è osservabile alcuna differenza qualitativa della dinamica di decadimento all’aumentare della potenza di eccitazione. Capitolo . Risultati e conclusioni 1.0 Leg. inorganico Leg. organico Intensità di PL normalizzata (u.a) Intensità di PL normalizzata (u. a.) 1.0 0.8 0.6 0.4 0.2 0.0 λexc = 390 nm 400 0.8 0.6 0.4 0.2 0.0 500 600 Lunghezza d'onda (nm) Leg. organico Leg. inorganico λexc = 390 nm 400 700 500 600 700 Lunghezza d'onda (nm) (a) hN i 1 (b) hN i > 1 Figura .: confronto tra gli spettri di fotoluminescenza dei campioni in soluzione colloidale per diverse potenze di eccitazione. Intensità di PL normalizzata (u. a.) 1 Leg. inorganico, soluzione Leg. organico, soluzione 9 8 7 6 5 4 3 2 0.1 λexc = 390 nm Pexc = 1 µW 9 8 7 0 1 2 3 Tempo (ns) 4 5 Figura .: confronto tra i profili di decadimento dei campioni con diverso legante alla stessa densità di eccitazione. 4.3 Assorbimento transiente Gli spettri di assorbimento transiente sono stati ottenuti per mezzo di impulsi laser di sonda lunghi circa fs di luce bianca con spettro continuo tra i e nm generati come descritto nel par. .. La fig. . mostra l’andamento temporale degli spettri di assorbimento transiente per i tre campioni con un esempio di differenza tra due scale temporali. Si è ottenuta una sensibilità del sistema sulle misure di ∆T /T pari a ∼ 1 · 10−4 per P = 1µW e ∼ 1 · 10−3 per le rimanenti, in virtù delle differenti modalità di acquisizione (tab. .). La fig. . mostra gli spettri di trasmissione differenziale per diverse densità di eccitazione dei tre campioni, così come misurati con l’apparato sperimentale descritto Capitolo . Risultati e conclusioni (a) Legante organico, soluzione (b) Legante inorganico, soluzione (c) Legante inorganico, film (d) Legante inorganico, film Figura .: spettrogrammi a confronto per basse densità di eccitazione (P = µW, N = ,). P (µW) > N P S ∼ 10−4 ∼ 10−3 Tabella .: modalità di acquisizione degli spettrogrammi di assorbimento transiente. L’intervallo temporale di interesse è stato suddiviso in P punti, per ciascuno dei quali sono stati acquisiti N spettri sui cui calcolare una media, determinando una sensibilità S sul ∆T /T . nella sez. .. Si è tuttavia preferito analizzare i risultati in termini di assorbanza differenziale ∆A/A. Essendo l’assorbimento A = 1 − T , trascurando fenomeni di riflessione e diffusione si ottiene: 1 − A(λ) ∆A ∆T (λ) = − (λ) A T A(λ) (.) La fig. . mostra gli spettri di assorbimento transiente a bassa densità di eccitazione (N 1) mediati sui ps immediatamente successivi all’impulso di pompa comparati Capitolo . Risultati e conclusioni 0.15 1 µW - N = 0,02 10 µW - N = 0,2 λpump = 390 nm ∆T/T 0.10 0.05 0.00 450 500 550 600 650 Lunghezza d'onda (nm) 3x10 -2 1 µW - N = 0,02 10 µW - N = 0,2 λpump = 390 nm ∆T/T 2 1 0 450 500 550 600 650 Lunghezza d'onda (nm) 8x10 -2 1,5 µW - N = 0,03 15 µW - N = 0,3 65 µW - N = 1,3 λpump = 390 nm ∆T/T 6 4 2 0 450 500 550 600 650 Lunghezza d'onda (nm) Figura .: spettri di trasmissione differenziale per diverse densità hN i di eccitazione. Capitolo . Risultati e conclusioni 450 500 550 600 Leg. organico, soluzione - 1 µW Leg. organico, soluzione - UV/Vis X0 X1 X2 X0 5x10 650 1S3/21Se 2S3/21Se 1P3/21Pe 0.4 -2 0.2 Y0 X2 X1 0 4x10 0.0 Y2 Leg. inorganico, soluzione - 1 µW Leg. inorganico, soluzione - UV/Vis -2 X0 -Δα/α 2 Y2 0 Assorbanza 0.1 X1 0.0 X2 Leg. inorganico, film - 1 µW Leg. organico, film - UV/Vis X0 1x10 0.2 -2 X2 X1 0 450 500 550 0.0 600 650 Lunghezza d'onda (nm) Figura .: comparazione tra gli spettri di assorbimento transiente e assorbimento lineare. con gli spettri di assorbimento lineare mostrati nella sez. .. 4.3.1 Segnali di bleaching e dinamiche elettroniche In fig. . è visibile il bleaching delle transizioni S3/2 Se e S3/2 Se . Come visto nel par. .., le variazioni nell’assorbimento introdotte dai portatori fotoeccitati sono dovute al fenomeno dello state filling. L’efficienza del riempimento degli stati è inversamente proporzionale alla densità degli stati, che a sua volta è proporzionale alla massa Capitolo . which the electrons may be in states such as 1S + + 2S, or 1S + 1P + 2S. While pumping at 475 nm doe only electron relaxation, it does not directly monit ation from the 1P state to the 1S state. Pumping at !3.1 eV" will furthermore produce electrons in a 2S eral other states. In this case, the signals will reflect tial dynamics and the measured time constants wil rectly reflect the transitions of interest. The m dynamics in principle reflect a sum of several p which should be modeled as step functions, expo and nonexponentials. The parameters of such a mode furthermore, be size dependent. Thus, the time cons pumping at 475 or 400 nm do not directly reflect relaxation from 1P to 1S with state-to-state specificit state-to-state electron dynamics can still be obtain femtosecond precision by using subtractive proced cussed in Sec. IV C. from overlapping transitions. The relation between the bleaching signals and electron dynamics can be made by considering the excitations at these wavelengths. There are four permutations of excitonic states which can be monitored at these wavelength combinations, Risultati !see e conclusioni Fig. 3". In all four situations, the electron remains in its lowest energy 1S state. Under these spectroscopic conditions, FIG. 3.elettroniche Selected transitions relevant nel to evaluating state-to-state Figura .: transizioni coinvolte bleaching osservabile in spettri di B. Induced absorptions and hole dynamics electron and hole dynamics. The solid line corresponds to the assorbimento transiente a bassa densità di eccitazione. La linea continua corrisponde While the bleaching features directly reflect pumped transition and the dashed line corresponds to the probed alle transizioni in transition. assorbimento, la linea tratteggiata alle transizioni sondate dal fascio dynamics, the absorptive features can be used to pr di probe. 235328-4 X X Transizione S3/2 Se S3/2 Se Leg. organico, sol. nm nm Leg. inorganico, sol. nm nm Leg. inorganico, film nm nm Tabella .: posizione spettrale delle righe di bleaching. efficace – nel CdSe si ha m∗h /m∗e ≈ 6. Lo state filling è ulteriormente inibito dal fatto che le buche sono termicamente distribuite su un quasi-continuo di livelli. Tutto ciò fa sì che il segnale di assorbimento transiente sia dominato dalle dinamiche elettroniche, mentre è affetto in misura trascurabile da quelle di buca. La fig. . mostra le possibili combinazioni di assorbimento e sonda nelle transizioni elettroniche coinvolte. In tutte le quattro situazioni, l’elettrone si trova a stare nel livello S più basso. In queste condizioni il transiente di bleaching è indipendente dallo stato della buca e per questo motivo è possibile osservarlo per entrambe le transizioni pur a bassa densità di occupazione. Il picco X non è invece riconducibile a un bleaching della transizione P3/2 Pe perché a queste densità di occupazione la popolazione elettronica promossa al secondo livello eccitato è trascurabile, come osservabile da tab. .. È piuttosto riconducibile all’assorbimento della transizione P3/2 Pe in assenza di eccitazione, come confermato dalla comparsa del corrispondente assorbimento fotoindotto Y, di pari area e spostato verso il rosso per effetto Stark. Lo spostamento verso il rosso di circa nm dei picchi nel campione in film è attribuibile ad un indebolimento del confinamento quantico. Infatti il (NH4 )AsS3 , come discusso nella sez. . e nel par. .., agevola la sovrapposizione tra funzioni d’onda tra portatori confinati in nanocristalli adiacenti e quindi la formazione di stati delocalizzati. Questo si traduce in una minore entità dello spostamento verso il blu (sez. .) rispetto all’energia di gap del CdSe bulk (, eV, ovvero nm). Le dinamiche elettroniche possono essere valutate estraendo i profili temporali alle lunghezze d’onda di X e X, mostrati in fig. .. Le due righe, come mostrato in fig. ., sono relative a transizioni verso lo stesso livello elettronico S e presentano Capitolo . Risultati e conclusioni 1.0 ∆T/T norm. 0.8 0.6 0.4 0.2 X0 X1 0.0 0 100 X0 X1 200 300 0 100 X0 X1 200 300 0 100 200 300 Tempo (ps) (a) Leg. organico, soluzione (b) Leg. inorganico, soluzione (c) Leg. inorganico, film Figura .: profilo temporale normalizzato dell’assorbimento differenziale alle lunghezze d’onda di bleaching nei tre campioni. L’andamento è analogo per due righe di uno stesso campione. un decadimento simile nello stesso campione. Il fatto che due diversi stati eccitonici relativi allo stesso stato elettronico producano identiche dinamiche pur coinvolgendo diversi stati di buca conferma che solo gli elettroni contribuiscono al segnale di bleaching delle transizioni interbanda (par. ..). La dinamica dell’elettrone risulta quindi sostanzialmente indipendente dallo stato eccitonico coinvolto. L’osservazione del decadimento di X in fig. . mostra che le trappole introdotte nello scambio di legante riguardano prevalentemente le buche. Il profilo pressoché piatto dei campioni in soluzione – e in particolar modo di quello con passivazione inorganica – indica che gli elettroni permangono nello stato eccitato per centinaia di nanosecondi. Con la formazione di un film conduttivo, la possibilità per i portatori liberi di ricombinarsi non necessariamente nel nanocristallo in cui sono stati creati porta ad una drastica riduzione dei tempi di spopolamento. Analoghe considerazioni possono essere fatte sull’identico comportamento di X. 4.3.2 Segnali di assorbimento fotoindotto I segnali di assorbimento fotoindotto sono stati contrassegnati, ove presenti, con la lettera Y in fig. . e numerati in ordine crescente con l’energia. Il campione organico presenta assorbimento fotoindotto dalle transizioni S3/2 Se e P3/2 Pe alle posizioni Y e Y, spostate verso il rosso rispetto ai rispettivi picchi di assorbimento lineare per effetto Stark dovuto ai portatori di carica fotoeccitati (sez. ... Non è invece identificabile l’assorbimento Y relativo alla transizione S3/2 Se . In linea di principio ci si aspetterebbe che fosse visibile perché la transizione non è saturata e può ancora assorbire per almeno una delle due combinazioni di spin quando si eccita non più di Capitolo . Risultati e conclusioni ∆T/T normalizzata (u. a.) λexc = 390 nm Pexc = 1 µW X2 - Legante inorganico, colloidale X2 - Legante inorganico, film X2 - Legante organico, colloidale -2 1.49x10 X0 - Legante inorganico, colloidale X0 - Legante inorganico, film X0 - Legante organico, colloidale 0 50 100 150 200 Tempo (ps) 250 300 350 Figura .: decadimento della banda di bleaching X. un elettrone in ciascun nanocristallo. Il segnale non è visibile perché sovrapposto alle intense bande di bleaching X e X. Lo stesso ragionamento si può applicare allo spettro del campione passivato con legante inorganico. Nel caso dei nanocristalli in soluzione, l’allargamento dei picchi fa sì che il solo Y sia visibile. Nel caso del film, il segnale è inferiore alla sensibilità della misura. 4.4 Conclusioni e prospettive Questo lavoro di tesi si è concentrato sulle proprietà ottiche dei nanocristalli colloidali in fase di soluzione e in fase di solido, con particolare attenzione verso l’influenza della natura legante di passivazione sulle dinamiche dei portatori di carica fotoeccitati. L’obiettivo è verificare che le tecniche di realizzazione di solidi di nanocristalli passivati con complessi di calcogenuri metallici consentano di: • preservare le proprietà ottiche dei nanocristalli individuali; • non introdurre una quantità di trappole di superficie che deteriori l’efficienza di interazione con la radiazione; Capitolo . Risultati e conclusioni • realizzare solidi in cui i nanocristalli siano separati da barriere di potenziale sufficientemente basse da consentire la formazione si bande di conduzione delocalizzate nel cristallo, cioè passare da una conduzione per hopping ad una conduzione per bande. Tramite tecniche di spettroscopia ottica ultraveloce si è osservato che le procedure di scambio di legante preservano la struttura eccitonica dei nanocristalli, seppur producendo un allargamento dei picchi di assorbimento dovuto alle trappole di superficie. Risulta preservata anche la fotoluminescenza dei nanocristalli in soluzione. In questo caso, la presenza di trappole ha mostrato un’influenza sul tempo di decadimento. Si sono rivelate alterazioni delle proprietà optoelettroniche dei nanocristalli in fase solida, evidenziando modalità di interazione della materia con la radiazione compatibili con l’ipotesi di un solido conduttivo. In particolare, si è rilevato uno spostamento verso il rosso degli spettri di assorbimento per via dell’indebolimento del regime di confinamento quantico causato dalla parziale delocalizzazione delle cariche sul film. Le future direzioni dello studio includono misure elettriche delle proprietà di trasporto di carica, quali ad esempio di conducibilità e fotoconducibilità; sperimentazione di nuovi materiali nella realizzazione del nanocristallo le cui proprietà ottiche cadano in altre porzioni dello spettro UV/Vis/NIR; sintesi di leganti di superficie basati su diversi complessi di calcogenuri metallici; realizzazione di dispositivi basati su solidi di nanocristalli. A | Elementi di ottica A.1 Interazione radiazione-materia Si considerino due livelli energetici abitrari E1 e E2 di un materiale, con E1 < E2 . A.1.1 Emissione spontanea Se il sistema si trova al livello E2 può decadere al livello E1 emettendo l’energia E1 − E2 sotto forma di un fotone di frequenza ν0 = (E2 − E1 )/h. Il processo è detto emissione spontanea. Il tasso di variazione della popolazione N2 del livello E2 può essere scritto come: dN2 dt !sp = −AN2 (A.) 21 dove A è detto coefficiente di Einstein di emissione spontanea e dipende dalle caratteristiche della transizione considerata. Se il sistema rilascia l’energia in una forma diversa da quella della radiazione elettromagnetica si parla di decadimento non radiativo. A.1.2 Emissione stimolata Se il sistema si trova al livello E2 e viene investito da un’onda elettromagnetica di frequenza ν = ν0 , ovvero corrispondente a quella della transizione elettronica tra i due livelli, l’atomo può essere spinto a decadere al livello E1 per emissione di un fotone di frequenza ν0 nella stessa direzione e in fase con la radiazione incidente e il processo è detto emissione stimolata. Il tasso di variazione della popolazione N2 del livello E2 può essere scritto come: dN2 dt !st = −W21 N2 21 (A.) Appendix A. Elementi di ottica Figura A.: rappresentazione schematica dei tre processi di (a) emissione spontanea, (b) emissione stimolata e (c) assorbimento. dove W21 è detto coefficiente di Einstein di emissione spontanea e vale: W21 = σ21 F (A.) dove F è il flusso di fotoni della radiazione incidente e σ21 la sezione d’urto di emissione stimolata, la quale dipende dalle caratteristiche della transizione considerata. A.1.3 Assorbimento Se il sistema si trova al livello E2 e viene investito da un’onda elettromagnetica di frequenza ν = ν0 ed effettua una transizione al livello E2 assorbendo l’energia del fotone incidente si parla di processo di assorbimento. Il tasso di variazione della popolazione N1 del livello E1 può essere scritto come: dN1 dt !ass = −W12 N1 (A.) 12 dove W21 è detto coefficiente di Einstein di assorbimento e vale: W12 = σ12 F (A.) dove F è il flusso di fotoni della radiazione incidente e σ12 la sezione d’urto di assorbimento, la quale dipende dalle caratteristiche della transizione considerata. Si può dimostrare che se i livelli E1 e E2 sono g1 e g2 volte degeneri rispettivamente, si ha: g2 W21 = g1 W12 (A.) Appendix A. Elementi di ottica Figura A.: variazione elementare dF del flusso di fotoni F per un’onda elettromagnetica piana che percorre una distanza dz attraverso il materiale. A.1.4 Emissione laser Siano N1 e N2 le rispettive popolazioni dei livelli E1 e E2 . Se un’onda piana con un flusso di fotoni F viaggia nella direzione z nel materiale, la variazione infinitesima dF del flusso in un infinitesimo di percorso dz è dovuta ai processi di assorbimento ed emissione che avvengono nella porzione di materiale ombreggiata in fig. A.. Se S è l’area del materiale attraversata dal fascio, il numero di fotoni che attraversano il volume per unità di tempo varia di una quantità SdF. Dalle eqq. A. e A. si può scrivere SdF = (W21 N2 − W12 N1 )(Sdz ) e dalle eqq. A., A. e A. si ottiene: !# " g2 N1 dz dF = σ21 F N2 − g1 (A.) Nella A. non si è tenuto conto dei decadimenti radiativi e non radiativi. Infatti il decadimento non radiativo non aggiunge nuovi fotoni mentre i fotoni creati per decadimento radiativo sono emessi in tutte le direzioni e danno un contributo trascurabile al flusso. Secondo la A. il materiale si comporta come un amplificatore (dF/dz > 0) se N2 > g2 N1 /g1 mentre si comporta da assorbitore se N2 < g2 N1 /g1 . All’equilibrio termico, le popolazioni sono descritte dalla statistica di Boltzmann, quindi se N1e e N2e sono le popolazioni di equilibrio termico dei due livelli: N2e g2 E2 − E1 = exp − N1e g1 kT (A.) dove k è la costante di Boltzmann e T la temperatura assoluta del materiale. All’equilibrio termico abbiamo quindi N2e < g2 N1e /g1 e il materiale si comporta come un assorbitore alla frequenza ν0 . Se N2e > g2 N1e /g1 si è in una condizione di non equilibrio detta inversione di popolazione. Il materiale in cui tale condizione viene prodotta è detto mezzo attivo. 236 5. Lasers as Spectroscopic Light Sources Appendix A. Elementi di ottica Figura A.: cavità risonante. Fig. 5.1. (a) Schematic setup of a laser and (b) population inversion (dashed curve), comwith a Boltzmann at thermal equilibrium da (solid Un laser, mostratopared schematicamente in fig.distribution A. è formato essenzialmente tre curve) componenti: passing through this active medium is amplified instead of being attenuated to una (3.22). • un mezzo attivo according che amplifica radiazione elettromagnetica incidente; The function of the optical resonator is the selective feedback of radiation Above a certain di popolazione; pump threshold this feedback converts the laser amplifier into a laser oscillator. When the resonator is able to store the EM energy of induced emission • una cavità risonante, composta da due specchi di riflettività R1 eenergy R2 tra i density quali è ρ(ν) may become within a few resonator modes, the spectral very large. This enhances the induced emission into these modes since, acposto il mezzo attivo. cording to (2.22), the induced emission rate already exceeds the spontaneous rate for ρ(ν) > hν. In Sect. 5.1.3 we shall see that this concentration of inL’eccitazione iniziale del mezzo attivointo provoca emissione spontanea. La radiazione duced emission a small number of modes can be achieved with open which act as spatially selective frequency-selective optical filemessa viene riflessa resonators, dagli specchi, attraversando più volte la cavitàand risonante. Per ters. la rel. A., il guadagno per ciascun passaggio della radiazione nel mezzo attivo di • una radiazione di pompa from che eccita mezzo molecules attivo per raggiungere l’inversione emitted the ilexcited of the active medium. lunghezza L è: 5.1.2 Threshold Condition WhenG a= monochromatic wave ν travels in the z-diexp {σ21 [N2 − (g2 NEM L} with the frequency (A.) 1 /g1 )] rection through a medium of molecules with energy levels Ei and E k and (E k − E i )/h = ν, the intensity I(ν, z) is, according to (3.23), given by Si può dimostrare che, chiamate con li le perdite della radiazione per ogni singolo passaggio nella cavità risonante, condizione I(ν, z) = la I(ν, 0) e−α(ν)zin, cui il guadagno del mezzo attivo (5.1) compensa le perdite in cavità è che l’inversione di popolazione N = N2 − (g2 N1 /g1 ) where the frequency-dependent absorption coefficient raggiunga un valore critico, dato da: α(ν) = [Ni − (gi /gk )Nk ]σ(ν) , [ln R1 R2 + 2 ln 1 − li ] (5.2) Nc = − by the absorption cross section σ(ν) for(A.) is determined the transition (E i → E k ) 2σ21 L and by the population densities Ni , Nk in the energy levels E i , E k with Quando i fenomeni di popolamento (pompaggio ottico) e di svuotamento (emissione stimolata e spontanea) raggiungono una condizione stazionaria, il fascio mantiene la sua intensità costante nel tempo ed emette un fascio di luce coerente, monocromatica Additionally for spectroscopic Appendix A. Elementi di otticapurposes we use two optical parametric amplifiers – TOPAS and TOPAS white. Both amplifiers need high quality pump beam on the input. Pump laser Nd:YLF (527nm) Seed laser (fibre laser at 780nm) Pulse stretcher Regenerative amplifier (RGA) Double pass amplifier (MPA) Compressor Fig. 2 Integra-i layout schematic, 2.5 mJ model [2] Figura A.: rappresentazione schematica dell’amplificatore rigenerativo utilizzato in questo esperimento. 3 Methods of beam’s parameters measurement alla lunghezza d’onda corrispondente alla transizione elettronica interessata, caratte- We need to measure pulse half-width, power output, bandwidth and central wavelength (spectrum analysis) rizzata da un’elevata brillanza ridotto angolo Si parla emissione and pre-pulse and post-pulse contrast eratio. Finally we needsolido to findsotteso. out how beam profiledilooks like. laser, acronimo di Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation. Pulse half-width The most important characteristic of a compressed pulse is a pulse half-width. Because of spatial and temporal optical dispersion, the half-width of stretched, amplified and compressed pulse is longer than the half-width of oscillator pulse. We are able to measure this parameter thanks to the autocorrelation technique [1]. For precise A.2 rigenerativo Ti:zaffiro detectionAmplificatore a single shot autocorrelator set is required, al Fig.3. This measurement is based on non-collinear second-harmonic autocorrelation. As a result we get autocorrelation curve, Fig.4, and correspondent pulse half-width. Un amplificatore rigenerativo è un dispositivo utilizzato per l’amplificazione di impulsi Calibrated pulse halfwidth Delay ottici, solitamente di durata dell’ordine dei picosecondi o femtosecondi. Una rappreline 112fs sentazione schematica del sistema utilizzato in questo esperimento è mostrata in fig. A.. Beam splitter 50% Il sistema è composto da: CCD Camera Second harmonic • una cavità generationrisonante contenente un cristallo di Ti:zaffiro come mezzo attivo; Fig. 3 Autocorrelator scheme Fig. 4 Obtained curve • un laser Nd:YLF pompato da una lampada flash per il pompaggio del cristallo Pulse energy di Ti:zaffiro; The femtosecond pulse energy in Joules can be simply measured with a MOLECTRON EPM 1000 Joulmeter. For Quantronix mean outputIntegra-I power in Watts we also have to check frequency using digital oscilloscope TEKTRONIX. Quantronix Falcon --M Appendix A. Elementi di ottica • un laser di seed per la cavità risonante, operante in regime di mode locking; • un dilatatore e un compressore di impulsi. L’oscillatore di seed produce un treno di impulsi a MHz di fs di durata e mW di potenza a ± nm. Ciascun impulso viene poi espanso temporalmente a ps. Dopodiché, gli impulsi vengono selezionati al tasso di ripetizione di kHZ tramite una cella di Pockels (par. A..) ed entrano nell’amplificatore rigenerativo (RGA). Ciascun impulso compie ∼ passaggi attraverso il mezzo di guadagno e viene poi fatto uscire dalla cavità e inviato ad un secondo stadio di amplificazione (MPA). Il processo di amplificazione ottica segue le modalità già esposte nella sez. A.. Gli impulsi vengono poi compressi temporalmente alla durata di fs e inviati verso l’uscita del sistema. La tecnica di dilatazione, amplificazione e compressione di impulsi per ottenere elevate potenze per impulso va sotto il nome di chirped pulse amplification ed è coperta con maggiore dettaglio nel par. A... A.2.1 Selettore elettro-ottico basato su cella di Pockels Come mostrato in fig. A., un selettore elettro-ottico (o Q-switch) comprende un polarizzatore, una lamina quarto d’onda e una cella di Pockels. Un’alta tensione applicata al cristallo della cella di Pockels cambia le sue caratteristiche di ritardo della polarizzazione, che determina se il Q-switch è aperto (basse perdite) o chiuso (elevate perdite). Quando nessuna tensione è applicata, la cella di Pockels non modifica la polarizzazione della luce che l’attraversa. Il polarizzatore polarizza orizzontalmente la luce che entra nel Q-switch e la lamina quarto d’onda la converte in polarizzazione circolare. Quando la luce polarizzata circolarmente torna dallo specchio ad alta riflettività, la lamina quarto d’onda converte la polarizzazione in verticale. Poiché il polarizzatore trasmette solo la luce polarizzata orizzontalmente, riflette la luce fuori dal risonatore così che la perdita in cavità è elevata. Quando viene applicata una tensione, la cella di Pockels cancella il ritardo della polarizzazione della lamina quarto d’onda, così che la luce rimane polarizzata orizzontalmente e la potenza del fascio risente di perdite minimali. A.2.2 Nd:YLF Il laser è costituito da una cavità e un mezzo attivo (neodimio tre volte ionizzato come drogante di un cristallo di fluoro-litio-ittrio, o YLF) pompato otticamente da una lampada flash. Il livello superiore della transizione è il 4 F3/2 , caratterizzato da un tempo IMRA Femtolite Appendix A. Elementi di ottica Figura A.: rappresentazione schematica del Q-switch. di vita lungo (circa µs). La transizione più probabile è quella verso il livello 4 I11/2 , con l’emissione di un fotone a nm. Ogni volta che la lampada si accende, viene emesso un impulso laser di durata relativamente lunga, circa la stessa del lampo di pompa, e la bassa potenza di picco. Inserendo un dispositivo elettro-ottico (Q-switch, par. A..) nella cavità, la durata dell’impulso viene accorciata e la potenza di picco aumentata drasticamente. Durante il funzionamento Q-switched, la lampada flash eccita gli ioni di neodimio per circa µs per realizzare un’elevata inversione di popolazione. Al punto di massima inversione di popolazione, un rapido impulso di alta tensione applicato alla cella di Pockels cambia il Q-switch dalla modalità di elevata a quella di bassa perdita. La larghezza di impulso risultante è inferiore a ns e la potenza ottica di picco di decine di MW. L’elevata potenza in uscita permette di ottenere per conversioni di frequenza in cristalli non lineari come il di-idrogeno fosfato di potassio (KDP) la seconda armonica a nm. Questa è utilizzata come pompa per l’amplificatore ottico rigenerativo al Ti:zaffiro. A.2.3 Mode locking Tra gli specchi che racchiudono il mezzo attivo, il campo elettromagnetico è caratterizzato da modi di oscillazione stazionari di lunghezza d’onda λ = 2L/q dove L è la lunghezza della cavità e q l’ordine del modo. La tecnica utilizzata per la produzione di impulsi laser ultraveloci è il mode locking e si basa sul principio per il quale un segnale periodico può essere generato dalla sovrapposizione di segnali sinusoidali. Dati 2n + 1 modi di oscillazione longitudinali con la stessa ampiezza E0 e differenza di fase costante φ, il campo totale risulta: E (t ) = n X E0 · ei [(ω0 +l∆ω)t +lφ] (A.) l =−n Appendix A. Elementi di ottica Figura A.: andamento di A2 (t 0 )/E02 in funzione del tempo nel caso di sette modi di oscillazione. dove ω0 è la pulsazione del modo centrale, ∆ω la spaziatura tra due modi consecutivi e la fase del modo centrale è stata considerata nulla per semplicità. Il campo può essere riscritto come: E (t ) = A(t )eiω0 t (A.) cioè un’oscillazione modulata in ampiezza da A(t ) che, posto ∆ωt 0 = ∆ωt + φ ed effettuata la sommatoria della progressione geometrica, risulta: A(t 0 ) = E0 sin[(2n + 1)∆ωt 0 /2] sin (∆ωt 0 /2 (A.) L’intensità del fascio è proporzionale a A2 (t 0 ) e presenta dei massimi quando il denominatore si annulla. Due impulsi consecutivi sono distanti un tempo τ = 2π/ω. La fig. A. mostra l’andamento della quantità A2 (t 0 )/E02 in funzione di t 0 nel caso di sette modi di oscillazione. Nei dispositivi laser tipicamente si ha L = 2 m, τ ∼ ns e una larghezza temporale dell’impulso ∆τ = fs. A.2.4 Ti:zaffiro Lo zaffiro drogato con titanio (più comunemente, titanio-zaffiro o Ti:zaffiro) è un materiale cristallino realizzato drogando l’Al2 O3 con Ti2 O3 e permette di operare su una ampia porzione del vicino IR, come visibile dalla curva di fluorescenza in fig. A.. La scelta del Ti:zaffiro come mezzo attivo dell’amplificatore è dovuta alla sua ampia banda di guadagno e l’elevata conducibilità termica, che agevola la dissipazione del calore. L’inversione di popolazione ottenuta tramite pompaggio per mezzo di un laser a stato solido al Nd:YLF a nm consente di avere amplificazione ottica secondo le modalità esposte nella sez. A.. R. Schilhart Institute of Physical Biology, Femtosecond Laboratory, Zámek 136, 373 33 Nové Hrady Appendix A. Elementi di ottica [email protected] Abstract The main goal of our project was to measure the real parameters of femtosecond’s pulses after laser‘s system revision and optimalization. During this, a smart and cheap method for beam analyses was invented. 1 Introduction In our laboratory of femtosecond spectroscopy we are interested mainly in time-resolved pump-probe spectroscopy, supercontinuum generation and optical parametric amplification. For this research we need high optical quality and high peak intensity femtosecond pulses. Such a specific output we can obtain due to the chirped pulse amplification technique, Fig.1. For applications in pump-probe spectroscopy it is very important to precisely characterize the output pulse generation of our system [s. “2 System description”]. To attain this we improved some of commonly used methods [s. “3 Methods of measuring”]. Amplifying the pulse Amplifying a short pulse is impossible because of the damage threshold Figura A.: bande di assorbimento e fluorescenza del Ti:zaffiro. -2, a thousand of most optical materials is only few GWcm times lower. Short pulse, high energy Very short pulse, low energy Input seed pulse Stretcher 80 fs The pulse is amplified by two amplifiers RGA & MPA Stretching the pulse to the length where deformations will not take an effect Amplifier 150 ps Compressor 150 ps 130 fs Fig. 1 The principal of chirped pulse amplification technique Figura A.: chirped pulse amplification di impulsi su scala del femtosecondo. 2 System A.2.5 description Chirped pulse amplification The heartbeat of our system is commercial femtosecond pulse system Integra-i made by Quantronix Un’elevata intensità di picco degli laser può causare distorsione Corporation [www.quantronixlasers.com], Fig.2. impulsi An oscillator produces a 48 MHz 18 mW traindell’impulso of pulse of 82fs duration. Each pulse is first stretched up to 400 ps in an aberration free stretcher. After that, the pulses are o danneggiamento del mezzo attivo. La tecnica nota come chirped pulse amplification going through Pockels cell, which selects pulses at repetition rate 1 kHz, into the regenerative amplifier. Pulses are thenpermette amplified in two passes trough dell’impulso amplifier and then to 130 fs,abbassandone Fig.2. It is not so disecond distribure l’energia su are unre-compressed tempo più lungo, easy to tune up the whole femtosecond system. l’intensità di picco e consentendo l’amplificazione. Successivamente avviene una ri- compressione temporale dell’impulso, che ne innalza l’intensità di picco e ne restringe la durata ai valori richiesti per l’esperimento. La dilatazione e la compressione vengono ottenute per mezzo di una coppia di reticoli di diffrazione. Un impulso laser è costituito da uno spettro continuo in un determinato intervallo di lunghezze d’onda, secondo la sua trasformata di Fourier. Un reticolo Appendix A. Elementi di ottica Figura A.: rappresentazione schematica di un apparato per chirped pulse amplification. di diffrazione provoca la dispersione angolare di tali componenti. Ciascuna frequenza compie verso il reticolo successivo un percorso di lunghezza differente. Il risultato è un impulso temporalmente espanso di frequenza progressivamente crescente. Questo effetto è noto come chirp positivo. Poiché l’energia totale dell’impulso si conserva, l’intensità di picco diminuisce. L’impulso otticamente amplificato viene poi ricompresso temporalmente sfruttando il chirp negativo introdotto da un reticolo di diffrazione complementare. A.3 Rivelazione della luce A.3.1 Spettrometro o monocromatore Il principio di funzionamento di uno spettrometro o di un monocromatore è del tutto simile ed è mostrato nella fig. A.. La luce focalizzata attraversa una fenditura di ampiezza regolabile e viene collimata da uno specchio sul reticolo di diffrazione, più precisamente un blazed grating. Il reticolo può essere ruotato per analizzare la porzione dello spettro desiderata. La luce, dispersa in lunghezza d’onda, viene focalizzata su un CCD o su una fenditura di uscita. Nel primo caso, l’immagine viene poi ricostruita dal software dello strumento secondo le modalità esposte nel par. A.., restituendo l’analisi spettrale. Lo strumento è chiamato spettrometro Nel secondo caso, si ottiene in uscita un fascio monocromatico e lo strumento è detto monocromatore. Appendix A. Elementi di ottica 9.1. GRATING EFFICIENCY AND GROOVE SHAPE The maximum efficiency of a grating is typically obtained with a simple smooth triangular groove profile, as shown in Figure 9-4, when the groove (or blaze) angle !B is such that the specular reflection angle for the angle of incidence is equal (in magnitude and opposite in sign) to the angle of diffraction (see Section 2.8). Ideally, the groove facet should be flat with smooth straight edges, and be generally free from irregularities on a scale comparable to a small fraction (< 1/10) of the wavelength of light being diffracted. Fraunhofer was well aware that the dis tribution of power among the various diffraction orders depended on the shape of the individual grating grooves. Wood, many decades later, was the first to achieve a degree of control over the groove shape, thereby concentrating spectral energy into one angular region. Wood's gratings were seen to light up, or blaze, when viewed at the correct angle. Figura A.: schema di funzionamento di uno spettrometro. GN FN !B # !B " blaze arrow Figure 9-4. Triangular groove geometry. The angles of incidence " and diffraction # are shown in relation to the facet angle ! . GN grating normal and FN is the facet Figura A.: profilo diis theun blazed grating. normal. When the facet normal bisects the angle between the incident and diffracted rays, ! 128 A.3.2 Blazed grating La dispersione della luce avviene tramite un reticolo a cambiamento di fase in riflessione, detto blazed grating. Su un materiale riflettente vengono incisi tratti paralleli con profilo a dente di sega con un passo d e un angolo di blaze θb . Con GN e FN si indicano rispettivamente la normale al reticolo e alla faccia. Se α è l’angolo di incidenza, β quello di riflessione, l’equazione del reticolo per l’interferenza costruttiva risulta: d (sin α + sin β ) = mλ (A.) dove d è il passo del reticolo, m = 0, ±1, ±2, . . . è l’ordine del massimo di diffrazione e λ è la lunghezza d’onda considerata. L’efficienza del reticolo non è la stessa per tutti gli specific application. For some cases the desired instrumental response is linear with wavelength; that is, the ratio of intensity of light and the electronic signal into which it is transformed is to be nearly constant across the spectrum. To approach this as closely as possible, the spectral emissivity of the light source and the spectral response of the detector should be considered, from which the desired grating efficiency curve can be derived. Usually this requires peak grating efficiency in the region of the spectrum where the detectors are least sensitive; for example, a visible-light spectrometer using a silicon detector would be much less sensitive in the blue than in the red, suggesting that the grating itself be blazed to yield a peak efficiency in the blue. Appendix A. Elementi di ottica A typical efficiency curve (a plot of absolute or relative diffracted efficiency vs. diffracted wavelength !) is shown in Figure 9-1. Usually such a curve shows E EP !B ! (a) curva di efficienza per un dato ordine m Figure 9-1. A typical (simplified) efficiency curve. This curve shows the efficiency E of a grating in a given spectral order m, measured vs. the diffracted wavelength !. The peak efficiency EP occurs at the blaze wavelength !B. (b) Differenti blaze Figura A.: Efficienza del blazed grating 80 R. Wood, “The echelletteegrating the infra-red,” Philos. Mag. 20 (series 6), 770-778 Per un dato angolo di blaze, l’efficienza ordini spettrali perfortutte le lunghezze d’onda. (1910). è massima nella condizione di Littrow, cioè se: 125 mλ = 2d sin θb (A.) α = β = θb (A.) La lunghezza d’onda di massima efficienza, o lunghezza d’onda di blaze risulta quindi: λb = 2d sin θb m (A.) Di seguito vengono mostrati un esempio di curva di efficienza di un reticolo blaze e lo stesso spettro acquisito con due reticoli di blaze differente. Appare evidente che occorre normalizzare gli spettri acquisiti utilizzando la curva di efficienza quando si vogliono studiare rapporti di intensità tra lunghezze d’onda diverse. In questo studio, invece, i rapporti di intensità sono riferiti sempre alla stessa lunghezza d’onda e non è stato necessario normalizzare gli spettri. Il reticolo utilizzato ha una densità di tratti/mm con λb = 500 nm. A.3.3 CCD Il CCD è il rivelatore adottato negli strumenti utilizzati in questo esperimento. La struttura è basata sul capacitore MOS, ed è illustrata nella figura A.. d use of FFT-CCD area image sensor 1-1 di CCD basic structure and potential well AppendixFigure A. Elementi ottica nductor devices invented ratory in 1970. comes from operation/ of the CCD is transferred eas where the charge is s, and are created when ate electrodes. The strucMetal Oxide Semiconducectrodes (P1, P2 and P3) ductive material such as is SiO2 (silicon dioxide) P2 P1 P3 METAL OXIDE SEMICONDUCTOR DIRECTION OF TRANSFER POTENTIAL verview CHARGE charge transfer devices wells to transfer an accuFigura A.: struttura di base del rivelatore CCD. KMPDC0036EA uctor. Most current CCDs 1-1 CCD area image sensor types and operat) structure, in which the Gli elettrodi P, P e P sono realizzati in un materiale conduttore, il livello di ing principles inside the substrate. ossido è di SiO2 e il canale di semiconduttore è generalmente silicio drogato p. ngle pixel in the CCD. In Current used CCD area image sensors are classified by their ed to form one pixel, and L’arrivotransfer di un fotone può into generare una coppia elettrone-buca. La condizione è che methods the following 4 types: er sets (2 or 4) to create a tale un’energia maggiore uguale al gap del silicio, cioè ∼ 1.1 eV, o una lunghezza d’on(1) Frame Transfer (FT) icated, they form a CCD da non superiore ∼ 1100Transfer nm. La raccolta (2) FullaFrame (FFT) delle cariche avviene tramite la creazione di ctions; a vertical register, una buca di gli elettrodi (3)potenziale: Interline Transfer (IT) P e P sono tenuti al potenziale zero mentre un output stage. The vertical Frameè Interline (FIT)potenziale respinge le buche creando una potenziale(4) positivo applicatoTransfer a P. Questo columns (64, 128 or 256 o the horizontal register. regione diThese svuotamento nella quale (except possono for accumularsi gli elettroni, che rimangono 4 configurations the FFT-CCD) are widely ge to an on chip amplifier confinati nella di potenziale cosìvideo creata. Durante The il tempo di integrazione il diusedbuca in general purpose cameras. FFT-CCD, bee. spositivo si mantiene in operating queste condizioni, e quindi cariche fotogenerate sono libere cause of its principle, is notlewell suited for use in ell is created beneath P2 video FFT-CCD primarily used in measurement di diffondersi nelcameras. silicio e arrivare nella is zona di svuotamento. 2, while the voltages apapplications such as spectrophotometry, where it is important ference in the electricalPolarizzando opportunamente gli elettrodi di una matrice di pixel, è possibile far to make quantitative measurements. which electrons are conscorrere la carica accumulata nella direzione dell’uscita. Un circuito di lettura si oc(1) Frame Transfer (FT) the appropriate time secupa di trasformare per ciascun pixel la carica in un valore di tensione, ricostruendo Frame transfer CCDs are comprised of two vertical shift registhis potential well is sel’immagine accumulata. Di seguito viene presentato un fullsections frame transfer CCD, in cui ters used, in the photosensitive and storage respecmiconductor toward the trasferimento dalla matrice di fotodiodi registro avviene riga per riga tively,della onecarica horizontal shift register, andalan output section. CD is often likened toilan Transparent such polysilicon, are generally ema digital shift register. ed la lettura della caricaelectrodes, avviene pixel per as pixel. ployed as the metal electrodes in the photosensitive section. devices through which a When light comes through a transparent electrode into the however the term “CCD” A.3.4 Microchannel plate CCD semiconductor, photoelectric conversion generates a signd even video cameras, nal charge. This signal charge collects into the potential well ange of imaging applicabeneath electrode. By utilizing the vertical blanking period, s paper, CCD refers toIlan microchannel platethe è un intensificatore di immagine basato sulla moltiplicazione di thisemissione charge issecondaria. transferredViene at high speed toperforando the storage ices. elettroni per realizzato da section parte a parte un for each frame. Thus, the vertical shift register in the photosenmateriale altamente resistivo dello spessore di ∼ mm. I canali hanno un diametro sitive section of the frame transfer acts as a photoelectric converter during the signal integration period. The storage section performs signal transfer to the output sec tion through the horizontal shift register. Photoelectric conversion and signal accumulation take place in the photosensitive section. The signal charge is transferred to the horizontal shift register for each line in the storage section during the horizon- shift register. electric conversion in a e junction capacitance. vertical shift register durAppendix A. Elementi di ottica Figure 1-3 Structure of full frame transfer CCD h the transfer gate. The h is between the vertical y. This operation differs e transfer from the photorformed for all pixels si- (microchannel plate) is a two-dimensional sensor that detects electrons, ions, vacuum UV rays, X-rays and gamma rays, and ies the detected signals. Circular and rectangular MCPs are available in various dimensions, including easy-to-use MCP asHORIZONTAL SHIFT REGISTER ies with pre-mounted electrode leads and supports. These MCPs are widely used in many types of analytical equipment such "mass spectroscopy", "semiconductor inspection" and "surface analysis". MCP assemblies are available with three different readout devices to meet application needs. The devices are of: (1) single e (electrical output signal measurement within effective region), (2) multianode (electrical output signal measurement correding to signal input positions), and (3) phosphor screen (optical imaging of output signal). Select the output device that best hes your application. one to three stage MCPs can be selected for the assembly to obtain necessary gain, allowing uses in the analog mode (the t signal is measured as a continuous electrical current) or the counting mode (the low level signal can be measured by a binary ssing). VERTICAL SHIFT REGISTER same as frame transfer sferred to the horizontal orizontal blanking period. other than photodiodes such as aluminum, to OPERATING PRINCIPLE re of an interline transfer KMPDC0037EA ACTIVE AREA HORIZONTAL SHIFT REGISTER KMPDC0038EA Figura A.: lettura della carica immagazzinata in un full own in the figure on the right, a potential gradient is estabSchematic Structure of MCP along the channel when the voltage VD is applied between put and output sides of the MCP. Multiple secondary elecCHANNELS are emitted when an electron enters a channel from the inde and strikes its inner wall. These secondary electrons are erated by the potential gradient to draw parabolic trajectohat are determined by their initial velocities. They then strike pposite wall in the channel causing further secondary electo be emitted. The electrons in this way travel towards the t end while striking the inner wall of the channel repeatedly. result, a large number of exponentially increased electrons xtracted from the output side. frame transfer CCD. eveloped to solve probCD are configured with an ansfer CCDs, after the red to the vertical registhe photodiode accumumany optically generated CHANNEL WALL ONE INTPUT ELECTRON INPUT SIDE ELECTRODE STRIP CURRENT OUTPUT SIDE ELECTRODE OUTPUT ELECTRONS VD TMCPC0002EE Figura A.: schema di un funzionamento di un microchannel plate. di ∼ µm e sono densamente distribuiti in maniera ordinata sulla superficie del dispositivo. Come mostrato in fig. A., quando una differenza di potenziale VD viene applicata ai lati di ingresso e uscita, si stabilisce un gradiente di potenziale lungo il canale. Quando un elettrone fa il suo ingresso nel canale e ne colpisce la parete interna, vengono emessi elettroni secondari. Questi sono accelerati dal gradiente di potenziale e compiono traiettorie paraboliche, determinate dalla loro velocità, verso il lato opposto della parete. Qua avviene l’emissione di ulteriori elettroni secondari e così via. Il risultato è un aumento esponenziale del numero di elettroni sul lato di uscita. Appendix A. Elementi di ottica A.4 Effetti non lineari A.4.1 Generazione della seconda armonica In generale, la polarizzazione dielettrica P di un mezzo con una suscettività non lineare χ, soggetto ad un campo elettrico E si può scrivere come espansione in serie del campo applicato: P = 0 (χ˜ (1) E + χ˜ (2) E2 + χ˜ (3) E3 + . . . ) = P(2) + P(2) + P(2) + . . . (A.) Se il mezzo viene eccitato da onde sinusoidali alle frequenze ω1 e ω2 con ampiezza E1 e E2 rispettivamente, la polarizzazione al secondo ordine sarà: 1 P (2) (t ) = 0 χ(2) × E1 cos ω1 t × E1 cos ω1 t = 0 χ(2) E1 E2 [cos (ω1 + ω2 )t cos (ω1 − ω2 )t ] 2 (A.) Per ω1 = ω2 si ottiene la generazione della cosiddetta seconda armonica della radiazione. Il fenomeno può essere sfruttato in cristalli dotati di una suscettività non lineare non trascurabile, ad esempio il β-borato di bario (BBO, β-BaB2 O4 ). La produzione della seconda armonica richiede un certo numero di considerazioni accessorie sulle proprietà di interazione della radiazione col cristallo, la cui trattazione che esula dallo scopo di questo appendice. A.4.2 Luce bianca supercontinua Le sorgenti laser, per quanto accordabili, possono generalmente produrre impulsi di stretta larghezza di banda in energia. Tale banda può essere allargata sfruttando un effetto noto come generazione di luce bianca supercontinua che si verifica quando un impulso luminoso intenso è focalizzato all’interno di un mezzo trasparente come la silice o lo zaffiro. Il fenomeno può essere interpretato come una modulazione di fase autoindotta (self phase modulation, SPM) dell’impulso. Quando un impulso laser intenso colpisce un materiale di spessore L, l’indice di rifrazione n diventa una funzione lineare dell’intensità (effetto Kerr): n(t ) = n0 + n2 · I (t ) (A.) Appendix A. Elementi di ottica dove n0 è l’indice di rifrazione lineare e n2 un coefficiente che assume il valore di n2 = 2, 5 · 1016 cm2 W−1 per lo zaffiro. Lo spostamento di fase che subisce un impulso quasi-monocromatico di frequenza portante ω0 è: φ ( t ) = ω0 ( t ) − ω0 ω ω n(t )L = ω0 t − 0 n0 L − 0 n2 LI (t ) c0 c0 c0 (A.) e la frequenza istantanea diventa: ω (t ) = dφ ω n L dI n L dI = ω0 − 0 2 = ω0 1 − 2 dt c0 dt c0 dt ! (A.) L’equazione suggerisce che la frequenza istantanea della portante dell’impulso cambi; in particolare, nel fronte di salita (dI /dt > 0) è spostata verso il rosso mentre nel fronte di discesa (dI /dt < 0) è spostata verso il blu, provocando un allargamento dello spettro. Si noti che questa è una spiegazione semplificata del fenomeno e trascura il contributo di altri effetti quali l’autofocalizzazione spaziale, il self-steepening temporale, la focalizzazione spazio-temporale. Nella pratica, la generazione di luce bianca supercontinua è generalmente ottenuta focalizzando impulsi di lunghezza d’onda di circa nm, durata di circa fs ed energia compresa tra e mJ su una lamina di zaffiro di spessore compreso tra e mm. Lo zaffiro viene scelto per la sua eccellente conducibilità termica e il basso assorbimento nell’UV, proprietà che gli conferiscono una buona resistenza all’usura a lungo termine. Il continuo si estende dal visibile (circa nm) al vicino IR (, µW) con un’energia di circa pJ a nanometro di larghezza di banda. L’impulso ottenuto può essere utilizzato come probe in esperimenti di pump-probe. Bibliografia [] C.N.R. Rao, G.U. Kulkarni, and P.J. Thomas. Nanocrystals: Synthesis, Properties and Applications. Springer, . [] D. V. Talapin, R. Koeppe, S. Götzinger, Andreas Kornowski, John M. Lupton, Andrey L. Rogach, Oliver Benson, Jochen Feldmann, and Horst Weller. Highly emissive colloidal CdSe/CdS heterostructures of mixed dimensionality. Nano Letters, ():–, . [] M. J. Bowers, J. R. McBride, and S. J. Rosenthal. White-light emission from magicsized cadmium selenide nanocrystals. Journal of the American Chemical Society, ():–, . [] G. Mingyuan, C. Lesser, S. Kirstein, E. Mohwald, A. L. Rogach, and H. Weller. Electroluminescence of different colors from polycation/CdTe nanocrystal selfassembled films. Journal of Applied Physics, ():–, . [] H. J. Lee, J. H. Yum, and H. C. 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