SEM JEOL JSM 5500 LV - Dipartimento di Chimica

Scheda Strumento
Modello
JEOL JSM-5500 LV
Funzione generale
Microscopio elettronico a scansione (SEM) con microanalisi EDS
Responsabile Scientifico
Prof. Francesco Demartin
Responsabile Tecnico
Italo Campostrini
Ubicazione
Corpo A, piano rialzato, Locale R58
Caratteristiche tecniche
Funzioni specifiche
Tensione di accelerazione max 30 kV
Massimo ingrandimento 5000 x
Risoluzione EDS FWHM 128 eV
Analisi morfologica ad alta risoluzione.
Immagini con elettroni retrodiffusi (BSE)
Microanalisi di elementi da B ad U
Prestazione base
Acquisizione di immagini senza metallizzazione del campione in basso vuoto. Microanalisi semiquantitativa
Prestazioni opzionali
Acquisizione di immagini con metallizzazione del campione. Microanalisi quantitativa con standard
Contatti
e-mail: [email protected], [email protected] , tel 02 503 14457, 02 503 14464
Note

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