2013/14 - dieet

MICROTECNOLOGIE
(Codice materia 10074, 6 CFU)
Corso di Laurea Magistrale in Ingegneria Elettronica
A.A. 2013/14
Prof. Claudio Calì
Il corso porta a conoscenza dello studente i principali processi tecnologici impiegati per la
fabbricazione di microdispositivi per applicazioni nei campi più svariati (elettronica, ottica, meccanica,
chimica, biologia, ...). Alla fine del corso lo studente, oltre a conoscere i processi di base, è in grado di
comprendere i processi più avanzati specifici per ogni tipologia di dispositivo.
Seguendo il corso lo studente sarà in grado di applicare le conoscenze acquisite sia per la
comprensione di diversi e nuovi processi, sia per la implementazione di processi di microfabbricazione
tradizionali.
Il corso offre una sintesi delle problematiche legate alle moderne tecniche di fabbricazione di
microdispositivi.
Trattandosi di tematiche in continua e rapida evoluzione, gli argomenti affrontati riguardano
principalmente materiali e tecnologie di base, la cui conoscenza potrà permettere allo studente un
eventuale futuro approfondimento autonomo.
Il corso presuppone la conoscenza di insegnamenti di base dei corsi di laurea (triennale) dell'area
scientifica, in particolare di Chimica e Fisica.
L'esame prevede la risposta a tre quesiti posti in forma scritta o orale.
PROGRAMMA DEL CORSO
Introduzione
Ruolo delle microtecnologie e locazione dei principali siti di ricerca e di produzione. Il mercato
delle microtecnologie. Esempi applicativi delle microtecnologie in settori non microelettronici.
Applicazioni in microottica. Cenni storici, l’invenzione del transistore, il transistore a lega, i processi
mesa e planare. Principali passi del processo di fabbricazione di microcircuiti in Si.
Produzione del silicio di base
Vantaggi del silicio. Purezza del silicio. Produzione del silicio di grado elettronico. Crescita del
cristallo con la tecnica Czochralsky. Profilo di drogaggio lungo la carota. Crescita del cristallo con il
metodo "float zone". Drogaggio mediante trasmutazione nucleare. Taglio e trattamento delle fette di
silicio. Difetti nei cristalli: puntuali, di linea, di area, di volume, esterni.
Crescita epitassiale
Crescita epitassiale del silicio: caratteristiche, apparato, reazioni e cinetica.
Ossidazione
Ossidazione termica wet e dry. Struttura del forno per ossidazione. Cinetica della ossidazione.
Regime lineare e quadratico. Ossidazione termica iniziale. Cenni sulla CVD. Deposizione di ossido
per LPCVD. P-glass e caratteristiche.
Drogaggio
Drogaggio da fase gassosa e da predeposizione. Leggi di Fick. Drogaggio da fase gassosa e da
predeposizione. Profili di concentrazione drogante. Impiantazione e drive-in. Impiantazione ionica.
Annealing e suoi effetti. Profilo di distribuzione degli atomi impiantati. Spessore degli ossidi di
mascheratura.
Tecniche di attacco
Attacco wet. Curve iso-etch per il silicio. Attacco anisotropo e sue applicazioni in micromeccanici.
Plasma etching fisico-chimico. Silicio policristallino.
Microlitografia
Introduzione alle tecniche microlitografiche. Maschere e loro struttura. Tipi di resist. Realizzazione
di maschere con fascio elettronico. Struttura dell’e-beam writer. Cenni di interferometria con laser
Zeeman-split. Fotolitografia: esposizione a contatto, prossimità e proiezione. Il mask-aligner. Struttura
di un sistema in proiezione. Lo stepper. Limiti teorici per la risoluzione ottica. Sorgenti e materiali per
fotolitografia submicrometrica. Tecniche di scansione della fetta. Cenni alla litografia X. Proprietà dei
resist. Analisi del flusso di un processo microlitografico. Yield e sua espressione.
Integrazione dei dispositivi elettronici.
Descrizione dei dispositivi elettronici integrabili ed evoluzione temporale.
Tecnologia del vuoto
Introduzione alla tecnologia del vuoto e alle sue applicazioni. Regime viscoso e regime molecolare.
Sistemi di prevuoto rotativi e ad adsorbimento. Pompa a diffusione per regime molecolare. Sistemi per
alto vuoto: pompa turbomolecolare, criogenica, ionica, sublimazione di titanio. Descrizione di alcuni
impianti da vuoto.
Sistemi di misura del vuoto in regime viscoso e molecolare. Vacuometro a termocoppia e
capacitivo. Vacuometri a ionizzazione. Cenni allo spettrometro di massa a quadrupolo. Leak detector.
Materiali, tenute, raccordi e valvole da vuoto.
Film sottili
Rassegna dei processi e delle tecniche di deposizione. Evaporazione termica (riscaldamento
elettrico) sotto vuoto. Evaporazione con cannone elettronico, con laser e "sputtering".
Tecniche di misura sui film: in situ e dopo la deposizione. Dipendenza delle caratteristiche dei film
dai parametri di deposizione. Esempi di normativa MIL. Misure ottiche in situ di film sottili. Misura
dello spessore dei film con la microbilancia al quarzo.
Pulizia dei materiali da vuoto e dei substrati.
Microtecnologie per l'ottica integrata
Cenni di ottica integrata. Tecniche di fabbricazione di guide ottiche. Guide in vetro, Guide in
calcogenuri. Guide in niobato di litio, ossido di zinco, pentossdo di tantalio e niobio. Impiego di
substrati di SiO2/Si. Tecniche di microfabbricazione per l'ottica integrata. Tecniche di fabbricazione di
reticoli per ottica integrata. Esempi di dispositivi ottici integrati.
TESTI CONSIGLIATI E DI CONSULTAZIONE
- G.S. May, S.M. Sze: "Fundamentals of Semiconductor Fabrication" – Wiley (2004).
- H.Nishihara, M.Haruna, T.Suhara: "Optical Integrated Circuits" - McGraw-Hill (1989).