唯一の統合型 SEM/EDX システム 表面や粒子からの幅広いスペクトラムを自動解析し画像化する第 3 世代のシステムとして、 PSEM eXplorer が発売されました。高耐久化されたハードウェアと洗練されたソフトウェアーの融合により、即座に利用可能なプラットフォームを達成しました。 産業化されたデザイン 以下の特性によりこれまで他社の製品では考えられなかった場所にて ASPEX の製品が使用されております。 1. 安定性 & 再現性 5. 操作のし易さ 2. ダウンタイムの最小化 6. 周囲環境からのシールディング 3. 信頼性 & 保守性 7. 保障されたパフォーマンス 4. 進化したステージ パフォーマンスの仕様 粒子の検出範囲 30nm ∼ 5mm 検出器 SED, Quad BSED, SDD EDX 加速電圧 0.2 ∼ 25 KV Continuous ステージの移動 80mm x 100mm 真空システム 高真空・可変圧力 分解能 7nm 最軽量元素検出 炭素 EDX 解像度 135 eV 寸法計測アルゴリズム RCA 及び CFA FDA 適合レベル cGMP FDA 適合状況 有効 データセキュリティー 21 CFR Part 11 Compliant 適用可能分野 法医学、製薬、自動車、製鉄 総輸入元： 極東貿易株式会社 新素材部機能資材課 〒 100-0004 東京都千代田区大手町
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