Analysis of 0 * t gK K nt decay Contents motivation Event selection 背景事象の見積もり Fitの結果 Summary&plan 名古屋大学4年 臼杵 容子 H19.3.22 学術創成評価委員会 1 motivation Current status ARGUS(1995) Br(t-gK*0K-nt) =(0.200.050.04) % Ntt=3.73×105 s =10.6GeV , S/N=0.51 ALEPH(1998) Br(t-gK*0K-nt)=(0.2130.048) % Ntt=2.02×105 s =92GeV PDG(obtained by average of two results)reported: Br(t-gK*0K-nt) =(0.210.04)% decay process 2 motivation Current status ARGUS(1995) Br(t-gK*0K-nt) 5 =(0.200.050.04) % Ntt=3.73×10 s =10.6GeV , S/N=0.51 ALEPH(1998) Br(t-gK*0K-nt)=(0.2130.048) % Ntt=2.02×105 s =92GeV PDG(obtained by average of two results)reported: Br(t-gK*0K-nt) =(0.210.04)% error:20% さらに高精度な tgK*Kn崩壊分岐比 decay process を得たい 3 motivation Current status ARGUS(1995) Br(t-gK*0K-nt) 5 =(0.200.050.04) % Ntt=3.73×10 s =10.6GeV , S/N=0.51 ALEPH(1998) Br(t-gK*0K-nt)=(0.2130.048) % Ntt=2.02×105 s =92GeV PDG(obtained by average of two results)reported: Br(t-gK*0K-nt) =(0.210.04)% error:20% さらに高精度な tgK*Kn崩壊分岐比 decay process を得たい 本解析(Belle s =10.6GeV) 1000倍以上のdata量Ntt=4.46×108 を用いる,S/Nの向上 ⇒崩壊分岐比に対する統計誤差は1%以下に抑えられる 4 Motivation ALEPH,ARGUS : 20%error (systematic&statistical error) さらに高精度なtgK*Kn崩壊分岐比を得たい 統計誤差 1000倍以上のdata量を用いる,S/Nの向上 ⇒崩壊分岐比に対する統計誤差は1%以下に抑えられる 系統誤差 測定器自体の誤差、解析手法に起因する誤差 背景事象の形の見積もりによる系統誤差を、 統計誤差と同程度の1%程度に抑えたい。 5 Event selection tgKKpnを信号として選択(K-ID,p-ID) tag-sideにはtgenn/mnnを要求(35%) (qq事象の抑制) tペア事象を選別するための条件 Msignal-side<1.8GeV/c2 など pCMKp>1.5GeV/c 信号事象数は、再構成したK*粒子の不変質量分布MKpから見積もる Msignal-side data signal tt pCMKp data Signal(10倍) tt qq Bhabha 2photon 6 After all event selections MKp ttBG Data (4.68x104個) tgK*Kn (3.94x104個) tgK*Kp0n tgpppn tgK*pn tgKppn tgKppp0n tgK*pp0n tgKKpn tgKKpp0n qq Bhabha 2photon S/N=2.53 (ARGUS:S/N=0.51) 崩壊分岐比の測定方法 崩壊分岐比 Ndata:測定dataから得られる信号事象数 L :積分ルミノシティー s :生成断面積 :tgK*Kn崩壊事象の検出効率 NMC :全事象選別後のtgK*KnMC事象数 N0 : tgK*KnMCの全事象数 信号事象数Ndataの見積もり方 ① MKp分布に関数をfitし、dataを、K*peakを持つ 事象と、 K*peakを持たない事象に分ける。 MKp K*peakを 持つ事象 K*peakを 持たない事象 8 崩壊分岐比の測定方法 崩壊分岐比 Ndata:測定dataから得られる信号事象数 L :積分ルミノシティー s :生成断面積 :tgK*Kn崩壊事象の検出効率 NMC :全事象選別後のtgK*KnMC事象数 N0 : tgK*KnMCの全事象数 信号事象数Ndataの見積もり方 MKp ① MKp分布に関数をfitし、dataを、K*peakを持つ 事象と、 K*peakを持たない事象に分ける。 K*peakを 持つ事象 K*peakを 持たない事象 pをKに誤認したことによって残ってくる モードと、それ以外に分けて見積もる。 K p K p g t g pをKに誤認したことに よって残ってくるモード それ以外 9 崩壊分岐比の測定方法 崩壊分岐比 Ndata:測定dataから得られる信号事象数 L :積分ルミノシティー s :生成断面積 :tgK*Kn崩壊事象の検出効率 NMC :全事象選別後のtgK*KnMC事象数 N0 : tgK*KnMCの全事象数 信号事象数Ndataの見積もり方 ① MKp分布に関数をfitし、dataを、K*peakを持つ 事象と、 K*peakを持たない事象に分ける。 pをKに誤認したことによって残ってくる モードと、それ以外に分けて見積もる。 MKp K*peakを 持つ事象 K*peakを 持たない事象 ② K*peakを持つ事象の中から、 背景事象であるtgK*Kp0n を除く。 pをKに誤認したことに よって残ってくるモード それ以外 10 崩壊分岐比の測定方法 崩壊分岐比 Ndata:測定dataから得られる信号事象数 L :積分ルミノシティー s :生成断面積 :tgK*Kn崩壊事象の検出効率 NMC :全事象選別後のtgK*KnMC事象数 N0 : tgK*KnMCの全事象数 信号事象数Ndataの見積もり方 ① MKp分布に関数をfitし、dataを、K*peakを持つ 事象と、 K*peakを持たない事象に分ける。 pをKに誤認したことによって残ってくる モードと、それ以外に分けて見積もる。 MKp K*peakを 持つ事象 K*peakを 持たない事象 ② K*peakを持つ事象の中から、 背景事象であるtgK*Kp0n を除く。 pをKに誤認したことに よって残ってくるモード それ以外 11 統計誤差&系統誤差 統計誤差 0.53% f ARGUS:25% 系統誤差 Luminosity t-pair cross-section Track finding efficiency Trigger efficiency Lepton-ID Kaon-ID/fake MC statistics Br(K*0gK+p-) 背景事象の見積もりによる誤差 Total 1.4% 1.3% 4.0% 0.81% 3% 3% 0.54% 0.02% 背景事象の形の見積もり方により、 系統誤差の大きさが変わる。 6.2% 1%程度に抑えたい 12 背景事象の形の見積もり 背景事象の形を簡単に見積もれない理由 dataから背景事象のみを抜き出すことは難しい MCから見積もるには不定性が大きすぎる MKp 背景事象の崩壊分岐比(PDG) Br(tgK*Kn)=(2.1±0.4)×10-3 Br(tgKKpn)=(1.3±3.2)×10-4 Br(tgKKpp0n)=(6.1±2.0)×10-5 Br(tgKppn)=(2.4±0.5)×10-3 Br(tgKppp0n)=(1.32±0.14)×10-3 Br(tgK*pn)=(2.2±0.5)×10-3 Br(tgK*pp0n)=(1.6±1.8)×10-3 Br(tgK*Kp0n)=(1.1±1.5)×10-3 Dataを使って背景事象の形を見積もりたい 13 背景事象の形の見積もり方におけるidea h1 h2 pをKに誤認したことによって残ってきた背景事象のモードの形 粒子識別条件を変えることにより、 data を用いて背景事象の形を決める。 MKp MKp K K p選別 K-IDh1>0.8 , p-IDh2>0.8 Data tgK*Kn tgK*Kp0n tgpppn tgK*pn tgKppn tgKppp0n tgK*pp0n K p p選別 K-IDh1<0.1 , p-IDh2>0.9 それらのモードの崩壊分岐比の不定性に影響されることなく、 14 背景事象の形を見積もることが可能! 形の補正 粒子識別条件を変更したことにより、分布の形が変わる g 形を補正 MKp Kpp選別 MKp h1 h2 KKp選別 15 形の補正 粒子識別条件を変更したことにより、分布の形が変わる g 形を補正 MKp Kpp選別 MKp h1 h2 KKp選別 16 形の補正 粒子識別条件を変更したことにより、分布の形が変わる g 形を補正 MKp 補正 MKp分布(KKp選別) MKp分布(Kpp選別) Kpp選別 MKp MKp h1 h2 KKp選別 17 DataへのFit MKp MKp data 信号事象 背景事象1 (補正前) 背景事象2 背景事象1 tgpppn tgK*pn tgKppn tgKppp0n tgK*pp0n 背景事象2 tgKKpn tgKKpp0n qq Bhabha 2photon data 信号事象 背景事象1 (補正後) 背景事象2 Fitの結果 補正前 補正後 信号事象 36036±184 35632±188 背景事象1 7591±201 9181±238 背景事象2 2978±166 1818±183 背景事象1の形の補正による 信号事象数の変化 (1.13±0.52)% 18 Summary & plan summary ARGUS,ALEPHと比べて約1000倍の、4.46×108のtペアを用いて解析を行った。 tgK*Kn崩壊分岐比に対する統計誤差は、ARGUSによる測定では25%であったのが、 1%以下に抑えられた。 背景事象の見積もりに起因する系統誤差を1%程度に抑えることを目標とした解析を 行った。 背景事象の関数形の見積もり 誤った粒子識別に起因する背景事象の分布については、粒子識別に関する選別 条件を変更することにより、測定データから背景事象の関数形を見積もることが できた。 gそれらのモードの崩壊分岐比の不定性に影響されることなく関数形を見積もる ことが できた。 評価した背景事象の見積もりの誤差が信号事象に与える不定性は、 (1.13±0.52)%である。 plan 信号事象、背景事象の形を、より精度よく見積もる。 系統誤差を見積もる。 tgK*Kn崩壊分岐比を評価する。 19 Back up 20 Introduction of neutral K* (892) Vector particle mass (896.00±0.25)MeV (PDG2006) width (50.3±0.6)MeV (PDG2006) decay modes Kp ~100% K+p- 2/3 K0p0 1/3 high accuracy 21 Data & MC set Data&MC samples Data 451/fb MC tgK*Kn 397/fb ttBG non-resonant mode tgKKpn tgKKpp0n tgKppn tgKppp0n tgK*pn tgK*pp0n others 4310/fb 36800/fb 421/fb 850/fb 510/fb 701/fb 874/fb resonant mode tgK*Kp0n 757/fb qq uds cc bb 2photon eeuu eess eecc eeee eemm mm Bhabha 417/fb 722/fb 0.04/fb 53.0/fb 530/fb 530/fb 53.0/fb 106/fb 53.0/fb 59.3/fb22 Event selection(1) Level.0 Charged track pt>0.06GeV/c,-0.6235<cosqtrk-beamline<0.8332 pt>0.1GeV/c,-0.8660<cosqtrk-beamline<-0.6235 pt>0.1GeV/c,0.8332<cosqtrk-beamline<0.9563 Gamma Eg>0.1GeV,-0.8660<cosqg-beamline<0.9563 4 charged tracks with zero net charge Select 1-3 prong event (dividing thrust vector) (3 prong side=signal side/ 1 prong side=tag side) 23 Event selection(2) Level.1 CM E total<11GeV pmiss>0.1GeV/c -0.866025<cosqmiss<0.95630 CM cosq thrust-miss<-0.6 Level.2 0.6GeV/c2<MKp<1.8GeV/c2 CM p Kp>1.5GeV/c pCMKp data Signal(10倍) tt qq Bhabha 2photon 24 Event selection(3) h3 Level.3 Ng=0 for signal-side Ng≦1 for tag-side h2 h1 K-IDh1>0.8,cosqh1-beamline>-0.6 p-IDh2>0.8,cosqh2-beamline>-0.6 K-IDh3>0.8,cosqh3-beamline>-0.6 Right charge assignment(ストレンジネス保存) e-IDh1<0.9 -gr-n,Bhabha,2photon t e-IDh2<0.9 are suppressed r-gp-p0 e-IDh3<0.9 9 gg e-ID>0.1 or m-ID>0.1 for tag-side 9 e+e25 t-decay:1-prongEvent (more than 85%) selection(3) g select 1-prong in tag-side -decay mode t Level.3 17% Ng=0mnfor signal-side t Ngc1 e-nefor nt tag-side 18% h-nt 12% K-IDh1>0.8,cosqh1>-0.6 h-p0nt 25% p-IDh2>0.8,cosqh2>-0.6 h-2p0nt 11% K-IDh3>0.8,cosqh3>-0.6 trackassignment in tag-side is ⇒charged Right charge restricted to be lepton to e-IDh1<0.9 suppress qq events. e-IDh2<0.9 e-IDh3<0.9 e-ID>0.1 or m-ID>0.1 for tag-side h2 h3 m-n h1 26 Event selection(4) Level.4 Mtag-side<1.8GeV/c2 Msignal-side<1.8GeV/c2 CM p (K*+h1)>3.5GeV/c CM cosq K*-h1>0.92 h1 Msignal-side data signal tt 27 Numbers of events after all selections Data 4.68×104 MC (K,p-ID corrected) tgK*Kn 3.94×104 ttBG non-resonant mode tgKKpn tgKKpp0n tgKppn tgKppp0n tgK*pn tgK*pp0n Others 2980 182 1370 103 1060 105 6310 resonant mode tgK*Kp0n 3260 qq uds cc bb 2photon eeuu eess eecc eeee eemm mm Bhabha 123 25.4 0 0 25.3 0 0 0 0 7.61 28 After all event selections MKp Data tgK*Kn tgK*Kp0n tgpppn tgK*pn tgKppn tgKppp0n tgK*pp0n tgKKpn tgKKpp0n qq Bhabha 2photon 背景事象の形の見積もりの手順 K*peakを作らない背景事象 tgpppn tgK*pn tgKppn 0 tgKppp n 0 tgK*pp n K K p p p中間子をK中間子に missIDしているモード g t g tgKKpn 0 tgKKpp n qq Bhabha 2photon それ以外のモード 30 背景事象の形の見積もり(1) h2 h3 p中間子をK中間子にmissIDしているモード 実験データから形を見積もるには数が少ない h1 信号事象との分離も容易ではない K-IDh2>0.8 , p-IDh3>0.8 g K-IDh2<0.1 , p-IDh3>0.9 (KKp選別) (Kpp選別) 本来の選別を行った時に比べ、約10倍の背景事象が得られる 信号事象が抑制される 31 Kpp選別を行った時のMKp分布 Data tgK*Kn tgK*Kp0n tgpppn tgK*pn tgKppn tgKppp0n tgK*pp0n Data MC tgK*Kn tgK*Kp0n tgpppn tgK*pn tgKppn tgKppp0n tgK*pp0n tgKKpn tgKKpp0n 100513 2556 285 69156 14139 20499 1193 1169 193 12 全事象選別後に残った事象数 MCはdataをよく再現 ただし、h1,h2の4元運動量を求める際に、 h2にはK中間子の質量を、h3にはp中間子の質量を要求 DataのMKp 分布に対し、スムージングを行い、 p中間子をK中間子にmissIDしているモードの形にする 32 h2 粒子識別条件変更によるMKp分布の変化 KKp選別からKpp選別に変更した影響でMKp分布が変わる 例 : Dataのh2粒子の運動量分布 ph2 黒:KKp選別 赤:Kpp選別 粒子識別条件を変えると 運動量分布が変化する 不変質量分布MKpの形も 変化する 影響を見積もるために・・・ それぞれ5つのモード(p中間子をK中間子にmissIDしているモード)の MCに対し、KKp選別を行った場合のMKp分布と、Kpp選別を行った場 合のMKp分布との比をとる。 33 各MKpMC分布の比の評価 傾き:ゆがみ tgpppn tgK*pn tgKppn KKp選別を行った場合のMKp分布 Kpp選別を行った場合のMKp分布 1次関数をFit tgKppp0n tgK*pp0n 34 分布の補正 黒:補正前 青:補正後 tgpppn MKp 傾き:ゆがみ DataのMKp分布に対し補正する 補正の誤差による信号数への影響は、 2つの場合の関数をDataにFitして、その違いから見積もる。 35 背景事象の形の見積もり(2) h2 それ以外のモード h3 正しく粒子識別が行われたときに残ってきた 背景事象なので、実験データでは、信号と 背景事象を区別できない。 h1 ⇒MCデータを用いて評価 qq Bhabha 2photon tgKKpn tgKKpp0n qq,Bhabha,2photon 36 Motivation ① improve accuracy of the branching ratio – Use data sample more than 1000 times larger(improve statistical error) ② verify Standard Model – Measurement of Cabibbo angle sinqc=Vus, cosqc=Vud jw-= Vus(su)+Vud(du) t - K-nt sinqc(suppressed) Cabibbo angle Sinqc=0.2257±0.0021(PDG2006) t-gK*K-nt cosqc(allowed) Br(t Kn ) 2 ~ tan q c × (phase space ratio) * Br(t K Kn ) ⇒We measure qc in t decay with same data sample. 37
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