μ-PICを用いた X線偏光検出器の開発

pixel 読み出し型
μ-PIC による
X線偏光検出器の開発
2004年9月22日 日本天文学会 2004年秋季年会
京都大学 理学研究科 宇宙線研究室
小野健一
偏光X線検出の意義
strip読み出し型μ-PIC
pixel読み出し型μ-PIC
宇宙における偏光X線の発生
例えば、Synchrotron放射の場合
かに星雲の磁場
B
磁場に垂直な
面内で直線偏光
偏光方向から
磁場の構造がわかる!
OSO-8衛星(1976-1978)
Bragg反射を利用して
かに星雲の偏光度20%を検出
⇒それ以降有意な観測はない
光電効果による検出
数keV~数10keVで支配的な相互作用
連続的なエネルギーに感度(Bragg反射と異なり単色ではない)
光電子放出
方向分布
z
y
偏った形の電子雲
飛程 数100μm~数mm
φ
偏光方向
x
入射X線
偏光方向が推定できる
strip 読み出し型μ-PIC
(Micro pixel chamber)
数100μmの光電子の飛跡をとらえたい
⇒「高位置分解能のガス検出器」があれば可能
μ-PICの出番
pixel数 256×256 (10cm×10cm)
pixel間隔 400μm
⇒高い位置分解能を実現(120μm)
10cm
10cm
anode(陽極)
cathode
(陰極)
400μm
strip 読み出しによる偏光検出
stripごとに信号を
足し合わせて読み出す
difference factor
A–C
D=
A+C
cathode
hit本数 2
A anodeが多くhitしたevent数
C cathodeが多くhitしたevent数
D
A > C ヨコに偏光
0.1
0
偏光度が高いと
振幅大
Ar+C2H6 20keV
anode hit本数3
•1イベントごとに電子雲の形状を特
定できない
•検出器を回転させる必要
-0.1
X線偏光の
検出に成功!
A < C タテに偏光
0
45
Angle (degree)
90
偏光検出能の向上を目指して
strip 読み出し → pixel 読み出し
メリット
•1イベントごとに電子雲の形状を特定できる
•検出器を回転させなくても偏光度が見積もれる
•各pixelの波高情報が得られる
デメリット
•読み出し回路が膨大になる
count
•観測時間が短くすむ
水平偏光の場合
0
45
90
電子雲が水平となす角度 (degree)
pixel読み出し型μ-PIC
pixelごとに読み出せるガス検出器μ-PICを開発中
pixel数16×16 = 256
pixel間隔 600μm
⇒位置分解能 ~200μm
Imagingが可能
600μm
1cm
1cm
256ch 読み出し回路
ASD & Encoder
μ-PIC
256ch
(analog)
8ch (32pixel x 8)
(summed analog)
Amplifier
Shaper
Discriminator
(ASD)
Encoder
256ch
(digital)
32pixel分の信号
gas gain ~5000
150nsec
30mV
Ar(90%) + C2H6
55Fe(5.9keV)
3 – 104
gas
gain
10
(10%)
位置情報の
圧縮
32bit
x 8clock
/ 1event
現在
開発中
VME
Memory Board
今後の展望
電子雲の2次元 digital patternを得ることが目標
- 32pixelをまとめた信号から基礎特性を評価
- 256chを読み出すための回路を開発中
- digital patternから電子雲の角度分布を求め、偏光度
を測定する予定
さらには各pixelからの波高情報を用いて、より偏光検出
能力の高いpixel読み出し型μ-PICの開発を目指す
⇒来年はじめに、KEKにて100%に近い放射光を用いた
実験を行なう予定
旧型読み出し回路
ASD & Encoder
512 ch
(analog)
μ-PIC(256 x 256)
512 ch
(digital)
Amplifier Shaper Discriminator
Amp + 位置情報のdigital化
8ch (summed analog)
32bit / 1event
(50MHz)
VME
Memory Board
Encoder
位置情報の圧縮