Planilla Curso Método Rietveld

FACULTAD DE CIENCIAS EXACTAS
Presentación curso de postgrado
Año
2015
Semestre
Primer semestre
Nombre del Curso
Método de Rietveld aplicado a Difracción de Rayos x de Polvos
Profesor Responsable (indicando las horas que participa en el dictado de clases)
Lic. María Susana Conconi
24 hs (dictado )
Docentes Participantes (indicando las horas que participa en el dictado de clases)
Dr. Nicolas Rendtorff - CONICET- UNLP (2 hs) (Aplicaciones Método de Rietveld)
Lic. Matias Gauna - CONICET UNLP – (4 hs) (Otros programas)
Ing. Matias Stabile- C ONICET UNLP (2hs) (Determinación de tamaño cristalino)
Duración Total (en horas)
30 hs
Modalidad
(Teórico, teórico-práctico, seminario, etc)
Tipo de evaluación prevista
Teórico-práctico
Evaluación escrita teórico - práctica. Análisis de
casos
Especificación clara si se lo considera válido para cubrir exigencias del Doctorado.
Si
Fecha de dictado
22-26 de junio 2015
Cupo de alumnos
15
Inscripción desde
10 de junio
Hasta el día
19 de junio
Exigencias y requisitos de inscripción
Egresados y alumnos avanzados de Lic en Cs. Qcas. - Lic. en Fisica - Lic. en Geología Ing. Qco.—Ing. en Materiales, con conocimientos básicos en cristalografía y difracción de
rayos X.
Arancelamiento
NO
SÍ
X
Destino de los fondos
Mecanismo de pago
Montos
Beca total para alumnos, becarios y doctorandos de
cualquier Universidad Nacional
$ 3000 para Profesionales de Empresas Privadas
Gastos de material y fotocopias
Gastos de Servicio de actualización y mantenimiento de
computadoras
Fundación Fac. de Cs Exactas
Breve resumen de los objetivos y contenidos
1- Objetivos: Lograr que los participantes adquieran un buen manejo de los fundamentos físicos
de la Cristalografía en general y del Método de Rietveld aplicado a la difracción de polvos y
aprendan a aplicarlos a casos reales. Entrenamiento en el empleo de bases de datos de estructuras
cristalinas. Entrenamiento en el empleo del programa Fullprof de refinamiento y análisis de
estructuras cristalinas y sus aplicaciones.
2- Contenidos
Ya que se requiere de los participantes conocimientos básicos en cristalografía y difracción de
rayos X, en primer lugar se abordarán a modo de repaso estos temas:( simetrías cristalinas.
Cristalografía en el espacio directo y en el recíproco. Tablas Cristalográficas. Física de
los rayos X. Dispersión de rayos x por electrones, átomos y sólidos. Factor de forma atómico.
Difracción de rayos X por cristales. Factores de Estructura. Manejo de muestras. Introducción al
instrumental y a la adquisición de datos de intensidades de difracción)
- Fundamentos del Método de Rietveld: Fundamentos matemáticos. Descripción de los parámetros
globales y de cada fase incluidos en el refinamiento
- Descripción y utilización del Programa Fullprof . Entrenamiento en empleo del programa.
- Uso de bases de datos.
- Aplicaciones de la difracción de polvos y el Método de Rietveld en ciencia de materiales.
Análisis de Casos
Contacto con el responsable
Dirección
CETMIC ( CONICET-CIC-UNLP) Cno. Centenario y 506 M. B. Gonnet
Teléfono
0221-484-0247/ 0167/ 471- Fax
Idem ( Int 120)
0075 (int 105)
Correo electrónico
[email protected]
Programa detallado de actividades
1- Elementos de cristalografía y Fundamentos de la Difractometría de polvos:
Elementos de simetría en un cristal periódico. Red recíproca. Fundamento físico de la
difracción, Ley de Bragg; Densidad electrónica y factores de estructura. Técnicas
experimentales: métodos de polvo cristalino. Interpretación de los datos.
2- Fundamentos del Método de Rietveld: Fundamentos matemáticos. Descripción de los
parámetros globales y de cada fase incluidos en el refinamiento.
3- Condiciones experimentales: Preparación de la muestra. Toma de datos. Estadística de
conteo
4- Descripción y Utilización del Programa Fullprof: Instalación de Programa Fullprof.
Pautas generales en el manejo del programa. Parámetros instrumentales. Problemas más
comunes. Criterios de ajuste. Ejemplos de aplicación. Prácticas en computadora
5-Aplicación del método de Rietveld: análisis cuantitativo de fases y determinación de
tamaño cristalino. Ejemplos. Prácticas en computadora.
6- Aplicaciones en ciencia de materiales. Introducción a otros programas
Trabajos Prácticos Durante el curso se realizarán prácticas de entrenamiento en el uso del
programa Fullprof y su aplicación en difractogramas de polvos de muestras reales.
Bibliografía
1Klug, H.P. and Alexander, L.E., X-ray difraction preceding: for polycrystaline and
amorphous materials, John Wiley & Sons, New York, 1974
2Rietveld, H.M., A profile refinement method for nuclear and magnetic structures .
Journal of Applied Crystallography, 2 (1969) 65-71.
3Rodriguez, Caravajal (1990) “FULLPROF, a Program for Rietveld Refinement
and Pattern Matching Analysis”, Abstracts of the Satellite Meeting on Powder Diffraction
of the IUCr, Toulouse, France, p12.
4-
R.A Young. The Rietveld method, IUCr, Oxford University Press, New York, 1995
5Rita D. Bonetto, Patricia E. Zalba, María S. Conconi and Marcelo Manassero (2003)
“The Rietveld Method Applied to Quantitative Phase Analysis of Minerals Containing
Disordered Structures”. Revista Geológica de Chile, vol.30, No. 1, p.103-115
6Conconi M. S., Rendtorff N. M., Aglietti E. F., Evaluation of Non Crystalline Phase
in AZS Refractories by XRD Methods, New Journal of Glass and Ceramics, 2011, (1) 2,
21-25, doi:10.4236/njgc.2011.12005.
7M.S Conconi, M.R. Gauna, M.F. Serra, G. Suarez, E.F. Aglietti, N.M. Rendtorff:
“Quantitative firing transformations of a triaxial ceramic by XRD methods”. Cerâmica,
60 (2014) 524-531.

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