参加募集エントリー締め切りプログラム締め切り 2015 年 8 月 7 日 2015 年 9 月 25 日外観検査アルゴリズムコンテスト 2015 http://www.tc-iaip.org/alcon/ 主催公益社団法人精密工学会画像応用技術専門委員会趣旨画像応用技術専門委員会では，画像を用いた外観検査技術の発展を図るため，研究者・技術者が共通で使える外観検査画像データベースの構築を進めつつ，その一環として外観検査アルゴリズムコンテストを 2001 年より実施しております．お陰様で実際の製造現場等で生じる画像をそのまま使用した他に例を見ないユニークなコンテストとして広く認知されるようになり，ここ数年は参加者数が約 150 名となっております．さて第 15 回の今回は，昨年度に続きまして，対象を鋳造部品とし，「鋳造部品の良品サンプルからの欠陥検出」アルゴリズムのコンテストを実施することになりました．優秀作品は 12 月開催のビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2015)で表彰致します．検査画像と詳しい応募要領は 6 月末に website で公開致します．皆様の挑戦をお待ち致しております課題「鋳造部品の良品サンプル画像からの欠陥検出」鋳造部品の良品サンプルを撮影した画像を用いて，欠陥を検出する応募要領詳細発表 2015 年 6 月 26 日(金) website にて検査画像と応募要領を発表します．エントリー締め切り 2015 年 8 月 07 日(金) website より，お申し込み下さい．エントリーすると，正解付きの画像が download できます．プログラム締め切り 2015 年 9 月 25 日(金) website より，実行ファイル，動作指示書，予稿をお送り下さい．良品不良品鋳造部品のサンプル画像の例画像データ提供：中京大学輿水研究室結果発表 ViEW2015 ビジョン技術の実利用ワークショップ (2015 年 12 月)および website 表彰内容欠陥検出の正解率と処理時間をもとして，最優秀賞(1 件)，優秀賞(2 件)，特別賞(1 件)，学生奨励賞(1 件)を表彰します．実行委員寺田賢治(委員長：徳島大)，青木公也(幹事：中京大)，大橋剛介(幹事：静岡大)，舟橋琢磨(幹事：中京大)，伊藤誠也(日立製作所)，大西浩之(SCREEN ホールディングス)，加藤邦人(岐阜大) ，野村安國(東京ウエルズ），橋本学(中京大)，林純一郎(香川大)，藤原伸行(明電舎)，堀修(東芝) ，宮口利治(トヨタ自動車)，三和田靖彦（トヨタ自動車），脇谷康一(パナソニック) 浅野敏郎(広島工大)，梅田和昇(中央大)，北川克一(元東レエンジニアリング)，楜澤信(旭硝子) ，広瀬修(住友化学)，横田秀夫(理化学研究所)，秦清治(顧問：香川大) テクニカルアドバイザー問合わせ先画像応用技術専門委員会「外観検査アルゴリズムコンテスト」事務局〒169-0073 新宿区百人町 2-21-27 アドコム・メディア（株）内 TEL: 03-3367-0571 e-mail：[email protected] 2014 年外観検査アルゴリズムコンテスト最優秀賞永田毅殿(筑波大，みずほ情報総研)，水谷麻紀子殿，友澤弘充殿，二田晴彦殿，松崎和敏殿，佐野碧殿，萩原透殿，檜作彰良殿(みずほ情報総研) 優秀賞山口新殿(ヴィスコ・テクノロジーズ) 優秀賞笠原亮介殿，田中拓哉殿，澤木太郎殿，山田佑殿(リコー)，特別賞菅野純一殿(ヴィスコ・テクノロジーズ) 学生奨励賞山崎有作殿(徳島大)